JPH0369595A - ダイヤモンド類被覆部材の製造方法 - Google Patents
ダイヤモンド類被覆部材の製造方法Info
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- JPH0369595A JPH0369595A JP20632689A JP20632689A JPH0369595A JP H0369595 A JPH0369595 A JP H0369595A JP 20632689 A JP20632689 A JP 20632689A JP 20632689 A JP20632689 A JP 20632689A JP H0369595 A JPH0369595 A JP H0369595A
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- 239000010432 diamond Substances 0.000 title claims abstract description 72
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 65
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 11
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 87
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 52
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 38
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 37
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims abstract description 17
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 15
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 14
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 claims abstract description 13
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 27
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 6
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 description 58
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 43
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 23
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 16
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 14
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 14
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 7
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 5
- 229910000531 Co alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910009043 WC-Co Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 239000003082 abrasive agent Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000000462 isostatic pressing Methods 0.000 description 1
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000001247 metal acetylides Chemical class 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- 239000012779 reinforcing material Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、ダイヤモンド類被覆部材の製造方法に関する
。さらに詳しく言うと、基材との密着性に優れたダイヤ
モンド類膜を早い成膜速度で製造することのできるダイ
ヤモンド類被覆部材の製造方法に関する。
。さらに詳しく言うと、基材との密着性に優れたダイヤ
モンド類膜を早い成膜速度で製造することのできるダイ
ヤモンド類被覆部材の製造方法に関する。
[従来の技術]
ダイヤモンド類の薄膜は、硬度、耐摩耗性、電気絶縁性
、熱伝導性、赤外線透過性および固体潤滑性などに優れ
ていることから、たとえば切削工具類、研磨材、耐摩耗
性機械部品、光学部品等の各種部材のハードコート材や
電気・電子材料などに利用されつつある。
、熱伝導性、赤外線透過性および固体潤滑性などに優れ
ていることから、たとえば切削工具類、研磨材、耐摩耗
性機械部品、光学部品等の各種部材のハードコート材や
電気・電子材料などに利用されつつある。
ところで、このタイヤセント類の薄膜て被覆してなるダ
イヤモンド類被覆部材か所期の性能を発揮するためには
、基材とダイヤモンド類の薄膜との密着性か優れていな
ければならない。
イヤモンド類被覆部材か所期の性能を発揮するためには
、基材とダイヤモンド類の薄膜との密着性か優れていな
ければならない。
そこで、ダイヤモンド類の薄膜と基材との密着性を向」
ニさせることを目的として従来から、種々の提案がなさ
れている。
ニさせることを目的として従来から、種々の提案がなさ
れている。
特公昭Go−59086号公報には、基材であるsi。
N4系素材の表面に膜厚0.5〜5oJLmのダイヤモ
ンド膜を形成する技術が開示されている。しかしながら
、この公報にはダイヤモンド類膜の合成条件に関する記
述がない。
ンド膜を形成する技術が開示されている。しかしながら
、この公報にはダイヤモンド類膜の合成条件に関する記
述がない。
たしかに、Si3N4系素材は、比較的ダイヤモンドに
近い熱膨張係数を有するため、wc系超超硬合金どに比
較して密着性にすぐれたものである。しかしながらSi
3N4系素材にダイヤモンドを被覆形成しようとしても
、その成膜速度が非常に遅いという問題点を有している
。
近い熱膨張係数を有するため、wc系超超硬合金どに比
較して密着性にすぐれたものである。しかしながらSi
3N4系素材にダイヤモンドを被覆形成しようとしても
、その成膜速度が非常に遅いという問題点を有している
。
このため、炭素源ガス濃度を高くすることも考えられる
が、十分な性能を有するダイヤモンド被覆を行なうこと
ができず切削工具などへの利用は困難である。また性質
の異なるダイヤモンドの多層被覆も種々提案されている
。(特開昭62196371号公報、特開昭82−24
1898号公報、特開昭83−288994号公報など
)。
が、十分な性能を有するダイヤモンド被覆を行なうこと
ができず切削工具などへの利用は困難である。また性質
の異なるダイヤモンドの多層被覆も種々提案されている
。(特開昭62196371号公報、特開昭82−24
1898号公報、特開昭83−288994号公報など
)。
しかしながら5i3Nn系素材に対して、成膜速度が早
く、しかも表面硬度、耐摩耗性などの表面特性を同時に
解決する方法は未だ提案されていない。
く、しかも表面硬度、耐摩耗性などの表面特性を同時に
解決する方法は未だ提案されていない。
本発明の目的は、基材に対するダイヤモンド類膜の密着
性が良好で、表層部が耐摩耗性に特に優れた性質を有し
、かつ十分な膜厚のダイヤモンド類膜を早い成膜速度で
形成することのできる、窒化ケイ素系、ダイヤモンド類
被覆部材の製造方法を提供することにある。
性が良好で、表層部が耐摩耗性に特に優れた性質を有し
、かつ十分な膜厚のダイヤモンド類膜を早い成膜速度で
形成することのできる、窒化ケイ素系、ダイヤモンド類
被覆部材の製造方法を提供することにある。
[課題を解決するための手段コ
前記目的を遠戚するための本願請求項1に記載の発明は
、少なくとも表層部が窒化ケイ素系焼結体からなる基材
の表面に、一酸化炭素の濃度が10容量%以上である一
酸化炭素と水素とを有する第一混合ガスを励起して得ら
れる活性ガスを基材に接触させてダイヤモンド類層を形
成し、一酸化炭素の濃度が10容量%未満である一酸化
炭素と水素とを有する第二混合ガスを励起して得られる
活性ガスて表層部ダイヤモンド層を形成することを特徴
とするダイヤモンド類被覆部材の製造方法であり、 本願請求項2に記載の発明は、前記混合ガス中の一酸化
炭素の濃度を連続的にまたは断続的に減少させてなる前
記請求項1に記載のダイヤモンド類被覆部材の製造方法
であり、 本願請求項3に記載の発明は、ダイヤモンド類被覆部材
のダイヤモンド類膜全体の膜厚か0.5〜1100pて
あり、最上ダイヤセント類膜の膜厚か、タイヤセント類
膜全体の膜厚の50%以下である前記請求項1に記載の
ダイヤモンド類被覆部材の製造方法である。
、少なくとも表層部が窒化ケイ素系焼結体からなる基材
の表面に、一酸化炭素の濃度が10容量%以上である一
酸化炭素と水素とを有する第一混合ガスを励起して得ら
れる活性ガスを基材に接触させてダイヤモンド類層を形
成し、一酸化炭素の濃度が10容量%未満である一酸化
炭素と水素とを有する第二混合ガスを励起して得られる
活性ガスて表層部ダイヤモンド層を形成することを特徴
とするダイヤモンド類被覆部材の製造方法であり、 本願請求項2に記載の発明は、前記混合ガス中の一酸化
炭素の濃度を連続的にまたは断続的に減少させてなる前
記請求項1に記載のダイヤモンド類被覆部材の製造方法
であり、 本願請求項3に記載の発明は、ダイヤモンド類被覆部材
のダイヤモンド類膜全体の膜厚か0.5〜1100pて
あり、最上ダイヤセント類膜の膜厚か、タイヤセント類
膜全体の膜厚の50%以下である前記請求項1に記載の
ダイヤモンド類被覆部材の製造方法である。
以下、本発明の詳細な説明する。
一基材
本発明における窒化ケイ素系焼結体とは、窒化ケイ素を
主成分とする焼結体をいう。窒化ケイ素としては通常、
Si3N4を使用することができる。
主成分とする焼結体をいう。窒化ケイ素としては通常、
Si3N4を使用することができる。
前記焼結体は主成分たる窒化ケイ素と、AfL203
、AIN、MgO,Cab、Y203Zr02 、Ti
O2、B4 C,TiN、WCなどの焼結助剤と、必要
に応じたウィスカー等の強化材とを適宜に混合して公知
の方法で焼結することにより得ることができる。
、AIN、MgO,Cab、Y203Zr02 、Ti
O2、B4 C,TiN、WCなどの焼結助剤と、必要
に応じたウィスカー等の強化材とを適宜に混合して公知
の方法で焼結することにより得ることができる。
この焼結体は公知の焼結法により製造することができ、
中でもホットプレス法()fP)、熱1177等方圧成
形法(HIP)、ガス圧焼結法などの加圧焼結法が好ま
しい。
中でもホットプレス法()fP)、熱1177等方圧成
形法(HIP)、ガス圧焼結法などの加圧焼結法が好ま
しい。
基材は、全部をこの焼結体で構成してもよいし、基材の
表層部のみをこの焼結体で構成し、それ以外の部分は他
の公知の材料で構成しても良い。サラニは、Si3N4
系材料をコーティングして表層部を形成したものであっ
てもよい。
表層部のみをこの焼結体で構成し、それ以外の部分は他
の公知の材料で構成しても良い。サラニは、Si3N4
系材料をコーティングして表層部を形成したものであっ
てもよい。
ここにいう公知の材料とは、たとえばシリコン、マンガ
ン、バナジウム、タリウム、アルミニウム、チタン、タ
ングステン、モリブデン、ゲルマニウム、クロム、ポロ
ンなどの金属1、半金属、これらの酸化物、窒化物、お
よび炭化物、これらの合金などがある。
ン、バナジウム、タリウム、アルミニウム、チタン、タ
ングステン、モリブデン、ゲルマニウム、クロム、ポロ
ンなどの金属1、半金属、これらの酸化物、窒化物、お
よび炭化物、これらの合金などがある。
また、超硬工具類などに利用する場合の好ましい公知の
材料としては、たとえばWC−Co系合金、WC−Ti
C−Co系合金、WC−TiCTaC−Co系合金、W
C−TiN−Co系合金、W C−T i C−T i
N −Co系合金、TiN−Ni、Ti N−Ti
C−Niなどのサーメットなどを挙げることができる。
材料としては、たとえばWC−Co系合金、WC−Ti
C−Co系合金、WC−TiCTaC−Co系合金、W
C−TiN−Co系合金、W C−T i C−T i
N −Co系合金、TiN−Ni、Ti N−Ti
C−Niなどのサーメットなどを挙げることができる。
−ダイヤモンド類層の形成−
本発明においては、前記窒化ケイ素系焼結体の表面に、
少なくとも二層のダイヤモンド類膜を形成することが重
要である。すなわち、窒化ケイ素系焼結体に対する密着
性がより一層高められたダイヤモンド類で窒化ケイ素系
焼結体に接する層を高速度で形成し、表層部は、より一
層耐摩耗性の改善されたダイヤモンド層で形成すること
により、ダイヤモンド類膜全体として、基材に対するよ
り一層向上した密着性とより一層向上した耐摩耗性とを
併せ持たせるように、基材表面に少なくとも二層のダイ
ヤモンド類膜を形成するのである。したがって、本発明
においては、基材表面に接すると共に密着性と成膜速度
の改善されたダイヤモンド層と耐摩耗性の改善された表
層部とを有する。なお、ここで、「層」なる表現をした
が、本発明においては、両層の間に明確な界面を有する
場合も、あるいは明確な界面を右しない場合についても
、「層」を形成しているとする。
少なくとも二層のダイヤモンド類膜を形成することが重
要である。すなわち、窒化ケイ素系焼結体に対する密着
性がより一層高められたダイヤモンド類で窒化ケイ素系
焼結体に接する層を高速度で形成し、表層部は、より一
層耐摩耗性の改善されたダイヤモンド層で形成すること
により、ダイヤモンド類膜全体として、基材に対するよ
り一層向上した密着性とより一層向上した耐摩耗性とを
併せ持たせるように、基材表面に少なくとも二層のダイ
ヤモンド類膜を形成するのである。したがって、本発明
においては、基材表面に接すると共に密着性と成膜速度
の改善されたダイヤモンド層と耐摩耗性の改善された表
層部とを有する。なお、ここで、「層」なる表現をした
が、本発明においては、両層の間に明確な界面を有する
場合も、あるいは明確な界面を右しない場合についても
、「層」を形成しているとする。
前記ダイヤモンド類層は、一酸化炭素の濃度が10容量
%以上、好ましくは10〜80容量%である一酸化炭素
と水素とを有する第一混合ガスを励起して得られるプラ
ズマガスを基材に接触させることにより、形成される。
%以上、好ましくは10〜80容量%である一酸化炭素
と水素とを有する第一混合ガスを励起して得られるプラ
ズマガスを基材に接触させることにより、形成される。
前記第一混合ガス中の一酸化炭素ガスの濃度がlO容量
%未満であると、ダイヤモンド類の形成に長時間を要す
るようになるので生産性の見地からして好ましくない。
%未満であると、ダイヤモンド類の形成に長時間を要す
るようになるので生産性の見地からして好ましくない。
なお、第一混合ガス中の一酸化炭素の濃度は、10容量
%以上である限り、ダイヤモンド類層の形成途中で、種
々に変化しても良い。具体的には、ダイヤモンド類層の
形成期間中、第一混合ガス中の一酸化炭素ガスの濃度は
10容量%以上の一定値であっても良いし、第一混合ガ
ス中の一酸化炭素ガスの初期濃度がダイヤモンド類層の
形成期間中に徐々に低下するように一酸化炭素ガスの濃
度を調節し、ダイヤモンド類層の形成終期にはほぼ10
容量%の一酸化炭素ガスの濃度になるように、その濃度
を調節しても良い。
%以上である限り、ダイヤモンド類層の形成途中で、種
々に変化しても良い。具体的には、ダイヤモンド類層の
形成期間中、第一混合ガス中の一酸化炭素ガスの濃度は
10容量%以上の一定値であっても良いし、第一混合ガ
ス中の一酸化炭素ガスの初期濃度がダイヤモンド類層の
形成期間中に徐々に低下するように一酸化炭素ガスの濃
度を調節し、ダイヤモンド類層の形成終期にはほぼ10
容量%の一酸化炭素ガスの濃度になるように、その濃度
を調節しても良い。
なお、本発明の目的を阻害しない範囲で、この第一混合
ガス中には他のガスが含有されていてもよい。
ガス中には他のガスが含有されていてもよい。
他のガスとしては、たとえば、N2.He、Ne、Ar
等の不活性ガス等を挙げることができる。
等の不活性ガス等を挙げることができる。
いずれにしても、前記第一混合ガスは、熱フイラメント
法(EACVD法を含む)、直流プラズマCVD法(熱
プラズマ法も含む)、高周波プラズマCVD法(熱プラ
ズマ法も含む)、マイクロ波プラズマCVD法(有[場
−CVD法、ECR−CVD法も含む)、燃焼炎法、光
CVD法、スパッタリング法などで励起することができ
る。
法(EACVD法を含む)、直流プラズマCVD法(熱
プラズマ法も含む)、高周波プラズマCVD法(熱プラ
ズマ法も含む)、マイクロ波プラズマCVD法(有[場
−CVD法、ECR−CVD法も含む)、燃焼炎法、光
CVD法、スパッタリング法などで励起することができ
る。
なかでも本発明の目的に好ましいのは、各種プラズマC
VD法である。
VD法である。
第一混合ガスを前記励起方法で励起して得られる活性ガ
スを基材に接触させる際の、基材の表面温度は、前記第
一混合ガスの励起方法により異なるので一層に決定する
ことはできないが、通常、300〜1,200℃、好ま
しくは800〜1,100℃である。
スを基材に接触させる際の、基材の表面温度は、前記第
一混合ガスの励起方法により異なるので一層に決定する
ことはできないが、通常、300〜1,200℃、好ま
しくは800〜1,100℃である。
この表面温度が、300℃より低いと、ダイヤモンド類
の析出速度が遅くなったり、析出物の結晶性、均質性が
失われたりする。一方、1,200℃より高くしても、
それに見合った効果は奏されず、エネルギー効率の点で
不利になるとともに、形成されたダイヤモンドがエツチ
ングされてしまうことがある。
の析出速度が遅くなったり、析出物の結晶性、均質性が
失われたりする。一方、1,200℃より高くしても、
それに見合った効果は奏されず、エネルギー効率の点で
不利になるとともに、形成されたダイヤモンドがエツチ
ングされてしまうことがある。
活性ガスを基材表面に接触させる際の反応圧力は、通常
、10−6〜10” torr、好ましくは1O−5t
orr〜800torrである。
、10−6〜10” torr、好ましくは1O−5t
orr〜800torrである。
反応圧力が1O−6torrよりも低いと、ダイヤモン
ド類の成膜速度が遅くなったり、ダイヤモンド類が析出
しなくなったりすることがある。
ド類の成膜速度が遅くなったり、ダイヤモンド類が析出
しなくなったりすることがある。
一方、103 torrより高くしてもそれに見合った
効果は奏されないことがある。
効果は奏されないことがある。
励起ガスを基材に接触させる反応時間は、ダイヤモンド
類層の形成条件やダイヤモンド類層の厚みにより適宜に
決定される。
類層の形成条件やダイヤモンド類層の厚みにより適宜に
決定される。
ダイヤモンド類層の形成が終了してから、表層部ダイヤ
モンド層を形成する。
モンド層を形成する。
表層部ダイヤモンド膜は、一酸化炭素の濃度が10容量
%未満、好ましくは2容量%以上10容量%未満である
一酸化炭素と水素とを有する第二混合ガスを励起して得
られるプラズマガスを、基材表面に既に形成されである
ダイヤモンド類膜に、接触させることにより、形成され
る。
%未満、好ましくは2容量%以上10容量%未満である
一酸化炭素と水素とを有する第二混合ガスを励起して得
られるプラズマガスを、基材表面に既に形成されである
ダイヤモンド類膜に、接触させることにより、形成され
る。
前記第二混合ガス中の一酸化炭素ガスの濃度が10容量
%以上であると、耐摩耗性の向上しないダイヤモンド類
膜が形成される。
%以上であると、耐摩耗性の向上しないダイヤモンド類
膜が形成される。
表層部ダイヤモンド膜の形成に際し、第二混合ガス中の
一酸化炭素の濃度は、10容量%未満である限り、表層
部ダイヤモンド層の形成途中で、種1 々に変化しても良い。具体的には、ダイヤモンド層の形
成期間中、第二混合ガス中の一酸化炭素ガスの濃度は1
0容量%未渦の一定値であっても良いし、第二混合ガス
中の一酸化炭素ガスの初期濃度が表層部ダイヤモンド層
の形成期間中に徐々に低下するように一酸化炭素ガスの
濃度を調節しても良い。
一酸化炭素の濃度は、10容量%未満である限り、表層
部ダイヤモンド層の形成途中で、種1 々に変化しても良い。具体的には、ダイヤモンド層の形
成期間中、第二混合ガス中の一酸化炭素ガスの濃度は1
0容量%未渦の一定値であっても良いし、第二混合ガス
中の一酸化炭素ガスの初期濃度が表層部ダイヤモンド層
の形成期間中に徐々に低下するように一酸化炭素ガスの
濃度を調節しても良い。
また、ダイヤモンド類層形成の終期における第一混合ガ
ス中の一酸化炭素ガス濃度と表層部ダイヤモンド層形成
の初期における第二混合ガス中の一酸化炭素ガス濃度と
を10容量%に一致させておいても良い。この場合は、
第一混合ガス中の一酸化炭素濃度と第二混合ガス中の一
酸化炭素ガス濃度とが連続的に変化しているといえる。
ス中の一酸化炭素ガス濃度と表層部ダイヤモンド層形成
の初期における第二混合ガス中の一酸化炭素ガス濃度と
を10容量%に一致させておいても良い。この場合は、
第一混合ガス中の一酸化炭素濃度と第二混合ガス中の一
酸化炭素ガス濃度とが連続的に変化しているといえる。
これとは逆に、ダ□イヤモンド類層形成の終期における
第一混合ガス中の一酸化炭素ガス濃度と表層部ダイヤモ
ンド層形成の初期における第二混合ガス中の一酸化炭素
ガス濃度とを不一致にしておいても良い。
第一混合ガス中の一酸化炭素ガス濃度と表層部ダイヤモ
ンド層形成の初期における第二混合ガス中の一酸化炭素
ガス濃度とを不一致にしておいても良い。
なお、本発明の目的を阻害しない範囲で、この2
第二混合ガス中には他のガスが含有されていてもよい。
他のガスとしては、前記ダイヤモンド類層の形成におい
て説明したのと同様である。また、第二混合ガスの励起
手段、基材の温度、反応圧力等についても、前記ダイヤ
モンド類層の形成において説明したのと同様である。
て説明したのと同様である。また、第二混合ガスの励起
手段、基材の温度、反応圧力等についても、前記ダイヤ
モンド類層の形成において説明したのと同様である。
本発明の方法により製造されるダイヤモンド類被覆部材
は、種々の用途に供することができ、とりわけ切削工具
等の加工工具に使用するのが好ましい。
は、種々の用途に供することができ、とりわけ切削工具
等の加工工具に使用するのが好ましい。
加工工具として本発明のダイヤモンド類被覆部材を使用
する場合、ダイヤモンド類層の厚みと表層部ダイヤモン
ド層の厚みとを次のように調整しておくのが好ましい。
する場合、ダイヤモンド類層の厚みと表層部ダイヤモン
ド層の厚みとを次のように調整しておくのが好ましい。
すなわち、第1図に示すように、基材Aの上にはダイヤ
モンド類層Bが形成され、このダイヤモンド類HBの上
には表層部ダイヤモンド層Cが積層形成されている場合
に、ダイヤモンド類層Bの厚みdl と、表層部ダイ
ヤモンド類層Cの厚みdl との和(dl +d2 )
は、0.57hm 〜100川m、好ましくは、5ルm
〜30pLmが良い。
モンド類層Bが形成され、このダイヤモンド類HBの上
には表層部ダイヤモンド層Cが積層形成されている場合
に、ダイヤモンド類層Bの厚みdl と、表層部ダイ
ヤモンド類層Cの厚みdl との和(dl +d2 )
は、0.57hm 〜100川m、好ましくは、5ルm
〜30pLmが良い。
ダイヤモンド類層Bの膜厚dl と表層部ダイヤモンド
層Cの膜厚dlとの和(d++d2)が5pm未満であ
ると、膜厚が不十分になり、工具の寿命が短くなり、ダ
イヤモンド類層Bの膜厚dlと表層部ダイヤモンド類層
Cの膜厚dlとの和(dl +d2 )が1100pL
を越えると、被覆形成のコストが大きくなり、またチッ
ピングが起き易くなるからである。
層Cの膜厚dlとの和(d++d2)が5pm未満であ
ると、膜厚が不十分になり、工具の寿命が短くなり、ダ
イヤモンド類層Bの膜厚dlと表層部ダイヤモンド類層
Cの膜厚dlとの和(dl +d2 )が1100pL
を越えると、被覆形成のコストが大きくなり、またチッ
ピングが起き易くなるからである。
なお、 表層部ダイヤモンド層Cの膜厚d2は、ダイヤ
モンド類膜全体の膜厚(d++d2)の50%以下、好
ましくは30%以下である。
モンド類膜全体の膜厚(d++d2)の50%以下、好
ましくは30%以下である。
[実施例]
次に実施例を挙げて本発明をさらに具体的に説明する。
(実施例1)
ダイヤモンド類膜の合成
同一ロットの窒化ケイ素系焼結体からなるチップ(東芝
タンガロイ社製、T P G N 1B030BFX
920)を基材とし、これをマイクロ波プラズマCVD
装置内の反応室に設置し、次の合成条件でチップの表面
にダイヤモンド類膜を形成させた。
タンガロイ社製、T P G N 1B030BFX
920)を基材とし、これをマイクロ波プラズマCVD
装置内の反応室に設置し、次の合成条件でチップの表面
にダイヤモンド類膜を形成させた。
合成条件
まず、第1段目は、原料ガスとしてCo/H。
混合ガスを用い、COガスの濃度を20容量%(一定濃
度)、基材温度をt、ooo℃、反応圧力を40 Ta
rr、合成時間を4時間にし、マイクロ波プラズマCV
D法(2,45GH2,400W)によりチップ上にダ
イヤモンド類膜を形成させた。
度)、基材温度をt、ooo℃、反応圧力を40 Ta
rr、合成時間を4時間にし、マイクロ波プラズマCV
D法(2,45GH2,400W)によりチップ上にダ
イヤモンド類膜を形成させた。
次に、第2段目は、原料ガスとしてCO/ H2混合ガ
スを用い、COガスの濃度を5%(一定値)、基材温度
を1,000℃、反応圧力を40Torr、合成時間を
2時間にし、マイクロ波プラズマCVD法(2,45G
H2,450W)によりチップの表層部にダイヤモンド
膜を形成させた。
スを用い、COガスの濃度を5%(一定値)、基材温度
を1,000℃、反応圧力を40Torr、合成時間を
2時間にし、マイクロ波プラズマCVD法(2,45G
H2,450W)によりチップの表層部にダイヤモンド
膜を形成させた。
置塵
以上のようにして得られたダイヤモンド類膜全体(最下
層+最上層)の膜厚は12pmであっ 5 た。
層+最上層)の膜厚は12pmであっ 5 た。
切削試験
次に、」二記の条件で得られたダイヤモンド類膜付きチ
ップで、以下の条件で被切削材を切削した。
ップで、以下の条件で被切削材を切削した。
切削条件
■チップ形状: TPGN1130308■切削速度V
: 100m/win ■切り込みd:1mm ■送りf : 0.085mm ■形式:wet ■被削材:Ti−6A文−4■ 切削結果 逃げ面の摩耗は、80分後で1l107pであった。
: 100m/win ■切り込みd:1mm ■送りf : 0.085mm ■形式:wet ■被削材:Ti−6A文−4■ 切削結果 逃げ面の摩耗は、80分後で1l107pであった。
(比較例1)
ダイヤモンド類膜の合成
実施例1と同一の基材を使用して、これをマイクロ波プ
ラズマCVD装置内の反応室に設置し、次の合成条件で
チップの表面にダイヤモンド類膜 6 を形成させた。
ラズマCVD装置内の反応室に設置し、次の合成条件で
チップの表面にダイヤモンド類膜 6 を形成させた。
合成条件
原料ガスとしてCO/H2混合ガスを用い、COガスの
濃度を20%、基材温度を1,000℃、反応圧力を4
0Torr、合成時間を6時間とし、マイクロ波プラズ
マCVD法(2,45GH2,400W)によりチップ
上に一層のダイヤモンド類膜を形成させた。
濃度を20%、基材温度を1,000℃、反応圧力を4
0Torr、合成時間を6時間とし、マイクロ波プラズ
マCVD法(2,45GH2,400W)によりチップ
上に一層のダイヤモンド類膜を形成させた。
展長
以上のようにして得られたダイヤモンド類膜の膜厚は1
4ルmであった。
4ルmであった。
切削試験
次に、上記の条件で得られたチップを実施例1と同様の
条件で切削したところ、逃げ面の摩耗は80分後で28
0Ji、mに達した。
条件で切削したところ、逃げ面の摩耗は80分後で28
0Ji、mに達した。
(比較例2)
ダイヤモンド類膜の合成
実施例1と同一の基材を使用し、これをマイクロ波プラ
ズマCVD装置内の反応室に設置し、次の合成条件でチ
ップの表面に一層のダイヤモンド類膜を形成させた。
ズマCVD装置内の反応室に設置し、次の合成条件でチ
ップの表面に一層のダイヤモンド類膜を形成させた。
企裏条丑
原料ガスとしてCo/H2混合ガスを用い、COガスの
濃度を5%、基材温度を1.000℃、反応圧力を40
Torr、合成時間を6時間とし、マイクロ波プラズマ
(2,45GH2,450W)によりチップ上にダイヤ
モンド類膜を形成させた。
濃度を5%、基材温度を1.000℃、反応圧力を40
Torr、合成時間を6時間とし、マイクロ波プラズマ
(2,45GH2,450W)によりチップ上にダイヤ
モンド類膜を形成させた。
巖長
以上のようにして得られたダイヤモンド類膜の膜厚は6
井mであった。
井mであった。
切削試験
次に、上記の条件で得られたチップを実施例1と同様の
条件で切削したところ、60分切削後の時点で、ダイヤ
モンド膜の剥離が見られた。
条件で切削したところ、60分切削後の時点で、ダイヤ
モンド膜の剥離が見られた。
(実施例2)
ダイヤモンド類膜の合成
実施例1と同一のチップを基材として、これをマイクロ
波プラズマCVD装置内の反応室に設置し、次の合成条
件でチップの表面にダイヤモンド類膜を形成させた。
波プラズマCVD装置内の反応室に設置し、次の合成条
件でチップの表面にダイヤモンド類膜を形成させた。
脅威条件
まず、第1段目は、原料ガスとしてCO/ H?混合ガ
スを用い、COO20濃度を30%(一定値)、基材温
度を1,000℃、反応圧力を40Torr、合成時間
を4時間とし、マイクロ波プラズマCVD法(2,45
GH2,380W)によりチップ上にダイヤモンド類膜
を形成させた。
スを用い、COO20濃度を30%(一定値)、基材温
度を1,000℃、反応圧力を40Torr、合成時間
を4時間とし、マイクロ波プラズマCVD法(2,45
GH2,380W)によりチップ上にダイヤモンド類膜
を形成させた。
次に、第2段目は、原料ガスとしてCO/H2混合ガス
を用い、COO20濃度を7%、基材温度を1.000
℃、反応圧力を40Torr、合成時間を2時間とし、
マイクロ波プラズマCVD法(2,45GH2,450
W)によりチップの最下層上にダイヤモンド膜を形成さ
せた。
を用い、COO20濃度を7%、基材温度を1.000
℃、反応圧力を40Torr、合成時間を2時間とし、
マイクロ波プラズマCVD法(2,45GH2,450
W)によりチップの最下層上にダイヤモンド膜を形成さ
せた。
朦1
以上のようにして得られたダイヤモンド類膜全体の膜厚
は15gmであった。
は15gmであった。
切削試験
次に、」二記の条件で得られたチップを実施例1と同様
の条件で切削したところ、逃げ面の摩耗は80分後で1
307Lmであった。
の条件で切削したところ、逃げ面の摩耗は80分後で1
307Lmであった。
9
(実施例3)
ダイヤモンド類膜の合成
実施例1と同一のチップを基材として、これをマイクロ
波プラズマCVD装置内の反応室に設置し、次の脅威条
件でチップの表面にダイヤモンド類膜を形成させた。
波プラズマCVD装置内の反応室に設置し、次の脅威条
件でチップの表面にダイヤモンド類膜を形成させた。
合成条件
まず、第1段目は、原料ガスとしてCO/ H2混合ガ
スを用い、COO20濃度を60%、基材温度を900
℃、反応圧力を40Torr、合成時間を3.5時間と
し、マイクロ波プラズマCVD法(2,45GH2、3
50W)によりチップ上にダイヤモンド類膜を形成させ
た。
スを用い、COO20濃度を60%、基材温度を900
℃、反応圧力を40Torr、合成時間を3.5時間と
し、マイクロ波プラズマCVD法(2,45GH2、3
50W)によりチップ上にダイヤモンド類膜を形成させ
た。
次に、第2段目は、原料ガスとしてCO/H2混合ガス
を用い、COO20濃度を4%、基材温度を1.000
℃、反応圧力を40Torr、合成時間を2.5時間と
し、マイクロ波プラズマCVD法(2,45GH2,4
50W)によりチップの表層部にダイヤモンド膜を形成
させた。
を用い、COO20濃度を4%、基材温度を1.000
℃、反応圧力を40Torr、合成時間を2.5時間と
し、マイクロ波プラズマCVD法(2,45GH2,4
50W)によりチップの表層部にダイヤモンド膜を形成
させた。
0
腹遅
以上のようにして得られたダイヤモンド類膜全体の膜厚
は147tmであった。
は147tmであった。
切削試験
次に、上記の条件で得られたチップを実施例1と同様の
条件で切削したところ、逃げ面の摩耗は80分後で11
00JLであった。
条件で切削したところ、逃げ面の摩耗は80分後で11
00JLであった。
(比較例3)
ダイヤモンド類膜の合成
COO20濃度を20%、基材温度を1.000℃、合
成時間を30時間にした外は前記実施例2と同様に実施
してチップ上にダイヤモンド類膜を形成させ、次いで合
成時間を10時間にした外は前記実施例2と同様に実施
して表層部にダイヤモンド膜を形成させた。
成時間を30時間にした外は前記実施例2と同様に実施
してチップ上にダイヤモンド類膜を形成させ、次いで合
成時間を10時間にした外は前記実施例2と同様に実施
して表層部にダイヤモンド膜を形成させた。
朦瀝
以上のようにして得られたダイヤモンド類膜全体の膜厚
はEt5gmであった。
はEt5gmであった。
切削試験
次に、」二記の条件で得られたチップを実施例1と同様
の条件で切削したところ、5分後、チッピングにより剥
離した。
の条件で切削したところ、5分後、チッピングにより剥
離した。
[発明の効果]
本発明の製造方法によると、基材に対する密着性が良好
で、表面の耐摩耗性が特に向上したダイヤモンド類膜を
十分な膜厚で短時間に形成することができ、その結果、
耐摩耗性、耐欠損性の高いダイヤモンド被覆工具等に好
適なダイヤモンド類被覆部材を高い生産性の下で提供す
ることができる。
で、表面の耐摩耗性が特に向上したダイヤモンド類膜を
十分な膜厚で短時間に形成することができ、その結果、
耐摩耗性、耐欠損性の高いダイヤモンド被覆工具等に好
適なダイヤモンド類被覆部材を高い生産性の下で提供す
ることができる。
したがって、本発明は切削工具、ダイス、耐摩耗部材等
の分野に大きな貢献をするものである。
の分野に大きな貢献をするものである。
第1図は本発明の方法により製造される一例としてのダ
イヤモンド類被覆部材の断面を示す説明図である。
イヤモンド類被覆部材の断面を示す説明図である。
Claims (3)
- (1)少なくとも表層部が窒化ケイ素系焼結体からなる
基材の表面に、一酸化炭素の濃度が10容量%以上であ
る一酸化炭素と水素とを有する第一混合ガスを励起して
得られる活性ガスを基材に接触させてダイヤモンド類層
を形成し、一酸化炭素の濃度が10容量%未満である一
酸化炭素と水素とを有する第二混合ガスを励起して得ら
れる活性ガスで表層部ダイヤモンド層を形成することを
特徴とするダイヤモンド類被覆部材の製造方法。 - (2)前記混合ガス中の一酸化炭素の濃度を連続的にま
たは断続的に減少させてなる前記請求項1に記載のダイ
ヤモンド類被覆部材の製造方法。 - (3)ダイヤモンド類被覆部材のダイヤモンド類膜全体
の膜厚が0.5〜100μmであり、第二混合ガスを使
用して形成されるダイヤモンド膜の膜厚が、ダイヤモン
ド類膜全体の膜厚の50%以下である前記請求項1に記
載のダイヤモンド類被覆部材の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20632689A JPH0369595A (ja) | 1989-08-09 | 1989-08-09 | ダイヤモンド類被覆部材の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20632689A JPH0369595A (ja) | 1989-08-09 | 1989-08-09 | ダイヤモンド類被覆部材の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0369595A true JPH0369595A (ja) | 1991-03-25 |
Family
ID=16521445
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20632689A Pending JPH0369595A (ja) | 1989-08-09 | 1989-08-09 | ダイヤモンド類被覆部材の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0369595A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5705271A (en) * | 1994-04-01 | 1998-01-06 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Method for producing diamond coated member |
-
1989
- 1989-08-09 JP JP20632689A patent/JPH0369595A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5705271A (en) * | 1994-04-01 | 1998-01-06 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Method for producing diamond coated member |
US5863606A (en) * | 1994-04-01 | 1999-01-26 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Method for producing diamond coated member |
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