JPH0918033A - 薄膜太陽電池およびその製法 - Google Patents
薄膜太陽電池およびその製法Info
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- JPH0918033A JPH0918033A JP7161216A JP16121695A JPH0918033A JP H0918033 A JPH0918033 A JP H0918033A JP 7161216 A JP7161216 A JP 7161216A JP 16121695 A JP16121695 A JP 16121695A JP H0918033 A JPH0918033 A JP H0918033A
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
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- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】異種基板上に太陽電池材料を成膜しても熱膨脹
係数の差によるそりが生じない、優れた薄膜太陽電池お
よびその製法を提供する。 【構成】従来、基板10上に連続した層として成膜して
いた結晶を、多数の穴12が所定間隔で並ぶマスク層1
3を介して成長させることにより、上記マスク層13の
各穴12内から上方に盛り上がった島状結晶16として
得、しかも、各島状結晶16を、互いに他の島状結晶1
6と接触しない状態で得るようにした。
係数の差によるそりが生じない、優れた薄膜太陽電池お
よびその製法を提供する。 【構成】従来、基板10上に連続した層として成膜して
いた結晶を、多数の穴12が所定間隔で並ぶマスク層1
3を介して成長させることにより、上記マスク層13の
各穴12内から上方に盛り上がった島状結晶16として
得、しかも、各島状結晶16を、互いに他の島状結晶1
6と接触しない状態で得るようにした。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、薄膜太陽電池およびそ
の製法に関するものである。
の製法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】太陽電池としては、材料が環境に対し殆
ど影響がない,エネルギー変換効率が高い,発電特性が
安定している,等の理由から、シリコン太陽電池が汎用
されている。このようなシリコン太陽電池としては、例
えば、図8に示すように、単結晶シリコン基板1の表面
に、不純物(例えばリン)を高温で熱拡散させてn型の
拡散層2を形成し、電極3を形成したのち、その上にS
iO2 等の反射防止膜4を形成することによって得られ
る単結晶シリコン太陽電池がよく知られている。
ど影響がない,エネルギー変換効率が高い,発電特性が
安定している,等の理由から、シリコン太陽電池が汎用
されている。このようなシリコン太陽電池としては、例
えば、図8に示すように、単結晶シリコン基板1の表面
に、不純物(例えばリン)を高温で熱拡散させてn型の
拡散層2を形成し、電極3を形成したのち、その上にS
iO2 等の反射防止膜4を形成することによって得られ
る単結晶シリコン太陽電池がよく知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記単
結晶シリコン太陽電池において、単結晶シリコン基板1
を用いるとその材料コストが高くなるため、単結晶シリ
コン基板1に代えて低コストの異種基板(SUS等の金
属基板)を用い、その上にSiの薄膜を成膜する試みが
なされている。しかし、上記Siの膜厚を、太陽電池と
して用いるのに必要な厚さ(50〜100μm)まで成
膜すると、基板とSiの熱膨張係数が大幅に異なるた
め、基板に大きなそりを生じることが判明した。上記そ
りが生じると、その後のデバイス製作上歩留りを大きく
損なう原因となるとともに、Si薄膜中に応力が残った
ままであるため、結晶欠陥が無数に生じて電気特性が悪
くなる。このように、異種基板上にSi等を成膜して得
られる薄膜太陽電池は、品質が悪いのであり、その改良
が強く望まれている。
結晶シリコン太陽電池において、単結晶シリコン基板1
を用いるとその材料コストが高くなるため、単結晶シリ
コン基板1に代えて低コストの異種基板(SUS等の金
属基板)を用い、その上にSiの薄膜を成膜する試みが
なされている。しかし、上記Siの膜厚を、太陽電池と
して用いるのに必要な厚さ(50〜100μm)まで成
膜すると、基板とSiの熱膨張係数が大幅に異なるた
め、基板に大きなそりを生じることが判明した。上記そ
りが生じると、その後のデバイス製作上歩留りを大きく
損なう原因となるとともに、Si薄膜中に応力が残った
ままであるため、結晶欠陥が無数に生じて電気特性が悪
くなる。このように、異種基板上にSi等を成膜して得
られる薄膜太陽電池は、品質が悪いのであり、その改良
が強く望まれている。
【0004】本発明は、このような事情に鑑みなされた
もので、異種基板上に太陽電池材料を成膜しているにも
かかわらず上記のようなそりが生じない、優れた薄膜太
陽電池およびその製法を提供することをその目的とす
る。
もので、異種基板上に太陽電池材料を成膜しているにも
かかわらず上記のようなそりが生じない、優れた薄膜太
陽電池およびその製法を提供することをその目的とす
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明は、導電性基板上に種結晶層が形成され、そ
の上に、多数の穴が所定間隔で並ぶマスク層が形成さ
れ、さらにその上に、上記マスク層の各穴内から成長し
穴の上方に盛り上がって島状に結晶した島状結晶が、互
いに他の島状結晶と接触しない状態で形成され、かつ上
記各島状結晶の少なくとも表面部が拡散層に形成され、
その上に、上記各島状結晶の拡散層にまたがる透明導電
層が形成されている薄膜太陽電池を第1の要旨とし、絶
縁性透明基板上に、透明導電層を介して拡散層が形成さ
れ、その上に、多数の穴が所定間隔で並ぶマスク層が形
成され、さらにその上に、上記マスク層の各穴内から成
長し穴の上方に盛り上がって島状に結晶した島状結晶
が、互いに他の島状結晶と接触しない状態で形成され、
その上に、上記各島状結晶にまたがる導電層が形成され
ている薄膜太陽電池を第2の要旨とする。
め、本発明は、導電性基板上に種結晶層が形成され、そ
の上に、多数の穴が所定間隔で並ぶマスク層が形成さ
れ、さらにその上に、上記マスク層の各穴内から成長し
穴の上方に盛り上がって島状に結晶した島状結晶が、互
いに他の島状結晶と接触しない状態で形成され、かつ上
記各島状結晶の少なくとも表面部が拡散層に形成され、
その上に、上記各島状結晶の拡散層にまたがる透明導電
層が形成されている薄膜太陽電池を第1の要旨とし、絶
縁性透明基板上に、透明導電層を介して拡散層が形成さ
れ、その上に、多数の穴が所定間隔で並ぶマスク層が形
成され、さらにその上に、上記マスク層の各穴内から成
長し穴の上方に盛り上がって島状に結晶した島状結晶
が、互いに他の島状結晶と接触しない状態で形成され、
その上に、上記各島状結晶にまたがる導電層が形成され
ている薄膜太陽電池を第2の要旨とする。
【0006】また、導電性基板上に種結晶層を形成する
工程と、その上にマスク層を形成する工程と、上記マス
ク層に、開口幅が10〜100μmの穴を、互いの間隔
が100〜数100μmとなるよう等間隔で多数形成す
る工程と、上記マスク層の上に液相成長法によって結晶
膜を成長させ、上記マスク層の穴内から穴の上方に盛り
上がる島状結晶を、互いに他の島状結晶と接触しない状
態で得る工程と、上記各島状結晶の少なくとも表面部に
拡散層を形成する工程と、上記各島状結晶の拡散層にま
たがる導電層を形成する工程とを備えた薄膜太陽電池の
製法を第3の要旨とし、絶縁性透明基板上に導電層を形
成する工程と、その上に拡散層を形成する工程と、その
上にマスク層を形成する工程と、上記マスク層に、開口
幅が10〜100μmの穴を、互いの間隔が100〜数
100μmとなるよう等間隔で多数形成する工程と、上
記マスク層の上に液相成長法によって結晶膜を成長さ
せ、上記マスク層の穴内から穴の上方に盛り上がる島状
結晶を、互いに他の島状結晶と接触しない状態で得る工
程と、上記各島状結晶にまたがる導電層を形成する工程
とを備えた薄膜太陽電池の製法を第4の要旨とする。
工程と、その上にマスク層を形成する工程と、上記マス
ク層に、開口幅が10〜100μmの穴を、互いの間隔
が100〜数100μmとなるよう等間隔で多数形成す
る工程と、上記マスク層の上に液相成長法によって結晶
膜を成長させ、上記マスク層の穴内から穴の上方に盛り
上がる島状結晶を、互いに他の島状結晶と接触しない状
態で得る工程と、上記各島状結晶の少なくとも表面部に
拡散層を形成する工程と、上記各島状結晶の拡散層にま
たがる導電層を形成する工程とを備えた薄膜太陽電池の
製法を第3の要旨とし、絶縁性透明基板上に導電層を形
成する工程と、その上に拡散層を形成する工程と、その
上にマスク層を形成する工程と、上記マスク層に、開口
幅が10〜100μmの穴を、互いの間隔が100〜数
100μmとなるよう等間隔で多数形成する工程と、上
記マスク層の上に液相成長法によって結晶膜を成長さ
せ、上記マスク層の穴内から穴の上方に盛り上がる島状
結晶を、互いに他の島状結晶と接触しない状態で得る工
程と、上記各島状結晶にまたがる導電層を形成する工程
とを備えた薄膜太陽電池の製法を第4の要旨とする。
【0007】
【作用】すなわち、本発明は、従来、基板上に連続した
層として成膜していた結晶を、多数の穴が所定間隔で並
ぶマスク層を介して成長させることにより、上記マスク
層の各穴内から上方に盛り上がった島状結晶として得、
しかも、各島状結晶を、隣合う他の島状結晶と互いに接
触しない状態で得るようにしたものである。したがっ
て、各島状結晶が、基板に対し連続しない「点」として
分散した状態で存在することになり、基板の熱膨張に追
従して膨張しやすい構造となる。このため、低コスト基
板を用い、高温下において上記基板と結晶膜とが異なる
割合で熱膨脹しても、その積層体が大きなそりを生じる
ことがなく、デバイス作製に有利となる。また、結晶膜
中の残留応力が小さいため、従来から問題となっていた
結晶欠陥を大幅に低減することができ、電気特性に優れ
た高品質の太陽電池を得ることができる。さらに、島状
結晶が点在して、結晶表面が微小な突起の繰り返しとな
るため、わざわざテクスチャ処理を施さなくても光の反
射を抑えることができる。このため、従来必要であった
テクスチャ処理工程が不要となり、製造コストを大幅に
軽減することができる。
層として成膜していた結晶を、多数の穴が所定間隔で並
ぶマスク層を介して成長させることにより、上記マスク
層の各穴内から上方に盛り上がった島状結晶として得、
しかも、各島状結晶を、隣合う他の島状結晶と互いに接
触しない状態で得るようにしたものである。したがっ
て、各島状結晶が、基板に対し連続しない「点」として
分散した状態で存在することになり、基板の熱膨張に追
従して膨張しやすい構造となる。このため、低コスト基
板を用い、高温下において上記基板と結晶膜とが異なる
割合で熱膨脹しても、その積層体が大きなそりを生じる
ことがなく、デバイス作製に有利となる。また、結晶膜
中の残留応力が小さいため、従来から問題となっていた
結晶欠陥を大幅に低減することができ、電気特性に優れ
た高品質の太陽電池を得ることができる。さらに、島状
結晶が点在して、結晶表面が微小な突起の繰り返しとな
るため、わざわざテクスチャ処理を施さなくても光の反
射を抑えることができる。このため、従来必要であった
テクスチャ処理工程が不要となり、製造コストを大幅に
軽減することができる。
【0008】つぎに、本発明を詳細に説明する。
【0009】本発明の薄膜太陽電池は、独特の島状結晶
を備えたものであり、その製法は、つぎに述べる2通り
の製法がある。
を備えたものであり、その製法は、つぎに述べる2通り
の製法がある。
【0010】第1の製法は、例えばつぎのようにして薄
膜太陽電池を製造する方法である。すなわち、まず、図
1に示すように、低コスト導電性基板(SUS,カーボ
ン等)10を準備し、この基板10の表面に、真空化学
エピタキシー法(VaperChemical Epi
taxy、以下「VCE」と略す),化学蒸着法(Ch
emical Vaper Deposition、以
下「CVD」と略す)あるいはスパッタ法等を用いて半
導体材料からなる薄膜を成膜する。この半導体薄膜が種
結晶層11となる。
膜太陽電池を製造する方法である。すなわち、まず、図
1に示すように、低コスト導電性基板(SUS,カーボ
ン等)10を準備し、この基板10の表面に、真空化学
エピタキシー法(VaperChemical Epi
taxy、以下「VCE」と略す),化学蒸着法(Ch
emical Vaper Deposition、以
下「CVD」と略す)あるいはスパッタ法等を用いて半
導体材料からなる薄膜を成膜する。この半導体薄膜が種
結晶層11となる。
【0011】なお、上記種結晶層11の厚さは、0.1
〜10μm、なかでも0.5〜1.0μmに設定するこ
とが、結晶成長の見地から好適である。また、上記種結
晶層11を形成する半導体材料としては、Siの外、G
aAs,InP等、太陽電池用材料として用いることの
できる各種の半導体材料があげられる。
〜10μm、なかでも0.5〜1.0μmに設定するこ
とが、結晶成長の見地から好適である。また、上記種結
晶層11を形成する半導体材料としては、Siの外、G
aAs,InP等、太陽電池用材料として用いることの
できる各種の半導体材料があげられる。
【0012】つぎに、上記種結晶層11の表面に、図2
に示すように、所定寸法の大きさの穴12が所定間隔で
多数形成されたマスク層13を成膜する。このマスク層
13は、例えばスクリーン印刷によるゾルゲル法を用い
て得ることができる。すなわち、まずテトラエトキシシ
ランを含む溶液に所定の触媒を加え、20〜50℃で混
合して加水分解を行い、テトラヒドロキシシラン溶液を
得る。つぎに、スクリーン製版によって、マスク層13
を形成すべき部分に、上記テトラヒドロキシシラン溶液
の層を形成する。この層の厚さは1〜40μm程度とす
る。これを80〜500℃で約30分間処理すると、上
記テトラヒドロキシシランが脱水してSiO2 膜が形成
される。このようにして、上記マスク層13を得ること
ができる。また、熱CVD法を用いてSiO2 膜からな
るマスク層13を形成したのちエッチングにより所定間
隔の穴12を形成するようにしてもよい。
に示すように、所定寸法の大きさの穴12が所定間隔で
多数形成されたマスク層13を成膜する。このマスク層
13は、例えばスクリーン印刷によるゾルゲル法を用い
て得ることができる。すなわち、まずテトラエトキシシ
ランを含む溶液に所定の触媒を加え、20〜50℃で混
合して加水分解を行い、テトラヒドロキシシラン溶液を
得る。つぎに、スクリーン製版によって、マスク層13
を形成すべき部分に、上記テトラヒドロキシシラン溶液
の層を形成する。この層の厚さは1〜40μm程度とす
る。これを80〜500℃で約30分間処理すると、上
記テトラヒドロキシシランが脱水してSiO2 膜が形成
される。このようにして、上記マスク層13を得ること
ができる。また、熱CVD法を用いてSiO2 膜からな
るマスク層13を形成したのちエッチングにより所定間
隔の穴12を形成するようにしてもよい。
【0013】上記マスク層13の厚さは、3000Å〜
10μm、なかでも0.5〜1μmに設定することが、
結晶成長の見地から好適である。そして、このマスク層
13に形成される穴12は、つぎに述べるように、Si
結晶を島状に成長させるために必要な窓であり、その開
口形状は、図示のように角形状であっても円形状その他
の形状であっても差し支えはない。そして、その大きさ
は、開口幅(角穴の場合はその縦横の開口幅、丸穴の場
合はその直径、他の形状の場合はこれらに準ずる)が1
0〜100μmに設定することが必要である。上記範囲
よりも穴12の開口が小さいと、穴加工が容易でないと
ともに、この穴から成長して得られる各島状結晶が非常
に小さなものとなり、島状結晶表面による凹凸が微小す
ぎて光の反射防止効果が小さくなるからである。逆に上
記範囲よりも穴12の開口が大きいと、島状結晶が大き
くなりすぎて反射防止効果が小さくなるとともにその後
のデバイス製作工程での歩留りが低下するからである。
また、上記穴12を形成する間隔は、穴の大きさにもよ
るが、通常、各穴ピッチ(図2においてPで示す)が1
00〜数100μmとなるよう設定することが必要であ
る。穴ピッチが上記範囲よりも狭いと、結晶が充分島形
状に成長する以前に隣同士が接触してしまうおそれがあ
り、逆に穴ピッチが上記範囲よりも広いと、結晶成長に
長時間を要するとともに光の反射防止効果が小さくなる
からである。
10μm、なかでも0.5〜1μmに設定することが、
結晶成長の見地から好適である。そして、このマスク層
13に形成される穴12は、つぎに述べるように、Si
結晶を島状に成長させるために必要な窓であり、その開
口形状は、図示のように角形状であっても円形状その他
の形状であっても差し支えはない。そして、その大きさ
は、開口幅(角穴の場合はその縦横の開口幅、丸穴の場
合はその直径、他の形状の場合はこれらに準ずる)が1
0〜100μmに設定することが必要である。上記範囲
よりも穴12の開口が小さいと、穴加工が容易でないと
ともに、この穴から成長して得られる各島状結晶が非常
に小さなものとなり、島状結晶表面による凹凸が微小す
ぎて光の反射防止効果が小さくなるからである。逆に上
記範囲よりも穴12の開口が大きいと、島状結晶が大き
くなりすぎて反射防止効果が小さくなるとともにその後
のデバイス製作工程での歩留りが低下するからである。
また、上記穴12を形成する間隔は、穴の大きさにもよ
るが、通常、各穴ピッチ(図2においてPで示す)が1
00〜数100μmとなるよう設定することが必要であ
る。穴ピッチが上記範囲よりも狭いと、結晶が充分島形
状に成長する以前に隣同士が接触してしまうおそれがあ
り、逆に穴ピッチが上記範囲よりも広いと、結晶成長に
長時間を要するとともに光の反射防止効果が小さくなる
からである。
【0014】そして、上記マスク層13は必ずしもSi
O2 で形成する必要はなく、前記種結晶層11の形成材
料を酸化したもの、あるいはTiO2 ,Si3 N4 等、
従来から太陽電池において表面安定化皮膜形成材料とし
て用いられているものを適宜用いることができる。
O2 で形成する必要はなく、前記種結晶層11の形成材
料を酸化したもの、あるいはTiO2 ,Si3 N4 等、
従来から太陽電池において表面安定化皮膜形成材料とし
て用いられているものを適宜用いることができる。
【0015】つぎに、上記マスク層13の上に半導体材
料からなる結晶膜(P型)を成膜する。成膜工程は、成
膜速度が面方位依存性の大きい、液相エピタキシャル成
長法(Liquid Phase Epitaxy、以
下「LPE」と略す)によって行うことが好適である。
上記LPEの例としては、図3に示すように、上記マス
ク層13が形成された基板10を、成膜原料14(図
中、模式的に示す)が溶媒中に溶解された溶融槽15内
に浸漬し、溶融槽15内を冷却して上記基板10のマス
ク層13表面に結晶を析出させる方法がよく知られてい
る。このようにして結晶を成長させると、結晶は、図4
に示すように、上記マスク層13の各穴12内から成長
し、穴12の開口上部に盛り上がり、徐々に島形状を形
成する。そこで、各島状結晶16が、互いに接触しない
時点で成膜を終了する。このためには、島状結晶16の
高さ(図4においてHで示す)を10〜100μmに設
定することが好適である。
料からなる結晶膜(P型)を成膜する。成膜工程は、成
膜速度が面方位依存性の大きい、液相エピタキシャル成
長法(Liquid Phase Epitaxy、以
下「LPE」と略す)によって行うことが好適である。
上記LPEの例としては、図3に示すように、上記マス
ク層13が形成された基板10を、成膜原料14(図
中、模式的に示す)が溶媒中に溶解された溶融槽15内
に浸漬し、溶融槽15内を冷却して上記基板10のマス
ク層13表面に結晶を析出させる方法がよく知られてい
る。このようにして結晶を成長させると、結晶は、図4
に示すように、上記マスク層13の各穴12内から成長
し、穴12の開口上部に盛り上がり、徐々に島形状を形
成する。そこで、各島状結晶16が、互いに接触しない
時点で成膜を終了する。このためには、島状結晶16の
高さ(図4においてHで示す)を10〜100μmに設
定することが好適である。
【0016】なお、上記島状結晶16の材料は、前記種
結晶層11の材料と同一に設定することが好ましい。
結晶層11の材料と同一に設定することが好ましい。
【0017】つぎに、従来から知られている熱拡散法,
常圧CVD法,プラズマCVD法等によって、図5に示
すように、上記島状結晶16の表面部の所定厚み部分
を、N型の拡散層17に形成する。上記拡散層17の厚
さは適宜設定されるが、通常、0.1〜0.5μm程度
である。そして、拡散させるドーパントは、島状結晶1
6の材料に応じて適宜選択される。
常圧CVD法,プラズマCVD法等によって、図5に示
すように、上記島状結晶16の表面部の所定厚み部分
を、N型の拡散層17に形成する。上記拡散層17の厚
さは適宜設定されるが、通常、0.1〜0.5μm程度
である。そして、拡散させるドーパントは、島状結晶1
6の材料に応じて適宜選択される。
【0018】そして、上記拡散層17の上に、図6に示
すように、真空蒸着法,スパッタ法,常圧CVD法等に
よって、ITO,SnO2 等の皮膜を形成して透明導電
層18を得る。この透明導電層18が表面電極となる。
なお、上記透明導電層18の厚さも適宜設定されるが、
通常、500〜1000Å程度である。
すように、真空蒸着法,スパッタ法,常圧CVD法等に
よって、ITO,SnO2 等の皮膜を形成して透明導電
層18を得る。この透明導電層18が表面電極となる。
なお、上記透明導電層18の厚さも適宜設定されるが、
通常、500〜1000Å程度である。
【0019】このようにして得られた薄膜太陽電池は、
島状結晶16が、隣同士接触することなく、点として分
散した状態で存在しているため、低コスト導電性基板1
0の熱膨張に追従して膨張しやすい構造になっている。
このため、高温下において、、基板10と島状結晶16
が互いに熱膨脹係数が異なるにもかかわらず、大きなそ
りを生じることがなく、デバイス作製に有利となる。ま
た、島状結晶16中の残留応力が小さいため、従来から
問題となっていた結晶欠陥を大幅に低減することがで
き、電気特性に優れた高品質の太陽電池を得ることがで
きる。さらに、島状結晶16の存在によって、表面が微
小な突起の繰り返しとなるため、図6に示すように、矢
印のように光照射を受けた場合に、光の反射防止効果が
高く、テクスチャ処理を施す必要がない、という利点を
有する。
島状結晶16が、隣同士接触することなく、点として分
散した状態で存在しているため、低コスト導電性基板1
0の熱膨張に追従して膨張しやすい構造になっている。
このため、高温下において、、基板10と島状結晶16
が互いに熱膨脹係数が異なるにもかかわらず、大きなそ
りを生じることがなく、デバイス作製に有利となる。ま
た、島状結晶16中の残留応力が小さいため、従来から
問題となっていた結晶欠陥を大幅に低減することがで
き、電気特性に優れた高品質の太陽電池を得ることがで
きる。さらに、島状結晶16の存在によって、表面が微
小な突起の繰り返しとなるため、図6に示すように、矢
印のように光照射を受けた場合に、光の反射防止効果が
高く、テクスチャ処理を施す必要がない、という利点を
有する。
【0020】一方、第2の製法は、例えばつぎのように
して薄膜太陽電池を製造する方法である。すなわち、ま
ず、上記第1の製法と同様、基板を用意するが、この場
合は、低コスト基板として絶縁性透明基板(石英板,ガ
ラス板等)20を準備する(図7参照)。そして、この
基板20の表面に、真空蒸着法,スパッタ法等によっ
て、ITO,SnO2 等の皮膜を形成して透明導電層2
1を得る。この透明導電層21が表面電極となる。な
お、上記透明導電層21の厚さは、適宜設定されるが、
通常、500〜1000Å程度に設定される。
して薄膜太陽電池を製造する方法である。すなわち、ま
ず、上記第1の製法と同様、基板を用意するが、この場
合は、低コスト基板として絶縁性透明基板(石英板,ガ
ラス板等)20を準備する(図7参照)。そして、この
基板20の表面に、真空蒸着法,スパッタ法等によっ
て、ITO,SnO2 等の皮膜を形成して透明導電層2
1を得る。この透明導電層21が表面電極となる。な
お、上記透明導電層21の厚さは、適宜設定されるが、
通常、500〜1000Å程度に設定される。
【0021】つぎに、上記透明導電層21の上に、VC
E法,CVD法等によって、N型の半導体材料(Siに
ドーパントとしてPを添加したもの等)を成膜し、これ
を拡散層22とする。上記拡散層22の厚さは、層を形
成する半導体材料の種類に応じて適宜設定されるが、S
iの場合、0.3μm程度である。なお、この拡散層2
2は、その後の成膜の種結晶としての役割も果たす。
E法,CVD法等によって、N型の半導体材料(Siに
ドーパントとしてPを添加したもの等)を成膜し、これ
を拡散層22とする。上記拡散層22の厚さは、層を形
成する半導体材料の種類に応じて適宜設定されるが、S
iの場合、0.3μm程度である。なお、この拡散層2
2は、その後の成膜の種結晶としての役割も果たす。
【0022】つぎに、上記拡散層22の上に、前記第1
の製法と同様にして、所定間隔で穴12が多数形成され
たマスク層13を成膜する。そして、同じく前記第1の
製法と同様にして、上記マスク層13の上に、半導体材
料からなる島状結晶16を成膜し、さらにその表面に、
真空蒸着法,スクリーン印刷法等によって、Al,Ag
等の皮膜を形成して導電層23を得る。この導電層23
が裏面電極となる。なお、上記導電層23の厚さも、適
宜設定されるが、通常、40〜100μm程度である。
の製法と同様にして、所定間隔で穴12が多数形成され
たマスク層13を成膜する。そして、同じく前記第1の
製法と同様にして、上記マスク層13の上に、半導体材
料からなる島状結晶16を成膜し、さらにその表面に、
真空蒸着法,スクリーン印刷法等によって、Al,Ag
等の皮膜を形成して導電層23を得る。この導電層23
が裏面電極となる。なお、上記導電層23の厚さも、適
宜設定されるが、通常、40〜100μm程度である。
【0023】このようにして得られた薄膜太陽電池は、
第1の製法によって得られた薄膜太陽電池とは異なり、
絶縁性透明基板20の裏面側(図7において下側)が受
光面となるが、その作用効果は、上記第1の製法によっ
て得られたものと同様である。
第1の製法によって得られた薄膜太陽電池とは異なり、
絶縁性透明基板20の裏面側(図7において下側)が受
光面となるが、その作用効果は、上記第1の製法によっ
て得られたものと同様である。
【0024】つぎに、実施例について説明する。
【0025】
【実施例1】スチール製の基板(厚さ1mm×10cm
×10cm)にスパッタ法によりシリコン膜を1μm成
膜して種結晶層を得た。なお、スパッタのターゲットは
1×1020のボロン濃度を有するものを使用し、得られ
た種結晶のボロン濃度は5×1019〜1×1020となっ
た。なお、上記種結晶のボロン濃度を大きくする理由
は、スチール製基板との接触抵抗を下げるためである。
×10cm)にスパッタ法によりシリコン膜を1μm成
膜して種結晶層を得た。なお、スパッタのターゲットは
1×1020のボロン濃度を有するものを使用し、得られ
た種結晶のボロン濃度は5×1019〜1×1020となっ
た。なお、上記種結晶のボロン濃度を大きくする理由
は、スチール製基板との接触抵抗を下げるためである。
【0026】上記種結晶層の上に、前述したゾルゲルス
クリーン印刷法によってマスク層(厚さ1μm)を形成
した。なお、マスク開口部の大きさは100μm、その
ピッチは200μmとした。そして、溶媒としてスズを
用い、LPE法によって、上記マスク開口部からシリコ
ンを結晶成長させた。すなわち、1100℃の飽和シリ
コンスズ溶液に、上記の通り処理された基板を浸漬し、
毎分1℃の割合で温度を降下させ、シリコンを析出させ
ることにより、シリコンの島状結晶を得た。なお、上記
マスク層を用いて繰り返された予備実験において、島状
結晶同士の結合は、温度降下開始後約70分経過後に観
察されたため、この実施例では、結晶成長時間を60分
とした。このようにして得られた積層基板は、そりが殆
どなく無視できる程度であった。
クリーン印刷法によってマスク層(厚さ1μm)を形成
した。なお、マスク開口部の大きさは100μm、その
ピッチは200μmとした。そして、溶媒としてスズを
用い、LPE法によって、上記マスク開口部からシリコ
ンを結晶成長させた。すなわち、1100℃の飽和シリ
コンスズ溶液に、上記の通り処理された基板を浸漬し、
毎分1℃の割合で温度を降下させ、シリコンを析出させ
ることにより、シリコンの島状結晶を得た。なお、上記
マスク層を用いて繰り返された予備実験において、島状
結晶同士の結合は、温度降下開始後約70分経過後に観
察されたため、この実施例では、結晶成長時間を60分
とした。このようにして得られた積層基板は、そりが殆
どなく無視できる程度であった。
【0027】そして、この積層基板を所定の方法で洗浄
し、熱拡散法(拡散温度850℃、処理時間30分、拡
散源POCl3 )によって約0.3μmの拡散層を形成
した。その後、フッ酸による酸化膜除去を行い、スパッ
タ法によりITOを500Å成膜し、透明導電膜とし
た。以下、通常の方法に従って、目的とする薄膜太陽電
池を得た。この薄膜太陽電池は、約9%のエネルギー変
換効率であった。また、上記薄膜太陽電池を走査型電子
顕微鏡で観察したところ、その表面は、島状結晶による
ピラミッド状の突起が規則的に形成されていた。
し、熱拡散法(拡散温度850℃、処理時間30分、拡
散源POCl3 )によって約0.3μmの拡散層を形成
した。その後、フッ酸による酸化膜除去を行い、スパッ
タ法によりITOを500Å成膜し、透明導電膜とし
た。以下、通常の方法に従って、目的とする薄膜太陽電
池を得た。この薄膜太陽電池は、約9%のエネルギー変
換効率であった。また、上記薄膜太陽電池を走査型電子
顕微鏡で観察したところ、その表面は、島状結晶による
ピラミッド状の突起が規則的に形成されていた。
【0028】
【実施例2】石英製の基板(厚さ1mm×10cm×1
0cm)をスパッタ法によりITO膜を約500Å成膜
して透明導電膜を形成した。つぎに、常圧CVD法によ
り約0.3μmの種結晶層および拡散層を形成した。な
お、上記拡散層のP濃度は1×1020程度とした。ま
た、ガスは、Si成膜用としてモノシラン(Si
H4 )、ドーピング用としてホスフィン(PH3 )を用
いた。
0cm)をスパッタ法によりITO膜を約500Å成膜
して透明導電膜を形成した。つぎに、常圧CVD法によ
り約0.3μmの種結晶層および拡散層を形成した。な
お、上記拡散層のP濃度は1×1020程度とした。ま
た、ガスは、Si成膜用としてモノシラン(Si
H4 )、ドーピング用としてホスフィン(PH3 )を用
いた。
【0029】つぎに、酸化法によってマスク層となる酸
化膜(厚さ3000Å)を形成し、通常のICのエッチ
ング技術に従って、大きさ100μm,ピッチ200μ
mの開口部を形成した。つぎに、上記実施例1と同様に
して、LPE法により島状のシリコン結晶を成長させ、
ついでスクリーン印刷法によりアルミ電極を形成し、目
的とする薄膜太陽電池を得た。この薄膜太陽電池は、約
10%のエネルギー変換効率であった。また、上記薄膜
太陽電池を走査型電子顕微鏡で観察したところ、その表
面は、実施例1と同様、島状結晶によるピラミッド状の
突起が規則的に形成されていた。
化膜(厚さ3000Å)を形成し、通常のICのエッチ
ング技術に従って、大きさ100μm,ピッチ200μ
mの開口部を形成した。つぎに、上記実施例1と同様に
して、LPE法により島状のシリコン結晶を成長させ、
ついでスクリーン印刷法によりアルミ電極を形成し、目
的とする薄膜太陽電池を得た。この薄膜太陽電池は、約
10%のエネルギー変換効率であった。また、上記薄膜
太陽電池を走査型電子顕微鏡で観察したところ、その表
面は、実施例1と同様、島状結晶によるピラミッド状の
突起が規則的に形成されていた。
【0030】
【発明の効果】以上のように、本発明は、従来、基板上
に連続した層として成膜していた結晶を、多数の穴が所
定間隔で並ぶマスク層を介して成長させることにより、
上記マスク層の各穴内から上方に盛り上がった島状結晶
として得、しかも、各島状結晶を、隣合う他の島状結晶
と互いに接触しない状態で得るようにしたものである。
したがって、各島状結晶が、基板に対し連続しない
「点」として分散した状態で存在することになり、基板
の熱膨張に追従して膨張しやすい構造となる。このた
め、低コスト基板を用い、高温下において上記基板と結
晶膜とが異なる割合で熱膨脹しても、その積層体が大き
なそりを生じることがなく、デバイス作製に有利とな
る。また、結晶膜中の残留応力が小さいため、従来から
問題となっていた結晶欠陥を大幅に低減することがで
き、電気特性に優れた高品質の太陽電池を得ることがで
きる。さらに、島状結晶が点在して、結晶表面が微小な
突起の繰り返しとなるため、わざわざテクスチャ処理を
施さなくても光の反射を抑えることができる。このた
め、製造コストを大幅に軽減することができる。
に連続した層として成膜していた結晶を、多数の穴が所
定間隔で並ぶマスク層を介して成長させることにより、
上記マスク層の各穴内から上方に盛り上がった島状結晶
として得、しかも、各島状結晶を、隣合う他の島状結晶
と互いに接触しない状態で得るようにしたものである。
したがって、各島状結晶が、基板に対し連続しない
「点」として分散した状態で存在することになり、基板
の熱膨張に追従して膨張しやすい構造となる。このた
め、低コスト基板を用い、高温下において上記基板と結
晶膜とが異なる割合で熱膨脹しても、その積層体が大き
なそりを生じることがなく、デバイス作製に有利とな
る。また、結晶膜中の残留応力が小さいため、従来から
問題となっていた結晶欠陥を大幅に低減することがで
き、電気特性に優れた高品質の太陽電池を得ることがで
きる。さらに、島状結晶が点在して、結晶表面が微小な
突起の繰り返しとなるため、わざわざテクスチャ処理を
施さなくても光の反射を抑えることができる。このた
め、製造コストを大幅に軽減することができる。
【図1】本発明の一実施例における工程説明図である。
【図2】本発明の一実施例における工程説明図である。
【図3】本発明の一実施例における工程説明図である。
【図4】本発明の一実施例における工程説明図である。
【図5】本発明の一実施例における工程説明図である。
【図6】本発明の一実施例における工程説明図である。
【図7】本発明の他の実施例における工程説明図であ
る。
る。
【図8】従来の、一般的なシリコン太陽電池の構成を示
す説明図である。
す説明図である。
10 基板 11 種結晶層 12 穴 13 マスク層 16 島状結晶 17 拡散層 18 透明導電層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松田 豪 大阪府堺市築港新町2丁6番地40 大同ほ くさん株式会社堺研究所内
Claims (4)
- 【請求項1】 導電性基板上に種結晶層が形成され、そ
の上に、多数の穴が所定間隔で並ぶマスク層が形成さ
れ、さらにその上に、上記マスク層の各穴内から成長し
穴の上方に盛り上がって島状に結晶した島状結晶が、互
いに他の島状結晶と接触しない状態で形成され、かつ上
記各島状結晶の少なくとも表面部が拡散層に形成され、
その上に、上記各島状結晶の拡散層にまたがる透明導電
層が形成されていることを特徴とする薄膜太陽電池。 - 【請求項2】 絶縁性透明基板上に、透明導電層を介し
て拡散層が形成され、その上に、多数の穴が所定間隔で
並ぶマスク層が形成され、さらにその上に、上記マスク
層の各穴内から成長し穴の上方に盛り上がって島状に結
晶した島状結晶が、互いに他の島状結晶と接触しない状
態で形成され、その上に、上記各島状結晶にまたがる導
電層が形成されていることを特徴とする薄膜太陽電池。 - 【請求項3】 導電性基板上に種結晶層を形成する工程
と、その上にマスク層を形成する工程と、上記マスク層
に、開口幅が10〜100μmの穴を、互いの間隔が1
00〜数100μmとなるよう等間隔で多数形成する工
程と、上記マスク層の上に液相成長法によって結晶膜を
成長させ、上記マスク層の穴内から穴の上方に盛り上が
る島状結晶を、互いに他の島状結晶と接触しない状態で
得る工程と、上記各島状結晶の少なくとも表面部に拡散
層を形成する工程と、上記各島状結晶の拡散層にまたが
る導電層を形成する工程とを備えたことを特徴とする薄
膜太陽電池の製法。 - 【請求項4】 絶縁性透明基板上に導電層を形成する工
程と、その上に拡散層を形成する工程と、その上にマス
ク層を形成する工程と、上記マスク層に、開口幅が10
〜100μmの穴を、互いの間隔が100〜数100μ
mとなるよう等間隔で多数形成する工程と、上記マスク
層の上に液相成長法によって結晶膜を成長させ、上記マ
スク層の穴内から穴の上方に盛り上がる島状結晶を、互
いに他の島状結晶と接触しない状態で得る工程と、上記
各島状結晶にまたがる導電層を形成する工程とを備えた
ことを特徴とする薄膜太陽電池の製法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7161216A JPH0918033A (ja) | 1995-06-27 | 1995-06-27 | 薄膜太陽電池およびその製法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7161216A JPH0918033A (ja) | 1995-06-27 | 1995-06-27 | 薄膜太陽電池およびその製法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0918033A true JPH0918033A (ja) | 1997-01-17 |
Family
ID=15730830
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7161216A Withdrawn JPH0918033A (ja) | 1995-06-27 | 1995-06-27 | 薄膜太陽電池およびその製法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0918033A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001044463A (ja) * | 1999-07-27 | 2001-02-16 | Canon Inc | 太陽電池およびその製造方法 |
CN100352004C (zh) * | 2002-04-30 | 2007-11-28 | 住友电气工业株式会社 | 用于生长氮化镓的基片和制备氮化镓基片的方法 |
-
1995
- 1995-06-27 JP JP7161216A patent/JPH0918033A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001044463A (ja) * | 1999-07-27 | 2001-02-16 | Canon Inc | 太陽電池およびその製造方法 |
CN100352004C (zh) * | 2002-04-30 | 2007-11-28 | 住友电气工业株式会社 | 用于生长氮化镓的基片和制备氮化镓基片的方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020903 |