JPH08119790A - Semiconductor single crystal pull device - Google Patents
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Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 45
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 37
- 238000004033 diameter control Methods 0.000 claims abstract description 15
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 claims description 17
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 claims description 17
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 claims description 12
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 6
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 2
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 claims 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 abstract description 8
- 239000000843 powder Substances 0.000 abstract description 8
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 abstract 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 230000004323 axial length Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-AKLPVKDBSA-N silicon-31 atom Chemical compound [31Si] XUIMIQQOPSSXEZ-AKLPVKDBSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、半導体単結晶引き上げ
装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor single crystal pulling apparatus.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体素子の基板には主として高純度の
単結晶シリコンが用いられているが、この単結晶シリコ
ンの製造方法としてチョクラルスキー法(以下CZ法と
いう)が多く用いられている。CZ法による半導体単結
晶引き上げ装置は、構造的にはシャフト方式とワイヤ方
式とに大別され、単結晶の直径制御システム上からは光
学式と重量式とに大別される。図6はシャフト方式で、
かつ、重量式直径制御方式の半導体単結晶引き上げ装置
の概略構成を示す模式図である。単結晶シリコン31を
引き上げる引き上げ軸は、重量センサ5とシードチャッ
ク6とを結ぶフォースバー32と、前記シードチャック
6と、フォースバー32の振れ止めのためのカラー33
および前記カラー33を保持するガイドシャフト34と
によって構成されている。また、重量センサ5とフォー
スバー32、フォースバー32とシードチャック6とは
それぞれねじまたはピンで連結され、シードチャック6
の材質はモリブデン鋼、その他の引き上げ軸部品はステ
ンレス鋼が一般的に用いられている。2. Description of the Related Art A high-purity single crystal silicon is mainly used for a substrate of a semiconductor element, and the Czochralski method (hereinafter referred to as CZ method) is often used as a method for producing this single crystal silicon. The semiconductor single crystal pulling apparatus by the CZ method is roughly classified into a shaft system and a wire system structurally, and an optical system and a weight system from a single crystal diameter control system. Figure 6 is a shaft system,
FIG. 1 is a schematic diagram showing a schematic configuration of a weight-type diameter control type semiconductor single crystal pulling apparatus. The pulling shaft for pulling the single crystal silicon 31 is a force bar 32 connecting the weight sensor 5 and the seed chuck 6, the seed chuck 6, and a collar 33 for preventing steadying of the force bar 32.
And a guide shaft 34 that holds the collar 33. Further, the weight sensor 5 and the force bar 32, and the force bar 32 and the seed chuck 6 are connected by screws or pins, respectively.
Generally, molybdenum steel is used as the material and stainless steel is used as the other lifting shaft parts.
【0003】また、メインチャンバ35内に設置したる
つぼ36に高純度多結晶シリコンを充填し、この多結晶
シリコンを前記るつぼ36の外周を取り巻くように設け
たヒータ37によって加熱溶解し、融液38とする。そ
して、シードチャック6に取り付けた種結晶を前記融液
38に浸漬し、引き上げ軸32,6,33,34とるつ
ぼ36とを同方向または逆方向に回転しつつ前記引き上
げ軸を上昇させて、単結晶シリコンを成長させる。な
お、39は前記ヒータ37の周囲に設けられた円筒状の
断熱材、40はるつぼ軸、13はアッパチャンバを構成
するベローズである。A crucible 36 installed in the main chamber 35 is filled with high-purity polycrystalline silicon, and this polycrystalline silicon is heated and melted by a heater 37 surrounding the outer circumference of the crucible 36, and a melt 38 is formed. And Then, the seed crystal attached to the seed chuck 6 is immersed in the melt 38, and the pulling shaft 32, 6, 33, 34 and the crucible 36 are rotated in the same direction or in the opposite direction to raise the pulling shaft, Grow single crystal silicon. In addition, 39 is a cylindrical heat insulating material provided around the heater 37, 40 is a crucible shaft, and 13 is a bellows which constitutes an upper chamber.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】近年、単結晶シリコン
は大径化する傾向にあり、これに伴って単結晶シリコン
の全長も長くなるため、シャフト方式の単結晶引き上げ
装置の全高が高くなりつつある。装置高さが高くなると
建屋などのコストも上昇するため、単結晶引き上げ装置
の引き上げ軸などを改良して装置高さの増大を抑える必
要がある。また、半導体基板のライフタイムなどの仕様
が重要視されるようになってきている。ところが、一般
的な重量式直径制御方式の半導体単結晶引き上げ装置に
使用されている引き上げ軸の場合、特にフォースバーと
振れ止め用カラーとの接触が強く、金属粉の融液への落
下は避けらず、これが半導体基板のライフタイムを低下
させる原因の一つとなっている。In recent years, the diameter of single crystal silicon has tended to increase, and the total length of single crystal silicon also increases accordingly. Therefore, the overall height of a shaft type single crystal pulling apparatus is increasing. is there. As the height of the apparatus increases, the cost of the building and the like also rises. Therefore, it is necessary to improve the pulling axis of the single crystal pulling apparatus to suppress the increase in the apparatus height. Moreover, specifications such as lifetime of a semiconductor substrate are becoming more important. However, in the case of the pulling shaft used in the general weight type diameter control type semiconductor single crystal pulling device, the contact between the force bar and the steady rest is particularly strong, and the dropping of metal powder into the melt should be avoided. However, this is one of the causes for reducing the lifetime of the semiconductor substrate.
【0005】本発明は上記従来の問題点に着目してなさ
れたもので、シャフト方式の半導体単結晶引き上げ装置
の高さを低減するとともに、フォースバー周辺から融液
に落下する金属粉によるライフタイムの低下を防止する
ことができるような半導体単結晶引き上げ装置を提供す
ることを目的としている。The present invention has been made by paying attention to the above-mentioned conventional problems. The height of a shaft type semiconductor single crystal pulling apparatus is reduced, and the lifetime of metal powder falling from around the force bar into the melt is reduced. It is an object of the present invention to provide a semiconductor single crystal pulling apparatus capable of preventing the decrease in the semiconductor single crystal.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係る半導体単結晶引き上げ装置は、半導体
単結晶の原料を溶解するるつぼと、このるつぼの周囲に
あってるつぼ内の原料を加熱するヒータと、溶解した原
料に種結晶を浸漬して単結晶を引き上げる引き上げ機構
とを備えたシャフト方式の半導体単結晶製造装置におい
て、引き上げ軸を上部シャフトと下部シャフトとに分割
し、前記上部シャフトと下部シャフトとをワイヤで連結
するとともに、下部シャフトを昇降させる手段を設けた
ことを特徴としている。また、シャフト方式で、かつ重
量式直径制御方式の半導体単結晶製造装置において、重
量センサの下端に取着した上部シャフトと、フォースバ
ーの上端に取着した下部シャフトとをワイヤで連結し、
前記フォースバーを昇降させる手段を設ける構成とし、
このような構成において、上端が重量センサの下端に固
定され、上部シャフト、ワイヤ、下部シャフトおよびフ
ォースバーの上部を包囲するガイドシャフトの内周と、
前記フォースバーの外周との間にステンレス鋼またはセ
ラミックス製の球を滑動自在に複数個配設してもよく、
上端が重量センサの下端に固定され、上部シャフト、ワ
イヤ、下部シャフトおよびフォースバーの上部を包囲す
るガイドシャフトの内周と、前記フォースバーの外周と
の間に炭素材からなるガイドカラーを設けてもよい。更
に、本発明に係る半導体単結晶引き上げ装置は、フォー
スバーに炭素材を用いたことを特徴としている。In order to achieve the above object, a semiconductor single crystal pulling apparatus according to the present invention comprises a crucible for melting a raw material of a semiconductor single crystal and a raw material in a crucible surrounding the crucible. In a shaft type semiconductor single crystal manufacturing apparatus provided with a heater for heating and a pulling mechanism for pulling a single crystal by immersing a seed crystal in a melted raw material, a pulling shaft is divided into an upper shaft and a lower shaft, The shaft and the lower shaft are connected by a wire, and a means for moving the lower shaft up and down is provided. Further, in the shaft type and weight type diameter control type semiconductor single crystal manufacturing apparatus, the upper shaft attached to the lower end of the weight sensor and the lower shaft attached to the upper end of the force bar are connected by a wire,
A structure for providing a means for moving the force bar up and down,
In such a configuration, the upper end is fixed to the lower end of the weight sensor, and the inner circumference of the guide shaft surrounding the upper part of the upper shaft, the wire, the lower shaft and the force bar,
A plurality of balls made of stainless steel or ceramics may be slidably disposed between the outer periphery of the force bar and
The upper end is fixed to the lower end of the weight sensor, and a guide collar made of carbon material is provided between the inner circumference of the guide shaft surrounding the upper shaft, the wire, the lower shaft and the upper part of the force bar, and the outer circumference of the force bar. Good. Further, the semiconductor single crystal pulling apparatus according to the present invention is characterized by using a carbon material for the force bar.
【0007】[0007]
【作用】上記構成によれば、CZ法を用いるシャフト方
式の半導体単結晶引き上げ装置において、引き上げ軸を
上下に分割し、その間をワイヤで連結したので、成長が
完了した単結晶シリコンを炉外に取り出す際、上部シャ
フトの上昇を停止させて下部シャフト昇降手段を駆動さ
せれば、ワイヤがたるんで下部シャフトから下方の部分
のみを上昇させることができる。従って、半導体単結晶
引き上げ装置の全高を増加しなくても従来より長尺の単
結晶シリコンの引き上げが可能となる。また、重量式直
径制御方式の半導体単結晶引き上げ装置に対しては、フ
ォースバーとガイドシャフトとを、ステンレス鋼または
セラミックス製の複数個の球もしくは炭素材のガイドカ
ラーを介して接触させる構造としたので、フォースバー
周辺から落下する金属粉が減少し、半導体基板のライフ
タイム低下を防止することができる。更に、炭素材から
なるフォースバーはステンレス鋼製のものより耐熱性が
格段にすぐれているので、耐用寿命が長くなるととも
に、重量センサに炉内の熱が伝わりにくい。According to the above construction, in the shaft type semiconductor single crystal pulling apparatus using the CZ method, the pulling axis is divided into upper and lower parts and the wire is connected between them, so that the grown single crystal silicon is taken out of the furnace. When taking out, if the raising of the upper shaft is stopped and the lower shaft elevating means is driven, the wire sags and only the portion below the lower shaft can be raised. Therefore, it is possible to pull the single crystal silicon longer than the conventional one without increasing the total height of the semiconductor single crystal pulling apparatus. Further, with respect to the weight-based diameter control type semiconductor single crystal pulling apparatus, the force bar and the guide shaft are configured to be in contact with each other through a plurality of balls made of stainless steel or ceramics or a guide collar made of carbon material. Therefore, the amount of metal powder falling from around the force bar is reduced, and it is possible to prevent the lifetime of the semiconductor substrate from being reduced. Further, the force bar made of carbon material has much higher heat resistance than that made of stainless steel, so that the service life is extended and the heat in the furnace is less likely to be transmitted to the weight sensor.
【0008】[0008]
【実施例】以下に、本発明に係る半導体単結晶引き上げ
装置の実施例について、図面を参照して説明する。図1
は、重量式直径制御方式による引き上げ軸の第1実施例
の概略構造を示す断面図で、従来一体構造であったフォ
ースバーは上部シャフト1、ワイヤ2、下部シャフト
3、フォースバー4によって構成されている。前記上部
シャフト1はステンレス鋼からなり、その上端に重量セ
ンサ5が螺着され、下端にタングステン鋼のワイヤ2が
取着されている。ワイヤ2の下端にはステンレス鋼から
なる下部シャフト3が取着され、炭素材からなるフォー
スバー4の上端は前記下部シャフト3に螺着されてい
る。また、フォースバー4の下端には炭素材からなり、
図示しない種結晶を保持するシードチャック6が螺着さ
れている。前記上部シャフト1、ワイヤ2、下部シャフ
ト3、およびフォースバー4の上部は、重量センサ5と
一体に回転するステンレス鋼の中空のガイドシャフト7
によって包囲されている。なお、前記フォースバー4、
シードチャック6は強度的に十分な安全率を考慮して設
計され、従来のステンレス鋼製のものに比べると熱変形
しにくい。Embodiments of the semiconductor single crystal pulling apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG.
FIG. 1 is a sectional view showing a schematic structure of a lifting shaft according to a first embodiment of a weight type diameter control system. The conventional force bar is composed of an upper shaft 1, a wire 2, a lower shaft 3 and a force bar 4. ing. The upper shaft 1 is made of stainless steel, a weight sensor 5 is screwed on the upper end thereof, and a tungsten steel wire 2 is attached on the lower end thereof. A lower shaft 3 made of stainless steel is attached to the lower end of the wire 2, and an upper end of a force bar 4 made of carbon material is screwed to the lower shaft 3. Also, the lower end of the force bar 4 is made of carbon material,
A seed chuck 6 holding a seed crystal (not shown) is screwed on. The upper shaft 1, the wire 2, the lower shaft 3, and the upper portion of the force bar 4 are hollow stainless steel guide shafts 7 that rotate integrally with the weight sensor 5.
Be surrounded by. The force bar 4,
The seed chuck 6 is designed in consideration of a sufficient safety factor in terms of strength, and is less likely to be thermally deformed as compared with a conventional one made of stainless steel.
【0009】図2は下部シャフト3と、フォースバー4
の上部周辺の構造を説明する断面図である。前記下部シ
ャフト3の上端には、ステンレス鋼からなるワイヤ固定
ネジ8が螺着されている。ワイヤ固定ネジ8は図3に示
すように、軸心に直径の異なる穴8a,8bが設けら
れ、これらの穴の境界には円錐面が形成されている。前
記穴8aは、ワイヤ2を通すための穴である。また、軸
心に沿って外周から前記穴8a,8bに達する1本のス
リット8cが設けられている。なお、上部シャフト1の
下端にも前記ワイヤ固定ネジ8と同一構造のワイヤ固定
ネジが螺着されている。FIG. 2 shows a lower shaft 3 and a force bar 4.
FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating the structure around the upper part of FIG. A wire fixing screw 8 made of stainless steel is screwed onto the upper end of the lower shaft 3. As shown in FIG. 3, the wire fixing screw 8 is provided with holes 8a and 8b having different diameters at its axial center, and a conical surface is formed at the boundary of these holes. The hole 8a is a hole for passing the wire 2. Further, one slit 8c extending from the outer circumference to the holes 8a and 8b is provided along the axis. A wire fixing screw having the same structure as the wire fixing screw 8 is also screwed to the lower end of the upper shaft 1.
【0010】上部シャフト1と下部シャフト3とを連結
するワイヤ2の両端にはそれぞれステンレス鋼製の球が
固着され、ワイヤ2を上記ワイヤ固定ネジ8のスリット
8cから穴8a,8b内に挿通した後、ワイヤ2を引っ
張ると、ワイヤ両端の球はそれぞれワイヤ固定ネジ8に
設けられた穴8bの円錐面に当接する。Balls made of stainless steel are fixed to both ends of a wire 2 connecting the upper shaft 1 and the lower shaft 3, and the wire 2 is inserted through the slits 8c of the wire fixing screw 8 into the holes 8a and 8b. After that, when the wire 2 is pulled, the balls at both ends of the wire abut on the conical surface of the hole 8b provided in the wire fixing screw 8, respectively.
【0011】フォースバー4の上部外周にはスペーサ9
が取着され、このスペーサ9の上下両端にそれぞれステ
ンレス鋼またはセラミックス製の球10を保持するステ
ンレス鋼製の保持器11が嵌着されている。前記球10
は保持器11に複数個等間隔に配設され、ガイドシャフ
ト7の内壁面を滑動することができる。また、下側の保
持器11の落下を防止するため、前記保持器11の下面
に密接してフォースバー4にステンレス鋼からなるカラ
ー12が取着されている。A spacer 9 is provided on the outer periphery of the upper portion of the force bar 4.
The spacers 9 are attached to the upper and lower ends of the spacer 9, and stainless steel cages 11 for holding the balls 10 made of stainless steel or ceramics are fitted to the spacers 9. The sphere 10
Are arranged in the retainer 11 at equal intervals and can slide on the inner wall surface of the guide shaft 7. Further, in order to prevent the lower retainer 11 from falling, a collar 12 made of stainless steel is attached to the force bar 4 in close contact with the lower surface of the retainer 11.
【0012】図4は、成長が完了した単結晶シリコンを
アッパチャンバ内に引き上げ中の状態を示す断面説明図
である。半導体単結晶引き上げ装置のアッパチャンバを
形成するベローズ13の外側には、油圧または空圧で駆
動されるシリンダ14が設けられていて、このシリンダ
14のピストンロッド14a下端には水平方向の板15
が取着されている。単結晶シリコンのテールが融液面か
ら離れ、所定の高さに引き上げられるまでの間は従来の
シャフト方式の場合と同一である。単結晶シリコンが所
定の高さに引き上げられるとガイドシャフト7の上昇を
停止し、前記アッパチャンバを形成するベローズ13を
上方に圧縮する。そして、露出したシードチャック6の
下端に前記板15を接触させた後シリンダ14を引き込
み側に駆動する。これにより、図示しない下部シャフト
と、フォースバー4、シードチャック6および単結晶シ
リコンが押し上げられ、ワイヤ2にたるみができる。重
量センサ5やガイドシャフト7の高さを前記所定の高さ
に停止させたまま、単結晶シリコンは搬出位置に上昇す
る。FIG. 4 is a cross-sectional explanatory view showing a state in which single crystal silicon having completed growth is being pulled into the upper chamber. A cylinder 14 driven by hydraulic pressure or air pressure is provided outside the bellows 13 forming the upper chamber of the semiconductor single crystal pulling apparatus, and a horizontal plate 15 is provided at the lower end of the piston rod 14a of the cylinder 14.
Is attached. The process until the tail of the single crystal silicon is separated from the melt surface and pulled up to a predetermined height is the same as in the conventional shaft system. When the single crystal silicon is pulled up to a predetermined height, the rise of the guide shaft 7 is stopped, and the bellows 13 forming the upper chamber is compressed upward. Then, after the plate 15 is brought into contact with the exposed lower end of the seed chuck 6, the cylinder 14 is driven to the retracting side. As a result, the lower shaft (not shown), the force bar 4, the seed chuck 6, and the single crystal silicon are pushed up, and the wire 2 is slackened. The single crystal silicon rises to the carry-out position while the heights of the weight sensor 5 and the guide shaft 7 are stopped at the predetermined height.
【0013】本実施例の場合、フォースバー4は上下2
列にそれぞれ複数個配設された球10を介してガイドシ
ャフト7の内周と点接触しているので、フォースバー4
がガイドシャフト7内を上昇する場合においても摩擦抵
抗が小さく、従来構造のフォースバーに比べて金属粉の
融液への落下が低減される。In the case of this embodiment, the force bar 4 has two upper and lower portions.
The point bar 4 is in point contact with the inner circumference of the guide shaft 7 through the balls 10 arranged in a row.
The frictional resistance is small even when moving up in the guide shaft 7, and the falling of the metal powder into the melt is reduced as compared with the force bar of the conventional structure.
【0014】図5は、重量式直径制御方式による引き上
げ軸の第2実施例の概略構造を示す断面図で、上記第1
実施例における保持器と球とに代えてガイドカラー2
1,22が用いられている。前記ガイドカラー21,2
2は炭素材からなり、内外周は鏡面仕上げを施すかまた
はSiCの保護膜によって被覆され、ステンレス鋼製の
スペーサ23の上下両端に取り付けられている。ステン
レス鋼からなる固定金具24は下側のガイドカラー22
の落下を防止するためのもので、ガイドシャフト7の下
端に取着されている。また、前記下側のガイドカラー2
2の下方には炭素材からなるカラー25がフォースバー
4に取着されている。前記固定金具24およびカラー2
5は、ガイドカラー21,22とフォースバー4、ガイ
ドシャフト7との摩擦によって生じる炭素材粉末の融液
への落下を防止する機能ももっている。ただし、摩擦抵
抗が小さいので磨耗粉の発生量は極めて微量である。そ
の他の各部構造は第1実施例と同一であるので、詳細説
明を省略する。FIG. 5 is a sectional view showing the schematic structure of a second embodiment of the lifting shaft of the weight type diameter control system.
A guide collar 2 instead of the cage and the sphere in the embodiment
1 and 22 are used. The guide collars 21 and 2
Reference numeral 2 is made of a carbon material, and the inner and outer circumferences thereof are mirror-finished or covered with a protective film of SiC, and are attached to the upper and lower ends of a spacer 23 made of stainless steel. The fixing bracket 24 made of stainless steel has a lower guide collar 22.
And is attached to the lower end of the guide shaft 7. In addition, the lower guide collar 2
A collar 25 made of carbon material is attached to the force bar 4 below the member 2. The fixing bracket 24 and the collar 2
The reference numeral 5 also has a function of preventing the carbon material powder from falling into the melt due to friction between the guide collars 21 and 22 and the force bar 4 and the guide shaft 7. However, since the frictional resistance is small, the amount of abrasion powder generated is extremely small. The other structure of each part is the same as that of the first embodiment, and detailed description thereof will be omitted.
【0015】上記の実施例では、重量式直径制御方式の
半導体単結晶引き上げ装置について説明したが、光学式
直径制御を行うシャフト方式の半導体単結晶引き上げ装
置に対しても本発明を適用することができる。また、フ
ォースバーを昇降させる手段として油圧または空圧で作
動するシリンダを用いたが、前記シリンダの代わりにボ
ールねじで昇降するシャフトを用いてもよく、あるいは
ワイヤを電動機で巻き上げる方式としてもよい。In the above embodiments, the weight type diameter control type semiconductor single crystal pulling apparatus has been described, but the present invention can also be applied to a shaft type semiconductor single crystal pulling apparatus which performs optical diameter control. it can. Further, although a cylinder that operates hydraulically or pneumatically is used as a means for moving the force bar up and down, a shaft that moves up and down with a ball screw may be used instead of the cylinder, or a method of winding a wire with an electric motor may be used.
【0016】[0016]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、従
来の重量式直径制御方式の半導体単結晶引き上げ装置に
用いられているフォースバーを、ワイヤ部分と短いフォ
ースバー部分とに分けて構成し、結晶成長が完了した単
結晶シリコンを所定の高さに引き上げた後、フォースバ
ー部分を押し上げることにした。この改良により、引き
上げ軸の上昇ストロークを単結晶シリコンの軸方向長さ
に対応して延長する必要がなくなり、前記引き上げ装置
の全高を低くすることができるため、半導体単結晶引き
上げ装置の設備コスト上昇の抑止が可能となる。また、
フォースバーとガイドシャフトとを、ステンレス鋼また
はセラミックス製の複数個の球もしくは炭素材のガイド
カラーを介して接触させる構造としたので、フォースバ
ー周辺から落下する金属粉が減少し、半導体基板のライ
フタイム低下を防止することができる。As described above, according to the present invention, the force bar used in the conventional weight type diameter control type semiconductor single crystal pulling apparatus is divided into a wire portion and a short force bar portion. Then, after pulling the single crystal silicon having completed the crystal growth to a predetermined height, the force bar portion is pushed up. With this improvement, it is not necessary to extend the rising stroke of the pulling shaft in accordance with the axial length of the single crystal silicon, and the total height of the pulling device can be reduced, which increases the equipment cost of the semiconductor single crystal pulling device. Can be suppressed. Also,
Since the force bar and the guide shaft are in contact with each other through a plurality of balls made of stainless steel or ceramics or a guide collar made of carbon material, the metal powder falling from around the force bar is reduced and the life of the semiconductor substrate is reduced. Time reduction can be prevented.
【図1】重量式直径制御方式による引き上げ軸の第1実
施例の概略構成を示す断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing a schematic configuration of a lifting shaft according to a first embodiment of a weight type diameter control system.
【図2】下部シャフトと、フォースバーの上部周辺の概
略構成を説明する断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of a lower shaft and an upper periphery of a force bar.
【図3】ワイヤ固定ネジの断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of a wire fixing screw.
【図4】成長が完了した単結晶シリコンをアッパチャン
バ内に引き上げ中の状態を示す断面説明図である。FIG. 4 is a cross-sectional explanatory view showing a state in which single crystal silicon that has completed growth is being pulled into the upper chamber.
【図5】重量式直径制御方式による引き上げ軸の第2実
施例における下部シャフトと、フォースバーの上部周辺
の概略構成を示す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a lower shaft of a lifting shaft according to a second embodiment of a weight type diameter control system and an upper periphery of a force bar.
【図6】従来の重量式直径制御方式による半導体単結晶
引き上げ装置の概略構成を示す模式図である。FIG. 6 is a schematic view showing a schematic configuration of a conventional semiconductor single crystal pulling apparatus by a weight type diameter control system.
1 上部シャフト 2 ワイヤ 3 下部シャフト 4,32 フォースバー 5 重量センサ 7,34 ガイドシャフト 10 球 11 保持器 14 シリンダ 21,22 ガイドカラー 31 単結晶シリコン 36 るつぼ 37 ヒータ 1 Upper Shaft 2 Wire 3 Lower Shaft 4,32 Force Bar 5 Weight Sensor 7,34 Guide Shaft 10 Ball 11 Cage 14 Cylinder 21, 22 Guide Collar 31 Single Crystal Silicon 36 Crucible 37 Heater
Claims (5)
と、このるつぼの周囲にあってるつぼ内の原料を加熱す
るヒータと、溶解した原料に種結晶を浸漬して単結晶を
引き上げる引き上げ機構とを備えたシャフト方式の半導
体単結晶製造装置において、引き上げ軸を上部シャフト
と下部シャフトとに分割し、前記上部シャフトと下部シ
ャフトとをワイヤで連結するとともに、下部シャフトを
昇降させる手段を設けたことを特徴とする半導体単結晶
引き上げ装置。1. A crucible for melting a raw material of a semiconductor single crystal, a heater for heating a raw material in a crucible around the crucible, and a pulling mechanism for dipping a seed crystal in the melted raw material to pull up the single crystal. In the shaft type semiconductor single crystal manufacturing apparatus having the above-mentioned, the pulling shaft is divided into an upper shaft and a lower shaft, the upper shaft and the lower shaft are connected by a wire, and means for raising and lowering the lower shaft is provided. A semiconductor single crystal pulling apparatus characterized by:
式の半導体単結晶製造装置において、重量センサの下端
に取着した上部シャフトと、フォースバーの上端に取着
した下部シャフトとをワイヤで連結し、前記フォースバ
ーを昇降させる手段を設けたことを特徴とする半導体単
結晶引き上げ装置。2. In a shaft type and weight type diameter control type semiconductor single crystal manufacturing apparatus, an upper shaft attached to a lower end of a weight sensor and a lower shaft attached to an upper end of a force bar are connected by a wire. A device for pulling a semiconductor single crystal is provided with means for moving up and down the force bar.
部シャフト、ワイヤ、下部シャフトおよびフォースバー
の上部を包囲するガイドシャフトの内周と、前記フォー
スバーの外周との間にステンレス鋼またはセラミックス
製の球を滑動自在に複数個配設したことを特徴とする請
求項2の半導体単結晶引き上げ装置。3. A stainless steel or ceramics member having an upper end fixed to a lower end of the weight sensor, and an inner periphery of a guide shaft that surrounds an upper shaft, a wire, a lower shaft and an upper portion of the force bar, and an outer periphery of the force bar. 3. A semiconductor single crystal pulling apparatus according to claim 2, wherein a plurality of spheres made of silicon are slidably arranged.
部シャフト、ワイヤ、下部シャフトおよびフォースバー
の上部を包囲するガイドシャフトの内周と、前記フォー
スバーの外周との間に炭素材からなるガイドカラーを設
けたことを特徴とする請求項2の半導体単結晶引き上げ
装置。4. The upper end is fixed to the lower end of the weight sensor, and is made of a carbon material between the inner circumference of the upper shaft, the wire, the lower shaft and the guide shaft surrounding the upper part of the force bar, and the outer circumference of the force bar. The semiconductor single crystal pulling apparatus according to claim 2, wherein a guide collar is provided.
徴とする請求項2の半導体単結晶引き上げ装置。5. The semiconductor single crystal pulling apparatus according to claim 2, wherein a carbon material is used for the force bar.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27600094A JP3526927B2 (en) | 1994-10-14 | 1994-10-14 | Semiconductor single crystal pulling equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27600094A JP3526927B2 (en) | 1994-10-14 | 1994-10-14 | Semiconductor single crystal pulling equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08119790A true JPH08119790A (en) | 1996-05-14 |
JP3526927B2 JP3526927B2 (en) | 2004-05-17 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3526927B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7413609B2 (en) * | 2003-10-14 | 2008-08-19 | Sumco Techxiv Corporation | Semiconductor single crystal manufacturing apparatus |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101554411B1 (en) * | 2014-01-06 | 2015-09-18 | 주식회사 엘지실트론 | Apparatus and method for growing ingot |
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US7413609B2 (en) * | 2003-10-14 | 2008-08-19 | Sumco Techxiv Corporation | Semiconductor single crystal manufacturing apparatus |
DE112004001947B4 (en) * | 2003-10-14 | 2017-02-09 | Komatsu Denshi Kinzoku K.K. | Device for producing a monocrystal semiconductor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
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S533 | Written request for registration of change of name |
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