JP7316396B1 - 信号解析装置および信号解析方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図1に戻り、中間周波数変換部10は、DUT2から送信された被測定信号S1を、中間周波数を有する中間周波数信号S5に変換するものであり、アッテネータ11と局部発振器12とミキサ13とバンドパスフィルタ14とを備えている。
ADC20は、バンドパスフィルタ14から出力されるアナログの中間周波数信号S5を所定のサンプリングレートでサンプリングして、デジタルデータに変換する。スペクトラム解析モードでは、ADC20は、このアナログデジタル変換により得られたデジタル中間周波数信号S6を信号処理部30に送るようになっている。また、変調解析モードでは、ADC20は、アナログデジタル変換により得られたデジタル中間周波数信号S6を測定データ記憶部40に送るようになっている。ADC20は、限定するものではないが、例えば、分解能が16ビット、サンプリングレートが100Msps(samples per second)である。
信号処理部30は、ADC20により取得されたデジタル中間周波数信号S6に対して、帯域制限や検波処理などのデジタル信号処理を行うものであり、RBW(Resolution BandWidth)フィルタ31、対数変換部32、VBW(Video BandWidth)フィルタ33、および検波器34をこの順で或いは別の適当な順で備えている。例えば、検波器34は、必要に応じて、RBWフィルタ31と対数変換部32の間に入れてもよい。信号処理部30は、限定するものではないが、例えば、FPGA(Field Programmable Gate Array)により構成される。
解析処理部50は、スペクトラム解析モード時に被測定信号S1のスペクトラムを測定・解析するスペクトラム解析部51と、変調解析モード時に被測定信号S1の変調を解析する変調解析部52とを備えている。スペクトラム解析モードと変調解析モードは、ユーザが選択できるようになっている。
制御部70は、中間周波数変換部10、ADC20、信号処理部30等の動作を制御し、表示部80への周波数スペクトラムの表示を制御し、各種パラメータの設定を行うよう構成されたものであり、タイミング信号発生部71、掃引信号発生部72、および測定条件設定部73を備えている。制御部70は、測定周波数を掃引する第1モードと前記測定周波数を固定する第2モードとを選択して設定することができる。なお、本実施形態の制御部70、掃引信号発生部72、および測定条件設定部73は、本発明の周波数設定部、掃引部、および設定部にそれぞれ対応する。
次に、データ時間幅制御部60について説明する。
次に、本実施形態に係る信号解析方法を説明する。
以上説明したように、本実施形態に係る信号解析装置1は、1トレースデータ(トレースポイント)の測定に少なくとも1周期分のバースト波を必ず含むように掃引時間を自動で設定するので、バースト信号のオフ区間の測定がスペクトラムの測定結果を不正確にすることを抑制することができ、バースト信号のスペクトラムを高い精度で確実に測定することができる。また、従来のようにユーザが手動で煩雑な操作、設定を行う必要がなく、人為的な操作ミスもなくなるので、測定結果に生じた問題が、被測定信号を送信するDUT2に起因するものか、信号解析装置1の掃引時間等の設定に起因するものか等の要因の分析を容易に行うことができる。
2 DUT
3、3A 測定部
10 中間周波数変換部
11 アッテネータ
12 局部発振器
13 ミキサ
14 バンドパスフィルタ
20 アナログデジタル変換器(ADC)
30 信号処理部
31 RBWフィルタ
32 対数変換器
33 VBWフィルタ
34 検波器
40 測定データ記憶部
50 解析処理部
51 スペクトラム解析部(スペクトラム生成部)
51a トレースデータ生成部
52 変調解析部
60 データ時間幅制御部
61 バースト波判定部
62 バースト周期算出部
63 データ時間幅設定部
70 制御部(周波数設定部)
71 タイミング信号発生部
72 掃引信号発生部(掃引部)
73 測定条件設定部(設定部)
80 表示部
81 操作部
100 表示画面
Claims (6)
- 被測定信号としてのバースト信号を解析する信号解析装置であって、
測定周波数を掃引する第1モードと前記測定周波数を固定する第2モードとを選択して設定する周波数設定部(70)と、
前記被測定信号のうち前記測定周波数の信号成分の電力を所定の時間間隔で測定して電力の測定データを取得する測定部(3)と、
前記第1モードに設定した条件下で前記測定部により取得した電力の測定データから、各々が前記被測定信号の周波数成分と該周波数成分での電力値を対で含むトレースデータ群を、前記被測定信号のスペクトラムとして生成するスペクトラム生成部(51)と、
前記スペクトラムを表示する表示部(80)と、
前記周波数設定部が前記バースト信号のメイン周波数を前記測定周波数として固定する前記第2モードに設定した条件下で前記測定部により予め取得された電力の事前測定データから、前記バースト信号の周期を算出するバースト周期算出部(62)と、
前記算出した周期に基づいて前記トレースデータ群の生成に用いる前記測定データの時間幅であるデータ時間幅(D)を設定するデータ時間幅設定部(63)と、
を備え、前記スペクトラム生成部は、前記設定されたデータ時間幅に含まれる前記測定データから前記トレースデータ群をスペクトラムとして生成することを特徴とする信号解析装置。 - 前記電力の事前測定データから、前記被測定信号がバースト波であるか否かを判定するバースト波判定部(61)をさらに備え、前記バースト周期算出部は、前記バースト波判定部により前記被測定信号がバースト波であると判定された場合に、前記バースト信号の周期を算出する、請求項1に記載の信号解析装置。
- 前記周波数設定部は、前記測定周波数を掃引させる掃引部(72)を備え、前記掃引部は、前記データ時間幅に等しい掃引時間で前記測定周波数の掃引を行う、請求項1または2に記載の信号解析装置。
- 前記データ時間幅設定部は、1トレースデータの生成に用いる前記測定データの時間幅が前記バースト周期算出部により算出された前記バースト信号の周期以上となるように、前記データ時間幅を設定する、請求項3に記載の信号解析装置。
- 前記データ時間幅を自動設定するか否かを設定する設定部(73)をさらに備え、
前記データ時間幅設定部は、前記設定部により前記データ時間幅の自動設定が選択されているとき、前記データ時間幅の設定を行う、請求項1~4のいずれか一項に記載の信号解析装置。 - 被測定信号としてのバースト信号を解析する信号解析方法であって、
測定周波数を掃引する第1モードと前記測定周波数を固定する第2モードとを選択して設定する周波数設定ステップと、
前記被測定信号のうち前記測定周波数の信号成分の電力を所定の時間間隔で測定して電力の測定データを取得する測定ステップと、
前記第1モードに設定した条件下で前記測定ステップにて取得した電力の測定データから、各々が前記被測定信号の周波数成分と該周波数成分での電力値を対で含むトレースデータ群を、前記被測定信号のスペクトラムとして生成するスペクトラム生成ステップと、
前記スペクトラムを表示部に表示する表示ステップと、
前記周波数設定ステップにて前記バースト信号のメイン周波数を前記測定周波数として固定する前記第2モードに設定した条件下で前記測定ステップを実行して予め取得された電力の事前測定データから、前記バースト信号の周期を算出するバースト周期算出ステップ(ST16)と、
前記算出した周期に基づいて前記トレースデータ群の生成に用いる前記測定データの時間幅であるデータ時間幅(D)を設定するデータ時間幅設定部(ST17)と、
を含み、前記スペクトラム生成ステップでは、前記設定されたデータ時間幅に含まれる前記測定データから前記トレースデータ群をスペクトラムとして生成することを特徴とする信号解析方法。
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