JP6963972B2 - Method for producing acid generator, resist composition and resist pattern - Google Patents
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Description
本発明は、塩、酸発生剤、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法に関する。 The present invention relates to a method for producing a salt, an acid generator, a resist composition and a resist pattern.
特許文献1には、下記式で表される塩を酸発生剤として含有するレジスト組成物が記載されている。
Patent Document 1 describes a resist composition containing a salt represented by the following formula as an acid generator.
上記の塩を含むレジスト組成物では、得られるレジストパターンのマスクエラーファクター(MEF)が必ずしも満足できない場合があった。 In the resist composition containing the above salt, the mask error factor (MEF) of the obtained resist pattern may not always be satisfactory.
本発明は、以下の発明を含む。
〔1〕式(I)で表される塩。
[式(I)中、
QA1及びQA2は、それぞれ独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
Lb1は、炭素数1〜28の3価又は4価の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれる−CH2−は−O−又は−CO−に置き換わっていてもよく、該飽和炭化水素基に含まれる水素原子はフッ素原子又はヒドロキシ基で置換されていてもよい。
R1は、水素原子、フッ素原子又はヒドロキシ基を表す。
mは0〜2のいずれかの整数を表し、nは1〜12のいずれかの整数を表し、oは0又は1を表す。
nnは、2又は3を表す。複数存在するR1、m、n及びoはそれぞれ、異なっていてもよいし、同一であってもよい。
Z1+は、有機対イオンを表す。]
〔2〕Lb1が、式(L1−1)、式(L1−2)又は式(L1−3)で表される基である〔1〕記載のレジスト組成物。
[式(L1−1)、式(L1−2)及び式(L1−3)中、
X0は、単結合、フッ素原子を有していてもよい炭素数1〜14の2価の脂肪族炭化水素基又は式(a−1)で表される基を表す。
(式(a−1)中、
sは0又は1を表す。
X10及びX11は、同一又は相異なり、酸素原子、カルボニル基、カルボニルオキシ基、オキシカルボニル基又はオキシカルボニルオキシ基を表す。
A10及びA11はそれぞれ独立に、フッ素原子を有していてもよい炭素数1〜12の2価の脂肪族炭化水素基を表す。
A12は、単結合又はフッ素原子を有していてもよい炭素数1〜12の2価の脂肪族炭化水素基を表す。
*はW又は炭素原子との結合手を表す。)
Wは、炭素原子又は炭素数4〜18の脂環式炭化水素基を表す。
X1は、−O−*1、−O−CO−*1、−O−CH2−*1又は−O−CH2−CO−O−*1を表す。*1は−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)O−R1との結合手を表す。
X2は、−O−*2、−O−CO−*2、−O−CH2−*2又は−O−CH2−CO−O−*2を表す。*2は−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)O−R1との結合手を表す。
X3は、−O−*1又は−O−CH2−CO−O−*1を表す。*1は−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)O−R1との結合手を表す。
X4は、−O−*2又は−O−CH2−CO−O−*2を表す。*2は−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)O−R1との結合手を表す。
X5は、−O−*1、−O−CO−*1又は−O−CH2−*1を表す。*1は−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)O−R1との結合手を表す。
X6は、−O−*2、−O−CO−*2又は−O−CH2−*2を表す。*2は−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)O−R1との結合手を表す。
*L0は−C(QA1)(QA2)−との結合手を表す。
m1、m2、m3、m4及びm5は、それぞれ独立に、0〜6のいずれかの整数を表す。
RLは、水素原子又はフッ素原子を有していてもよい炭素数1〜14の脂肪族炭化水素基を表す。
*L1及び*L2は、−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)o−R1との結合手を表す。]
〔3〕〔1〕又は〔2〕記載の塩を含有する酸発生剤。
〔4〕〔3〕記載の酸発生剤と、酸不安定基を有する構造単位を含む樹脂とを含有するレジスト組成物。
〔5〕フッ素原子を有する構造単位を含む樹脂をさらに含有する〔4〕記載のレジスト組成物。
〔6〕酸発生剤から発生する酸よりも酸性度の弱い酸を発生する塩をさらに含有する〔4〕又は〔5〕記載のレジスト組成物。
〔7〕(1)[4]〜[6]のいずれか記載のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物を乾燥させて組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、及び
(5)加熱後の組成物層を現像する工程を含むレジストパターンの製造方法。
The present invention includes the following inventions.
[1] A salt represented by the formula (I).
[In formula (I),
Q A1 and Q A2 each independently represent a fluorine atom or a perfluoroalkyl group having 1 to 6 carbon atoms.
L b1 represents a trivalent or tetravalent saturated hydrocarbon group having 1 to 28 carbon atoms, and -CH 2- contained in the saturated hydrocarbon group may be replaced with -O- or -CO-. The hydrogen atom contained in the saturated hydrocarbon group may be substituted with a fluorine atom or a hydroxy group.
R 1 represents a hydrogen atom, a fluorine atom or a hydroxy group.
m represents any integer from 0 to 2, n represents any integer from 1 to 12, and o represents 0 or 1.
nn represents 2 or 3. R 1 there are a plurality, m, n and o are each, it may be different, may be the same.
Z1 + represents an organic counterion. ]
[2] L b1 is the formula (L 1 -1), formula (L 1 -2) or a group represented by the formula (L 1 -3) [1] resist composition.
Wherein (L 1 -1), formula (L 1 -2) and formula (L 1 -3),
X 0 represents a divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 14 carbon atoms which may have a single bond and a fluorine atom or a group represented by the formula (a-1).
(In equation (a-1),
s represents 0 or 1.
X 10 and X 11 are the same or different and represent an oxygen atom, a carbonyl group, a carbonyloxy group, an oxycarbonyl group or an oxycarbonyloxy group.
A 10 and A 11 each independently represent a divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms which may have a fluorine atom.
A 12 represents a divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms which may have a single bond or a fluorine atom.
* Represents a bond with W or a carbon atom. )
W represents a carbon atom or an alicyclic hydrocarbon group having 4 to 18 carbon atoms.
X 1 represents -O- * 1, -O-CO- * 1, -O-CH 2- * 1 or -O-CH 2 --CO-O- * 1. * 1 represents - (CH 2) bond to O -R 1 - (CH 2) m - (CF 2) n.
X 2 represents -O- * 2, -O-CO- * 2, -O-CH 2- * 2, or -O-CH 2- CO-O- * 2. * 2 represents - (CH 2) bond to O -R 1 - (CH 2) m - (CF 2) n.
X 3 represents -O- * 1 or -O-CH 2- CO-O- * 1. * 1 represents - (CH 2) bond to O -R 1 - (CH 2) m - (CF 2) n.
X 4 represents -O- * 2 or -O-CH 2- CO-O- * 2. * 2 represents - (CH 2) bond to O -R 1 - (CH 2) m - (CF 2) n.
X 5 represents -O- * 1, -O-CO- * 1 or -O-CH 2- * 1. * 1 represents - (CH 2) bond to O -R 1 - (CH 2) m - (CF 2) n.
X 6 represents -O- * 2, -O-CO- * 2 or -O-CH 2- * 2. * 2 represents - (CH 2) bond to O -R 1 - (CH 2) m - (CF 2) n.
* L0 represents a bond with -C (Q A1 ) (Q A2)-.
m1, m2, m3, m4 and m5 each independently represent an integer of 0 to 6.
RL represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 14 carbon atoms which may have a hydrogen atom or a fluorine atom.
* L1 and * L2 represent a bond with − (CH 2 ) m- (CF 2 ) n- (CH 2 ) o-R 1. ]
[3] An acid generator containing the salt according to [1] or [2].
[4] A resist composition containing the acid generator according to [3] and a resin containing a structural unit having an acid unstable group.
[5] The resist composition according to [4], which further contains a resin containing a structural unit having a fluorine atom.
[6] The resist composition according to [4] or [5], which further contains a salt that generates an acid having a weaker acidity than the acid generated from the acid generator.
[7] (1) A step of applying the resist composition according to any one of [4] to [6] onto a substrate.
(2) A step of drying the applied composition to form a composition layer,
(3) Step of exposing the composition layer,
A method for producing a resist pattern, which comprises a step of (4) heating the composition layer after exposure and (5) a step of developing the composition layer after heating.
良好なマスクエラーファクター(MEF)のレジストパターンを製造することができる塩を提供する。 Provided is a salt capable of producing a resist pattern of good mask error factor (MEF).
本明細書において「(メタ)アクリレート」とは、それぞれ「アクリレート及びメタクリレートの少なくとも一種」を意味する。「(メタ)アクリル酸」や「(メタ)アクリロイル」等の表記も、同様の意味を有する。
また、特に断りのない限り、「脂肪族炭化水素基」のように直鎖、分岐及び/又は環をとり得る基は、そのいずれをも含む。「芳香族炭化水素基」は芳香環に炭化水素基が結合した基をも包含する。立体異性体が存在する場合は、全ての立体異性体を包含する。
本明細書において、「レジスト組成物の固形分」とは、レジスト組成物の総量から、後述する溶剤(E)を除いた成分の合計を意味する。
As used herein, the term "(meth) acrylate" means "at least one of acrylate and methacrylate," respectively. Notations such as "(meta) acrylic acid" and "(meta) acryloyl" have the same meaning.
Further, unless otherwise specified, a group capable of taking a linear, branched and / or ring such as an "aliphatic hydrocarbon group" includes any of them. The "aromatic hydrocarbon group" also includes a group in which a hydrocarbon group is bonded to an aromatic ring. If a steric isomer is present, it includes all steric isomers.
In the present specification, the "solid content of the resist composition" means the total amount of the components excluding the solvent (E) described later from the total amount of the resist composition.
<塩>
本発明の塩は、式(I)で表される塩(以下「塩(I)」という場合がある)である。
[式(I)中、
QA1及びQA2は、それぞれ独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
Lb1は、炭素数1〜28の3価又は4価の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれる−CH2−は−O−又は−CO−に置き換わっていてもよく、該飽和炭化水素基に含まれる水素原子はフッ素原子又はヒドロキシ基で置換されていてもよい。
R1は、水素原子、フッ素原子又はヒドロキシ基を表す。
mは0〜2のいずれかの整数を表し、nは1〜12のいずれかの整数を表し、oは0又は1を表す。
nnは、2又は3を表す。複数存在するR1、m、n及びoはそれぞれ、異なっていてもよいし、同一であってもよい。
Z1+は、有機対イオンを表す。]
塩(I)のうち、正電荷を有する側を「有機カチオン」と、負電荷を有する側を「スルホン酸アニオン」と、それぞれ称することがある。
<Salt>
The salt of the present invention is a salt represented by the formula (I) (hereinafter, may be referred to as "salt (I)").
[In formula (I),
Q A1 and Q A2 each independently represent a fluorine atom or a perfluoroalkyl group having 1 to 6 carbon atoms.
L b1 represents a trivalent or tetravalent saturated hydrocarbon group having 1 to 28 carbon atoms, and -CH 2- contained in the saturated hydrocarbon group may be replaced with -O- or -CO-. The hydrogen atom contained in the saturated hydrocarbon group may be substituted with a fluorine atom or a hydroxy group.
R 1 represents a hydrogen atom, a fluorine atom or a hydroxy group.
m represents any integer from 0 to 2, n represents any integer from 1 to 12, and o represents 0 or 1.
nn represents 2 or 3. R 1 there are a plurality, m, n and o are each, it may be different, may be the same.
Z1 + represents an organic counterion. ]
Of the salt (I), the side having a positive charge may be referred to as an "organic cation", and the side having a negative charge may be referred to as a "sulfonic acid anion".
QA1及びQA2のペルフルオロアルキル基としては、トリフルオロメチル基、ペルフルオロエチル基、ペルフルオロプロピル基、ペルフルオロイソプロピル基、ペルフルオロブチル基、ペルフルオロsec−ブチル基、ペルフルオロtert−ブチル基、ペルフルオロペンチル基及びペルフルオロヘキシル基等が挙げられる。
QA1及びQA2は、それぞれ独立に、フッ素原子又はトリフルオロメチル基であることが好ましく、QA1及びQA2はともにフッ素原子であることがより好ましい。
The perfluoroalkyl group Q A1 and Q A2, trifluoromethyl group, perfluoroethyl group, perfluoropropyl group, perfluoroisopropyl group, perfluorobutyl group, a perfluoro sec- butyl group, perfluoro-tert- butyl group, perfluoropentyl group, and a perfluoro Hexyl groups and the like can be mentioned.
Q A1 and Q A2 each independently is preferably a fluorine atom or a trifluoromethyl group, Q A1 and Q A2 is more preferably both fluorine atoms.
Lb1の3価及び4価の飽和炭化水素基は、2価の飽和炭化水素基の任意の位置の1つ又は2つの水素原子を取り去った基が挙げられる。2価の飽和炭化水素基としては、直鎖状アルカンジイル基、分岐状アルカンジイル基、単環式又は多環式の2価の脂環式飽和炭化水素基が挙げられ、これらの基のうち2種以上を組合せたものでもよい。
具体的には、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基、ペンタン−1,5−ジイル基、ヘキサン−1,6−ジイル基、ヘプタン−1,7−ジイル基、オクタン−1,8−ジイル基、ノナン−1,9−ジイル基、デカン−1,10−ジイル基、ウンデカン−1,11−ジイル基、ドデカン−1,12−ジイル基、トリデカン−1,13−ジイル基、テトラデカン−1,14−ジイル基、ペンタデカン−1,15−ジイル基、ヘキサデカン−1,16−ジイル基及びヘプタデカン−1,17−ジイル基等の直鎖状アルカンジイル基;
エタン−1,1−ジイル基、プロパン−1,1−ジイル基、プロパン−1,2−ジイル基、プロパン−2,2−ジイル基、ペンタン−2,4−ジイル基、2−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,2−ジイル基、ペンタン−1,4−ジイル基、2−メチルブタン−1,4−ジイル基等の分岐状アルカンジイル基;
シクロブタン−1,3−ジイル基、シクロペンタン−1,3−ジイル基、シクロヘキサン−1,4−ジイル基、シクロオクタン−1,5−ジイル基等のシクロアルカンジイル基である単環式の2価の脂環式飽和炭化水素基;
ノルボルナン−1,4−ジイル基、ノルボルナン−2,5−ジイル基、アダマンタン−1,5−ジイル基、アダマンタン−2,6−ジイル基等の多環式の2価の脂環式飽和炭化水素基等が挙げられる。
Examples of the trivalent and tetravalent saturated hydrocarbon groups of L b1 include groups from which one or two hydrogen atoms have been removed at arbitrary positions of the divalent saturated hydrocarbon groups. Examples of the divalent saturated hydrocarbon group include a linear alkanediyl group, a branched alkanediyl group, and a monocyclic or polycyclic divalent alicyclic saturated hydrocarbon group, among these groups. It may be a combination of two or more types.
Specifically, methylene group, ethylene group, propane-1,3-diyl group, butane-1,4-diyl group, pentane-1,5-diyl group, hexane-1,6-diyl group, heptane-1 , 7-Diyl Group, Octane-1,8-Diyl Group, Nonan-1,9-Diyl Group, Decane-1,10-Diyl Group, Undecane-1,11-Diyl Group, Dodecane-1,12-Diyl Group , Tridecane-1,13-diyl group, tetradecane-1,14-diyl group, pentadecane-1,15-diyl group, hexadecane-1,16-diyl group and heptadecane-1,17-diyl group. Alcandiyl group;
Ethane-1,1-diyl group, propane-1,1-diyl group, propane-1,2-diyl group, propane-2,2-diyl group, pentane-2,4-diyl group, 2-methylpropane- Branched alkanediyl groups such as 1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,2-diyl group, pentane-1,4-diyl group, 2-methylbutane-1,4-diyl group;
Monocyclic 2 which is a cycloalkanediyl group such as cyclobutane-1,3-diyl group, cyclopentane-1,3-diyl group, cyclohexane-1,4-diyl group, cyclooctane-1,5-diyl group, etc. Valuable alicyclic saturated hydrocarbon group;
Polycyclic divalent alicyclic saturated hydrocarbons such as norbornane-1,4-diyl group, norbornane-2,5-diyl group, adamantane-1,5-diyl group, and adamantane-2,6-diyl group. The group etc. can be mentioned.
nnは、2であることが好ましい。
Lb1としては、以下の式(L1−1)、式(L1−2)又は式(L1−3)で表される基であることが好ましい。
[式(L1−1)、式(L1−2)及び式(L1−3)中、
X0は、単結合、フッ素原子を有していてもよい炭素数1〜14の2価の脂肪族炭化水素基又は式(a−1)で表される基を表す。
(式(a−1)中、
sは0又は1を表す。
X10及びX11は、同一又は相異なり、酸素原子、カルボニル基、カルボニルオキシ基、オキシカルボニル基又はオキシカルボニルオキシ基を表す。
A10及びA11はそれぞれ独立に、フッ素原子を有していてもよい炭素数1〜12の2価の脂肪族炭化水素基を表す。
A12は、単結合又はフッ素原子を有していてもよい炭素数1〜12の2価の脂肪族炭化水素基を表す。
*はW又は炭素原子との結合手を表す。)
Wは、炭素原子又は炭素数4〜18の脂環式炭化水素基を表す。
X1は、−O−*1、−O−CO−*1、−O−CH2−*1又は−O−CH2−CO−O−*1を表す。*1は−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)O−R1との結合手を表す。
X2は、−O−*2、−O−CO−*2、−O−CH2−*2又は−O−CH2−CO−O−*2を表す。*2は−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)O−R1との結合手を表す。
X3は、−O−*1又は−O−CH2−CO−O−*1を表す。*1は−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)O−R1との結合手を表す。
X4は、−O−*2又は−O−CH2−CO−O−*2を表す。*2は−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)O−R1との結合手を表す。
X5は、−O−*1、−O−CO−*1又は−O−CH2−*1を表す。*1は−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)O−R1との結合手を表す。
X6は、−O−*2、−O−CO−*2又は−O−CH2−*2を表す。*2は−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)O−R1との結合手を表す。
*L0は−C(QA1)(QA2)−との結合手を表す。
m1、m2、m3、m4及びm5は、それぞれ独立に、0〜6の整数を表す。
RLは、水素原子又はフッ素原子を有していてもよい炭素数1〜14の脂肪族炭化水素基を表す。
*L1及び*L2は、−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)o−R1との結合手を表す。]
ただし、これらの炭素数の最大合計数は28である。
The nn is preferably 2.
The L b1, the following formulas (L 1 -1), is preferably a group represented by the formula (L 1 -2) or formula (L 1 -3).
Wherein (L 1 -1), formula (L 1 -2) and formula (L 1 -3),
X 0 represents a divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 14 carbon atoms which may have a single bond and a fluorine atom or a group represented by the formula (a-1).
(In equation (a-1),
s represents 0 or 1.
X 10 and X 11 are the same or different and represent an oxygen atom, a carbonyl group, a carbonyloxy group, an oxycarbonyl group or an oxycarbonyloxy group.
A 10 and A 11 each independently represent a divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms which may have a fluorine atom.
A 12 represents a divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms which may have a single bond or a fluorine atom.
* Represents a bond with W or a carbon atom. )
W represents a carbon atom or an alicyclic hydrocarbon group having 4 to 18 carbon atoms.
X 1 represents -O- * 1, -O-CO- * 1, -O-CH 2- * 1 or -O-CH 2 --CO-O- * 1. * 1 represents - (CH 2) bond to O -R 1 - (CH 2) m - (CF 2) n.
X 2 represents -O- * 2, -O-CO- * 2, -O-CH 2- * 2, or -O-CH 2- CO-O- * 2. * 2 represents - (CH 2) bond to O -R 1 - (CH 2) m - (CF 2) n.
X 3 represents -O- * 1 or -O-CH 2- CO-O- * 1. * 1 represents - (CH 2) bond to O -R 1 - (CH 2) m - (CF 2) n.
X 4 represents -O- * 2 or -O-CH 2- CO-O- * 2. * 2 represents - (CH 2) bond to O -R 1 - (CH 2) m - (CF 2) n.
X 5 represents -O- * 1, -O-CO- * 1 or -O-CH 2- * 1. * 1 represents - (CH 2) bond to O -R 1 - (CH 2) m - (CF 2) n.
X 6 represents -O- * 2, -O-CO- * 2 or -O-CH 2- * 2. * 2 represents - (CH 2) bond to O -R 1 - (CH 2) m - (CF 2) n.
* L0 represents a bond with -C (Q A1 ) (Q A2)-.
m1, m2, m3, m4 and m5 each independently represent an integer of 0 to 6.
RL represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 14 carbon atoms which may have a hydrogen atom or a fluorine atom.
* L1 and * L2 represent a bond with − (CH 2 ) m- (CF 2 ) n- (CH 2 ) o-R 1. ]
However, the maximum total number of these carbon atoms is 28.
式(L1−1)で表される基としては、例えば以下のものが挙げられる。
Examples of the group represented by the formula (L 1 -1), for example, include the following.
式(L1−2)で表される基としては、例えば以下のものが挙げられる。
Examples of the group represented by the formula (L 1-2) include the following.
式(L1−3)で表される2価の基としては、例えば以下のものが挙げられる。
Examples of the divalent group represented by the formula (L 1-3) include the following.
*2−(CH2)m−(CF2)n−(CH2)o−R1(*2は、Lb1との結合手を表す。)としては、例えば、以下で表される基などが挙げられる。
* 2- (CH 2 ) m- (CF 2 ) n- (CH 2 ) o- R 1 (* 2 represents a bond with L b1 ) includes, for example, a group represented by the following. Can be mentioned.
式(I)で表される塩のアニオンとしては、以下に示すスルホン酸アニオンが挙げられる。
Examples of the salt anion represented by the formula (I) include the sulfonic acid anions shown below.
式(I)のカチオンZ1+は、有機オニウムカチオン、例えば、有機スルホニウムカチオン、有機ヨードニウムカチオン、有機アンモニウムカチオン、ベンゾチアゾリウムカチオン、有機ホスホニウムカチオン等が挙げられ、好ましくは、有機スルホニウムカチオン又は有機ヨードニウムカチオンであり、より好ましくは、アリールスルホニウムカチオンである。
中でも、式(b2−1)〜式(b2−4)のいずれかで表されるカチオン(以下、式番号に応じて「カチオン(b2−1)」等という場合がある。)が好ましい。
Examples of the cation Z1 + of the formula (I) include an organic onium cation, for example, an organic sulfonium cation, an organic iodine cation, an organic ammonium cation, a benzothiazolium cation, an organic phosphonium cation, and the like, and an organic sulfonium cation or an organic cation is preferable. It is an iodonium cation, more preferably an aryl sulfonium cation.
Among them, a cation represented by any of the formulas (b2-1) to (b2-4) (hereinafter, may be referred to as “cation (b2-1)” or the like depending on the formula number) is preferable.
式(b2−1)〜式(b2−4)において、
Rb4〜Rb6は、それぞれ独立に、炭素数1〜30の脂肪族炭化水素基、炭素数3〜36の脂環式炭化水素基又は炭素数6〜36の芳香族炭化水素基を表し、該脂肪族炭化水素基に含まれる水素原子は、ヒドロキシ基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数3〜12の脂環式炭化水素基又は炭素数6〜18の芳香族炭化水素基で置換されていてもよく、該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、炭素数1〜18の脂肪族炭化水素基、炭素数2〜4のアシル基又はグリシジルオキシ基で置換されていてもよく、該芳香族炭化水素基に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、ヒドロキシ基又は炭素数1〜12のアルコキシ基で置換されていてもよい。
Rb4とRb5とは、一緒になってそれらが結合する硫黄原子を含む環を形成してもよく、該環に含まれるメチレン基は、酸素原子、スルフィニル基又はカルボニル基に置き換わってもよい。
In equations (b2-1) to (b2-4),
R b4 to R b6 independently represent an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 30 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms, or an aromatic hydrocarbon group having 6 to 36 carbon atoms. The hydrogen atom contained in the aliphatic hydrocarbon group is a hydroxy group, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 12 carbon atoms, or an aromatic hydrocarbon group having 6 to 18 carbon atoms. It may be substituted, and the hydrogen atom contained in the alicyclic hydrocarbon group is substituted with a halogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms, an acyl group having 2 to 4 carbon atoms, or a glycidyloxy group. The hydrogen atom contained in the aromatic hydrocarbon group may be substituted with a halogen atom, a hydroxy group, or an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms.
R b4 and R b5 may be combined to form a ring containing a sulfur atom to which they are bonded, and the methylene group contained in the ring may be replaced with an oxygen atom, a sulfinyl group or a carbonyl group. ..
Rb7及びRb8は、それぞれ独立に、ヒドロキシ基、炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表す。
m2及びn2は、それぞれ独立に0〜5の整数を表す。
m2が2以上のとき、複数のRb7は同一でも異なってもよく、n2が2以上のとき、複数のRb8は同一でも異なってもよい。
R b7 and R b8 independently represent a hydroxy group, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, or an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms.
m2 and n2 each independently represent an integer of 0 to 5.
When m2 is 2 or more, the plurality of R b7s may be the same or different, and when n2 is 2 or more, the plurality of R b8s may be the same or different.
Rb9及びRb10は、それぞれ独立に、炭素数1〜36の脂肪族炭化水素基又は炭素数3〜36の脂環式炭化水素基を表す。
Rb9とRb10とは、一緒になってそれらが結合する硫黄原子を含む環を形成してもよく、該環に含まれるメチレン基は、酸素原子、スルフィニル基又はカルボニル基に置き換わってもよい。
Rb11は、水素原子、炭素数1〜36の脂肪族炭化水素基、炭素数3〜36の脂環式炭化水素基又は炭素数6〜18の芳香族炭化水素基を表す。
Rb12は、炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基、炭素数3〜18の脂環式炭化水素基又は炭素数6〜18の芳香族炭化水素基を表し、該脂肪族炭化水素に含まれる水素原子は、炭素数6〜18の芳香族炭化水素基で置換されていてもよく、該芳香族炭化水素基に含まれる水素原子は、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数1〜12のアルキルカルボニルオキシ基で置換されていてもよい。
Rb1とRb12とは、一緒になってそれらが結合する−CH−CO−を含む環を形成していてもよく、該環に含まれるメチレン基は、酸素原子、スルフィニル基又はカルボニル基に置き換わってもよい。
R b9 and R b10 independently represent an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 36 carbon atoms or an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms.
R b9 and R b10 may be combined to form a ring containing a sulfur atom to which they are bonded, and the methylene group contained in the ring may be replaced with an oxygen atom, a sulfinyl group or a carbonyl group. ..
R b11 represents a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 36 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms, or an aromatic hydrocarbon group having 6 to 18 carbon atoms.
R b12 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms, or an aromatic hydrocarbon group having 6 to 18 carbon atoms, and is contained in the aliphatic hydrocarbon group. The hydrogen atom may be substituted with an aromatic hydrocarbon group having 6 to 18 carbon atoms, and the hydrogen atom contained in the aromatic hydrocarbon group may be an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms or 1 to 12 carbon atoms. It may be substituted with 12 alkylcarbonyloxy groups.
R b1 and R b12 may be combined to form a ring containing -CH-CO- to which they are bonded, and the methylene group contained in the ring may be an oxygen atom, a sulfinyl group or a carbonyl group. It may be replaced.
Rb13〜Rb18は、それぞれ独立に、ヒドロキシ基、炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表す。
Lb31は、硫黄原子又は酸素原子を表す。
o2、p2、s2、及びt2は、それぞれ独立に、0〜5の整数を表す。
q2及びr2は、それぞれ独立に、0〜4の整数を表す。
u2は0又は1を表す。
o2が2以上のとき、複数のRb13は同一又は相異なり、p2が2以上のとき、複数のRb14は同一又は相異なり、q2が2以上のとき、複数のRb15は同一又は相異なり、r2が2以上のとき、複数のRb16は同一又は相異なり、s2が2以上のとき、複数のRb17は同一又は相異なり、t2が2以上のとき、複数のRb18は同一又は相異なる。
R b13 to R b18 independently represent a hydroxy group, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, or an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms.
L b31 represents a sulfur atom or an oxygen atom.
o2, p2, s2, and t2 each independently represent an integer of 0-5.
q2 and r2 each independently represent an integer of 0-4.
u2 represents 0 or 1.
When o2 is 2 or more, a plurality of R b13s are the same or different, when p2 is 2 or more, a plurality of R b14s are the same or different, and when q2 is 2 or more, a plurality of R b15s are the same or different. when r2 is 2 or more, plural R b16 same or different, when s2 is 2 or more, plural R b17 same or different, when t2 is 2 or more, plural R b18 same or different different.
脂肪族炭化水素基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−オクチル基及び2−エチルヘキシル基のアルキル基が挙げられる。特に、Rb9〜Rb12の脂肪族炭化水素基は、好ましくは炭素数1〜12である。
脂環式炭化水素基としては、単環式又は多環式のいずれでもよく、単環式の脂環式炭化水素基としては、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロへキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基、シクロデシル基等のシクロアルキル基が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、デカヒドロナフチル基、アダマンチル基、ノルボルニル基及び下記の基等が挙げられる。
特に、Rb9〜Rb12の脂環式炭化水素基は、好ましくは炭素数3〜18、より好ましくは炭素数4〜12である。
The aliphatic hydrocarbon group includes a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, a sec-butyl group, a tert-butyl group, an n-pentyl group, an n-hexyl group and an n-octyl group. Alkyl groups of groups and 2-ethylhexyl groups can be mentioned. In particular, the aliphatic hydrocarbon groups of R b9 to R b12 preferably have 1 to 12 carbon atoms.
The alicyclic hydrocarbon group may be either monocyclic or polycyclic, and the monocyclic alicyclic hydrocarbon group includes a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, and a cyclo. Cycloalkyl groups such as heptyl group, cyclooctyl group and cyclodecyl group can be mentioned. Examples of the polycyclic alicyclic hydrocarbon group include a decahydronaphthyl group, an adamantyl group, a norbornyl group and the following groups.
In particular, the alicyclic hydrocarbon groups of R b9 to R b12 preferably have 3 to 18 carbon atoms, and more preferably 4 to 12 carbon atoms.
水素原子が脂肪族炭化水素基で置換された脂環式炭化水素基としては、メチルシクロヘキシル基、ジメチルシクロへキシル基、2−アルキルアダマンタン−2−イル基、メチルノルボルニル基、イソボルニル基等が挙げられる。水素原子が脂肪族炭化水素基で置換された脂環式炭化水素基においては、脂環式炭化水素基と脂肪族炭化水素基との合計炭素数が好ましくは20以下である。 Examples of the alicyclic hydrocarbon group in which the hydrogen atom is substituted with an aliphatic hydrocarbon group include a methylcyclohexyl group, a dimethylcyclohexyl group, a 2-alkyladamantan-2-yl group, a methylnorbornyl group, an isobornyl group and the like. Can be mentioned. In the alicyclic hydrocarbon group in which the hydrogen atom is substituted with an aliphatic hydrocarbon group, the total number of carbon atoms of the alicyclic hydrocarbon group and the aliphatic hydrocarbon group is preferably 20 or less.
芳香族炭化水素基としては、フェニル基、トリル基、キシリル基、クメニル基、メシチル基、p−エチルフェニル基、p−tert−ブチルフェニル基、p−シクロへキシルフェニル基、p−アダマンチルフェニル基、ビフェニリル基、ナフチル基、フェナントリル基、2,6−ジエチルフェニル基、2−メチル−6−エチルフェニル基等のアリール基が挙げられる。
なお、芳香族炭化水素基に、脂肪族炭化水素基又は脂環式炭化水素基が含まれる場合は、炭素数1〜18の脂肪族炭化水素基及び炭素数3〜18の脂環式炭化水素基が好ましい。
水素原子がアルコキシ基で置換された芳香族炭化水素基としては、p−メトキシフェニル基等が挙げられる。
水素原子が芳香族炭化水素基で置換された脂肪族炭化水素基としては、ベンジル基、フェネチル基、フェニルプロピル基、トリチル基、ナフチルメチル基、ナフチルエチル基等のアラルキル基が挙げられる。
Examples of the aromatic hydrocarbon group include a phenyl group, a tolyl group, a xsilyl group, a cumenyl group, a mesityl group, a p-ethylphenyl group, a p-tert-butylphenyl group, a p-cyclohexylphenyl group and a p-adamantylphenyl group. , Biphenylyl group, naphthyl group, phenanthryl group, 2,6-diethylphenyl group, 2-methyl-6-ethylphenyl group and other aryl groups.
When the aromatic hydrocarbon group contains an aliphatic hydrocarbon group or an alicyclic hydrocarbon group, the aliphatic hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms and the alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms are used. Groups are preferred.
Examples of the aromatic hydrocarbon group in which the hydrogen atom is substituted with an alkoxy group include a p-methoxyphenyl group.
Examples of the aliphatic hydrocarbon group in which the hydrogen atom is substituted with an aromatic hydrocarbon group include an aralkyl group such as a benzyl group, a phenethyl group, a phenylpropyl group, a trityl group, a naphthylmethyl group and a naphthylethyl group.
アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基、ペンチルオキシ基、ヘキシルオキシ基、ヘプチルオキシ基、オクチルオキシ基、デシルオキシ基及びドデシルオキシ基等が挙げられる。
アシル基としては、アセチル基、プロピオニル基及びブチリル基等が挙げられる。
ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子及びヨウ素原子等が挙げられる。
アルキルカルボニルオキシ基としては、メチルカルボニルオキシ基、エチルカルボニルオキシ基、n−プロピルカルボニルオキシ基、イソプロピルカルボニルオキシ基、n−ブチルカルボニルオキシ基、sec−ブチルカルボニルオキシ基、tert−ブチルカルボニルオキシ基、ペンチルカルボニルオキシ基、ヘキシルカルボニルオキシ基、オクチルカルボニルオキシ基及び2−エチルヘキシルカルボニルオキシ基等が挙げられる。
Examples of the alkoxy group include a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, a butoxy group, a pentyloxy group, a hexyloxy group, a heptyloxy group, an octyloxy group, a decyloxy group and a dodecyloxy group.
Examples of the acyl group include an acetyl group, a propionyl group and a butyryl group.
Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom and an iodine atom.
Examples of the alkylcarbonyloxy group include a methylcarbonyloxy group, an ethylcarbonyloxy group, an n-propylcarbonyloxy group, an isopropylcarbonyloxy group, an n-butylcarbonyloxy group, a sec-butylcarbonyloxy group, and a tert-butylcarbonyloxy group. Examples thereof include a pentylcarbonyloxy group, a hexylcarbonyloxy group, an octylcarbonyloxy group and a 2-ethylhexylcarbonyloxy group.
Rb4とRb5とが一緒になって形成する硫黄原子を含む環は、単環式、多環式、芳香族性、非芳香族性、飽和及び不飽和のいずれの環であってもよい。この環は、炭素数3〜18の環が挙げられ、好ましくは炭素数4〜18の環である。また、硫黄原子を含む環は、3員環〜12員環が挙げられ、好ましくは3員環〜7員環である。下記の環が挙げられる。
The ring containing a sulfur atom formed by R b4 and R b5 together may be a monocyclic, polycyclic, aromatic, non-aromatic, saturated or unsaturated ring. .. Examples of this ring include a ring having 3 to 18 carbon atoms, preferably a ring having 4 to 18 carbon atoms. The ring containing a sulfur atom includes a 3-membered ring to a 12-membered ring, preferably a 3-membered ring to a 7-membered ring. The following rings are mentioned.
Rb9とRb10とが一緒になって形成する環は、単環式、多環式、芳香族性、非芳香族性、飽和及び不飽和のいずれの環であってもよい。この環は、3員環〜12員環が挙げられ、好ましくは3員環〜7員環である。例えば、チオラン−1−イウム環(テトラヒドロチオフェニウム環)、チアン−1−イウム環、1,4−オキサチアン−4−イウム環等が挙げられる。
Rb11とRb12とが一緒になって形成する環は、単環式、多環式、芳香族性、非芳香族性、飽和及び不飽和のいずれの環であってもよい。この環は、3員環〜12員環が挙げられ、好ましくは3員環〜7員環である。オキソシクロヘプタン環、オキソシクロヘキサン環、オキソノルボルナン環、オキソアダマンタン環等が挙げられる。
The ring formed by R b9 and R b10 together may be any of monocyclic, polycyclic, aromatic, non-aromatic, saturated and unsaturated rings. This ring may be a 3-membered ring to a 12-membered ring, preferably a 3-membered ring to a 7-membered ring. For example, a thiolan-1-ium ring (tetrahydrothiophenium ring), a thian-1-ium ring, a 1,4-oxatian-4-ium ring and the like can be mentioned.
The ring formed by R b11 and R b12 together may be any of monocyclic, polycyclic, aromatic, non-aromatic, saturated and unsaturated rings. This ring may be a 3-membered ring to a 12-membered ring, preferably a 3-membered ring to a 7-membered ring. Examples thereof include an oxocycloheptane ring, an oxocyclohexane ring, an oxonorbornane ring, and an oxoadamantane ring.
カチオン(b2−1)〜カチオン(b2−4)の中でも、好ましくは、カチオン(b2−1)である。 Among the cations (b2-1) to cations (b2-4), the cation (b2-1) is preferable.
カチオン(b2−1)としては、以下のカチオンが挙げられる。
Examples of the cation (b2-1) include the following cations.
カチオン(b2−2)としては、以下のカチオンが挙げられる。
Examples of the cation (b2-2) include the following cations.
カチオン(b2−3)としては、以下のカチオンが挙げられる。
Examples of the cation (b2-3) include the following cations.
カチオン(b2−4)としては、以下のカチオンが挙げられる。
Examples of the cation (b2-4) include the following cations.
塩(I)は、上述のスルホン酸アニオン及び有機カチオンの組合せである。これらのアニオンとカチオンとは任意に組み合わせることができる。塩(I)の具体例を表1に示す。
表1において、塩(I−1)は、式(Ia−1)で表されるスルホン酸アニオンと式(b2−c−1)で表されるカチオンとからなる塩であり、以下に示す塩を表す。
The salt (I) is a combination of the above-mentioned sulfonic acid anion and organic cation. These anions and cations can be combined arbitrarily. Specific examples of the salt (I) are shown in Table 1.
In Table 1, the salt (I-1) is a salt composed of a sulfonic acid anion represented by the formula (Ia-1) and a cation represented by the formula (b2-c-1), and is a salt shown below. Represents.
なかでも、塩(I)は、塩(I−1)、塩(I−2)、塩(I−5)〜塩(I−8)、塩(I−11)〜塩(I−13)、塩(I−24)、塩(I−25)、塩(I−28)〜塩(I−31)、塩(I−34)〜塩(I−36)、塩(I−47)、塩(I−48)、塩(I−51)〜塩(I−54)、塩(I−57)〜塩(I−59)、塩(I−70)、塩(I−71)、塩(I−74)〜塩(I−77)、塩(I−80)〜塩(I−82)、塩(I−93)、塩(I−94)、塩(I−97)〜塩(I−100)、塩(I−103)〜塩(I−105)、塩(I−116)、塩(I−117)、塩(I−120)〜塩(I−123)、塩(I−126)〜塩(I−128)、塩(I−139)、塩(I−140)、塩(I−143)〜塩(I−146)、塩(I−149)〜塩(I−151)、塩(I−162)〜塩(I−203)が好ましい。 Among them, the salt (I) is salt (I-1), salt (I-2), salt (I-5) to salt (I-8), salt (I-11) to salt (I-13). , Salt (I-24), Salt (I-25), Salt (I-28) -Salt (I-31), Salt (I-34) -Salt (I-36), Salt (I-47), Salt (I-48), salt (I-51) to salt (I-54), salt (I-57) to salt (I-59), salt (I-70), salt (I-71), salt (I-74) -salt (I-77), salt (I-80) -salt (I-82), salt (I-93), salt (I-94), salt (I-97) -salt ( I-100), salt (I-103) to salt (I-105), salt (I-116), salt (I-117), salt (I-120) to salt (I-123), salt (I) -126) to salt (I-128), salt (I-139), salt (I-140), salt (I-143) to salt (I-146), salt (I-149) to salt (I- 151), salt (I-162) to salt (I-203) are preferable.
Lb1が式(L1−1)で表される基である塩(I01)〔式(I01)で表される塩(I)、以下、場合により「塩(I01)」という。〕は、例えば、式(I01−a)で表される塩と、式(I01−b)で表される化合物とを、溶媒中で反応させることにより製造することができる。
Salts L b1 is represented by the formula (L 1 -1) in group a is a salt represented (I01) [Formula (I01) (I), hereinafter also referred to as "salt (I01)". ] Can be produced, for example, by reacting a salt represented by the formula (I01-a) with a compound represented by the formula (I01-b) in a solvent.
式(I01−a)で表される塩は、式(I01−c)で表される塩と、式(I01−d)で表される化合物とを、溶媒中で反応させることにより得ることができる。
この反応の溶媒としては、クロロホルム、アセトニトリルなどが用いられる。
反応温度は通常5℃〜80℃であり、反応時間は通常0.5時間〜24時間である。
式(I01−c)で表される塩としては、以下で表される塩などが挙げられ、特開2008−127367号公報に記載された方法で製造することができる。
The salt represented by the formula (I01-a) can be obtained by reacting the salt represented by the formula (I01-c) with the compound represented by the formula (I01-d) in a solvent. can.
Chloroform, acetonitrile and the like are used as the solvent for this reaction.
The reaction temperature is usually 5 ° C to 80 ° C, and the reaction time is usually 0.5 to 24 hours.
Examples of the salt represented by the formula (I01-c) include salts represented by the following, which can be produced by the method described in JP-A-2008-127365.
式(I01−b)で表される化合物としては、例えば、以下で表される化合物が挙げられ、公知の合成方法で容易に合成することができる。
Examples of the compound represented by the formula (I01-b) include compounds represented by the following, which can be easily synthesized by a known synthesis method.
Lb1が式(L1−2)で表される基である塩(I02)〔式(I02)で表される塩(I)、以下、場合により「塩(I02)」という。〕は、例えば、式(I01−a)で表される塩と、式(I02−b)で表される化合物とを、溶媒中で反応させることにより製造することができる。
Salts L b1 is represented by the formula (L 1 -2) in group a is a salt represented (I02) [Formula (I02) (I), hereinafter also referred to as "salt (I02)". ] Can be produced, for example, by reacting a salt represented by the formula (I01-a) with a compound represented by the formula (I02-b) in a solvent.
この反応の溶媒としては、クロロホルム、アセトニトリルなどが用いられる。
反応温度は通常5℃〜80℃であり、反応時間は通常0.5時間〜24時間である。
式(I02−b)で表される化合物としては、例えば、以下で表される化合物が挙げられ、公知の合成方法で容易に合成することができる。
Chloroform, acetonitrile and the like are used as the solvent for this reaction.
The reaction temperature is usually 5 ° C to 80 ° C, and the reaction time is usually 0.5 to 24 hours.
Examples of the compound represented by the formula (I02-b) include compounds represented by the following, which can be easily synthesized by a known synthesis method.
Lb1が式(L1−2)で表される基であり、X0が式(a−1)で表される基であり、X11がオキシカルボニルオキシ基である塩(I02A)〔式(I02A)で表される塩(I)、以下、場合により「塩(I02A)」という。〕は、例えば、式(I02A−a)で表される塩と式(I02A−b)で表される化合物とを反応させることにより製造することもできる。
A salt (I02A) in which L b1 is a group represented by the formula (L 1-2 ), X 0 is a group represented by the formula (a-1), and X 11 is an oxycarbonyloxy group. The salt (I) represented by (I02A) is hereinafter referred to as "salt (I02A)" in some cases. ] Can also be produced, for example, by reacting a salt represented by the formula (I02A-a) with a compound represented by the formula (I02A-b).
この反応の溶媒としては、クロロホルム、アセトニトリルなどが用いられる。
反応温度は通常5℃〜80℃であり、反応時間は通常0.5時間〜24時間である。
式(I02A−a)で表される塩としては、以下で表される塩などが挙げられ、特開2012−72109号公報に記載された方法で製造することができる。
式(I02A−b)で表される化合物としては、例えば、以下で表される化合物が挙げられ、公知の合成方法で容易に合成することができる。
Chloroform, acetonitrile and the like are used as the solvent for this reaction.
The reaction temperature is usually 5 ° C to 80 ° C, and the reaction time is usually 0.5 to 24 hours.
Examples of the salt represented by the formula (I02A-a) include salts represented by the following, which can be produced by the method described in JP2012-72109.
Examples of the compound represented by the formula (I02A-b) include compounds represented by the following, which can be easily synthesized by a known synthesis method.
Lb1が式(L1−3)で表される基である塩(I03)〔式(I03)で表される塩(I)、以下、場合により「塩(I03)」という。〕は、例えば、式(I03−b)で表される化合物とカルボニルジイミダゾールとを溶剤中で反応させた後、さらに、式(I03−a)で表される塩と反応させることにより製造することができる。
Salt (I03) on which L b1 is a group represented by the formula (L 1-3 ) [Salt (I) represented by the formula (I03), hereinafter referred to as "salt (I03)" in some cases. ] Is produced, for example, by reacting the compound represented by the formula (I03-b) with carbonyldiimidazole in a solvent and then further reacting with the salt represented by the formula (I03-a). be able to.
この反応の溶媒としては、クロロホルム、アセトニトリルなどが用いられる。
反応温度は通常5℃〜80℃であり、反応時間は通常0.5時間〜24時間である。
式(I03−a)で表される塩としては、以下で表される塩などが挙げられ、特開2012−193170号公報に記載された方法で製造することができる。
Chloroform, acetonitrile and the like are used as the solvent for this reaction.
The reaction temperature is usually 5 ° C to 80 ° C, and the reaction time is usually 0.5 to 24 hours.
Examples of the salt represented by the formula (I03-a) include salts represented by the following, which can be produced by the method described in JP-A-2012-193170.
式(I03−b)で表される化合物としては、例えば、以下で表される化合物が挙げられ、公知の合成方法で容易に合成することができる。
Examples of the compound represented by the formula (I03-b) include compounds represented by the following, which can be easily synthesized by a known synthesis method.
Lb1が以下の式
で表される基である塩(I)〔式(I1)で表される塩(I)、以下、場合により「塩(I1)」という。〕は、例えば、式(I1−a)で表される塩と、式(I1−b)で表される化合物とを、溶媒中で反応させることにより製造することができる。
(式中、全ての符号は、それぞれ前記と同じ意味を表す。)
この反応の溶媒としては、クロロホルム、アセトニトリルなどが用いられる。
反応温度は通常5℃〜80℃であり、反応時間は通常0.5時間〜24時間である。
L b1 is the following formula
Salt (I) which is a group represented by (Salt (I) represented by formula (I1), hereinafter referred to as "salt (I1)" in some cases. ] Can be produced, for example, by reacting a salt represented by the formula (I1-a) with a compound represented by the formula (I1-b) in a solvent.
(In the formula, all the symbols have the same meanings as described above.)
Chloroform, acetonitrile and the like are used as the solvent for this reaction.
The reaction temperature is usually 5 ° C to 80 ° C, and the reaction time is usually 0.5 to 24 hours.
式(I1−a)で表される化合物は、式(I1−c)で表される塩と、式(I1−d)で表される化合物とを、溶媒中で反応させることにより得ることができる。
この反応の溶媒としては、クロロホルムなどが用いられる。
反応温度は通常5℃〜80℃であり、反応時間は通常0.5時間〜24時間である。
式(I1−c)で表される化合物としては、以下で表される塩などが挙げられ、特開2008−127367号公報に記載された方法で製造することができる。
The compound represented by the formula (I1-a) can be obtained by reacting the salt represented by the formula (I1-c) with the compound represented by the formula (I1-d) in a solvent. can.
Chloroform or the like is used as the solvent for this reaction.
The reaction temperature is usually 5 ° C to 80 ° C, and the reaction time is usually 0.5 to 24 hours.
Examples of the compound represented by the formula (I1-c) include salts represented by the following, which can be produced by the method described in JP-A-2008-127365.
式(I1−b)で表される化合物は、式(I1−e)で表される化合物と式(I1−f)で表される化合物とを、触媒の存在下、溶媒中で反応させることにより得ることができる。
この反応の触媒としては、炭酸カリウム、ヨウ化カリウムなどが用いられる。
この反応の溶媒としては、ジメチルホルムアミド、クロロホルム、アセトニトリルなどが用いられる。
反応温度は通常5℃〜80℃であり、反応時間は通常0.5時間〜24時間である。
The compound represented by the formula (I1-b) is such that the compound represented by the formula (I1-e) and the compound represented by the formula (I1-f) are reacted in a solvent in the presence of a catalyst. Can be obtained by
Potassium carbonate, potassium iodide and the like are used as catalysts for this reaction.
As the solvent for this reaction, dimethylformamide, chloroform, acetonitrile and the like are used.
The reaction temperature is usually 5 ° C to 80 ° C, and the reaction time is usually 0.5 to 24 hours.
式(I1−f)でそれぞれ表される化合物としては、以下で表される化合物等が挙げられ、市場から容易に入手できる。
Examples of the compound represented by the formula (I1-f) include compounds represented by the following, which are easily available on the market.
また、Lb1が以下の式
で表される基である塩(I)〔式(I2)で表される塩(I)、以下、場合により「塩(I2)」という。〕は、例えば、式(I2−a)で表される塩と、式(I2−b1)で表される化合物又は式(I2−b2)で表される化合物とを、塩基触媒の存在下、溶媒中で反応させることにより製造することができる。
(式中、全ての符号は、それぞれ前記と同じ意味を表す。)
この反応の溶媒としては、クロロホルム、アセトニトリルなどが用いられる。
塩基触媒としては、ピリジンなどが用いられる。
反応温度は通常5℃〜80℃であり、反応時間は通常0.5時間〜24時間である。
式(I2−b1)で表される化合物としては、以下で表される化合物等が挙げられ、市場から容易に入手できる。
式(I2−b2)で表される化合物としては、以下で表される化合物等が挙げられ、市場から容易に入手できる。
Further, L b1 is the following equation.
Salt (I) which is a group represented by (Salt (I) represented by formula (I2), hereinafter referred to as "salt (I2)" in some cases. ] Is, for example, a salt represented by the formula (I2-a) and a compound represented by the formula (I2-b1) or a compound represented by the formula (I2-b2) in the presence of a base catalyst. It can be produced by reacting in a solvent.
(In the formula, all the symbols have the same meanings as described above.)
Chloroform, acetonitrile and the like are used as the solvent for this reaction.
As the base catalyst, pyridine or the like is used.
The reaction temperature is usually 5 ° C to 80 ° C, and the reaction time is usually 0.5 to 24 hours.
Examples of the compound represented by the formula (I2-b1) include compounds represented by the following, which are easily available on the market.
Examples of the compound represented by the formula (I2-b2) include compounds represented by the following, which are easily available on the market.
式(I2−a)で表される化合物は、式(I1−c)で表される化合物と式(I2−c)で表される化合物とを、触媒の存在下、溶媒中で反応させることにより得ることができる。
(式中、全ての符号は、それぞれ前記と同じ意味を表す。)
この反応の触媒としては、炭酸カリウム、ヨウ化カリウムなどが用いられる。
この反応の溶媒としては、クロロホルム、アセトニトリルなどが用いられる。
反応温度は通常5℃〜80℃であり、反応時間は通常0.5時間〜24時間である。
The compound represented by the formula (I2-a) is a reaction of a compound represented by the formula (I1-c) and a compound represented by the formula (I2-c) in a solvent in the presence of a catalyst. Can be obtained by
(In the formula, all the symbols have the same meanings as described above.)
Potassium carbonate, potassium iodide and the like are used as catalysts for this reaction.
Chloroform, acetonitrile and the like are used as the solvent for this reaction.
The reaction temperature is usually 5 ° C to 80 ° C, and the reaction time is usually 0.5 to 24 hours.
〔酸発生剤〕
本発明の酸発生剤は、塩(I)を含有する酸発生剤である。本発明の酸発生剤は、塩(I)が単独で含有されていてもよいし、2種類以上が含有されていてもよい。
本発明の酸発生剤は、塩(I)以外レジスト分野で公知の酸発生剤(以下「酸発生剤(B)」という場合がある)を含有していてもよい。
また、酸発生剤として塩(I)及び酸発生剤(B)を含有する場合、塩(I)と酸発生剤(B)との含有量の比(質量比;塩(I):酸発生剤(B))は、通常、1:99〜99:1、好ましくは2:98〜98:2、より好ましくは5:95〜95:5、さらに好ましくは10:90〜90:10である。
[Acid generator]
The acid generator of the present invention is an acid generator containing a salt (I). The acid generator of the present invention may contain the salt (I) alone, or may contain two or more kinds of the salt (I).
The acid generator of the present invention may contain an acid generator known in the resist field (hereinafter, may be referred to as “acid generator (B)”) other than the salt (I).
When the salt (I) and the acid generator (B) are contained as the acid generator, the ratio of the contents of the salt (I) and the acid generator (B) (mass ratio; salt (I): acid generation The agent (B)) is usually 1:99 to 99: 1, preferably 2:98 to 98: 2, more preferably 5:95 to 95: 5, and even more preferably 10:90 to 90:10. ..
〔レジスト組成物〕
本発明のレジスト組成物は、酸不安定基を有する樹脂(以下「樹脂(A)」という場合がある)と、塩(I)を含む上述した酸発生剤とを含有する。ここで、「酸不安定基」は、脱離基を有し、酸との接触により脱離基が脱離して、構成単位が親水性基(例えば、ヒドロキシ基又はカルボキシ基)を有する構成単位に変換する基を意味する。
レジスト組成物は、さらに、クエンチャー(以下「クエンチャー(C)」という場合がある)を含有することが好ましく、溶剤(以下「溶剤(E)」という場合がある)を含有することが好ましい。
[Resist composition]
The resist composition of the present invention contains a resin having an acid unstable group (hereinafter sometimes referred to as "resin (A)") and the above-mentioned acid generator containing a salt (I). Here, the "acid-unstable group" is a structural unit having a leaving group, the leaving group being removed by contact with an acid, and the constituent unit having a hydrophilic group (for example, a hydroxy group or a carboxy group). Means the group that converts to.
The resist composition further preferably contains a quencher (hereinafter sometimes referred to as "quencher (C)") and preferably contains a solvent (hereinafter sometimes referred to as "solvent (E)"). ..
<酸発生剤>
本発明のレジスト組成物において、塩(I)の含有量は、樹脂(A)に対して、1〜20質量%であることが好ましく、2〜15質量%であることがより好ましい。
<Acid generator>
In the resist composition of the present invention, the content of the salt (I) is preferably 1 to 20% by mass, more preferably 2 to 15% by mass, based on the resin (A).
<酸発生剤(B)>
酸発生剤は、非イオン系とイオン系とに分類されるが、本発明のレジスト組成物の酸発生剤(B)においては、いずれを用いてもよい。非イオン系酸発生剤には、有機ハロゲン化物、スルホネートエステル類(例えば2−ニトロベンジルエステル、芳香族スルホネート、オキシムスルホネート、N−スルホニルオキシイミド、N−スルホニルオキシイミド、スルホニルオキシケトン、ジアゾナフトキノン 4−スルホネート)、スルホン類(例えばジスルホン、ケトスルホン、スルホニルジアゾメタン)等が含まれる。イオン系酸発生剤は、公知のカチオンと公知のアニオンとの組合せからなるイオン性酸発生剤が挙げられ、オニウムカチオンを含むオニウム塩(例えばジアゾニウム塩、ホスホニウム塩、スルホニウム塩、ヨードニウム塩)が代表的である。オニウム塩のアニオンとしては、スルホン酸アニオン、スルホニルイミドアニオン、スルホニルメチドアニオン等がある。
<Acid generator (B)>
The acid generator is classified into a nonionic type and an ionic type, and any of the acid generator (B) of the resist composition of the present invention may be used. Nonionic acid generators include organic halides and sulfonate esters (eg 2-nitrobenzyl ester, aromatic sulfonate, oxime sulfonate, N-sulfonyloxyimide, N-sulfonyloxyimide, sulfonyloxyketone, diazonaphthoquinone 4). -Sulfonates), sulfones (eg, disulfones, ketosulfones, sulfonyldiazomethanes) and the like. Examples of the ionic acid generator include an ionic acid generator composed of a combination of a known cation and a known anion, and an onium salt containing an onium cation (for example, a diazonium salt, a phosphonium salt, a sulfonium salt, an iodonium salt) is typical. Is the target. Examples of the onium salt anion include a sulfonic acid anion, a sulfonylimide anion, and a sulfonylmethide anion.
酸発生剤(B)としては、特開昭63−26653号、特開昭55−164824号、特開昭62−69263号、特開昭63−146038号、特開昭63−163452号、特開昭62−153853号、特開昭63−146029号、米国特許第3,779,778号、米国特許第3,849,137号、独国特許第3914407号、欧州特許第126,712号等に記載の放射線によって酸を発生する化合物、特開2013−68914号公報、特開2013−3155号公報、特開2013−11905号公報記載の酸発生剤等を使用することができる。また、公知の方法で製造した化合物を使用してもよい。 Examples of the acid generator (B) include Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-26653, Japanese Patent Application Laid-Open No. 55-164824, Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-69263, Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-146038, Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-163452, and Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-163452. Kaisho 62-153853, Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-146029, US Patent No. 3,779,778, US Patent No. 3,849,137, German Patent No. 3914407, European Patent No. 126,712, etc. The compound that generates an acid by radiation, the acid generator described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2013-68914, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2013-3155, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2013-1905, and the like can be used. Moreover, you may use the compound produced by the known method.
酸発生剤(B)としては、アリールスルホニウムカチオンを含むものが好ましく、式(B1−1)〜式(B1−3)、式(B1−5)〜式(B1−7)、式(B1−11)〜式(B1−14)、式(B1−17)、式(B1−20)〜式(B1−26)、式(B1−29)、式(B1−31)〜式(B1−48)のいずれかで表される塩がより好ましい。
The acid generator (B) preferably contains an aryl sulfonium cation, and formulas (B1-1) to (B1-3), formulas (B1-5) to (B1-7), and formula (B1-B1-). 11) -Formula (B1-14), Formula (B1-17), Formula (B1-20) -Formula (B1-26), Formula (B1-29), Formula (B1-31) -Formula (B1-48) ) Is more preferable.
酸発生剤(B)は、1種を単独で含有してもよく、2種以上を含有してもよい。
酸発生剤(B)の含有量は、樹脂(A)に対して、1〜20質量%であることが好ましく、3〜15質量%であることがより好ましい。
レジスト組成物においては、塩(I)及び酸発生剤(B)を酸発生剤として用いる場合、塩(I)及び酸発生剤(B)の含有量は、樹脂(A)に対して、好ましくは1.5質量%以上(より好ましくは3質量%以上)、好ましくは40質量%以下(より好ましくは35質量%以下)である。
The acid generator (B) may contain one type alone or two or more types.
The content of the acid generator (B) is preferably 1 to 20% by mass, more preferably 3 to 15% by mass, based on the resin (A).
In the resist composition, when the salt (I) and the acid generator (B) are used as the acid generator, the contents of the salt (I) and the acid generator (B) are preferable with respect to the resin (A). Is 1.5% by mass or more (more preferably 3% by mass or more), preferably 40% by mass or less (more preferably 35% by mass or less).
<樹脂(A)>
樹脂(A)は、酸不安定基を有する構造単位(以下「構造単位(a1)」という場合がある)を有する。樹脂(A)は、さらに、構造単位(a1)以外の構造単位を含んでいることが好ましい。構造単位(a1)以外の構造単位としては、酸不安定基を有さない構造単位(以下「構造単位(s)」という場合がある)、構造単位(a1)及び構造単位(s)以外の構造単位(以下「構造単位(t)」という場合がある)及びその他の当該分野で公知のモノマーに由来する構造単位等が挙げられる。
<Resin (A)>
The resin (A) has a structural unit having an acid unstable group (hereinafter, may be referred to as “structural unit (a1)”). The resin (A) preferably further contains a structural unit other than the structural unit (a1). Structural units other than the structural unit (a1) include structural units having no acid-labile group (hereinafter sometimes referred to as "structural unit (s)"), structural units (a1), and structural units other than the structural unit (s). Examples thereof include structural units (hereinafter sometimes referred to as “structural units (t)”) and other structural units derived from monomers known in the art.
<構造単位(a1)>
構造単位(a1)は、酸不安定基を有するモノマー(以下「モノマー(a1)」という場合がある)から導かれる。
樹脂(A)に含まれる酸不安定基は、式(1)で表される基及び/又は式(2)で表される基が好ましい。
[式(1)中、Ra1〜Ra3は、それぞれ独立に、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数3〜20の脂環式炭化水素基又はこれらを組み合わせた基を表すか、Ra1及びRa2は互いに結合してそれらが結合する炭素原子とともに炭素数3〜20の2価の脂環式炭化水素基を形成する。
ma及びnaは、それぞれ独立して、0又は1を表し、ma及びnaの少なくとも一方は1を表す。
*は結合手を表す。]
[式(2)中、Ra1’及びRa2’は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜12の炭化水素基を表し、Ra3’は、炭素数1〜20の炭化水素基を表すか、Ra2’及びRa3’は互いに結合してそれらが結合する炭素原子及びXとともに炭素数3〜20の2価の複素環基を形成し、該炭化水素基及び該2価の複素環基に含まれる−CH2−は、−O−又は−S−で置き換わってもよい。
Xは、酸素原子又は硫黄原子を表す。
na’は、0又は1を表す。
*は結合手を表す。]
<Structural unit (a1)>
The structural unit (a1) is derived from a monomer having an acid unstable group (hereinafter, may be referred to as “monomer (a1)”).
The acid unstable group contained in the resin (A) is preferably a group represented by the formula (1) and / or a group represented by the formula (2).
[In the formula (1), R a1 to R a3 independently represent an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms, or a group combining these groups, or R. a1 and R a2 are bonded to each other to form a divalent alicyclic hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms together with the carbon atom to which they are bonded.
ma and na independently represent 0 or 1, and at least one of ma and na represents 1.
* Represents a bond. ]
[In the formula (2), R a1'and R a2' each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, and R a3' represents a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms. Represented, R a2'and R a3' are bonded to each other to form a divalent heterocyclic group having 3 to 20 carbon atoms together with the carbon atom and X to which they are bonded, and the hydrocarbon group and the divalent complex. The −CH 2− contained in the ring group may be replaced by −O− or −S−.
X represents an oxygen atom or a sulfur atom.
na'represents 0 or 1.
* Represents a bond. ]
Ra1〜Ra3のアルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基等が挙げられる。
Ra1〜Ra3の脂環式炭化水素基は、単環式及び多環式のいずれでもよい。単環式の脂環式炭化水素基としては、シクロペンチル基、シクロへキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基等のシクロアルキル基が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、デカヒドロナフチル基、アダマンチル基、ノルボルニル基及び下記の基(*は結合手を表す。)等が挙げられる。Ra1〜Ra3の脂環式炭化水素基の炭素数は、好ましくは3〜16である。
アルキル基と脂環式炭化水素基とを組み合わせた基としては、例えば、メチルシクロヘキシル基、ジメチルシクロへキシル基、メチルノルボルニル基、シクロヘキシルメチル基、アダマンチルメチル基、アダマンチルジメチル基、ノルボルニルエチル基等が挙げられる。
好ましくは、maは0であり、naは1である。
Ra1及びRa2が互いに結合して2価の脂環式炭化水素基を形成する場合の−C(Ra1)(Ra2)(Ra3)としては、下記の基が挙げられる。2価の脂環式炭化水素基は、好ましくは炭素数3〜12である。*は−O−との結合手を表す。
Examples of the alkyl group of R a1 to R a3 include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, an n-pentyl group, an n-hexyl group, an n-heptyl group, an n-octyl group and the like.
The alicyclic hydrocarbon groups of R a1 to R a3 may be either monocyclic or polycyclic. Examples of the monocyclic alicyclic hydrocarbon group include cycloalkyl groups such as cyclopentyl group, cyclohexyl group, cycloheptyl group and cyclooctyl group. Examples of the polycyclic alicyclic hydrocarbon group include a decahydronaphthyl group, an adamantyl group, a norbornyl group and the following groups (* indicates a bond). The alicyclic hydrocarbon groups of R a1 to R a3 have preferably 3 to 16 carbon atoms.
Examples of the group in which the alkyl group and the alicyclic hydrocarbon group are combined include a methylcyclohexyl group, a dimethylcyclohexyl group, a methylnorbornyl group, a cyclohexylmethyl group, an adamantylmethyl group, an adamantyldimethyl group and a norbornyl group. Examples include an ethyl group.
Preferably, ma is 0 and na is 1.
Examples of -C (R a1 ) (R a2 ) (R a3 ) in the case where R a1 and R a 2 are bonded to each other to form a divalent alicyclic hydrocarbon group include the following groups. The divalent alicyclic hydrocarbon group preferably has 3 to 12 carbon atoms. * Represents a bond with -O-.
Ra1'〜Ra3'の炭化水素基としては、アルキル基、脂環式炭化水素基、芳香族炭化水素基及びこれらを組み合わせることにより形成される基等が挙げられる。
アルキル基及び脂環式炭化水素基は、上記と同様のものが挙げられる。
芳香族炭化水素基としては、フェニル基、ナフチル基、アントリル基、p−メチルフェニル基、p−tert−ブチルフェニル基、p−アダマンチルフェニル基、トリル基、キシリル基、クメニル基、メシチル基、ビフェニル基、フェナントリル基、2,6−ジエチルフェニル基、2−メチル−6−エチルフェニル基等のアリール基等が挙げられる。
Ra2'及びRa3'が互いに結合してそれらが結合する炭素原子及びXとともに形成する2価の複素環基を形成する場合、−C(Ra1’)(Ra3’)−X−Ra2’としては、下記の基が挙げられる。*は、結合手を表す。
Ra1'及びRa2'のうち、少なくとも1つは水素原子であることが好ましい。
na’は、好ましくは0である。
Examples of the hydrocarbon group R a1 '~R a3', an alkyl group, an alicyclic hydrocarbon group, and a group formed by combining an aromatic hydrocarbon group and thereof.
Examples of the alkyl group and the alicyclic hydrocarbon group include the same as above.
Examples of the aromatic hydrocarbon group include a phenyl group, a naphthyl group, an anthryl group, a p-methylphenyl group, a p-tert-butylphenyl group, a p-adamantylphenyl group, a trill group, a xsilyl group, a cumenyl group, a mesityl group and a biphenyl group. Examples thereof include an aryl group such as a group, a phenanthryl group, a 2,6-diethylphenyl group and a 2-methyl-6-ethylphenyl group.
When forming a divalent heterocyclic group formed together with the carbon atoms and X which R a2 'and R a3' are bonded to which they are attached to each other, -C (R a1 ') ( R a3') -X-R The following groups can be mentioned as a2'. * Represents a bond.
Of R a1 'and R a2', it is preferable that at least one is a hydrogen atom.
na'is preferably 0.
式(1)で表される基としては、1,1−ジアルキルアルコキシカルボニル基(式(1)中においてRa1〜Ra3がアルキル基、ma=0、na=1、好ましくはtert−ブトキシカルボニル基)、2−アルキルアダマンタン−2−イルオキシカルボニル基(式(1)中、Ra1、Ra2及びこれらが結合する炭素原子がアダマンチル基、Ra3がアルキル基、ma=0、na=1)及び1−(アダマンタン−1−イル)−1−アルキルアルコキシカルボニル基(式(1)中、Ra1及びRa2がアルキル基、Ra3がアダマンチル基、ma=0、na=1)等、さらに以下の基が挙げられる。*は結合手を表す。
Examples of the group represented by the formula (1), 1,1-dialkyl alkoxycarbonyl group (formula (1) R a1 to R a3 is alkyl group in a, ma = 0, na = 1, preferably tert- butoxycarbonyl Group), 2-alkyl adamantan-2-yloxycarbonyl group (in formula (1), R a1 , R a2 and the carbon atom to which they are bonded are adamantyl groups, R a3 is an alkyl group, ma = 0, na = 1 ) And 1- (adamantan-1-yl) -1- alkylalkoxycarbonyl group (in formula (1), Ra1 and Ra2 are alkyl groups, Ra3 is adamantyl group, ma = 0, na = 1), etc. Further, the following groups can be mentioned. * Represents a bond.
式(2)で表される基の具体例としては、以下の基が挙げられる。*は結合手を表す。
Specific examples of the group represented by the formula (2) include the following groups. * Represents a bond.
モノマー(a1)は、好ましくは、酸不安定基とエチレン性不飽和結合とを有するモノマー、より好ましくは酸不安定基を有する(メタ)アクリル系モノマーである。 The monomer (a1) is preferably a monomer having an acid unstable group and an ethylenically unsaturated bond, and more preferably a (meth) acrylic monomer having an acid unstable group.
式(1)で表される基を有する(メタ)アクリル系モノマーに由来する構造単位として、好ましくは、式(a1−0)で表される構造単位(以下、構造単位(a1−0)という場合がある。)、式(a1−1)で表される構造単位(以下、構造単位(a1−1)という場合がある。)又は式(a1−2)で表される構造単位(以下、構造単位(a1−2)という場合がある。)が挙げられる。これらは単独で使用してもよく、2種以上を併用してもよい。
[式(a1−0)、式(a1−1)及び式(a1−2)中、
La01、La1及びLa2は、それぞれ独立に、−O−又は*−O−(CH2)k1−CO−O−を表し、k1は1〜7のいずれかの整数を表し、*は−CO−との結合手を表す。
Ra01、Ra4及びRa5は、それぞれ独立に、水素原子又はメチル基を表す。
Ra02、Ra03及びRa04は、それぞれ独立に、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数3〜18の脂環式炭化水素基又はこれらを組み合わせた基を表す。
Ra6及びRa7は、それぞれ独立に、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数3〜18の脂環式炭化水素基又はこれらを組合せることにより形成される基を表す。
m1は0〜14のいずれかの整数を表す。
n1は0〜10のいずれかの整数を表す。
n1’は0〜3のいずれかの整数を表す。]
The structural unit derived from the (meth) acrylic monomer having a group represented by the formula (1) is preferably a structural unit represented by the formula (a1-0) (hereinafter referred to as a structural unit (a1-0)). (In some cases), a structural unit represented by the formula (a1-1) (hereinafter, may be referred to as a structural unit (a1-1)) or a structural unit represented by the formula (a1-2) (hereinafter, referred to as a structural unit). It may be referred to as a structural unit (a1-2)). These may be used alone or in combination of two or more.
[In the formula (a1-0), the formula (a1-1) and the formula (a1-2),
L a01, L a1 and L a2 each independently, -O- or * -O- (CH 2) k1 -CO -O- the stands, k1 represents an integer of 1-7, and * Represents a bond with −CO−.
R a01 , R a4 and R a5 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group.
R a02 , R a03, and R a04 independently represent an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms, or a group combining these groups.
R a6 and R a7 each independently represent an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms, or a group formed by combining them.
m1 represents any integer from 0 to 14.
n1 represents any integer from 0 to 10.
n1'represents an integer of 0 to 3. ]
Ra01、Ra4及びRa5は、好ましくはメチル基である。
La01、La1及びLa2は、好ましくは酸素原子又は*−O−(CH2)k01−CO−O−であり(但し、k01は、好ましくは1〜4のいずれかの整数、より好ましくは1である。)、より好ましくは酸素原子である。
Ra02、Ra03、Ra04、Ra6及びRa7のアルキル基、脂環式炭化水素基及びこれらを組合せた基としては、式(1)のRa1〜Ra3で挙げた基と同様の基が挙げられる。
Ra02、Ra03、Ra04、Ra6及びRa7のアルキル基の炭素数は、好ましくは1〜6であり、より好ましくはメチル基又はエチル基であり、さらに好ましくはメチル基である。
Ra02、Ra03、Ra04、Ra6及びRa7の脂環式炭化水素基の炭素数は、好ましくは3〜8であり、より好ましくは3〜6である。
アルキル基と脂環式炭化水素基とを組合せた基は、これらアルキル基と脂環式炭化水素基とを組合せた合計炭素数が、18以下であることが好ましい。
Ra02及びRa03は、好ましくは炭素数1〜6のアルキル基であり、より好ましくはメチル基又はエチル基である。
Ra04は、好ましくは炭素数1〜6のアルキル基又は炭素数5〜12の脂環式炭化水素基であり、より好ましくはメチル基、エチル基、シクロヘキシル基又はアダマンチル基である。
m1は、好ましくは0〜3のいずれかの整数であり、より好ましくは0又は1である。
n1は、好ましくは0〜3のいずれかの整数であり、より好ましくは0又は1である。
n1’は好ましくは0又は1である。
R a01 , R a4 and R a5 are preferably methyl groups.
L a01, L a1 and L a2 are preferably oxygen atom or * -O- (CH 2) k01 -CO -O- and is (however, k01 is preferably either 1 to 4 integer, more preferably Is 1.), More preferably an oxygen atom.
The alkyl groups of R a02 , R a03 , R a04 , R a6 and R a7 , the alicyclic hydrocarbon group and the group combining these are the same as the groups listed in R a1 to R a3 of the formula (1). The group is mentioned.
The alkyl groups of R a02 , R a03 , R a04 , R a6 and R a7 have preferably 1 to 6 carbon atoms, more preferably a methyl group or an ethyl group, and even more preferably a methyl group.
The alicyclic hydrocarbon groups of R a02 , R a03 , R a04 , R a6 and R a7 have preferably 3 to 8 carbon atoms, more preferably 3 to 6 carbon atoms.
The group in which the alkyl group and the alicyclic hydrocarbon group are combined preferably has a total carbon number of 18 or less in combination of these alkyl groups and the alicyclic hydrocarbon group.
R a02 and R a03 are preferably alkyl groups having 1 to 6 carbon atoms, and more preferably methyl groups or ethyl groups.
Ra04 is preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms or an alicyclic hydrocarbon group having 5 to 12 carbon atoms, and more preferably a methyl group, an ethyl group, a cyclohexyl group or an adamantyl group.
m1 is preferably an integer of 0 to 3, more preferably 0 or 1.
n1 is preferably an integer of 0 to 3, and more preferably 0 or 1.
n1'is preferably 0 or 1.
構造単位(a1−0)としては、例えば、式(a1−0−1)〜式(a1−0−12)のいずれかで表される構造単位及びRa01に相当するメチル基が水素原子に置き換わった構造単位が挙げられ、式(a1−0−1)〜式(a1−0−10)のいずれかで表される構造単位が好ましい。
As the structural unit (a1-0), for example, the structural unit represented by any one of the formulas (a1-0-1) to (a1-0-12) and the methyl group corresponding to R a01 are hydrogen atoms. Examples of the structural units have been replaced, and structural units represented by any of the formulas (a1-0-1) to (a1-0-10) are preferable.
構造単位(a1−1)を導くモノマーとしては、例えば、特開2010−204646号公報に記載されたモノマーが挙げられる。中でも、式(a1−1−1)〜式(a1−1−4)のいずれかで表される構造単位及びRa4に相当するメチル基が水素原子に置き換わった構造単位が好ましく、式(a1−1−1)〜式(a1−1−4)のいずれかで表される構造単位がより好ましい。
Examples of the monomer for deriving the structural unit (a1-1) include the monomers described in JP-A-2010-204646. Among them, preferred is formula (a1-1-1) ~ formula (a1-1-4) structural units in which a methyl group is replaced by a hydrogen atom corresponding to the structural units and R a4 represented by any one of formula (a1 The structural unit represented by any of 1-1) to (a1-1-4) is more preferable.
構造単位(a1−2)としては、式(a1−2−1)〜式(a1−2−6)のいずれかで表される構造単位及びRa5に相当するメチル基が水素原子に置き換わった構造単位が挙げられ、式(a1−2−2)、式(a1−2−5)及び式(a1−2−6)が好ましい。
The structural unit (a1-2), a methyl group corresponding to the structural units and R a5 represented by any of formulas (a1-2-1) ~ formula (a1-2-6) is replaced by a hydrogen atom Structural units are mentioned, and the formula (a1-2-2), the formula (a1-2-5) and the formula (a1-2-6) are preferable.
樹脂(A)が構造単位(a1−0)及び/又は構造単位(a1−1)及び/又は構造単位(a1−2)を含む場合、これらの合計含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、通常10〜95モル%であり、好ましくは15〜90モル%であり、より好ましくは20〜85モル%である。 When the resin (A) contains a structural unit (a1-0) and / or a structural unit (a1-1) and / or a structural unit (a1-2), the total content of these is the total structure of the resin (A). It is usually 10 to 95 mol%, preferably 15 to 90 mol%, and more preferably 20 to 85 mol% with respect to the unit.
さらに、基(1)を有する構造単位(a1)としては、以下の構造単位が挙げられる。
Further, examples of the structural unit (a1) having the group (1) include the following structural units.
樹脂(A)が上記構造単位を含む場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、10〜95モル%が好ましく、15〜90モル%がより好ましく、20〜85モル%がさらに好ましい。 When the resin (A) contains the above structural units, the content thereof is preferably 10 to 95 mol%, more preferably 15 to 90 mol%, and 20 to 85 mol% with respect to all the structural units of the resin (A). % Is more preferable.
式(2)で表される基を有する(メタ)アクリル系モノマーに由来する構造単位としては、式(a1−5)で表される構造単位(以下「構造単位(a1−5)」という場合がある)も挙げられる。
式(a1−5)中、
Ra8は、ハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基、水素原子又はハロゲン原子を表す。
Za1は、単結合又は*−(CH2)h3−CO−L54−を表し、h3は1〜4のいずれかの整数を表し、*は、L51との結合手を表す。
L51、L52、L53及びL54は、それぞれ独立に、−O−又は−S−を表す。
s1は、1〜3のいずれかの整数を表す。
s1’は、0〜3のいずれかの整数を表す。
The structural unit derived from the (meth) acrylic monomer having a group represented by the formula (2) is a structural unit represented by the formula (a1-5) (hereinafter referred to as “structural unit (a1-5)”). There is).
In equation (a1-5),
R a8 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, a hydrogen atom or a halogen atom which may have a halogen atom.
Z a1 represents a single bond or * - (CH 2) h3 -CO -L 54 - represents, h3 represents an integer of 1 to 4, * represents a bond to L 51.
L 51 , L 52 , L 53 and L 54 independently represent -O- or -S-, respectively.
s1 represents an integer of 1 to 3.
s1'represents an integer of 0 to 3.
ハロゲン原子としては、フッ素原子及び塩素原子が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
ハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、フルオロメチル基及びトリフルオロメチル基が挙げられる。
式(a1−5)においては、Ra8は、水素原子、メチル基又はトリフルオロメチル基が好ましい。
L51は、酸素原子が好ましい。
L52及びL53のうち、一方が−O−であり、他方が−S−であることが好ましい。
s1は、1が好ましい。
s1’は、0〜2のいずれかの整数が好ましい。
Za1は、単結合又は*−CH2−CO−O−が好ましい。
Examples of the halogen atom include a fluorine atom and a chlorine atom, and a fluorine atom is preferable.
Alkyl groups having 1 to 6 carbon atoms which may have a halogen atom include methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, pentyl group, hexyl group, heptyl group, octyl group, fluoromethyl group and trifluoromethyl. The group is mentioned.
In the formula (a1-5), R a8 represents a hydrogen atom, a methyl group or a trifluoromethyl group.
L 51 is preferably an oxygen atom.
Of L 52 and L 53 , it is preferable that one is −O− and the other is −S−.
s1 is preferably 1.
s1'is preferably an integer of 0 to 2.
Z a1 is preferably a single bond or * -CH 2- CO-O-.
構造単位(a1−5)を導くモノマーとしては、例えば、特開2010−61117号公報に記載されたモノマーが挙げられる。中でも、式(a1−5−1)〜式(a1−5−4)でそれぞれ表されるモノマーが好ましく、式(a1−5−1)又は式(a1−5−2)で表されるモノマーがより好ましい。
Examples of the monomer for deriving the structural unit (a1-5) include the monomers described in JP-A-2010-61117. Among them, the monomers represented by the formulas (a1-5-1) to (a1-5-2) are preferable, and the monomers represented by the formula (a1-5-1) or the formula (a1-5-2) are preferable. Is more preferable.
樹脂(A)が、構造単位(a1−5)を有する場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、1〜50モル%が好ましく、3〜45モル%がより好ましく、5〜40モル%がさらに好ましい。 When the resin (A) has a structural unit (a1-5), the content thereof is preferably 1 to 50 mol%, more preferably 3 to 45 mol%, based on all the structural units of the resin (A). , 5-40 mol% is more preferred.
樹脂(A)中の酸不安定基を有する構造単位(a)としては、構造単位(a1−0)、構造単位(a1−1)、構造単位(a1−2)及び構造単位(a1−5)からなる群から選ばれる少なくとも一種以上が好ましく、少なくとも二種以上がより好ましく、構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−2)の組み合わせ、構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−5)の組み合わせがさらにより好ましい。構造単位(a1)は、好ましくは、構造単位(a1−1)を含む。 The structural unit (a) having an acid unstable group in the resin (A) includes a structural unit (a1-0), a structural unit (a1-1), a structural unit (a1-2), and a structural unit (a1-5). At least one or more selected from the group consisting of) is preferable, and at least two or more are more preferable, and combinations of structural units (a1-1) and structural units (a1-2), structural units (a1-1) and structural units (a1-1) The combination of a1-5) is even more preferable. The structural unit (a1) preferably includes the structural unit (a1-1).
〈構造単位(s)〉
構造単位(s)は、酸不安定基を有さないモノマー(以下「モノマー(s)」という場合がある)から導かれる。構造単位(s)を導くモノマーは、レジスト分野で公知の酸不安定基を有さないモノマーを使用できる。
構造単位(s)としては、ヒドロキシ基又はラクトン環を有し、かつ酸不安定基を有さない構造単位が好ましい。ヒドロキシ基を有し、かつ酸不安定基を有さない構造単位(以下「構造単位(a2)」という場合がある)及び/又はラクトン環を有し、かつ酸不安定基を有さない構造単位(以下「構造単位(a3)」という場合がある)を有する樹脂を本発明のレジスト組成物に使用すれば、レジストパターンの解像度及び基板との密着性を向上させることができる。
<Structural unit (s)>
The structural unit (s) is derived from a monomer having no acid-labile group (hereinafter, may be referred to as “monomer (s)”). As the monomer for deriving the structural unit (s), a monomer having no acid unstable group known in the resist field can be used.
As the structural unit (s), a structural unit having a hydroxy group or a lactone ring and having no acid unstable group is preferable. A structure having a hydroxy group and no acid-labile group (hereinafter sometimes referred to as "structural unit (a2)") and / or a lactone ring and no acid-labile group. If a resin having a unit (hereinafter sometimes referred to as "structural unit (a3)") is used in the resist composition of the present invention, the resolution of the resist pattern and the adhesion to the substrate can be improved.
〈構造単位(a2)〉
構造単位(a2)が有するヒドロキシ基は、アルコール性ヒドロキシ基でも、フェノール性ヒドロキシ基でもよい。
本発明のレジスト組成物からレジストパターンを製造するとき、露光光源としてKrFエキシマレーザ(248nm)、電子線又はEUV(超紫外光)等の高エネルギー線を用いる場合には、構造単位(a2)として、フェノール性ヒドロキシ基を有する構造単位(a2)を用いることが好ましい。また、ArFエキシマレーザ(193nm)等を用いる場合には、構造単位(a2)として、アルコール性ヒドロキシ基を有する構造単位(a2)が好ましく、構造単位(a2−1)を用いることがより好ましい。構造単位(a2)としては、1種を単独で含んでいてもよく、2種以上を含んでいてもよい。
<Structural unit (a2)>
The hydroxy group contained in the structural unit (a2) may be an alcoholic hydroxy group or a phenolic hydroxy group.
When a resist pattern is produced from the resist composition of the present invention, when a high-energy ray such as a KrF excimer laser (248 nm), an electron beam or EUV (ultraviolet light) is used as an exposure light source, the structural unit (a2) is used. , It is preferable to use the structural unit (a2) having a phenolic hydroxy group. When an ArF excimer laser (193 nm) or the like is used, the structural unit (a2) is preferably a structural unit (a2) having an alcoholic hydroxy group, and more preferably a structural unit (a2-1). As the structural unit (a2), one type may be contained alone, or two or more types may be included.
フェノール性ヒドロキシ基有する構造単位(a2)としては、以下に記載の構造単位が挙げられる。
Examples of the structural unit (a2) having a phenolic hydroxy group include the structural units described below.
樹脂(A)が、フェノール性ヒドロキシ基を有する構造単位(a2−0)を有する場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、5〜95モル%が好ましく、10〜80モル%がより好ましく、15〜80モル%がさらに好ましい。 When the resin (A) has a structural unit (a2-0) having a phenolic hydroxy group, the content thereof is preferably 5 to 95 mol%, preferably 10 to 95 mol%, based on the total structural units of the resin (A). 80 mol% is more preferable, and 15 to 80 mol% is even more preferable.
アルコール性ヒドロキシ基を有する構造単位(a2)としては、式(a2−1)で表される構造単位(以下「構造単位(a2−1)」という場合がある。)が挙げられる。
式(a2−1)中、
La3は、−O−又は*−O−(CH2)k2−CO−O−を表し、
k2は1〜7の整数を表す。*は−CO−との結合手を表す。
Ra14は、水素原子又はメチル基を表す。
Ra15及びRa16は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基又はヒドロキシ基を表す。
o1は、0〜10のいずれかの整数を表す。
Examples of the structural unit (a2) having an alcoholic hydroxy group include a structural unit represented by the formula (a2-1) (hereinafter, may be referred to as “structural unit (a2-1)”).
In equation (a2-1),
La3 represents −O− or * −O− (CH 2 ) k2 −CO−O−.
k2 represents an integer of 1-7. * Represents a bond with -CO-.
R a14 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a15 and R a16 independently represent a hydrogen atom, a methyl group or a hydroxy group, respectively.
o1 represents any integer from 0 to 10.
式(a2−1)では、La3は、好ましくは、−O−、−O−(CH2)f1−CO−O−であり(前記f1は、1〜4のいずれかの整数である)、より好ましくは−O−である。
Ra14は、好ましくはメチル基である。
Ra15は、好ましくは水素原子である。
Ra16は、好ましくは水素原子又はヒドロキシ基である。
o1は、好ましくは0〜3のいずれかの整数、より好ましくは0又は1である。
In the formula (a2-1), L a3 is preferably, -O -, - O- (CH 2) f1 -CO-O- and is (wherein f1 is an integer of 1 to 4) , More preferably -O-.
R a14 is preferably a methyl group.
R a15 is preferably a hydrogen atom.
R a16 is preferably a hydrogen atom or a hydroxy group.
o1 is preferably an integer of 0 to 3, more preferably 0 or 1.
構造単位(a2−1)としては、例えば、特開2010−204646号公報に記載されたモノマーに由来する構造単位が挙げられる。式(a2−1−1)〜式(a2−1−6)のいずれかで表される構造単位が好ましく、式(a2−1−1)〜式(a2−1−4)のいずれかで表される構造単位がより好ましく、式(a2−1−1)又は式(a2−1−3)で表される構造単位がさらに好ましい。
Examples of the structural unit (a2-1) include structural units derived from the monomers described in JP-A-2010-204646. The structural unit represented by any of the formulas (a2-1-1) to (a2-1-6) is preferable, and any of the formulas (a2-1-1) to (a2-1-4) is used. The structural unit represented is more preferable, and the structural unit represented by the formula (a2-1-1) or the formula (a2-1-3) is further preferable.
樹脂(A)が構造単位(a2−1)を含む場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、通常1〜45モル%であり、好ましくは1〜40モル%であり、より好ましくは1〜35モル%であり、さらに好ましくは2〜20モル%である。 When the resin (A) contains the structural unit (a2-1), the content thereof is usually 1 to 45 mol%, preferably 1 to 40 mol%, based on all the structural units of the resin (A). Yes, more preferably 1 to 35 mol%, still more preferably 2 to 20 mol%.
〈構造単位(a3)〉
構造単位(a3)が有するラクトン環は、β−プロピオラクトン環、γ−ブチロラクトン環、δ−バレロラクトン環のような単環でもよく、単環式のラクトン環と他の環との縮合環でもよい。好ましくは、γ−ブチロラクトン環、アダマンタンラクトン環、又は、γ−ブチロラクトン環構造を含む橋かけ環が挙げられる。
<Structural unit (a3)>
The lactone ring of the structural unit (a3) may be a monocyclic ring such as β-propiolactone ring, γ-butyrolactone ring, or δ-valerolactone ring, or a fused ring of a monocyclic lactone ring and another ring. But it may be. Preferably, a γ-butyrolactone ring, an adamantane lactone ring, or a bridged ring containing a γ-butyrolactone ring structure can be mentioned.
構造単位(a3)は、好ましくは、式(a3−1)、式(a3−2)、式(a3−3)又は式(a3−4)で表される構造単位である。これらの1種を単独で含有してもよく、2種以上を含有してもよい。 The structural unit (a3) is preferably a structural unit represented by the formula (a3-1), the formula (a3-2), the formula (a3-3) or the formula (a3-4). One of these may be contained alone, or two or more thereof may be contained.
[式(a3−1)中、
La4は、−O−又は*−O−(CH2)k3−CO−O−(k3は1〜7のいずれかの整数を表す。)で表される基を表す。*はカルボニル基との結合手を表す。
Ra18は、水素原子又はメチル基を表す。
Ra21は炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基を表す。
p1は0〜5のいずれかの整数を表す。p1が2以上のとき、複数のRa21は互いに同一又は相異なる。
式(a3−2)中、
La5は、−O−又は*−O−(CH2)k3−CO−O−(k3は1〜7のいずれかの整数を表す。)で表される基を表す。*はカルボニル基との結合手を表す。
Ra19は、水素原子又はメチル基を表す。
Ra22は、カルボキシ基、シアノ基又は炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基を表す。
q1は、0〜3のいずれかの整数を表す。q1が2以上のとき、複数のRa22は互いに同一又は相異なる。
式(a3−3)中、
La6は、−O−又は*−O−(CH2)k3−CO−O−(k3は1〜7のいずれかの整数を表す。)で表される基を表す。*はカルボニル基との結合手を表す。
Ra20は、水素原子又はメチル基を表す。
Ra23は、カルボキシ基、シアノ基又は炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基を表す。
r1は、0〜3のいずれかの整数を表す。r1が2以上のとき、複数のRa23は互いに同一又は相異なる。
式(a3−4)中、
Ra24は、ハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基、水素原子又はハロゲン原子を表す。
Ra25は、カルボキシ基、シアノ基又は炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基を表す。
La7は、−O−、*−O−La8−O−、*−O−La8−CO−O−、*−O−La8−CO−O−La9−CO−O−又は*−O−La8−O−CO−La9−O−を表す。
*はカルボニル基との結合手を表す。
La8及びLa9は、それぞれ独立に、炭素数1〜6のアルカンジイル基を表す。
w1は、0〜8のいずれかの整数を表す。w1が2以上のとき、複数のRa25は互いに同一であってもよく、異なってもよい。]
[In equation (a3-1),
La4 represents a group represented by −O− or * −O− (CH 2 ) k3 −CO−O− (k3 represents an integer of any of 1 to 7). * Represents a bond with a carbonyl group.
R a18 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a21 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms.
p1 represents any integer from 0 to 5. When p1 is 2 or more, a plurality of Ra 21s are the same or different from each other.
In formula (a3-2),
La5 represents a group represented by −O− or * −O− (CH 2 ) k3 −CO−O− (k3 represents an integer of any of 1 to 7). * Represents a bond with a carbonyl group.
R a19 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a22 represents a carboxy group, a cyano group, or an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms.
q1 represents any integer from 0 to 3. When q1 is 2 or more, a plurality of Ra22s are the same or different from each other.
In formula (a3-3),
La6 represents a group represented by −O− or * −O− (CH 2 ) k3 −CO−O− (k3 represents an integer of any of 1 to 7). * Represents a bond with a carbonyl group.
R a20 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a23 represents a carboxy group, a cyano group, or an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms.
r1 represents any integer from 0 to 3. When r1 is 2 or more, a plurality of Ra23s are the same or different from each other.
In formula (a3-4),
R a24 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, a hydrogen atom or a halogen atom which may have a halogen atom.
Ra25 represents a carboxy group, a cyano group, or an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms.
L a7 is -O-, * -O-L a8- O-, * -O-L a8- CO-O-, * -O-L a8- CO-O-L a9- CO-O- or * Represents −O−L a8 −O−CO−L a9 −O−.
* Represents a bond with a carbonyl group.
La 8 and La 9 independently represent an alkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms.
w1 represents any integer from 0 to 8. When w1 is 2 or more, the plurality of Ra 25s may be the same or different from each other. ]
Ra21、Ra22、Ra23及びRa25の脂肪族炭化水素基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基及びtert−ブチル基等のアルキル基が挙げられる。
Ra24のハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子及びヨウ素原子が挙げられる。
Ra24のアルキル基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基及びn−ヘキシル基等が挙げられ、好ましくは炭素数1〜4のアルキル基であり、より好ましくはメチル基又はエチル基である。
Ra24のハロゲン原子を有するアルキル基としては、トリフルオロメチル基、ペルフルオロエチル基、ペルフルオロプロピル基、ペルフルオロイソプロピル基、ペルフルオロブチル基、ペルフルオロsec−ブチル基、ペルフルオロtert−ブチル基、ペルフルオロペンチル基、ペルフルオロヘキシル基、トリクロロメチル基、トリブロモメチル基、トリヨードメチル基等が挙げられる。
Examples of the aliphatic hydrocarbon groups of R a21 , R a22 , R a23 and R a25 include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group and tert-butyl group. Alkyl groups can be mentioned.
Examples of the halogen atom of R a24 include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom and an iodine atom.
Examples of the alkyl group of R a24 include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, a sec-butyl group, a tert-butyl group, an n-pentyl group and an n-hexyl group. , It is preferably an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and more preferably a methyl group or an ethyl group.
Alkyl groups having a halogen atom of R a24 include trifluoromethyl group, perfluoroethyl group, perfluoropropyl group, perfluoroisopropyl group, perfluorobutyl group, perfluorosec-butyl group, perfluorotert-butyl group, perfluoropentyl group and perfluoro. Examples thereof include a hexyl group, a trichloromethyl group, a tribromomethyl group, and a triiodomethyl group.
La8及びLa9のアルカンジイル基としては、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基、ペンタン−1,5−ジイル基、ヘキサン−1,6−ジイル基、ブタン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,2−ジイル基、ペンタン−1,4−ジイル基及び2−メチルブタン−1,4−ジイル基等が挙げられる。 The alkanediyl groups of La8 and La9 include methylene group, ethylene group, propane-1,3-diyl group, propane-1,2-diyl group, butane-1,4-diyl group and pentane-1,5. -Diyl group, hexane-1,6-diyl group, butane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,2-diyl group, pentane-1, Examples thereof include 4-diyl group and 2-methylbutane-1,4-diyl group.
式(a3−1)〜式(a3−3)において、La4〜La6は、それぞれ独立に、好ましくは、−O−又は、k3が1〜4のいずれかの整数である*−O−(CH2)k3−CO−O−で表される基、より好ましくは−O−及び、*−O−CH2−CO−O−、さらに好ましくは酸素原子である。
Ra18〜Ra21は、好ましくはメチル基である。
Ra22及びRa23は、それぞれ独立に、好ましくはカルボキシ基、シアノ基又はメチル基である。
p1、q1及びr1は、それぞれ独立に、好ましくは0〜2のいずれかの整数であり、より好ましくは0又は1である。
In the formula (a3-1) ~ formula (a3-3), L a4 ~L a6 are each independently preferably, -O- or is either an integer k3 is 1 to 4 * -O- (CH 2 ) A group represented by k3- CO-O-, more preferably -O- and * -O-CH 2- CO-O-, still more preferably an oxygen atom.
R a18 to R a21 are preferably methyl groups.
R a22 and R a23 are each independently, preferably a carboxy group, a cyano group or a methyl group.
p1, q1 and r1 are independently, preferably an integer of 0 to 2, and more preferably 0 or 1.
式(a3−4)において、
Ra24は、好ましくは、水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基であり、より好ましくは、水素原子、メチル基又はエチル基であり、さらに好ましくは、水素原子又はメチル基である。
La7は、好ましくは、−O−又は*−O−La8−CO−O−であり、より好ましくは、−O−、−O−CH2−CO−O−又は−O−C2H4−CO−O−である。
Ra25は、好ましくはカルボキシ基、シアノ基又はメチル基である。
w1は、好ましくは0〜2のいずれかの整数であり、より好ましくは0又は1である。
特に、式(a3−4)は、式(a3−4)’が好ましい。
(式中、Ra24、La7は、上記と同じ意味を表す。)
In formula (a3-4)
R a24 is preferably a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, more preferably a hydrogen atom, a methyl group or an ethyl group, and further preferably a hydrogen atom or a methyl group.
L a7 is preferably −O− or * −O−L a8 −CO—O−, and more preferably −O−, −O—CH 2 −CO—O− or −O—C 2 H. 4- CO-O-.
Ra25 is preferably a carboxy group, a cyano group or a methyl group.
w1 is preferably an integer of 0 to 2, more preferably 0 or 1.
In particular, the formula (a3-4) is preferably the formula (a3-4)'.
(In the formula, Ra24 and La7 have the same meanings as above.)
構造単位(a3)を導くモノマーとしては、特開2010−204646号公報に記載されたモノマー、特開2000−122294号公報に記載されたモノマー、特開2012−41274号公報に記載されたモノマーが挙げられる。構造単位(a3)としては、式(a3−1−1)〜式(a3−1−4)、式(a3−2−1)〜式(a3−2−4)、式(a3−3−1)〜式(a3−3−4)及び式(a3−4−1)〜式(a3−4−12)のいずれかで表される構造単位が好ましく、式(a3−1−1)、式(a3−1−2)、式(a3−2−1)〜式(a3−2−4)及び式(a3−4−1)〜式(a3−4−12)のいずれかで表される構造単位がより好ましく、式(a3−4−1)〜式(a3−4−12)のいずれかで表される構造単位がさらに好ましく、式(a3−4−1)〜式(a3−4−6)のいずれかで表される構造単位がさらにより好ましい。 Examples of the monomer for deriving the structural unit (a3) include the monomers described in JP-A-2010-204646, the monomers described in JP-A-2000-122294, and the monomers described in JP-A-2012-41274. Can be mentioned. The structural unit (a3) includes equations (a3-1-1) to (a3-1-4), equations (a3-2-1) to (a3-2-4), and equations (a3-3-3). 1) The structural unit represented by any of the formulas (a3-3-4) and the formulas (a3-4-1) to (a3-4-12) is preferable, and the formula (a3-1-1), It is represented by any of the formulas (a3-1-2), formulas (a3-2-1) to formulas (a3-2-4) and formulas (a3-4-1) to formulas (a3-4-12). The structural unit is more preferable, and the structural unit represented by any of the formulas (a3-4-1) to (a3-4-12) is more preferable, and the structural units represented by the formulas (a3-4-1) to (a3-4-1) are more preferable. The structural unit represented by any of 4-6) is even more preferable.
以下の式(a3−4−1)〜式(a3−4−12)で表される構造単位においては、Ra24に相当するメチル基が水素原子に置き換わった化合物も、構造単位(a3−4)の具体例として挙げることができる。
In the structural unit represented by the following formula (a3-4-1) ~ formula (a3-4-12), compound methyl group corresponding to R a24 is replaced by a hydrogen atom, the structural unit (a3-4 ) Can be given as a specific example.
樹脂(A)が構造単位(a3)を含む場合、その合計含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、通常5〜70モル%であり、好ましくは10〜65モル%であり、より好ましくは10〜60モル%である。
また、構造単位(a3−1)、構造単位(a3−2)、構造単位(a3−3)及び構造単位(a3−4)の含有率は、それぞれ、樹脂(A)の全構造単位に対して、5〜60モル%が好ましく、5〜50モル%がより好ましく、10〜50モル%がさらに好ましい。
When the resin (A) contains the structural unit (a3), the total content thereof is usually 5 to 70 mol%, preferably 10 to 65 mol%, based on all the structural units of the resin (A). , More preferably 10 to 60 mol%.
The contents of the structural unit (a3-1), the structural unit (a3-2), the structural unit (a3-3), and the structural unit (a3-4) are each relative to all the structural units of the resin (A). 5 to 60 mol% is preferable, 5 to 50 mol% is more preferable, and 10 to 50 mol% is further preferable.
<その他の構造単位(t)>
構造単位(t)としては、構造単位(a2)及び構造単位(a3)以外にハロゲン原子を有する構造単位(以下、場合により「構造単位(a4)」という。)及び非脱離炭化水素基を有する構造単位(以下「構造単位(a5)」という場合がある)などが挙げられる。
<Other structural units (t)>
As the structural unit (t), a structural unit having a halogen atom in addition to the structural unit (a2) and the structural unit (a3) (hereinafter, sometimes referred to as “structural unit (a4)”) and a non-desorbed hydrocarbon group are used. Examples thereof include structural units having a structure (hereinafter, may be referred to as “structural unit (a5)”).
構造単位(a4)としては、式(a4−0)で表される構造単位が挙げられる。
[式(a4−0)中、
R5は、水素原子又はメチル基を表す。
L4は、単結合又は炭素数1〜4の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
L3は、炭素数1〜8のペルフルオロアルカンジイル基又は炭素数3〜12のペルフルオロシクロアルカンジイル基を表す。
R6は、水素原子又はフッ素原子を表す。]
Examples of the structural unit (a4) include a structural unit represented by the formula (a4-0).
[In equation (a4-0),
R 5 represents a hydrogen atom or a methyl group.
L 4 represents a single bond or an aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms.
L 3 represents a perfluoroalkanediyl group having 1 to 8 carbon atoms or a perfluorocycloalkanediyl group having 3 to 12 carbon atoms.
R 6 represents a hydrogen atom or a fluorine atom. ]
L4の脂肪族飽和炭化水素基としては、炭素数1〜4のアルカンジイル基が挙げられ、例えば、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基等の直鎖状アルカンジイル基、直鎖状アルカンジイル基に、アルキル基(特に、メチル基、エチル基等)の側鎖を有したもの、エタン−1,1−ジイル基、プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,3−ジイル基及び2−メチルプロパン−1,2−ジイル基等の分岐状アルカンジイル基が挙げられる。 Examples of the aliphatic saturated hydrocarbon group of L 4 include an alkanediyl group having 1 to 4 carbon atoms, for example, a methylene group, an ethylene group, a propane-1,3-diyl group and a butane-1,4-diyl group. , Etc., a linear alkanediyl group having a side chain of an alkyl group (particularly, a methyl group, an ethyl group, etc.), an ethane-1,1-diyl group, a propane-1, Examples thereof include branched alkanediyl groups such as 2-diyl group, butane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,3-diyl group and 2-methylpropane-1,2-diyl group.
L3のペルフルオロアルカンジイル基としては、ジフルオロメチレン基、ペルフルオロエチレン基、ペルフルオロプロパン−1,1−ジイル基、ペルフルオロプロパン−1,3−ジイル基、ペルフルオロプロパン−1,2−ジイル基、ペルフルオロプロパン−2,2−ジイル基、ペルフルオロブタン−1,4−ジイル基、ペルフルオロブタン−2,2−ジイル基、ペルフルオロブタン−1,2−ジイル基、ペルフルオロペンタン−1,5−ジイル基、ペルフルオロペンタン−2,2−ジイル基、ペルフルオロペンタン−3,3−ジイル基、ペルフルオロヘキサン−1,6−ジイル基、ペルフルオロヘキサン−2,2−ジイル基、ペルフルオロヘキサン−3,3−ジイル基、ペルフルオロヘプタン−1,7−ジイル基、ペルフルオロヘプタン−2,2−ジイル基、ペルフルオロヘプタン−3,4−ジイル基、ペルフルオロヘプタン−4,4−ジイル基、ペルフルオロオクタン−1,8−ジイル基、ペルフルオロオクタン−2,2−ジイル基、ペルフルオロオクタン−3,3−ジイル基、ペルフルオロオクタン−4,4−ジイル基等が挙げられる。
L3のペルフルオロシクロアルカンジイル基としては、ペルフルオロシクロヘキサンジイル基、ペルフルオロシクロペンタンジイル基、ペルフルオロシクロヘプタンジイル基、ペルフルオロアダマンタンジイル基等が挙げられる。
The perfluoroalkanediyl group of L 3 includes a difluoromethylene group, a perfluoroethylene group, a perfluoropropane-1,1-diyl group, a perfluoropropane-1,3-diyl group, a perfluoropropane-1,2-diyl group, and a perfluoropropane. -2,2-diyl group, perfluorobutane-1,4-diyl group, perfluorobutane-2,2-diyl group, perfluorobutane-1,2-diyl group, perfluoropentane-1,5-diyl group, perfluoropentane -2,2-diyl group, perfluoropentane-3,3-diyl group, perfluorohexane-1,6-diyl group, perfluorohexane-2,2-diyl group, perfluorohexane-3,3-diyl group, perfluoroheptane -1,7-diyl group, perfluoroheptane-2,2-diyl group, perfluoroheptane-3,4-diyl group, perfluoroheptane-4,4-diyl group, perfluorooctane-1,8-diyl group, perfluorooctane Examples thereof include -2,2-diyl group, perfluorooctane-3,3-diyl group, perfluorooctane-4,4-diyl group and the like.
Examples of the perfluorocycloalkanediyl group of L 3 include a perfluorocyclohexanediyl group, a perfluorocyclopentanediyl group, a perfluorocycloheptanediyl group, a perfluoroadamantandiyl group and the like.
L4は、好ましくは単結合、メチレン基又はエチレン基であり、より好ましくは、単結合、メチレン基である。
L3は、好ましくは炭素数1〜6のペルフルオロアルカンジイル基であり、より好ましくは炭素数1〜3のペルフルオロアルカンジイル基である。
L 4 is preferably a single bond, a methylene group or an ethylene group, and more preferably a single bond, a methylene group.
L 3 is preferably a perfluoroalkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms, and more preferably a perfluoroalkanediyl group having 1 to 3 carbon atoms.
構造単位(a4−0)としては、以下に示す構造単位及び下記構造単位中のR5に相当するメチル基が水素原子に置き換わった構造単位が挙げられる。
The structural unit (a4-0), a methyl group have structural units replaced by a hydrogen atom corresponding to R 5 in the structural unit and the following structural units shown below.
構造単位(a4)としては、式(a4−1)で表される構造単位が挙げられる。
[式(a4−1)中、
Ra41は、水素原子又はメチル基を表す。
Ra42は、置換基を有していてもよい炭素数1〜20の炭化水素基を表し、該炭化水素基に含まれる−CH2−は、−O−又は−CO−に置き換わっていてもよい。
Aa41は、置換基を有していてもよい炭素数1〜6のアルカンジイル基又は式(a−g1)で表される基を表す。ただし、Aa41及びRa42のうち少なくとも1つは、置換基としてハロゲン原子(好ましくはフッ素原子)を有する。
〔式(a−g1)中、
sは0又は1を表す。
Aa42及びAa44は、それぞれ独立に、置換基を有していてもよい炭素数1〜5の2価の脂肪族炭化水素基を表す。
Aa43は、単結合又は置換基を有していてもよい炭素数1〜5の2価の脂肪族炭化水素基を表す。
Xa41及びXa42は、それぞれ独立に、−O−、−CO−、−CO−O−又は−O−CO−を表す。
ただし、Aa42、Aa43、Aa44、Xa41及びXa42の炭素数の合計は7以下である。〕
*は結合手であり、右側の*が−O−CO−Ra42との結合手である。]
Examples of the structural unit (a4) include a structural unit represented by the formula (a4-1).
[In equation (a4-1),
R a41 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a42 represents a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms which may have a substituent, and −CH 2 − contained in the hydrocarbon group may be replaced with −O− or −CO−. good.
A a41 represents an alkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms which may have a substituent or a group represented by the formula (ag1). However, at least one of Aa41 and Ra42 has a halogen atom (preferably a fluorine atom) as a substituent.
[In the formula (ag1),
s represents 0 or 1.
A a42 and A a44 each independently represent a divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms which may have a substituent.
A a43 represents a divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms which may have a single bond or a substituent.
X a41 and X a42 independently represent -O-, -CO-, -CO-O- or -O-CO-, respectively.
However, the total number of carbon atoms of A a42 , A a43 , A a44 , X a41 and X a42 is 7 or less. ]
* Is a bond, and * on the right is a bond with -O-CO-R a42 . ]
Ra42の炭化水素基としては、鎖式及び環式の脂肪族炭化水素基、芳香族炭化水素基、並びにこれらを組み合わせることにより形成される基が挙げられる。
鎖式及び環式の脂肪族炭化水素基は、炭素−炭素不飽和結合を有していてもよいが、鎖式及び環式の脂肪族飽和炭化水素基が好ましい。該脂肪族飽和炭化水素基としては、直鎖又は分岐のアルキル基及び単環又は多環の脂環式炭化水素基、並びに、アルキル基及び脂環式炭化水素基を組み合わせることにより形成される脂肪族炭化水素基等が挙げられる。
Examples of the hydrocarbon group of R a42 include a chain type and a ring type aliphatic hydrocarbon group, an aromatic hydrocarbon group, and a group formed by combining these groups.
The chain-type and cyclic-type aliphatic hydrocarbon groups may have a carbon-carbon unsaturated bond, but chain-type and cyclic-type aliphatic saturated hydrocarbon groups are preferable. The aliphatic saturated hydrocarbon group is a fat formed by combining a linear or branched alkyl group and a monocyclic or polycyclic alicyclic hydrocarbon group, and an alkyl group and an alicyclic hydrocarbon group. Group hydrocarbon groups and the like can be mentioned.
鎖式の脂肪族炭化水素基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、n−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、n−デシル基、n−ドデシル基、n−ペンタデシル基、n−ヘキサデシル基、n−ヘプタデシル基及びn−オクタデシル基が挙げられる。環式の脂肪族炭化水素基としては、シクロペンチル基、シクロへキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基等のシクロアルキル基;デカヒドロナフチル基、アダマンチル基、ノルボルニル基及び下記の基(*は結合手を表す。)等の多環式の脂環式炭化水素基が挙げられる。
芳香族炭化水素基としては、フェニル基、ナフチル基、アントリル基、ビフェニリル基、フェナントリル基及びフルオレニル基が挙げられる。
Chain-type aliphatic hydrocarbon groups include methyl group, ethyl group, n-propyl group, n-butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group, n-heptyl group, n-octyl group and n-decyl. Examples thereof include a group, an n-dodecyl group, an n-pentadecyl group, an n-hexadecyl group, an n-heptadecyl group and an n-octadecyl group. Cyclic aliphatic hydrocarbon groups include cycloalkyl groups such as cyclopentyl group, cyclohexyl group, cycloheptyl group and cyclooctyl group; decahydronaphthyl group, adamantyl group, norbornyl group and the following groups (* is a bond). Examples thereof include a polycyclic alicyclic hydrocarbon group such as (representing a hand).
Examples of the aromatic hydrocarbon group include a phenyl group, a naphthyl group, an anthryl group, a biphenylyl group, a phenanthryl group and a fluorenyl group.
Ra42は、置換基として、ハロゲン原子又は式(a−g3)で表される基が挙げられる。ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子及びヨウ素原子が挙げられ、好ましくはフッ素原子である。
[式(a−g3)中、
Xa43は、酸素原子、カルボニル基、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
Aa45は、少なくとも1つのハロゲン原子を有する炭素数1〜17の脂肪族炭化水素基を表す。
*は結合手を表す。]
Examples of R a42 include a halogen atom or a group represented by the formula ( ag3) as a substituent. Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
[In the formula (ag3),
X a43 represents an oxygen atom, a carbonyl group, a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
A a45 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms having at least one halogen atom.
* Represents a bond. ]
Aa45の脂肪族炭化水素基としては、Ra42で例示したものと同様の基が挙げられる。
Ra42は、ハロゲン原子を有してもよい脂肪族炭化水素基が好ましく、ハロゲン原子を有するアルキル基及び/又は式(a−g3)で表される基を有する脂肪族炭化水素基がより好ましい。
Ra42がハロゲン原子を有する脂肪族炭化水素基である場合、好ましくはフッ素原子を有する脂肪族炭化水素基であり、より好ましくはペルフルオロアルキル基又はペルフルオロシクロアルキル基であり、さらに好ましくは炭素数が1〜6のペルフルオロアルキル基であり、特に好ましくは炭素数1〜3のペルフルオロアルキル基である。ペルフルオロアルキル基としては、ペルフルオロメチル基、ペルフルオロエチル基、ペルフルオロプロピル基、ペルフルオロブチル基、ペルフルオロペンチル基、ペルフルオロヘキシル基、ペルフルオロヘプチル基及びペルフルオロオクチル基等が挙げられる。ペルフルオロシクロアルキル基としては、ペルフルオロシクロヘキシル基等が挙げられる。
Ra42が、式(a−g3)で表される基を有する脂肪族炭化水素基である場合、式(a−g3)で表される基に含まれる炭素数を含めて、脂肪族炭化水素基の総炭素数は、15以下が好ましく、12以下がより好ましい。式(a−g3)で表される基を置換基として有する場合、その数は1個が好ましい。
Examples of the aliphatic hydrocarbon group of A a45 include the same groups as those exemplified in R a42.
R a42 is preferably an aliphatic hydrocarbon group which may have a halogen atom, and more preferably an alkyl group having a halogen atom and / or an aliphatic hydrocarbon group having a group represented by the formula (ag3). ..
When R a42 is an aliphatic hydrocarbon group having a halogen atom, it is preferably an aliphatic hydrocarbon group having a fluorine atom, more preferably a perfluoroalkyl group or a perfluorocycloalkyl group, and further preferably having a carbon number of carbons. It is a perfluoroalkyl group of 1 to 6, and particularly preferably a perfluoroalkyl group having 1 to 3 carbon atoms. Examples of the perfluoroalkyl group include a perfluoromethyl group, a perfluoroethyl group, a perfluoropropyl group, a perfluorobutyl group, a perfluoropentyl group, a perfluorohexyl group, a perfluoroheptyl group and a perfluorooctyl group. Examples of the perfluorocycloalkyl group include a perfluorocyclohexyl group.
When R a42 is an aliphatic hydrocarbon group having a group represented by the formula (ag3), the aliphatic hydrocarbon includes the number of carbon atoms contained in the group represented by the formula (ag3). The total carbon number of the group is preferably 15 or less, more preferably 12 or less. When the group represented by the formula (ag3) is used as a substituent, the number thereof is preferably one.
式(a−g3)で表される基を有する脂肪族炭化水素基は、さらに好ましくは式(a−g2)で表される基である。
[式(a−g2)中、
Aa46は、ハロゲン原子を有していてもよい炭素数1〜17の脂肪族炭化水素基を表す。
Xa44は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
Aa47は、ハロゲン原子を有していてもよい炭素数1〜17の脂肪族炭化水素基を表す。
ただし、Aa46、Aa47及びXa44の炭素数の合計は18以下であり、Aa46及びAa47のうち、少なくとも一方は、少なくとも1つのハロゲン原子を有する。
*はカルボニル基との結合手を表す。]
The aliphatic hydrocarbon group having a group represented by the formula (ag3) is more preferably a group represented by the formula (ag2).
[In the formula (ag2),
A a46 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms which may have a halogen atom.
X a44 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
A a47 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms which may have a halogen atom.
However, the total number of carbon atoms of A a46 , A a47 and X a44 is 18 or less, and at least one of A a46 and A a47 has at least one halogen atom.
* Represents a bond with a carbonyl group. ]
Aa46の脂肪族炭化水素基の炭素数は1〜6が好ましく、1〜3がより好ましい。
Aa47の脂肪族炭化水素基の炭素数は4〜15が好ましく、5〜12がより好ましく、Aa47は、シクロヘキシル基又はアダマンチル基がさらに好ましい。
The aliphatic hydrocarbon group of A a46 preferably has 1 to 6 carbon atoms, more preferably 1 to 3 carbon atoms.
The aliphatic hydrocarbon group of A a47 preferably has 4 to 15 carbon atoms, more preferably 5 to 12 carbon atoms, and further preferably A a47 has a cyclohexyl group or an adamantyl group.
*−Aa46−Xa44−Aa47で表される部分構造(*はカルボニル基との結合手である)のより好ましい構造は、以下の構造である。
A more preferable structure of the partial structure represented by * -A a46- X a44- A a47 (* is a bond with a carbonyl group) is the following structure.
Aa41のアルカンジイル基としては、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基、ペンタン−1,5−ジイル基、ヘキサン−1,6−ジイル基等の直鎖状アルカンジイル基;プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,2−ジイル基、1−メチルブタン−1,4−ジイル基、2−メチルブタン−1,4−ジイル基等の分岐状アルカンジイル基が挙げられる。
Aa41のアルカンジイル基における置換基としては、ヒドロキシ基及び炭素数1〜6のアルコキシ基等が挙げられる。
Aa41は、好ましくは炭素数1〜4のアルカンジイル基であり、より好ましくは炭素数2〜4のアルカンジイル基であり、さらに好ましくはエチレン基である。
The alkanediyl group of A a41 includes a methylene group, an ethylene group, a propane-1,3-diyl group, a butane-1,4-diyl group, a pentane-1,5-diyl group, and a hexane-1,6-diyl group. Linear alkanediyl groups such as propane-1,2-diyl group, butane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,2-diyl group, 1-methylbutane-1,4-diyl group, etc. Examples thereof include branched alkanediyl groups such as 2-methylbutane-1,4-diyl group.
Examples of the substituent in the alkanediyl group of A a41 include a hydroxy group and an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms.
A a41 is preferably an alkanediyl group having 1 to 4 carbon atoms, more preferably an alkanediyl group having 2 to 4 carbon atoms, and further preferably an ethylene group.
基(a−g1)におけるAa42、Aa43及びAa44の脂肪族炭化水素基は、炭素−炭素不飽和結合を有していてもよいが、鎖式及び環式の脂肪族飽和炭化水素基並びにこれらを組合せることにより形成される基が好ましい。該脂肪族飽和炭化水素基としては、直鎖又は分岐のアルキル基及び単環又は多環の脂環式炭化水素基、並びに、アルキル基及び脂環式炭化水素基を組合せることにより形成される脂肪族炭化水素基等が挙げられる。具体的には、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基、1−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,2−ジイル基等が挙げられる。
Aa42、Aa43及びAa44の脂肪族炭化水素基の置換基としては、ヒドロキシ基及び炭素数1〜6のアルコキシ基等が挙げられる。
sは、0であることが好ましい。
The aliphatic hydrocarbon groups A a42 , A a43 and A a44 in the group (a-g1) may have a carbon-carbon unsaturated bond, but are chain and cyclic aliphatic saturated hydrocarbon groups. In addition, a group formed by combining these is preferable. The aliphatic saturated hydrocarbon group is formed by combining a linear or branched alkyl group and a monocyclic or polycyclic alicyclic hydrocarbon group, and an alkyl group and an alicyclic hydrocarbon group. Examples include aliphatic hydrocarbon groups. Specifically, a methylene group, an ethylene group, a propane-1,3-diyl group, a propane-1,2-diyl group, a butane-1,4-diyl group, a 1-methylpropane-1,3-diyl group, Examples thereof include 2-methylpropane-1,3-diyl group and 2-methylpropane-1,2-diyl group.
Examples of the substituent of the aliphatic hydrocarbon group of A a42, A a43 and A a44 include a hydroxy group and an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms.
s is preferably 0.
Xa42が酸素原子、カルボニル基、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す基(a−g1)としては、以下の基等が挙げられる。以下の例示において、*及び**はそれぞれ結合手を表わし、**が−O−CO−Ra42との結合手である。
Examples of the group (ag1) in which X a42 represents an oxygen atom, a carbonyl group, a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group include the following groups. In the following examples, * and ** represent the bond, respectively, and ** is the bond with -O-CO-R a42 .
式(a4−1)で表される構造単位としては、以下に示す構造単位及び下記構造単位中のRf1に相当するメチル基が水素原子に置き換わった構造単位が挙げられる。
Examples of the structural unit represented by the formula (a4-1) include the structural unit shown below and the structural unit in which the methyl group corresponding to R f1 in the following structural unit is replaced with a hydrogen atom.
構造単位(a4)としては、式(a4−4)で表される構造単位も挙げられる。
[式(a4−4)中、
Rf21は、水素原子又はメチル基を表す。
Af21は、−(CH2)j1−、−(CH2)j2−O−(CH2)j3−又は−(CH2)j4−CO−O−(CH2)j5−を表す。
j1〜j5は、それぞれ独立に、1〜6のいずれかの整数を表す。
Rf22は、フッ素原子を有する炭素数1〜10の炭化水素基を表す。]
The structural unit (a4) also includes a structural unit represented by the formula (a4-4).
[In equation (a4-4),
R f21 represents a hydrogen atom or a methyl group.
A f21 represents − (CH 2 ) j1 −, − (CH 2 ) j2 −O− (CH 2 ) j3 − or − (CH 2 ) j4 −CO−O− (CH 2 ) j5− .
j1 to j5 each independently represent an integer of 1 to 6.
R f22 represents a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms having a fluorine atom. ]
Rf22のフッ素原子を有する炭化水素基としては、式(a4−2)におけるRf2の炭化水素基と同じものが挙げられる。Rf22は、フッ素原子を有する炭素数1〜10のアルキル基又はフッ素原子を有する炭素数1〜10の脂環式炭化水素基が好ましく、フッ素原子を有する炭素数1〜10のアルキル基がより好ましく、フッ素原子を有する炭素数1〜6のアルキル基がさらに好ましい。 Examples of the hydrocarbon group having a fluorine atom of R f22 include the same hydrocarbon group as R f2 in the formula (a4-2). R f22 is preferably an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms having a fluorine atom or an alicyclic hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms having a fluorine atom, and an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms having a fluorine atom is more preferable. Preferably, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms having a fluorine atom is more preferable.
式(a4−4)においては、Af21としては、−(CH2)j1−が好ましく、エチレン基又はメチレン基がより好ましく、メチレン基がさらに好ましい。 In the formula (a4-4), as A f21 , − (CH 2 ) j1 − is preferable, an ethylene group or a methylene group is more preferable, and a methylene group is further preferable.
式(a4−4)で表される構造単位としては、例えば、以下の構造単位及び以下の式で表される構造単位においてはRf21に相当するメチル基が水素原子に置き換わった構造単位が挙げられる。
Examples of the structural unit represented by the formula (a4-4) include the following structural unit and the structural unit represented by the following formula in which the methyl group corresponding to R f21 is replaced with a hydrogen atom. Be done.
樹脂(A)が、構造単位(a4)を有する場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、1〜20モル%が好ましく、2〜15モル%がより好ましく、3〜10モル%がさらに好ましい。 When the resin (A) has a structural unit (a4), the content thereof is preferably 1 to 20 mol%, more preferably 2 to 15 mol%, and 3) with respect to all the structural units of the resin (A). 10 mol% is more preferable.
<構造単位(a5)>
構造単位(a5)が有する非脱離炭化水素基としては、直鎖、分岐又は環状の炭化水素基が挙げられる。なかでも、構造単位(a5)は、脂環式炭化水素基を含むものが好ましい。
構造単位(a5)としては、例えば、式(a5−1)で表される構造単位が挙げられる。
[式(a5−1)中、
R51は、水素原子又はメチル基を表す。
R52は、炭素数3〜18の脂環式炭化水素基を表し、該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子は炭素数1〜8の脂肪族炭化水素基で置換されていてもよい。但し、L55との結合位置にある炭素原子に結合する水素原子は、炭素数1〜8の脂肪族炭化水素基で置換されない。
L55は、単結合又は炭素数1〜18の2価の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基に置き換わっていてもよい。]
<Structural unit (a5)>
Examples of the non-eliminating hydrocarbon group contained in the structural unit (a5) include a linear, branched or cyclic hydrocarbon group. Among them, the structural unit (a5) preferably contains an alicyclic hydrocarbon group.
Examples of the structural unit (a5) include a structural unit represented by the formula (a5-1).
[In equation (a5-1),
R 51 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R 52 represents an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms, and the hydrogen atom contained in the alicyclic hydrocarbon group may be substituted with an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms. .. However, the hydrogen atom bonded to the carbon atom at the bonding position with L 55 is not replaced by an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms.
L 55 represents a single bond or a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms, and the methylene group contained in the saturated hydrocarbon group may be replaced with an oxygen atom or a carbonyl group. ]
R52の脂環式炭化水素基としては、単環式及び多環式のいずれでもよい。単環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基及びシクロヘキシル基が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、アダマンチル基及びノルボルニル基等が挙げられる。
炭素数1〜8の脂肪族炭化水素基は、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基及び2−エチルヘキシル基等のアルキル基が挙げられる。
置換基を有した脂環式炭化水素基としては、3−メチルアダマンチル基などが挙げられる。
R52は、好ましくは、無置換の炭素数3〜18の脂環式炭化水素基であり、より好ましくは、アダマンチル基、ノルボルニル基又はシクロヘキシル基である。
The alicyclic hydrocarbon group of R 52 may be either a monocyclic or polycyclic group. Examples of the monocyclic alicyclic hydrocarbon group include a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group and a cyclohexyl group. Examples of the polycyclic alicyclic hydrocarbon group include an adamantyl group and a norbornyl group.
The aliphatic hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms includes, for example, a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, a sec-butyl group, a tert-butyl group, a pentyl group and a hexyl group. Alkyl groups such as octyl group and 2-ethylhexyl group can be mentioned.
Examples of the alicyclic hydrocarbon group having a substituent include a 3-methyladamantyl group.
R 52 is preferably an unsubstituted alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms, and more preferably an adamantyl group, a norbornyl group or a cyclohexyl group.
L55の2価の飽和炭化水素基としては、2価の脂肪族飽和炭化水素基及び2価の脂環式飽和炭化水素基が挙げられ、好ましくは2価の脂肪族飽和炭化水素基である。
2価の脂肪族飽和炭化水素基としては、例えば、メチレン基、エチレン基、プロパンジイル基、ブタンジイル基及びペンタンジイル基等のアルカンジイル基が挙げられる。
2価の脂環式飽和炭化水素基は、単環式及び多環式のいずれでもよい。単環式の脂環式飽和炭化水素基としては、シクロペンタンジイル基及びシクロヘキサンジイル基等のシクロアルカンジイル基が挙げられる。多環式の2価の脂環式飽和炭化水素基としては、アダマンタンジイル基及びノルボルナンジイル基等が挙げられる。
Examples of the divalent saturated hydrocarbon group of L 55 include a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group and a divalent alicyclic saturated hydrocarbon group, and a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group is preferable. ..
Examples of the divalent aliphatic saturated hydrocarbon group include an alkanediyl group such as a methylene group, an ethylene group, a propanediyl group, a butanjiyl group and a pentandiyl group.
The divalent alicyclic saturated hydrocarbon group may be either monocyclic or polycyclic. Examples of the monocyclic alicyclic saturated hydrocarbon group include a cycloalkanediyl group such as a cyclopentanediyl group and a cyclohexanediyl group. Examples of the polycyclic divalent alicyclic saturated hydrocarbon group include an adamantandiyl group and a norbornanediyl group.
飽和炭化水素基に含まれるメチレン基が、酸素原子又はカルボニル基で置き換わった基としては、例えば、式(L1−1)〜式(L1−4)で表される基が挙げられる。下記式中、*は酸素原子との結合手を表す。
式(L1−1)中、
Xx1は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
Lx1は、炭素数1〜16の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
Lx2は、単結合又は炭素数1〜15の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx1及びLx2の合計炭素数は、16以下である。
式(L1−2)中、
Lx3は、炭素数1〜17の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
Lx4は、単結合又は炭素数1〜16の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx3及びLx4の合計炭素数は、17以下である。
式(L1−3)中、
Lx5は、炭素数1〜15の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
Lx6及びLx7は、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1〜14の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx5、Lx6及びLx7の合計炭素数は、15以下である。
式(L1−4)中、
Lx8及びLx9は、単結合又は炭素数1〜12の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
Wx1は、炭素数3〜15の2価の脂環式飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx8、Lx9及びWx1の合計炭素数は、15以下である。
Examples of the group in which the methylene group contained in the saturated hydrocarbon group is replaced with an oxygen atom or a carbonyl group include groups represented by the formulas (L1-1) to (L1-4). In the following formula, * represents a bond with an oxygen atom.
In formula (L1-1),
X x1 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
L x1 represents a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 16 carbon atoms.
L x2 represents a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 15 carbon atoms.
However, the total number of carbon atoms of L x1 and L x2 is 16 or less.
In formula (L1-2),
L x3 represents a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms.
L x4 represents a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 16 carbon atoms.
However, the total number of carbon atoms of L x3 and L x4 is 17 or less.
In formula (L1-3),
L x5 represents a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 15 carbon atoms.
L x6 and L x7 each independently represent a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 14 carbon atoms.
However, the total number of carbon atoms of L x5 , L x6 and L x7 is 15 or less.
In formula (L1-4),
L x8 and L x9 represent a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms.
W x 1 represents a divalent alicyclic saturated hydrocarbon group having 3 to 15 carbon atoms.
However, the total number of carbon atoms of L x8 , L x9 and W x1 is 15 or less.
Lx1は、好ましくは、炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基、より好ましくは、メチレン基又はエチレン基である。
Lx2は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基、より好ましくは、単結合である。
Lx3は、好ましくは、炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基である。
Lx4は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基である。
Lx5は、好ましくは、炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基、より好ましくは、メチレン基又はエチレン基である。
Lx6は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基、より好ましくは、メチレン基又はエチレン基である。
Lx7は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基である。
Lx8は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基、より好ましくは、単結合又はメチレン基である。
Lx9は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基、より好ましくは、単結合又はメチレン基である。
Wx1は、好ましくは、炭素数3〜10の2価の脂環式飽和炭化水素基、より好ましくは、シクロヘキサンジイル基又はアダマンタンジイル基である。
L x 1 is preferably a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, and more preferably a methylene group or an ethylene group.
L x2 is preferably a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, and more preferably a single bond.
L x3 is preferably a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms.
L x4 is preferably a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms.
L x5 is preferably a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, and more preferably a methylene group or an ethylene group.
L x6 is preferably a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, and more preferably a methylene group or an ethylene group.
L x7 is preferably a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms.
L x8 is preferably a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, and more preferably a single bond or a methylene group.
L x9 is preferably a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, and more preferably a single bond or a methylene group.
W x 1 is preferably a divalent alicyclic saturated hydrocarbon group having 3 to 10 carbon atoms, and more preferably a cyclohexanediyl group or an adamantandiyl group.
式(L1−1)で表される基としては、例えば、以下に示す2価の基が挙げられる。
Examples of the group represented by the formula (L1-1) include the divalent groups shown below.
式(L1−2)で表される基としては、例えば、以下に示す2価の基が挙げられる。
Examples of the group represented by the formula (L1-2) include the following divalent groups.
式(L1−3)で表される基としては、例えば、以下に示す2価の基が挙げられる。
Examples of the group represented by the formula (L1-3) include the divalent groups shown below.
式(L1−4)で表される基としては、例えば、以下に示す2価の基が挙げられる。
Examples of the group represented by the formula (L1-4) include the divalent groups shown below.
L51は、好ましくは、単結合又は式(L1−1)で表される基である。 L 51 is preferably a single bond or a group represented by the formula (L1-1).
構造単位(a5−1)としては、以下に示す構造単位及び下記構造単位中のR51に相当するメチル基が水素原子に置き換わった構造単位が挙げられる。
Examples of the structural unit (a5-1) include the structural unit shown below and the structural unit in which the methyl group corresponding to R 51 in the following structural unit is replaced with a hydrogen atom.
樹脂(A)が、構造単位(a5)を有する場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、1〜30モル%が好ましく、2〜20モル%がより好ましく、3〜15モル%がさらに好ましい。 When the resin (A) has a structural unit (a5), the content thereof is preferably 1 to 30 mol%, more preferably 2 to 20 mol%, and 3) with respect to all the structural units of the resin (A). ~ 15 mol% is more preferred.
樹脂(A)は、好ましくは、構造単位(a1)と構造単位(s)とからなる樹脂、すなわち、モノマー(a1)とモノマー(s)との共重合体である。
構造単位(s)は、好ましくは構造単位(a2)及び構造単位(a3)の少なくとも一種である。構造単位(a2)は、好ましくは式(a2−1)で表される構造単位である。
構造単位(a3)は、好ましくは式(a3−1)で表される構造単位、式(a3−2)で表される構造単位及び式(a3−4)で表される構造単位から選ばれる少なくとも一種である。
The resin (A) is preferably a resin composed of a structural unit (a1) and a structural unit (s), that is, a copolymer of a monomer (a1) and a monomer (s).
The structural unit (s) is preferably at least one of the structural unit (a2) and the structural unit (a3). The structural unit (a2) is preferably a structural unit represented by the formula (a2-1).
The structural unit (a3) is preferably selected from the structural unit represented by the formula (a3-1), the structural unit represented by the formula (a3-2), and the structural unit represented by the formula (a3-4). At least one kind.
樹脂(A)を構成する各構造単位は、1種のみ又は2種以上を組み合わせて用いてもよく、これら構造単位を誘導するモノマーを用いて、公知の重合法(例えばラジカル重合法)によって製造することができる。樹脂(A)が有する各構造単位の含有率は、重合に用いるモノマーの使用量で調整できる。
樹脂(A)の重量平均分子量は、好ましくは、2,000以上(より好ましくは2,500以上、さらに好ましくは3,000以上)、50,000以下(より好ましくは30,000以下、さらに好ましくは15,000以下)である。
Each structural unit constituting the resin (A) may be used alone or in combination of two or more, and is produced by a known polymerization method (for example, a radical polymerization method) using a monomer for inducing these structural units. can do. The content of each structural unit of the resin (A) can be adjusted by adjusting the amount of the monomer used for the polymerization.
The weight average molecular weight of the resin (A) is preferably 2,000 or more (more preferably 2,500 or more, still more preferably 3,000 or more) and 50,000 or less (more preferably 30,000 or less, still more preferable. Is 15,000 or less).
<樹脂(A)以外の樹脂>
本発明のレジスト組成物は、樹脂(A)以外の樹脂を含んでもよい。このような樹脂としては、構造単位(s)のみからなる樹脂、構造単位(a4)を含む樹脂(ただし、構造単位(a1)を含まない。以下「樹脂(X)」という場合がある)等が挙げられる。なかでも、構造単位(a4)を含む樹脂が好ましい。
樹脂(X)において、構造単位(a4)の含有率は、樹脂(X)の全構造単位に対して、40モル%以上が好ましく、45モル%以上がより好ましく、50モル%以上がさらに好ましい。
樹脂(X)がさらに有していてもよい構造単位としては、構造単位(a2)、構造単位(a3)及びその他の公知のモノマーに由来する構造単位が挙げられる。
樹脂(X)の重量平均分子量は、好ましくは、6,000以上(より好ましくは7,000以上)、80,000以下(より好ましくは60,000以下)である。樹脂(X)の重量平均分子量の測定手段は、樹脂(A)の場合と同様である。
レジスト組成物が樹脂(X)を含む場合、その含有量は、樹脂(A)100質量部に対して、好ましくは1〜60質量部であり、より好ましくは2〜50質量部であり、さらに好ましくは2〜40質量部であり、特に好ましくは3〜30質量部である。
<Resin other than resin (A)>
The resist composition of the present invention may contain a resin other than the resin (A). Examples of such a resin include a resin consisting of only the structural unit (s), a resin containing the structural unit (a4) (however, the resin does not include the structural unit (a1); hereinafter may be referred to as "resin (X)") and the like. Can be mentioned. Of these, a resin containing the structural unit (a4) is preferable.
In the resin (X), the content of the structural unit (a4) is preferably 40 mol% or more, more preferably 45 mol% or more, still more preferably 50 mol% or more, based on all the structural units of the resin (X). ..
Examples of the structural unit that the resin (X) may further include include a structural unit (a2), a structural unit (a3), and a structural unit derived from other known monomers.
The weight average molecular weight of the resin (X) is preferably 6,000 or more (more preferably 7,000 or more) and 80,000 or less (more preferably 60,000 or less). The means for measuring the weight average molecular weight of the resin (X) is the same as that of the resin (A).
When the resist composition contains the resin (X), the content thereof is preferably 1 to 60 parts by mass, more preferably 2 to 50 parts by mass, and further, with respect to 100 parts by mass of the resin (A). It is preferably 2 to 40 parts by mass, and particularly preferably 3 to 30 parts by mass.
樹脂(A)と樹脂(A)以外の樹脂との合計含有率は、レジスト組成物の固形分に対して、80質量%以上99質量%以下が好ましく、90質量%以上99質量%以下が好ましい。
レジスト組成物の固形分及びこれに対する樹脂の含有率は、液体クロマトグラフィー又はガスクロマトグラフィー等の公知の分析手段で測定することができる。
The total content of the resin (A) and the resin other than the resin (A) is preferably 80% by mass or more and 99% by mass or less, and preferably 90% by mass or more and 99% by mass or less with respect to the solid content of the resist composition. ..
The solid content of the resist composition and the content of the resin relative to the solid content can be measured by a known analytical means such as liquid chromatography or gas chromatography.
〈溶剤(E)〉
溶剤(E)の含有率は、通常レジスト組成物中90質量%以上、好ましくは92質量%以上、より好ましくは94質量%以上であり、通常99.9質量%以下、好ましくは99質量%以下である。溶剤(E)の含有率は、液体クロマトグラフィー又はガスクロマトグラフィー等の公知の分析手段で測定できる。
<Solvent (E)>
The content of the solvent (E) is usually 90% by mass or more, preferably 92% by mass or more, more preferably 94% by mass or more, and usually 99.9% by mass or less, preferably 99% by mass or less in the resist composition. Is. The content of the solvent (E) can be measured by a known analytical means such as liquid chromatography or gas chromatography.
溶剤(E)としては、エチルセロソルブアセテート、メチルセロソルブアセテート及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等のグリコールエーテルエステル類;プロピレングリコールモノメチルエーテル等のグリコールエーテル類;乳酸エチル、酢酸ブチル、酢酸アミル及びピルビン酸エチル等のエステル類;アセトン、メチルイソブチルケトン、2−ヘプタノン及びシクロヘキサノン等のケトン類;γ−ブチロラクトン等の環状エステル類;等が挙げられる。溶剤(E)は、1種を単独で含有してもよく、2種以上を含有してもよい。 Examples of the solvent (E) include glycol ether esters such as ethyl cellosolve acetate, methyl cellosolve acetate and propylene glycol monomethyl ether acetate; glycol ethers such as propylene glycol monomethyl ether; ethyl lactate, butyl acetate, amyl acetate and ethyl pyruvate. Esters; ketones such as acetone, methylisobutylketone, 2-heptanone and cyclohexanone; cyclic esters such as γ-butyrolactone; and the like. The solvent (E) may contain one type alone or two or more types.
〈クエンチャー(C)〉
クエンチャー(C)は、塩基性の含窒素有機化合物又は塩(I)及び酸発生剤(B)から発生する酸よりも酸性度の弱い酸を発生する塩が挙げられる。
<Quencher (C)>
Examples of the quencher (C) include a basic nitrogen-containing organic compound or a salt that generates an acid having a weaker acidity than the acid generated from the salt (I) and the acid generator (B).
〈塩基性の含窒素有機化合物〉
塩基性の含窒素有機化合物としては、アミン及びアンモニウム塩が挙げられる。アミンとしては、脂肪族アミン及び芳香族アミンが挙げられる。脂肪族アミンとしては、第一級アミン、第二級アミン及び第三級アミンが挙げられる。
具体的には、1−ナフチルアミン、2−ナフチルアミン、アニリン、ジイソプロピルアニリン、2−,3−又は4−メチルアニリン、4−ニトロアニリン、N−メチルアニリン、N,N−ジメチルアニリン、ジフェニルアミン、ヘキシルアミン、ヘプチルアミン、オクチルアミン、ノニルアミン、デシルアミン、ジブチルアミン、ジペンチルアミン、ジヘキシルアミン、ジヘプチルアミン、ジオクチルアミン、ジノニルアミン、ジデシルアミン、トリエチルアミン、トリメチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、トリペンチルアミン、トリヘキシルアミン、トリヘプチルアミン、トリオクチルアミン、トリノニルアミン、トリデシルアミン、メチルジブチルアミン、メチルジペンチルアミン、メチルジヘキシルアミン、メチルジシクロヘキシルアミン、メチルジヘプチルアミン、メチルジオクチルアミン、メチルジノニルアミン、メチルジデシルアミン、エチルジブチルアミン、エチルジペンチルアミン、エチルジヘキシルアミン、エチルジヘプチルアミン、エチルジオクチルアミン、エチルジノニルアミン、エチルジデシルアミン、ジシクロヘキシルメチルアミン、トリス〔2−(2−メトキシエトキシ)エチル〕アミン、トリイソプロパノールアミン、エチレンジアミン、テトラメチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、4,4’−ジアミノ−1,2−ジフェニルエタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジエチルジフェニルメタン、ピペラジン、モルホリン、ピペリジン及び特開平11−52575号公報に記載されているピペリジン骨格を有するヒンダードアミン化合物、イミダゾール、4−メチルイミダゾール、ピリジン、4−メチルピリジン、1,2−ジ(2−ピリジル)エタン、1,2−ジ(4−ピリジル)エタン、1,2−ジ(2−ピリジル)エテン、1,2−ジ(4−ピリジル)エテン、1,3−ジ(4−ピリジル)プロパン、1,2−ジ(4−ピリジルオキシ)エタン、ジ(2−ピリジル)ケトン、4,4’−ジピリジルスルフィド、4,4’−ジピリジルジスルフィド、2,2’−ジピリジルアミン、2,2’−ジピコリルアミン、ビピリジン等が挙げられ、好ましくはジイソプロピルアニリンが挙げられ、特に好ましくは2,6−ジイソプロピルアニリンが挙げられる。
<Basic nitrogen-containing organic compounds>
Examples of the basic nitrogen-containing organic compound include amine and ammonium salts. Examples of amines include aliphatic amines and aromatic amines. Aliphatic amines include primary amines, secondary amines and tertiary amines.
Specifically, 1-naphthylamine, 2-naphthylamine, aniline, diisopropylaniline, 2-,3- or 4-methylaniline, 4-nitroaniline, N-methylaniline, N, N-dimethylaniline, diphenylamine, hexylamine. , Heptylamine, octylamine, nonylamine, decylamine, dibutylamine, dipentylamine, dihexylamine, diheptylamine, dioctylamine, dinonylamine, didecylamine, triethylamine, trimethylamine, tripropylamine, tributylamine, trypentylamine, trihexylamine, Triheptylamine, trioctylamine, trinonylamine, tridecylamine, methyldibutylamine, methyldipentylamine, methyldihexylamine, methyldicyclohexylamine, methyldiheptylamine, methyldioctylamine, methyldinonylamine, methyldidecylamine , Ethyldibutylamine, ethyldipentylamine, ethyldihexylamine, ethyldiheptylamine, ethyldioctylamine, ethyldinonylamine, ethyldidecylamine, dicyclohexylmethylamine, tris [2- (2-methoxyethoxy) ethyl] amine, Triisopropanolamine, ethylenediamine, tetramethylenediamine, hexamethylenediamine, 4,4'-diamino-1,2-diphenylethane, 4,4'-diamino-3,3'-dimethyldiphenylmethane, 4,4'-diamino- 3,3'-diethyldiphenylmethane, piperazine, morpholin, piperidine and hindered amine compounds having a piperidine skeleton described in JP-A-11-52575, imidazole, 4-methylimidazole, pyridine, 4-methylpyridine, 1, 2 -Di (2-pyridyl) ethane, 1,2-di (4-pyridyl) ethane, 1,2-di (2-pyridyl) ethene, 1,2-di (4-pyridyl) ethene, 1,3-di (4-Pyridyl) Propane, 1,2-di (4-pyridyloxy) ethane, di (2-pyridyl) ketone, 4,4'-dipyridyl sulfide, 4,4'-dipyridyl disulfide, 2,2'-dipyridyl Amine, 2,2'-dipicolylamine, bipyridine and the like can be mentioned, preferably diisopropylaniline, and particularly preferably 2,6-diisopropylaniline.
アンモニウム塩としては、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトライソプロピルアンモニウムヒドロキシド、テトラブチルアンモニウムヒドロキシド、テトラヘキシルアンモニウムヒドロキシド、テトラオクチルアンモニウムヒドロキシド、フェニルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、3−(トリフルオロメチル)フェニルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラ−n−ブチルアンモニウムサリチラート及びコリン等が挙げられる。 Ammonium salts include tetramethylammonium hydroxide, tetraisopropylammonium hydroxide, tetrabutylammonium hydroxide, tetrahexylammonium hydroxide, tetraoctylammonium hydroxide, phenyltrimethylammonium hydroxide, 3- (trifluoromethyl) phenyltrimethyl. Ammonium hydroxide, tetra-n-butylammonium salicylate, choline and the like can be mentioned.
〈酸性度の弱い酸を発生する塩〉
塩(I)及び酸発生剤(B)から発生する酸よりも酸性度の弱い酸を発生する塩における酸性度は、酸解離定数(pKa)で示される。塩(I)及び酸発生剤(B)から発生する酸よりも酸性度の弱い酸を発生する塩は、該塩から発生する酸の酸解離定数が、通常−3<pKaの塩であり、好ましくは−1<pKa<7の塩であり、より好ましくは0<pKa<5の塩である。酸発生剤(B)から発生する酸よりも酸性度の弱い酸を発生する塩(以下、「弱酸分子内塩(D)」という場合がある。)としては、下記式で表される塩、並びに特開2012−229206号公報、特開2012−6908号公報、特開2012−72109号公報、特開2011−39502号公報及び特開2011−191745号公報記載の塩が挙げられる。
<Salt that generates acid with weak acidity>
The acidity of a salt that produces an acid that is weaker than the acid generated by the salt (I) and the acid generator (B) is indicated by the acid dissociation constant (pKa). A salt that generates an acid having a weaker acidity than the acid generated from the salt (I) and the acid generator (B) usually has an acid dissociation constant of -3 <pKa. A salt of -1 <pKa <7 is preferable, and a salt of 0 <pKa <5 is more preferable. As a salt that generates an acid having a weaker acidity than the acid generated from the acid generator (B) (hereinafter, may be referred to as “weak acid intramolecular salt (D)”), a salt represented by the following formula, In addition, the salts described in JP-A-2012-229206, JP-A-2012-6908, JP-A-2012-72109, JP-A-2011-39502 and JP-A-2011-191745 can be mentioned.
弱酸分子内塩(D)としては、以下の塩が挙げられる。
Examples of the weak acid intramolecular salt (D) include the following salts.
クエンチャー(C)の含有率は、レジスト組成物の固形分中、好ましくは、0.01〜5質量%であり、より好ましく0.01〜4質量%であり、特に好ましく0.01〜3質量%である。 The content of the quencher (C) is preferably 0.01 to 5% by mass, more preferably 0.01 to 4% by mass, and particularly preferably 0.01 to 3% by mass, based on the solid content of the resist composition. It is mass%.
〈その他の成分〉
レジスト組成物は、必要に応じて、上述の成分以外の成分(以下「その他の成分(F)」という場合がある。)を含有していてもよい。その他の成分(F)は、レジスト分野で公知の添加剤、例えば、増感剤、溶解抑止剤、界面活性剤、安定剤、染料等を利用できる。
<Other ingredients>
If necessary, the resist composition may contain components other than the above-mentioned components (hereinafter, may be referred to as "other components (F)"). As the other component (F), additives known in the field of resist, for example, sensitizers, dissolution inhibitors, surfactants, stabilizers, dyes and the like can be used.
〈レジスト組成物の調製〉
レジスト組成物は、樹脂(A)及び塩(I)を含む酸発生剤、並びに、必要に応じて、樹脂(A)以外の樹脂、酸発生剤(B)、溶剤(E)、クエンチャー(C)及びその他の成分(F)を混合することにより調製することができる。混合順は任意であり、特に限定されるものではない。混合する際の温度は、10〜40℃から、樹脂等の種類や樹脂等の溶剤(E)に対する溶解度等に応じて適切な温度を選ぶことができる。混合時間は、混合温度に応じて、0.5〜24時間の中から適切な時間を選ぶことができる。なお、混合手段も特に制限はなく、攪拌混合等を用いることができる。
各成分を混合した後は、孔径0.003〜0.2μm程度のフィルターを用いてろ過することが好ましい。
<Preparation of resist composition>
The resist composition includes an acid generator containing a resin (A) and a salt (I), and if necessary, a resin other than the resin (A), an acid generator (B), a solvent (E), and a quencher ( It can be prepared by mixing C) and the other component (F). The mixing order is arbitrary and is not particularly limited. The temperature at the time of mixing can be selected from 10 to 40 ° C., depending on the type of resin or the like and the solubility of the resin or the like in the solvent (E). The mixing time can be selected from 0.5 to 24 hours depending on the mixing temperature. The mixing means is not particularly limited, and stirring and mixing or the like can be used.
After mixing each component, it is preferable to filter using a filter having a pore size of about 0.003 to 0.2 μm.
〔レジストパターンの製造方法〕
本発明のレジストパターンの製造方法は、
(1)本発明のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物を乾燥させて組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、及び
(5)加熱後の組成物層を現像する工程を含む。
[Manufacturing method of resist pattern]
The method for producing a resist pattern of the present invention is
(1) A step of applying the resist composition of the present invention on a substrate,
(2) A step of drying the applied composition to form a composition layer,
(3) Step of exposing the composition layer,
It includes (4) a step of heating the composition layer after exposure and (5) a step of developing the composition layer after heating.
レジスト組成物を基板上に塗布するには、スピンコーター等、通常、用いられる装置によって行うことができる。基板としては、シリコンウェハ等の無機基板が挙げられる。レジスト組成物を塗布する前に、基板を洗浄してもよいし、基板上に反射防止膜等を形成してもよい。 The resist composition can be applied onto the substrate by a commonly used device such as a spin coater. Examples of the substrate include an inorganic substrate such as a silicon wafer. Before applying the resist composition, the substrate may be washed, or an antireflection film or the like may be formed on the substrate.
塗布後の組成物を乾燥することにより、溶剤を除去し、組成物層を形成する。乾燥は、例えば、ホットプレート等の加熱装置を用いて溶剤を蒸発させること(いわゆるプリベーク)により行うか、あるいは減圧装置を用いて行う。加熱温度は50〜200℃が好ましく、加熱時間は10〜180秒間が好ましい。また、減圧乾燥する際の圧力は、1〜1.0×105Pa程度が好ましい。 By drying the composition after coating, the solvent is removed and a composition layer is formed. Drying is performed, for example, by evaporating the solvent using a heating device such as a hot plate (so-called prebaking), or by using a decompression device. The heating temperature is preferably 50 to 200 ° C., and the heating time is preferably 10 to 180 seconds. The pressure at the time of vacuum drying is preferably about 1~1.0 × 10 5 Pa.
得られた組成物層に、通常、露光機を用いて露光する。露光機は、液浸露光機であってもよい。露光光源としては、KrFエキシマレーザ(波長248nm)、ArFエキシマレーザ(波長193nm)、F2エキシマレーザ(波長157nm)のような紫外域のレーザ光を放射するもの、固体レーザ光源(YAG又は半導体レーザ等)からのレーザ光を波長変換して遠紫外域または真空紫外域の高調波レーザ光を放射するもの、電子線や、超紫外光(EUV)を照射するもの等、種々のものを用いることができる。尚、本明細書において、これらの放射線を照射することを総称して「露光」という場合がある。露光の際、通常、求められるパターンに相当するマスクを介して露光が行われる。露光光源が電子線の場合は、マスクを用いずに直接描画により露光してもよい。 The obtained composition layer is usually exposed to an exposure machine. The exposure machine may be an immersion exposure machine. The exposure light source includes a KrF excimer laser (wavelength 248 nm), an ArF excimer laser (wavelength 193 nm), an F 2 excimer laser (wavelength 157 nm) that emits laser light in the ultraviolet region, and a solid-state laser light source (YAG or semiconductor laser). Etc.), and various ones such as those that radiate harmonic laser light in the far ultraviolet region or vacuum ultraviolet region by wavelength conversion, those that irradiate electron beams, super-ultraviolet light (EUV), etc. are used. Can be done. In addition, in this specification, irradiating these radiations may be generically referred to as "exposure". At the time of exposure, the exposure is usually performed through a mask corresponding to the required pattern. When the exposure light source is an electron beam, the exposure may be performed by drawing directly without using a mask.
露光後の組成物層を、酸不安定基における脱保護反応を促進するために加熱処理(いわゆるポストエキスポジャーベーク)を行う。加熱温度は、通常50〜200℃程度、好ましくは70〜150℃程度である。 The exposed composition layer is heat treated (so-called post-exposure bake) to promote the deprotection reaction at the acid-labile group. The heating temperature is usually about 50 to 200 ° C, preferably about 70 to 150 ° C.
加熱後の組成物層を、通常、現像装置を用いて、現像液を利用して現像する。現像方法としては、ディップ法、パドル法、スプレー法、ダイナミックディスペンス法等が挙げられる。現像温度は5〜60℃が好ましく、現像時間は5〜300秒間が好ましい。現像液の種類を以下のとおりに選択することにより、ポジ型レジストパターン又はネガ型レジストパターンを製造できる。 The composition layer after heating is usually developed using a developing solution using a developing device. Examples of the developing method include a dip method, a paddle method, a spray method, and a dynamic dispense method. The developing temperature is preferably 5 to 60 ° C., and the developing time is preferably 5 to 300 seconds. A positive resist pattern or a negative resist pattern can be produced by selecting the type of developer as follows.
レジスト組成物からポジ型レジストパターンを製造する場合は、現像液としてアルカリ現像液を用いる。アルカリ現像液は、この分野で用いられる各種のアルカリ性水溶液であればよい。テトラメチルアンモニウムヒドロキシドや(2−ヒドロキシエチル)トリメチルアンモニウムヒドロキシド(通称コリン)の水溶液等が挙げられる。アルカリ現像液には、界面活性剤が含まれていてもよい。
現像後レジストパターンを超純水で洗浄し、次いで、基板及びパターン上に残った水を除去することが好ましい。
When producing a positive resist pattern from a resist composition, an alkaline developer is used as the developer. The alkaline developer may be any alkaline aqueous solution used in this field. Examples thereof include an aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide and (2-hydroxyethyl) trimethylammonium hydroxide (commonly known as choline). The alkaline developer may contain a surfactant.
After development, it is preferable to wash the resist pattern with ultrapure water and then remove the substrate and water remaining on the pattern.
レジスト組成物からネガ型レジストパターンを製造する場合は、現像液として有機溶剤を含む現像液(以下「有機系現像液」という場合がある)を用いる。
有機系現像液に含まれる有機溶剤としては、2−ヘキサノン、2−ヘプタノン等のケトン溶剤;プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等のグリコールエーテルエステル溶剤;酢酸ブチル等のエステル溶剤;プロピレングリコールモノメチルエーテル等のグリコールエーテル溶剤;N,N−ジメチルアセトアミド等のアミド溶剤;アニソール等の芳香族炭化水素溶剤等が挙げられる。
有機系現像液中、有機溶剤の含有率は、90質量%以上100質量%以下が好ましく、95質量%以上100質量%以下がより好ましく、実質的に有機溶剤のみであることがさらに好ましい。
有機系現像液としては、酢酸ブチル及び/又は2−ヘプタノンを含む現像液が好ましい。有機系現像液中、酢酸ブチル及び2−ヘプタノンの合計含有率は、50質量%以上100質量%以下が好ましく、90質量%以上100質量%以下がより好ましく、実質的に酢酸ブチル及び/又は2−ヘプタノンのみであることがさらに好ましい。
有機系現像液には、界面活性剤が含まれていてもよい。また、有機系現像液には、微量の水分が含まれていてもよい。
現像の際、有機系現像液とは異なる種類の溶剤に置換することにより、現像を停止してもよい。
When a negative resist pattern is produced from a resist composition, a developer containing an organic solvent (hereinafter, may be referred to as "organic developer") is used as the developer.
Examples of the organic solvent contained in the organic developing solution include a ketone solvent such as 2-hexanone and 2-heptanone; a glycol ether ester solvent such as propylene glycol monomethyl ether acetate; an ester solvent such as butyl acetate; and a glycol such as propylene glycol monomethyl ether. Examples include ether solvents; amide solvents such as N and N-dimethylacetamide; aromatic hydrocarbon solvents such as anisole.
The content of the organic solvent in the organic developer is preferably 90% by mass or more and 100% by mass or less, more preferably 95% by mass or more and 100% by mass or less, and further preferably substantially only the organic solvent.
As the organic developer, a developer containing butyl acetate and / or 2-heptanone is preferable. The total content of butyl acetate and 2-heptanone in the organic developer is preferably 50% by mass or more and 100% by mass or less, more preferably 90% by mass or more and 100% by mass or less, and substantially butyl acetate and / or 2 -It is even more preferable that it is only heptanone.
The organic developer may contain a surfactant. Further, the organic developer may contain a small amount of water.
At the time of development, the development may be stopped by substituting with a solvent of a type different from that of the organic developer.
現像後のレジストパターンをリンス液で洗浄することが好ましい。リンス液としては、レジストパターンを溶解しないものであれば特に制限はなく、一般的な有機溶剤を含む溶液を使用することができ、好ましくはアルコール溶剤又はエステル溶剤である。
洗浄後は、基板及びパターン上に残ったリンス液を除去することが好ましい。
It is preferable to wash the developed resist pattern with a rinse solution. The rinsing liquid is not particularly limited as long as it does not dissolve the resist pattern, and a solution containing a general organic solvent can be used, and an alcohol solvent or an ester solvent is preferable.
After cleaning, it is preferable to remove the rinse liquid remaining on the substrate and the pattern.
〈用途〉
本発明のレジスト組成物は、KrFエキシマレーザ露光用のレジスト組成物、ArFエキシマレーザ露光用のレジスト組成物、電子線(EB)露光用のレジスト組成物又はEUV露光用のレジスト組成物、特にArFエキシマレーザ露光用のレジスト組成物として好適であり、半導体の微細加工に有用である。
<Use>
The resist composition of the present invention includes a resist composition for KrF excimer laser exposure, a resist composition for ArF excimer laser exposure, a resist composition for electron beam (EB) exposure, or a resist composition for EUV exposure, particularly ArF. It is suitable as a resist composition for excimer laser exposure and is useful for fine processing of semiconductors.
実施例を挙げて、さらに具体的に説明する。例中、含有量ないし使用量を表す「%」及び「部」は、特記しないかぎり質量基準である。
重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーで下記条件により求めた値である。
装置:HLC−8120GPC型(東ソー社製)
カラム:TSKgel Multipore HXL-M x 3 + guardcolumn(東ソー社製)
溶離液:テトラヒドロフラン
流量:1.0mL/min
検出器:RI検出器
カラム温度:40℃
注入量:100μL
分子量標準:標準ポリスチレン(東ソー社製)
An example will be given and a more specific description will be given. In the examples, "%" and "part" representing the content or the amount used are based on mass unless otherwise specified.
The weight average molecular weight is a value obtained by gel permeation chromatography under the following conditions.
Equipment: HLC-8120GPC type (manufactured by Tosoh Corporation)
Column: TSKgel Multipore H XL -M x 3 + guardcolumn (manufactured by Tosoh)
Eluent: tetrahydrofuran Flow rate: 1.0 mL / min
Detector: RI detector Column temperature: 40 ° C
Injection volume: 100 μL
Molecular weight standard: Standard polystyrene (manufactured by Tosoh)
また、化合物の構造は、質量分析(LCはAgilent製1100型、MASSはAgilent製LC/MSD型)を用い、分子ピークを測定することで確認した。以下の実施例ではこの分子ピークの値を「MASS」で示す。 The structure of the compound was confirmed by measuring the molecular peak using mass spectrometry (LC: Agilent 1100 type, MASS: Agilent LC / MSD type). In the following examples, the value of this molecular peak is indicated by "MASS".
実施例1:式(I−1)で表される塩の合成
式(I−1−a)で表される化合物2部、ジメチルホルムアミド10部、炭酸カリウム2.1部及びヨウ化カリウム0.6部を混合し、23℃で30分間攪拌し、さらに、50℃で2時間撹拌した。得られた混合物に、式(I−1−b)で表される化合物11.7部を添加し、50℃で10時間撹拌した。得られた反応物を濃縮し、クロロホルム30部及びイオン交換水15部を加え、23℃で30分間攪拌した。その後、静置し、分液した。回収された有機層に、イオン交換水15部を混合し、23℃で30分間攪拌し、分液することにより有機層を回収した。この水洗の操作を5回行った。得られた有機層を濃縮することにより、式(I−1―c)で表される化合物3.4部を得た。
Example 1: Synthesis of salt represented by formula (I-1)
2 parts of the compound represented by the formula (I-1-a), 10 parts of dimethylformamide, 2.1 parts of potassium carbonate and 0.6 parts of potassium iodide are mixed, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and further 50 parts. The mixture was stirred at ° C. for 2 hours. To the obtained mixture, 11.7 parts of the compound represented by the formula (I-1-b) was added, and the mixture was stirred at 50 ° C. for 10 hours. The obtained reaction product was concentrated, 30 parts of chloroform and 15 parts of ion-exchanged water were added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Then, it was allowed to stand and the liquid was separated. 15 parts of ion-exchanged water was mixed with the recovered organic layer, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to recover the organic layer. This washing operation was performed 5 times. By concentrating the obtained organic layer, 3.4 parts of the compound represented by the formula (I-1-c) was obtained.
式(I−1−d)で表される塩2部、アセトニトリル10部及び式(I−1−e)で表される化合物0.9部を混合し、23℃で30分間攪拌し、さらに、50℃で2時間撹拌することにより、式(I−1−f)で表される塩を含む溶液を得た。得られた式(I−1−f)で表される塩を含む溶液に、式(I−1−c)で表される化合物2.9部を添加し、50℃で10時間撹拌した後、濃縮した。得られた濃縮残渣に、クロロホルム40部及びイオン交換水20部を加え、23℃で30分間攪拌した。得られた混合物を、静置し、分液した。回収された有機層に、イオン交換水20部を加え、23℃で30分間攪拌し、分液することにより有機層を回収した。この水洗の操作を4回行った。得られた有機層を濃縮し、得られた濃縮物に、アセトニトリル1.55部及びtert−ブチルメチルエーテル40部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣をアセトニトリルに溶解し、濃縮することにより、式(I−1)で表される塩2.5部を得た。 2 parts of the salt represented by the formula (I-1-d), 10 parts of acetonitrile and 0.9 part of the compound represented by the formula (I-1-e) are mixed, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and further. , 50 ° C. for 2 hours to obtain a solution containing a salt represented by the formula (I-1-f). To the obtained solution containing the salt represented by the formula (I-1-f), 2.9 parts of the compound represented by the formula (I-1-c) was added, and the mixture was stirred at 50 ° C. for 10 hours. , Concentrated. To the obtained concentrated residue, 40 parts of chloroform and 20 parts of ion-exchanged water were added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. The resulting mixture was allowed to stand and separated. To the recovered organic layer, 20 parts of ion-exchanged water was added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes and separated to recover the organic layer. This washing operation was performed four times. The obtained organic layer was concentrated, 1.55 parts of acetonitrile and 40 parts of tert-butyl methyl ether were added to the obtained concentrate, and the mixture was stirred to remove the supernatant. The obtained residue was dissolved in acetonitrile and concentrated to obtain 2.5 parts of a salt represented by the formula (I-1).
MS(ESI(+)Spectrum):M+ 263.1
MS(ESI(−)Spectrum):M− 783.0
MS (ESI (+) Spectrum): M + 263.1
MS (ESI (-) Spectrum): M - 783.0
実施例2:式(I−11)で表される塩の合成
式(I−11−a)で表される塩5部、ジメチルホルムアミド20部、炭酸カリウム1.6部及びヨウ化カリウム0.5部を混合し、23℃で30分間攪拌し、さらに、50℃で2時間撹拌した。得られた混合物に、式(I−11−b)で表される化合物1.8部を添加し、50℃で10時間撹拌した。得られた反応物を濃縮し、クロロホルム80部及び5%シュウ酸水溶液80部を加え、23℃で30分間攪拌した。得られた混合物を、静置し、分液した。回収された有機層に、イオン交換水40部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液することにより有機層を回収した。この水洗の操作を8回行った。得られた有機層を濃縮し、得られた濃縮物に、tert−ブチルメチルエーテル40部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣をアセトニトリルに溶解し、濃縮することにより、式(I−11―c)で表される塩2.2部を得た。
式(I−11―c)で表される塩0.7部及びクロロホルム10部を混合し、23℃で30分間攪拌した。得られた混合物に、ピリジン0.28部を加え、40℃に昇温した。得られた混合物に、さらに、式(I−11―d)で表される化合物0.7部及びクロロホルム10部の混合溶液を1時間かけて滴下した。滴下後、40℃で18時間攪拌した後、23℃まで冷却した。得られた反応溶液に、イオン交換水20部を添加、攪拌し、分液により有機層を回収した。回収された有機層に、5℃の10%炭酸カリウム水溶液20部を添加して洗浄し、分液して有機層を回収した後、回収された有機層にさらに、イオン交換水20部を添加して水洗し、分液を行って有機層を回収した。この水洗操作を3回繰り返して行った。回収された有機層を濃縮した後、得られた残渣をアセトニトリルに溶解し、濃縮した。その後、得られた濃縮物に、tert−ブチルメチルエーテル10部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣をクロロホルムに溶解し、濃縮することにより、式(I−11)で表される塩0.58部を得た。
Example 2: Synthesis of salt represented by formula (I-11)
5 parts of the salt represented by the formula (I-11-a), 20 parts of dimethylformamide, 1.6 parts of potassium carbonate and 0.5 part of potassium iodide are mixed, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and further 50 parts. The mixture was stirred at ° C. for 2 hours. To the obtained mixture, 1.8 parts of the compound represented by the formula (I-11-b) was added, and the mixture was stirred at 50 ° C. for 10 hours. The obtained reaction product was concentrated, 80 parts of chloroform and 80 parts of a 5% aqueous oxalic acid solution were added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. The resulting mixture was allowed to stand and separated. 40 parts of ion-exchanged water was added to the recovered organic layer, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes and separated to recover the organic layer. This washing operation was performed 8 times. The obtained organic layer was concentrated, and 40 parts of tert-butyl methyl ether was added to the obtained concentrate and stirred to remove the supernatant. The obtained residue was dissolved in acetonitrile and concentrated to obtain 2.2 parts of a salt represented by the formula (I-11-c).
0.7 parts of the salt represented by the formula (I-11-c) and 10 parts of chloroform were mixed and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. To the obtained mixture, 0.28 part of pyridine was added, and the temperature was raised to 40 ° C. Further, a mixed solution of 0.7 parts of the compound represented by the formula (I-11-d) and 10 parts of chloroform was added dropwise to the obtained mixture over 1 hour. After the dropping, the mixture was stirred at 40 ° C. for 18 hours and then cooled to 23 ° C. To the obtained reaction solution, 20 parts of ion-exchanged water was added and stirred, and the organic layer was recovered by liquid separation. 20 parts of a 10% potassium carbonate aqueous solution at 5 ° C. was added to the recovered organic layer for washing, and the liquid was separated to recover the organic layer, and then 20 parts of ion-exchanged water was further added to the recovered organic layer. Then, it was washed with water and separated to recover the organic layer. This washing operation was repeated 3 times. After concentrating the recovered organic layer, the obtained residue was dissolved in acetonitrile and concentrated. Then, 10 parts of tert-butyl methyl ether was added to the obtained concentrate and stirred, and the supernatant was removed. The obtained residue was dissolved in chloroform and concentrated to obtain 0.58 parts of a salt represented by the formula (I-11).
MS(ESI(+)Spectrum):M+ 263.1
MS(ESI(−)Spectrum):M− 640.9
MS (ESI (+) Spectrum): M + 263.1
MS (ESI (-) Spectrum): M - 640.9
実施例3:式(I−13)で表される塩の合成
式(I−1−a)で表される化合物2部、アセトニトリル20部及び式(I−1−e)で表される化合物4.8部を混合し、23℃で30分間攪拌し、さらに、50℃で2時間撹拌した。得られた混合物に、式(I−13−b)で表される化合物12.9部を添加し、50℃で10時間撹拌した。得られた反応物を濃縮し、クロロホルム40部及びイオン交換水20部を加え、23℃で30分間攪拌した。得られた混合物を、静置し、分液した。回収された有機層に、イオン交換水20部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液することにより有機層を回収した。この水洗の操作を5回行った。得られた有機層を濃縮することにより、式(I−13―d)で表される化合物9.9部を得た。
Example 3: Synthesis of salt represented by formula (I-13)
Two parts of the compound represented by the formula (I-1-a), 20 parts of acetonitrile and 4.8 parts of the compound represented by the formula (I-1-e) are mixed, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and further. , Stirred at 50 ° C. for 2 hours. To the obtained mixture, 12.9 parts of the compound represented by the formula (I-13-b) was added, and the mixture was stirred at 50 ° C. for 10 hours. The obtained reaction product was concentrated, 40 parts of chloroform and 20 parts of ion-exchanged water were added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. The resulting mixture was allowed to stand and separated. To the recovered organic layer, 20 parts of ion-exchanged water was added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes and separated to recover the organic layer. This washing operation was performed 5 times. By concentrating the obtained organic layer, 9.9 parts of the compound represented by the formula (I-13-d) was obtained.
式(I−1−d)で表される塩2部、アセトニトリル10部及び式(I−1−e)で表される化合物0.9部を混合し、23℃で30分間攪拌し、さらに、50℃で2時間撹拌することにより、式(I−13−g)で表される塩を含む溶液を得た。得られた式(I−13−g)で表される塩を含む溶液に、式(I−13−d)で表される化合物4.4部を添加し、50℃で10時間撹拌した後、濃縮した。得られた濃縮残渣に、クロロホルム40部及びイオン交換水20部を加え、23℃で30分間攪拌した。得られた混合物を、静置し、分液した。回収された有機層に、イオン交換水20部を仕込み、23℃で30分間攪拌し、分液することにより有機層を回収した。この水洗の操作を4回行った。得られた有機層を濃縮し、得られた濃縮物に、tert−ブチルメチルエーテル40部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣をアセトニトリルに溶解し、濃縮することにより、式(I−1)で表される化合物4.4部を得た。 2 parts of the salt represented by the formula (I-1-d), 10 parts of acetonitrile and 0.9 part of the compound represented by the formula (I-1-e) are mixed, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and further. , 50 ° C. for 2 hours to obtain a solution containing a salt represented by the formula (I-13-g). 4.4 parts of the compound represented by the formula (I-13-d) was added to the obtained solution containing the salt represented by the formula (I-13-g), and the mixture was stirred at 50 ° C. for 10 hours. , Concentrated. To the obtained concentrated residue, 40 parts of chloroform and 20 parts of ion-exchanged water were added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. The resulting mixture was allowed to stand and separated. Twenty parts of ion-exchanged water was charged into the recovered organic layer, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to recover the organic layer. This washing operation was performed four times. The obtained organic layer was concentrated, and 40 parts of tert-butyl methyl ether was added to the obtained concentrate and stirred to remove the supernatant. The obtained residue was dissolved in acetonitrile and concentrated to obtain 4.4 parts of the compound represented by the formula (I-1).
MS(ESI(+)Spectrum):M+ 263.1
MS(ESI(−)Spectrum):M− 1118.9
MS (ESI (+) Spectrum): M + 263.1
MS (ESI (-) Spectrum): M - 1118.9
実施例4:式(I−7)で表される塩の合成
式(I−1−a)で表される化合物5部、式(I−7−b)で表される化合物14.92部及びクロロホルム40部を混合し、23℃で30分間攪拌した。得られた混合物に、硫酸1.10部を添加し、モレキュラーシーブ存在下、60℃で10時間還流撹拌した。得られた反応物を23℃まで冷却した後、イオン交換水20部を加え、23℃で30分間攪拌した。その後、静置し、分液した。この水洗の操作を5回行った。得られた有機層を濃縮することにより、式(I−7―c)で表される化合物4.92部を得た。
Example 4: Synthesis of salt represented by formula (I-7)
5 parts of the compound represented by the formula (I-1-a), 14.92 parts of the compound represented by the formula (I-7-b) and 40 parts of chloroform were mixed and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. To the obtained mixture, 1.10 parts of sulfuric acid was added, and the mixture was reflux-stirred at 60 ° C. for 10 hours in the presence of a molecular sieve. After cooling the obtained reaction product to 23 ° C., 20 parts of ion-exchanged water was added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Then, it was allowed to stand and the liquid was separated. This washing operation was performed 5 times. By concentrating the obtained organic layer, 4.92 parts of the compound represented by the formula (I-7-c) was obtained.
式(I−1−d)で表される塩1.38部、クロロホルム14部及び式(I−1−e)で表される化合物0.61部を混合し、23℃で30分間攪拌し、さらに、50℃で2時間撹拌することにより、式(I−1−f)で表される塩を含む溶液を得た。得られた式(I−1−f)で表される塩を含む溶液に、式(I−7−c)で表される化合物1.57部を添加し、50℃で10時間撹拌した後、濃縮した。得られた濃縮残渣に、クロロホルム30部及びイオン交換水20部を加え、23℃で30分間攪拌した。得られた混合物を、静置し、分液した。回収された有機層に、イオン交換水20部を加え、23℃で30分間攪拌し、分液することにより有機層を回収した。この水洗の操作を4回行った。得られた有機層を濃縮し、得られた濃縮物に、アセトニトリル1部及びtert−ブチルメチルエーテル20部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣をアセトニトリルに溶解し、濃縮することにより、式(I−7)で表される塩1.89部を得た。 1.38 parts of the salt represented by the formula (I-1-d), 14 parts of chloroform and 0.61 part of the compound represented by the formula (I-1-e) are mixed and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Further, the mixture was further stirred at 50 ° C. for 2 hours to obtain a solution containing a salt represented by the formula (I-1-f). To the obtained solution containing the salt represented by the formula (I-1-f), 1.57 parts of the compound represented by the formula (I-7-c) was added, and the mixture was stirred at 50 ° C. for 10 hours. , Concentrated. To the obtained concentrated residue, 30 parts of chloroform and 20 parts of ion-exchanged water were added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. The resulting mixture was allowed to stand and separated. To the recovered organic layer, 20 parts of ion-exchanged water was added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes and separated to recover the organic layer. This washing operation was performed four times. The obtained organic layer was concentrated, and 1 part of acetonitrile and 20 parts of tert-butyl methyl ether were added to the obtained concentrate and stirred, and the supernatant was removed. The obtained residue was dissolved in acetonitrile and concentrated to obtain 1.89 parts of a salt represented by the formula (I-7).
MS(ESI(+)Spectrum):M+ 263.1
MS(ESI(−)Spectrum):M− 655.0
MS (ESI (+) Spectrum): M + 263.1
MS (ESI (-) Spectrum): M - 655.0
実施例5:式(I−162)で表される塩の合成
式(I−1−c)で表される化合物0.31部、クロロホルム10部及び式(I−162−a)で表される塩0.35部を混合し、23℃で30分間攪拌し、さらに、50℃で2時間撹拌した後、濃縮した。得られた濃縮残渣に、クロロホルム40部及びイオン交換水20部を加え、23℃で30分間攪拌した。得られた混合物を、静置し、分液した。回収された有機層に、イオン交換水20部を加え、23℃で30分間攪拌し、分液することにより有機層を回収した。この水洗の操作を4回行った。得られた有機層を濃縮し、得られた濃縮物に、tert−ブチルメチルエーテル10部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣をアセトニトリルに溶解し、濃縮することにより、式(I−162)で表される塩0.48部を得た。
Example 5: Synthesis of salt represented by formula (I-162)
0.31 part of the compound represented by the formula (I-1-c), 10 parts of chloroform and 0.35 part of the salt represented by the formula (I-162-a) were mixed and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Further, the mixture was further stirred at 50 ° C. for 2 hours and then concentrated. To the obtained concentrated residue, 40 parts of chloroform and 20 parts of ion-exchanged water were added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. The resulting mixture was allowed to stand and separated. To the recovered organic layer, 20 parts of ion-exchanged water was added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes and separated to recover the organic layer. This washing operation was performed four times. The obtained organic layer was concentrated, and 10 parts of tert-butyl methyl ether was added to the obtained concentrate and stirred to remove the supernatant. The obtained residue was dissolved in acetonitrile and concentrated to obtain 0.48 parts of a salt represented by the formula (I-162).
MS(ESI(+)Spectrum):M+ 263.1
MS(ESI(−)Spectrum):M− 991.1
MS (ESI (+) Spectrum): M + 263.1
MS (ESI (-) Spectrum): M - 991.1.
実施例6:式(I−186)で表される塩の合成
式(I−1−c)で表される化合物0.31部、クロロホルム10部及び式(I−186−a)で表される塩0.34部を混合し、23℃で30分間攪拌し、さらに、50℃で2時間撹拌した後、濃縮した。得られた濃縮残渣に、クロロホルム40部及びイオン交換水20部を加え、23℃で30分間攪拌した。得られた混合物を、静置し、分液した。回収された有機層に、イオン交換水20部を加え、23℃で30分間攪拌し、分液することにより有機層を回収した。この水洗の操作を4回行った。得られた有機層を濃縮し、得られた濃縮物に、tert−ブチルメチルエーテル10部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣をアセトニトリルに溶解し、濃縮することにより、式(I−186)で表される塩0.44部を得た。
Example 6: Synthesis of salt represented by formula (I-186)
0.31 part of the compound represented by the formula (I-1-c), 10 parts of chloroform and 0.34 part of the salt represented by the formula (I-186-a) were mixed and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Further, the mixture was further stirred at 50 ° C. for 2 hours and then concentrated. To the obtained concentrated residue, 40 parts of chloroform and 20 parts of ion-exchanged water were added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. The resulting mixture was allowed to stand and separated. To the recovered organic layer, 20 parts of ion-exchanged water was added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes and separated to recover the organic layer. This washing operation was performed four times. The obtained organic layer was concentrated, and 10 parts of tert-butyl methyl ether was added to the obtained concentrate and stirred to remove the supernatant. The obtained residue was dissolved in acetonitrile and concentrated to obtain 0.44 parts of a salt represented by the formula (I-186).
MS(ESI(+)Spectrum):M+ 237.1
MS(ESI(−)Spectrum):M− 991.1
MS (ESI (+) Spectrum): M + 237.1
MS (ESI (-) Spectrum): M - 991.1.
樹脂の合成
樹脂(A)の合成に使用した化合物(モノマー)を下記に示す。以下、これらの化合物をその式番号に応じて、「モノマー(a1−1−3)」等という。
Synthesis of Resin The compounds (monomers) used for the synthesis of the resin (A) are shown below. Hereinafter, these compounds are referred to as "monomers (a1-1-3)" and the like according to their formula numbers.
合成例1:樹脂A1の合成
モノマーとして、モノマー(a1−1−3)、モノマー(a1−2−9)、モノマー(a2−1−3)及びモノマー(a3−4−2)を用い、そのモル比〔モノマー(a1−1−3):モノマー(a1−2−9):モノマー(a2−1−3):モノマー(a3−4−2)〕が45:14:2.5:38.5となるように混合し、全モノマー量の1.5質量倍のプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えて溶液とした。この溶液に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリル及びアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対して各々、1mol%及び3mol%添加し、これらを73℃で約5時間加熱した。得られた反応混合物を、大量のメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過した。得られた樹脂を再び、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートに溶解させて得られる溶解液をメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過するという再沈殿操作を2回行い、重量平均分子量7.6×103の樹脂A1を収率68%で得た。この樹脂A1は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 1: Synthesis of resin A1 As a monomer, a monomer (a1-1-3), a monomer (a1-2-9), a monomer (a2-1-3) and a monomer (a3-4-2) are used. The molar ratio [monomer (a1-1-3): monomer (a1-2-9): monomer (a2-1-3): monomer (a3-4-2)] is 45: 14: 2.5: 38. The mixture was mixed so as to have a concentration of 5, and propylene glycol monomethyl ether acetate 1.5% by mass of the total amount of the monomers was added to prepare a solution. To this solution, azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators were added in an amount of 1 mol% and 3 mol%, respectively, based on the total amount of monomers, and these were heated at 73 ° C. for about 5 hours. bottom. The obtained reaction mixture was poured into a large amount of methanol / water mixed solvent to precipitate a resin, and the resin was filtered. The obtained resin is dissolved again in propylene glycol monomethyl ether acetate, and the obtained solution is poured into a methanol / water mixed solvent to precipitate the resin, and the reprecipitation operation of filtering the resin is performed twice, and the weight average is obtained. the resin A1 having a molecular weight of 7.6 × 10 3 was obtained in 68% yield. This resin A1 has the following structural units.
合成例2:樹脂X1の合成
モノマーとして、モノマー(a4−1−7)を用い、全モノマー量の1.5質量倍のメチルイソブチルケトンを加えて溶液とした。この溶液に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリル及びアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対して各々、0.7mol%及び2.1mol%添加し、これらを75℃で約5時間加熱した。得られた反応混合物を、大量のメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過した。得られた樹脂を再び、ジオキサンに溶解させて得られる溶解液をメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過するという再沈殿操作を2回行い、重量平均分子量1.7×104の樹脂X1を収率77%で得た。この樹脂X1は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 2: Synthesis of resin X1 A monomer (a4-1-7) was used as a monomer, and methyl isobutyl ketone 1.5% by mass of the total amount of the monomer was added to prepare a solution. Azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators were added to this solution in an amount of 0.7 mol% and 2.1 mol%, respectively, based on the total amount of the monomers, and these were added at 75 ° C. It was heated for about 5 hours. The obtained reaction mixture was poured into a large amount of methanol / water mixed solvent to precipitate a resin, and the resin was filtered. The obtained resin was dissolved in dioxane again, and the obtained solution was poured into a methanol / water mixed solvent to precipitate the resin, and the reprecipitation operation of filtering the resin was performed twice, and the weight average molecular weight was 1.7. the resin X1 of × 10 4 was obtained in 77% yield. This resin X1 has the following structural units.
合成例3:樹脂X2の合成
モノマーとして、モノマー(a5−1−1)及びモノマー(a4−0−12)を用い、そのモル比〔モノマー(a5−1−1):モノマー(a4−0−12)〕が50:50となるように混合し、全モノマー量の1.2質量倍のメチルイソブチルケトンを加えて溶液とした。この溶液に、開始剤としてアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対して3mol%添加し、70℃で約5時間加熱した。得られた反応混合物を、大量のメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過し、重量平均分子量1.0×104の樹脂Xを収率91%で得た。この樹脂X2は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 3: Synthesis of Resin X2 A monomer (a5-1-1) and a monomer (a4-0-12) are used as monomers, and their molar ratio [monomer (a5-1-1): monomer (a4-0-). 12)] was mixed so that the ratio was 50:50, and methyl isobutyl ketone, which was 1.2% by mass of the total amount of the monomers, was added to prepare a solution. Azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as an initiator was added to this solution in an amount of 3 mol% based on the total amount of monomers, and the mixture was heated at 70 ° C. for about 5 hours. The reaction mixture obtained, the resin was precipitated by pouring into a large amount of methanol / water mixed solvent, the resin was filtered, to obtain a resin X having a weight-average molecular weight 1.0 × 10 4 in 91% yield. This resin X2 has the following structural units.
<レジスト組成物の調製>
表2に示すように、以下の各成分を混合し、得られた混合物を孔径0.2μmのフッ素樹脂製フィルターで濾過することにより、レジスト組成物を調製した。
<Preparation of resist composition>
As shown in Table 2, each of the following components was mixed, and the obtained mixture was filtered through a fluororesin filter having a pore size of 0.2 μm to prepare a resist composition.
<樹脂>
A1、X1、X2:樹脂A1、樹脂X1、樹脂X2
<酸発生剤>
I−1:式(I−1)で表される塩
I−7:式(I−7)で表される塩
I−11:式(I−11)で表される塩
I−13:式(I−13)で表される塩
I−162:式(I−162)で表される塩
I−186:式(I−186)で表される塩
B1−5:式(B1−5)で表される塩(特開2015−200886公報の実施例に従って合成)
B1−21:式(B1−21)で表される塩(特開2015−200886公報の実施例に従って合成)
B1−22:式(B1−22)で表される塩(特開2015−200886公報の実施例に従って合成)
B1−X:特開2012−229199号公報の実施例に従って合成
<クエンチャー(C)>
D1:(東京化成工業(株)製)
<溶剤>
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート 265部
プロピレングリコールモノメチルエーテル 20部
2−ヘプタノン 20部
γ−ブチロラクトン 3.5部
<Resin>
A1, X1, X2: Resin A1, Resin X1, Resin X2
<Acid generator>
I-1: Salt represented by the formula (I-1) I-7: Salt represented by the formula (I-7) I-11: Salt represented by the formula (I-11) I-13: Formula Salt represented by (I-13) I-162: Salt represented by formula (I-162) I-186: Salt represented by formula (I-186) B1-5: Salt represented by formula (B1-5) Salt represented by (Synthesized according to Examples of JP-A-2015-200886)
B1-21: Salt represented by the formula (B1-21) (synthesized according to Examples of JP-A-2015-200886)
B1-22: Salt represented by the formula (B1-22) (synthesized according to Examples of JP-A-2015-200886)
B1-X: Synthesized according to the examples of JP2012-229199
<Quencher (C)>
D1: (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.)
<Solvent>
Propylene Glycol Monomethyl Ether Acetate 265 Parts Propylene Glycol Monomethyl Ether 20 Parts 2-Heptanone 20 Parts γ-Butyrolactone 3.5 Parts
<レジストパターンの製造及びその評価>
シリコンウェハに、有機反射防止膜用組成物(ARC−29;日産化学(株)製)を塗布して、205℃、60秒の条件でベークすることによって、ウェハ上に膜厚78nmの有機反射防止膜を形成した。次いで、この有機反射防止膜の上に、上記のレジスト組成物を乾燥後の膜厚が85nmとなるように塗布(スピンコート)した。塗布後、シリコンウェハをダイレクトホットプレート上にて、表2の「PB」欄に記載された温度で60秒間プリベークし、組成物層を形成した。組成物層が形成されたシリコンウェハに、液浸露光用ArFエキシマステッパー(XT:1900Gi;ASML社製、NA=1.35、3/4Annular X−Y偏光)で、コンタクトホールパターン(ホールピッチ90nm/ホール径55nm)を形成するためのマスクを用いて、露光量を段階的に変化させて露光した。なお、液浸媒体としては超純水を使用した。
露光後、ホットプレート上にて、表2の「PEB」欄に記載された温度で60秒間ポストエキスポジャーベークを行った。次いで、このシリコンウェハ上の組成物層を、現像液として酢酸ブチル(東京化成工業(株)製)を用いて、23℃で20秒間ダイナミックディスペンス法によって現像を行うことにより、ネガ型レジストパターンを製造した。
<Manufacturing of resist pattern and its evaluation>
An organic antireflection film composition (ARC-29; manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.) is applied to a silicon wafer and baked at 205 ° C. for 60 seconds to produce organic reflection on the wafer with a film thickness of 78 nm. An anti-reflective film was formed. Next, the above resist composition was applied (spin coated) on the organic antireflection film so that the film thickness after drying was 85 nm. After coating, the silicon wafer was prebaked on a direct hot plate at the temperature listed in the “PB” column of Table 2 for 60 seconds to form a composition layer. A contact hole pattern (hole pitch 90 nm) was used on a silicon wafer on which a composition layer was formed with an ArF excimer stepper for immersion exposure (XT: 1900 Gi; manufactured by ASML, NA = 1.35, 3/4 Anal XY polarization). / Using a mask for forming a hole diameter of 55 nm), the exposure amount was changed stepwise for exposure. Ultrapure water was used as the immersion medium.
After the exposure, post-exposure baking was performed on a hot plate at the temperature listed in the “PEB” column of Table 2 for 60 seconds. Next, the composition layer on the silicon wafer was developed by the dynamic dispensing method at 23 ° C. for 20 seconds using butyl acetate (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) as a developing solution to form a negative resist pattern. Manufactured.
現像後に得られたレジストパターンにおいて、前記マスクを用いて形成したホール径が45nmとなる露光量を実効感度とした。 In the resist pattern obtained after development, the exposure amount at which the hole diameter formed by using the mask was 45 nm was defined as the effective sensitivity.
<マスクエラーファクター(MEF)評価>
実効感度において、マスクホール径(マスクが有する透光部のホール径)がそれぞれ57nm、56nm、55nm、54nm、53nm(ホールピッチはいずれも90nm)のマスクを用いて、レジストパターンを形成した。マスクホール径を横軸に、露光によって基板に形成(転写)されたレジストパターンのホール径を縦軸にプロットした時の回帰直線の傾きをMEF値として算出した。
MEF値が、5.0以下のものを、MEFが良好であると評価して、○と、
MEF値が、5.0を超えるものを、MEFが良好でないと評価して、×とした。
その結果を表3に示す。括弧内の数値はMEF値を示す。
<Mask error factor (MEF) evaluation>
In terms of effective sensitivity, a resist pattern was formed using masks having mask hole diameters (hole diameters of translucent portions of the mask) of 57 nm, 56 nm, 55 nm, 54 nm, and 53 nm (hole pitches are all 90 nm), respectively. The slope of the regression line when the hole diameter of the resist pattern formed (transferred) on the substrate by exposure was plotted on the vertical axis with the mask hole diameter on the horizontal axis was calculated as the MEF value.
Those with a MEF value of 5.0 or less are evaluated as having a good MEF, and are marked with ○.
Those having a MEF value of more than 5.0 were evaluated as having poor MEF and were evaluated as x.
The results are shown in Table 3. The numbers in parentheses indicate the MEF value.
本発明のレジスト組成物は、良好なマスクエラーファクター(MEF)でレジストパターンを製造することができため、半導体の微細加工に好適である。 The resist composition of the present invention is suitable for microfabrication of semiconductors because a resist pattern can be produced with a good mask error factor (MEF).
Claims (6)
[式(I)中、
QA1及びQA2は、それぞれ独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
Lb1は、式(L 1 −1)、式(L 1 −2)又は式(L 1 −3)で表される基である。
R1は、水素原子、フッ素原子又はヒドロキシ基を表す。
mは0〜2のいずれかの整数を表し、nは1〜12のいずれかの整数を表し、oは0又は1を表す。
nnは、2を表す。複数存在するR1、m、n及びoはそれぞれ、異なっていてもよいし、同一であってもよい。
Z1+は、有機対イオンを表す。]
[式(L 1 −1)、式(L 1 −2)及び式(L 1 −3)中、
X 0 は、単結合、フッ素原子を有していてもよい炭素数1〜14の2価の脂肪族炭化水素基又は式(a−1)で表される基を表す。
(式(a−1)中、
sは0又は1を表す。
X 10 及びX 11 は、同一又は相異なり、酸素原子、カルボニル基、カルボニルオキシ基、オキシカルボニル基又はオキシカルボニルオキシ基を表す。
A 10 及びA 11 はそれぞれ独立に、フッ素原子を有していてもよい炭素数1〜12の2価の脂肪族炭化水素基を表す。
A 12 は、単結合又はフッ素原子を有していてもよい炭素数1〜12の2価の脂肪族炭化水素基を表す。
*はW又は炭素原子との結合手を表す。)
Wは、炭素原子又は炭素数4〜18の脂環式炭化水素基を表す。
X 1 は、−O−*1、−O−CO−*1、−O−CH 2 −*1又は−O−CH 2 −CO−O−*1を表す。*1は−(CH 2 ) m −(CF 2 ) n −(CH 2 ) O −R 1 との結合手を表す。
X 2 は、−O−*2、−O−CO−*2、−O−CH 2 −*2又は−O−CH 2 −CO−O−*2を表す。*2は−(CH 2 ) m −(CF 2 ) n −(CH 2 ) O −R 1 との結合手を表す。
X 3 は、−O−*1又は−O−CH 2 −CO−O−*1を表す。*1は−(CH 2 ) m −(CF 2 ) n −(CH 2 ) O −R 1 との結合手を表す。
X 4 は、−O−*2又は−O−CH 2 −CO−O−*2を表す。*2は−(CH 2 ) m −(CF 2 ) n −(CH 2 ) O −R 1 との結合手を表す。
X 5 は、−O−*1、−O−CO−*1又は−O−CH 2 −*1を表す。*1は−(CH 2 ) m −(CF 2 ) n −(CH 2 ) O −R 1 との結合手を表す。
X 6 は、−O−*2、−O−CO−*2又は−O−CH 2 −*2を表す。*2は−(CH 2 ) m −(CF 2 ) n −(CH 2 ) O −R 1 との結合手を表す。
*L0は−C(Q A1 )(Q A2 )−との結合手を表す。
m1、m2、m3、m4及びm5は、それぞれ独立に、0〜6のいずれかの整数を表す。
R L は、水素原子又はフッ素原子を有していてもよい炭素数1〜14の脂肪族炭化水素基を表す。
*L1及び*L2は、−(CH 2 )m−(CF 2 )n−(CH 2 )o−R 1 との結合手を表す。
ただし、前記Wが脂環式炭化水素基である場合、−(CH 2 ) m1 −及び−(CH 2 ) m2 −、−(CH 2 ) m4 −及び−(CH 2 ) m5 −は、それぞれ、Wの同一の炭素原子に結合されない。] An acid generator containing a salt represented by the formula (I).
[In formula (I),
Q A1 and Q A2 independently represent a fluorine atom or a perfluoroalkyl group having 1 to 6 carbon atoms.
L b1 of the formula (L 1 -1), a group represented by the formula (L 1 -2) or formula (L 1 -3).
R 1 represents a hydrogen atom, a fluorine atom or a hydroxy group.
m represents any integer from 0 to 2, n represents any integer from 1 to 12, and o represents 0 or 1.
nn represents 2. The plurality of R 1 , m, n, and o that exist may be different or the same.
Z1 + represents an organic counterion. ]
Wherein (L 1 -1), formula (L 1 -2) and formula (L 1 -3),
X 0 represents a divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 14 carbon atoms which may have a single bond and a fluorine atom or a group represented by the formula (a-1).
(In equation (a-1),
s represents 0 or 1.
X 10 and X 11 are the same or different and represent an oxygen atom, a carbonyl group, a carbonyloxy group, an oxycarbonyl group or an oxycarbonyloxy group.
A 10 and A 11 each independently represent a divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms which may have a fluorine atom.
A 12 represents a divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms which may have a single bond or a fluorine atom.
* Represents a bond with W or a carbon atom. )
W represents a carbon atom or an alicyclic hydrocarbon group having 4 to 18 carbon atoms.
X 1 represents -O- * 1, -O-CO- * 1, -O-CH 2- * 1 or -O-CH 2- CO-O- * 1. * 1 represents a bond with − (CH 2 ) m − (CF 2 ) n − (CH 2 ) O −R 1.
X 2 represents -O- * 2, -O-CO- * 2, -O-CH 2- * 2, or -O-CH 2- CO-O- * 2. * 2 represents a bond with − (CH 2 ) m − (CF 2 ) n − (CH 2 ) O −R 1.
X 3 represents -O- * 1 or -O-CH 2- CO-O- * 1. * 1 represents a bond with − (CH 2 ) m − (CF 2 ) n − (CH 2 ) O −R 1.
X 4 represents -O- * 2 or -O-CH 2- CO-O- * 2. * 2 represents a bond with − (CH 2 ) m − (CF 2 ) n − (CH 2 ) O −R 1.
X 5 represents -O- * 1, -O-CO- * 1 or -O-CH 2- * 1. * 1 represents a bond with − (CH 2 ) m − (CF 2 ) n − (CH 2 ) O −R 1.
X 6 represents -O- * 2, -O-CO- * 2 or -O-CH 2- * 2. * 2 represents a bond with − (CH 2 ) m − (CF 2 ) n − (CH 2 ) O −R 1.
* L0 represents a bond with -C (Q A1 ) (Q A2)-.
m1, m2, m3, m4 and m5 each independently represent an integer of 0 to 6.
R L represents a hydrogen atom or an aliphatic hydrocarbon group of carbon atoms which may 1 to 14 have a fluorine atom.
* L1 and * L2 represent a bond with-(CH 2 ) m- (CF 2 ) n- (CH 2 ) o-R 1.
However, when the W is an alicyclic hydrocarbon group, − (CH 2 ) m1 − and − (CH 2 ) m2 −, − (CH 2 ) m4 − and − (CH 2 ) m5 − are respectively. Not bonded to the same carbon atom of W. ]
(2)塗布後の組成物を乾燥させて組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、及び
(5)加熱後の組成物層を現像する工程
を含むレジストパターンの製造方法。 (1) A step of applying the resist composition according to any one of claims 3 to 5 onto a substrate.
(2) A step of drying the applied composition to form a composition layer,
(3) Step of exposing the composition layer,
A method for producing a resist pattern, which comprises a step of (4) heating the composition layer after exposure and (5) a step of developing the composition layer after heating.
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