JP6748648B2 - 複数の独立した調整可能チャネルを有する偏光計、および、物質および物体を分類および認識する方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 38
- 239000000126 substance Substances 0.000 title description 21
- 229940125730 polarisation modulator Drugs 0.000 claims description 91
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims description 71
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 61
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 claims description 40
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 32
- 238000007635 classification algorithm Methods 0.000 claims description 16
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 15
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 13
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 11
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 14
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 11
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 11
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 238000013461 design Methods 0.000 description 9
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 8
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000012549 training Methods 0.000 description 6
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 4
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000000513 principal component analysis Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 238000012706 support-vector machine Methods 0.000 description 2
- 241000195493 Cryptophyta Species 0.000 description 1
- 241000080059 Manoba major Species 0.000 description 1
- 229920000426 Microplastic Polymers 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 239000005427 atmospheric aerosol Substances 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 239000013068 control sample Substances 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 1
- 238000000572 ellipsometry Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000002657 fibrous material Substances 0.000 description 1
- 239000000383 hazardous chemical Substances 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 238000005065 mining Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 description 1
- 238000000711 polarimetry Methods 0.000 description 1
- 238000001907 polarising light microscopy Methods 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 238000004064 recycling Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
- 239000013076 target substance Substances 0.000 description 1
- 239000004753 textile Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000017105 transposition Effects 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/40—Extraction of image or video features
- G06V10/60—Extraction of image or video features relating to illumination properties, e.g. using a reflectance or lighting model
-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J4/00—Measuring polarisation of light
- G01J4/04—Polarimeters using electric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
- G02B26/105—Scanning systems with one or more pivoting mirrors or galvano-mirrors
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/28—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising
- G02B27/283—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising used for beam splitting or combining
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/30—Polarising elements
- G02B5/3083—Birefringent or phase retarding elements
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/70—Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning
- G06V10/77—Processing image or video features in feature spaces; using data integration or data reduction, e.g. principal component analysis [PCA] or independent component analysis [ICA] or self-organising maps [SOM]; Blind source separation
- G06V10/7715—Feature extraction, e.g. by transforming the feature space, e.g. multi-dimensional scaling [MDS]; Mappings, e.g. subspace methods
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Description
本発明は、米国陸軍によって授与された契約W909MY−12−C−0023の下で政府支援によってなされたものである。米国政府は、本発明において一定の権利を有する。
本発明の実施形態は、偏光検査によるリモートセンシングまたは遠隔試験の分野に関し、偏光計の分野からの技術および偏光測定への学習アルゴリズムの適用によって、物体、物質、および物質の状態の自動化または補助識別、分類、および認識の分野からの技術を含む。対象の物体、物質または物質の状態は、多くの場合、標的と呼ばれ、このリモートセンシングの分野は、多くの場合、自動標的認識(ATR)と呼ばれる。
のように記述され、式中、S0は放射照度、S1は水平−垂直座標系の直線偏波度であり、S2は水平−垂直座標に対して±45°の直線偏波度であり、SSは円偏波度であり、[...]Tは行列転置を表す。ストークスパラメータは、EMRの偏波状態を定義する。ミュラー行列は、電磁波と有形物との相互作用時のストークスパラメータの線形変換であり、
のように記述される。
数学的解析および設計のために、ミュラー行列は、多くの場合、次のような1次元形式で記述される。
本発明の一実施形態は、制御された電磁放射線源(EMR)からのビームを独立変調器の組の間に連続的に向けるように位置決めされた走査素子を有する記録チャネル合波器(Registered channel multiplexer、RCM、登録されたチャネルの多重化装置)を提供する。RCMの一例を図3に示す。独立変調器(independent modulator)の組の各部材は、変調されたビームを生成するために一連の独立した状態の間でビームの状態を変調するように構成されたチャネルを画成する。反射器の組立品は、変調されたビームを、視野に向けられている同時記録された経路に向け直すように構成される。走査素子は、回転軸を含むガルバノメータスキャナなどの第1の機械的スキャナに取り付けられたスキャナミラーであってもよく、反射器の組立品はミラーの組立品であってもよい。さらに、スキャナミラーは、第1の機械的スキャナの回転軸に平行な平面ミラーと、平面ミラーに対してある角度で、例えば約45度の角度で取り付けられた第2のウェッジミラー(wedge mirror、くさび形ミラー)とを含む複合ミラー(composite mirror)であってもよい。ミラーの組立品は、第2の組の機械的スキャナに取り付けられた1つ以上の平面スキャナミラーを含んでもよい。独立変調器の組は、レンズ、偏波変調器、スペクトルフィルタ、回折アレイ発生器、ホログラム、振幅位相マスク、およびそれらの任意の組み合わせからなる群から選択することができる。独立変調器の組の1つ以上の部材は調整可能であり、1つ以上の異なる部材は、図4に示すようなビームブロック(beam block)であってもよい。
のように測定された放射照度を低減させることによって形成された縮小ミュラー行列のベクトル空間にベクトル代数を適用することに基づいており、式中、Iは偏光計によって実際に測定された放射照度であり、Iuは従来の非偏光カメラが非偏光照明で測定する放射照度である。低減された放射照度I’は、正または負であり得る。低減された放射照度は、低減された偏光計器の行列と、照射された物体の縮小ミュラー行列とのベクトル積として表現可能であることが分かる。
によって定義される偏光計構成が与えられた場合、M×Nの偏光計放射照度測定値{Im×n}、m=1、...、Mおよびn=1、...、Nの集合内の標的行列の表現を最大にする集合Qを決定することである。本発明の一実施形態では、パラメータQはリターダ−波長板の角度方向であるが、Qは偏波変調器の設定の任意の組み合わせを表すことができる。このアルゴリズムはまた、受動型偏光計のためのチャネルおよび分類子を導出するのに一般的に十分である。偏光計測定における標的コントラストを最大にするために、偏光計器の行列は、縮小標的行列
の部分空間への射影を最大にするように選択されなければならない。
として定義された縮小ミュラー行列の空間に勾配演算子を適用することによって形式化することができる。
である。
式中、分母は、式7の単純な標的コントラストではなく、測定されたチャネルにおける背景特性の表現を定量化する。7.部分空間射影アルゴリズムによって導出されたチャネルに基づく一般化されたコントラストパラメータの多くの他の例は、背景および任意の数のクラッタ偏波特性を組み込むことが可能である。本発明の部分空間射影アルゴリズムは、主成分分析(PCA)および分類子をさらに一般化するための支援ベクトルマシン(SVM)を含むがこれに限定されない確立されたアルゴリズムと組み合わせることができることも、学習アルゴリズムの当業者には明らかである。
Claims (55)
- 記録チャネル合波器であって、
制御された電磁放射線源からのビームを独立変調器の組の間に連続的に向けるように位置決めされた走査素子と、
前記組の各部材が、変調されたビームを生成するために一連の独立した状態の間で前記ビームの状態を変調するように構成されたチャネルを画成する、独立変調器の組と、
前記変調されたビームを、視野に向けられている同時記録された経路に向け直すように構成された反射器の組立品と
を含み、
前記走査素子は、回転軸を含む第1の機械的スキャナに取り付けられたスキャナミラーであり、前記反射器の組立品は、ミラーの組立品であり、
前記スキャナミラーは、前記回転軸に平行な平面ミラーと、該平面ミラーに対してある角度で取り付けられた第2のウェッジミラーとを有する複合ミラーである、記録チャネル合波器。 - 前記第2のウェッジミラーが前記平面ミラーに取り付けられる角度は約45度である、請求項1に記載の記録チャネル合波器。
- 前記ミラーの組立品は、第2の組の機械的スキャナに取り付けられた1つ以上の平面スキャナミラーを含む、請求項1に記載の記録チャネル合波器。
- 独立変調器の組は、レンズ、偏波変調器、スペクトルフィルタ、回折アレイ発生器、ホログラム、振幅位相マスク、およびそれらの任意の組み合わせからなる群から選択される、請求項1に記載の記録チャネル合波器。
- 独立変調器の組の1つ以上の部材は調整可能である、請求項1に記載の記録チャネル合波器。
- 前記独立変調器の組の1つ以上の部材はビームブロックである、請求項1に記載の記録チャネル合波器。
- 複数の独立したチャネルを使用して視野内の標的を分類または認識するためのセンサであって、
検出器およびその間に位置決めされた前記視野を含む経路内に位置決めされ制御された電磁放射線源と、
制御された前記電磁放射線源からのビームを第1の組の独立変調器の間に連続的に向けるように位置決めされた走査素子と、
前記第1の組の独立変調器の各部材が、変調されたビームを生成するために一連の独立した状態の間で該ビームの状態を変調するように構成されたチャネルに対応する、第1の組の独立変調器と、
前記変調されたビームを、前記視野に向けられている同時記録された経路に向け直すように構成された反射器の組立品と、
前記視野内の物体から反射された、または前記視野内の物体によって伝達された電磁放射線を、前記第1の組の独立変調器から独立している第2の変調器に向けるように位置決めされた電磁放射線収集器と、
検出器であって、第1の組の変調器および第2の変調器によって形成されたチャネルの組と同期する信号の組を生成する、第2の変調器から電磁放射線を受けるように位置決めされた検出器と、
プロセッサが、ユーザ調整可能な閾値を検出器信号の組に適用してクラスラベルを検出器信号の組に割り当てることによってメモリに記憶された分類アルゴリズムを実行するように構成され、分類アルゴリズムが、前記第1の組の変調器および前記第2の変調器によって形成されたチャネルの組に関して閾値の関数を指定する、メモリに接続された前記プロセッサと
を含み、
走査素子は、回転軸を含む第1の機械的スキャナに取り付けられたスキャナミラーであり、反射器の組立品は、ミラーの組立品であり、
前記スキャナミラーは、回転軸に平行な平面ミラーと、前記平面ミラーに対してある角度で取り付けられた第2のウェッジミラーとを有する複合ミラーである、センサ。 - 前記第2のウェッジミラーが前記平面ミラーに取り付けられる角度は約45度である、請求項7に記載のセンサ。
- 前記ミラーの組立品は、第2の組の機械的スキャナに取り付けられた1つ以上の平面スキャナミラーを含む、請求項7に記載のセンサ。
- 前記第1の組の独立変調器および前記第2の独立変調器は、レンズ、偏波変調器、スペクトルフィルタ、回折アレイ発生器、ホログラム、振幅位相マスク、およびそれらの任意の組み合わせからなる群から選択される、請求項7に記載のセンサ。
- 前記第1の組の独立変調器および前記第2の独立変調器の1つ以上の部材は調整可能である、請求項7に記載のセンサ。
- 前記第1の組の独立変調器の1つ以上の部材はビームブロックである、請求項7に記載のセンサ。
- 収集器によって前記第2の変調器に向けられた前記電磁放射線は、前記視野内の物体から照射または放射される受動型源からの電磁放射線を含む、請求項12に記載のセンサ。
- 前記走査素子が前記ビームブロックに向けられている間に前記収集器によって前記第2の変調器に向けられた前記電磁放射線は、検出器信号の組の要素として受動チャネルに対応する検出器信号を生成する、請求項13に記載のセンサ。
- クラスラベルは前記メモリに記憶される、請求項7に記載のセンサ。
- 検出器信号の組は、記録されたデジタル画像の組であり、クラスラベルは、デジタル分類画像を形成するように各画素に割り当てられる、請求項7に記載のセンサ。
- クラスラベルは0または1である、請求項7に記載のセンサ。
- 前記視野は、センサが取り付けられているジンバルまたは移動式プラットフォームによって面積または体積にわたって走査または掃引される、請求項7に記載のセンサ。
- 前記クラスラベルは、20Hz以上の速度で割り当てられる、請求項7に記載のセンサ。
- 前記クラスラベルは割り当てられ、前記分類画像は20フレーム/秒以上の速度で電子的に表示される、請求項16に記載のセンサ。
- 検出器信号の組は、前記走査素子によって提供されるタイミング信号を使用するロックイン増幅器によって、前記第1の組の変調器および前記第2の変調器によって形成されたチャネルの組と同期する、請求項7に記載のセンサ。
- 複数の独立した偏波チャネルを使用して視野内の標的を分類または認識するための偏光計であって、
検出器およびその間に位置決めされた該視野を含む経路内に位置決めされ制御された電磁放射線源と、
制御された前記電磁放射線源からのビームを第1の組の独立偏波変調器の間に連続的に向けるように位置決めされた走査素子と、
第1の組の独立偏波変調器であって、前記組の各部材が、変調されたビームを生成するために一連の独立した偏波状態の間でビームの偏波状態を変調するように構成された偏波チャネルに対応する、第1の組の独立偏波変調器と、
前記変調されたビームを、前記視野に向けられている同時記録された経路に向け直すように構成された反射器の組立品と、
前記視野内の物体から反射された、または前記視野内の物体によって伝達された電磁放射線を、前記第1の組の偏波変調器から独立している第2の偏波変調器に向けるように位置決めされた電磁放射線収集器と、
検出器であって、第1の組の偏波変調器および第2の偏波変調器によって形成されたチャネルの組と同期する信号の組を生成する、第2の偏波変調器から電磁放射線を受けるように位置決めされた検出器と、
プロセッサが、ユーザ調整可能な閾値を検出器信号の組に適用してクラスラベルを検出器信号の組に割り当てることによって前記メモリに記憶された分類アルゴリズムを実行するように構成され、該分類アルゴリズムが、前記第1の組の偏波変調器および前記第2の偏波変調器によって形成されたチャネルの組に関して閾値の関数を指定する、メモリに接続されたプロセッサと
を含み、
前記チャネルは、縮小ミュラー行列のベクトル空間に勾配演算子を適用し、かつ、結果として得られるコントラストパラメータを最大にする部分空間射影アルゴリズムによって定義される、偏光計。 - 前記走査素子は、回転軸を含む第1の機械的スキャナに取り付けられたスキャナミラーであり、前記反射器の組立品は、ミラーの組立品である、請求項22に記載の偏光計。
- 前記スキャナミラーは、前記回転軸に平行な平面ミラーと、該平面ミラーに対してある角度で取り付けられた第2のウェッジミラーとを有する複合ミラーである、請求項23に記載の偏光計。
- 前記第2のウェッジミラーが前記平面ミラーに取り付けられる角度は約45度である、請求項24に記載の偏光計。
- 前記ミラーの組立品は、第2の組の機械的スキャナに取り付けられた1つ以上の平面スキャナミラーを含む、請求項23に記載の偏光計。
- 前記第1の組の独立偏波変調器および前記第2の独立偏波変調器の1つ以上の部材は調整可能である、請求項22に記載の偏光計。
- 前記第1の組の独立偏波変調器の1つ以上の部材はビームブロックである、請求項22に記載の偏光計。
- 前記収集器によって前記第2の偏波変調器に向けられた電磁放射線は、前記視野内の物体から照射または放射される受動型源からの電磁放射線を含む、請求項28に記載の偏光計。
- 前記走査素子が前記ビームブロックに向けられている間に前記収集器によって前記第2の偏波変調器に向けられた前記電磁放射線は、信号の組の要素として受動チャネルに対応する検出器信号を生成する、請求項29に記載の偏光計。
- 前記ユーザ調整可能な閾値は、前記部分空間射影アルゴリズムによって導出された前記チャネルの関数である、請求項22に記載の偏光計。
- 前記クラスラベルはメモリに記憶される、請求項22に記載の偏光計。
- 前記検出器信号の組は、記録されたデジタル画像の組であり、クラスラベルは、デジタル偏波分類画像を形成するように各画素に割り当てられる、請求項22に記載の偏光計。
- 前記クラスラベルは0または1である、請求項22に記載の偏光計。
- 前記視野は、前記偏光計が取り付けられているジンバルまたは移動式プラットフォームに よって面積または体積にわたって走査または掃引される、請求項22に記載の偏光計。
- 前記クラスラベルは、20Hz以上の速度で割り当てられる、請求項22に記載の偏光計。
- 前記クラスラベルは割り当てられ、前記偏波分類画像は20フレーム/秒以上の速度で電子的に表示される、請求項33に記載の偏光計。
- 前記検出器信号の組は、前記走査素子によって提供されるタイミング信号を使用するロックイン増幅器によって、前記第1の組の偏波変調器および前記第2の偏波変調器によって形成された前記チャネルの組と同期する、請求項22に記載の偏光計。
- 複数の独立したチャネルを含む請求項22記載の偏光計を使用して視野内の標的を分類または認識するための方法であって、
前記視野がその間に位置決めされた検出器を含む経路内に制御された電磁放射線源を位置決めするステップと、
制御された前記電磁放射線源からのビームを第1の組の独立偏波変調器の間に走査素子によって連続的に向けるステップと、
前記走査素子および前記第1の組の独立偏波変調器によって変調されたビームを生成するステップであって、前記独立偏波変調器の組の各部材が、一連の独立した偏波状態の間で前記ビームの偏波状態を変調するように構成されたチャネルに対応する、生成するステップと、
前記変調されたビームを、前記視野に向けられている同時記録された経路に反射器の組立品によって向け直すステップと、
前記視野内の物体から反射された、または視野内の物体によって伝達された前記電磁放射線の一部を、前記第1の組の偏波変調器から独立している第2の偏波変調器に電磁放射線の一部を向ける電磁放射線収集器によって収集するステップと、
前記第2の偏波変調器から前記電磁放射線を前記検出器で受けるステップであって、前記検出器が、前記第1の組の偏波変調器および前記第2の偏波変調器によって形成されたチャネルの組と同期する検出器信号の組を生成する、受けるステップと、
クラスラベルを前記検出器信号の組に割り当てるために分類アルゴリズムおよびユーザ調整可能な閾値を検出器信号の組に適用するステップであって、前記分類アルゴリズムが、前記第1の組の偏波変調器および前記第2の偏波変調器によって形成された前記チャネルの組に関して閾値の関数を指定する、適用するステップと
を含み、
前記チャネルは、縮小ミュラー行列のベクトル空間に勾配演算子を適用し、かつ、結果として得られるコントラストパラメータを最大にする部分空間射影アルゴリズムによって定義される、方法。 - 前記走査素子は、回転軸を含む第1の機械的スキャナに取り付けられたスキャナミラーであり、前記反射器の組立品は、ミラーの組立品である、請求項39に記載の方法。
- 前記スキャナミラーは、前記回転軸に平行な平面ミラーと、該平面ミラーに対してある角度で取り付けられた第2のウェッジミラーとを有する複合ミラーである、請求項40に記載の方法。
- 前記第2のウェッジミラーが前記平面ミラーに取り付けられる角度は約45度である、請求項41に記載の方法。
- 前記ミラーの組立品は、第2の組の機械的スキャナに取り付けられた1つ以上の平面スキャナミラーを含む、請求項40に記載の方法。
- 前記第1の組の独立偏波変調器および前記第2の独立偏波変調器の1つ以上の部材は調整可能である、請求項39に記載の方法。
- 前記第1の組の独立偏波変調器の1つ以上の部材はビームブロックである、請求項39に記載の方法。
- 収集されて前記第2の偏波変調器に向けられた前記電磁放射線の一部は、前記視野内の物体から照射または放射される受動型源からの電磁放射線を含む、請求項45に記載の方法。
- 前記走査素子が前記ビームブロックに向けられている間に収集されて前記第2の偏波変調器に向けられた前記電磁放射線の一部は、前記検出器信号の組の要素として受動チャネルに対応する検出器信号を生成する、請求項46に記載の方法。
- 前記ユーザ調整可能な閾値は、前記部分空間射影アルゴリズムによって得られた前記チャネルの組の関数である、請求項39に記載の方法。
- 前記クラスラベルはメモリに記憶される、請求項39に記載の方法。
- 前記検出器信号の組は、記録されたデジタル画像の組であり、クラスラベルは、デジタル偏波分類画像を形成するように各画素に割り当てられる、請求項39に記載の方法。
- 前記クラスラベルは0または1である、請求項39に記載の方法。
- 前記視野は、前記偏光計が取り付けられているジンバルまたは移動式プラットフォームによって面積または体積にわたって走査または掃引される、請求項39に記載の方法。
- 前記クラスラベルは、20Hz以上の速度で割り当てられる、請求項39に記載の方法。
- 前記クラスラベルは割り当てられ、前記偏波分類画像は20フレーム/秒以上の速度で電子的に表示される、請求項50に記載の方法。
- 前記検出器信号の組は、前記走査素子によって提供されるタイミング信号を使用するロックイン増幅器によって、前記第1の組の偏波変調器および前記第2の偏波変調器によって形成された前記チャネルの組と同期する、請求項39に記載の方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/US2016/068411 WO2018118073A1 (en) | 2016-12-22 | 2016-12-22 | Polarimeter with multiple independent tunable channels and method for material and object classification and recognition |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019509463A JP2019509463A (ja) | 2019-04-04 |
JP6748648B2 true JP6748648B2 (ja) | 2020-09-02 |
Family
ID=62626931
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017537482A Expired - Fee Related JP6748648B2 (ja) | 2016-12-22 | 2016-12-22 | 複数の独立した調整可能チャネルを有する偏光計、および、物質および物体を分類および認識する方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10540571B2 (ja) |
EP (1) | EP3371631B1 (ja) |
JP (1) | JP6748648B2 (ja) |
AU (2) | AU2016388716A1 (ja) |
WO (1) | WO2018118073A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015115041A (ja) * | 2013-12-16 | 2015-06-22 | ソニー株式会社 | 画像処理装置と画像処理方法 |
US11867891B2 (en) | 2016-12-22 | 2024-01-09 | Advanced Optical Technologies, Inc. | Polarimeter with multiple independent tunable channels and method for material orientation imaging |
CN108801930B (zh) * | 2018-05-30 | 2020-09-08 | 华中科技大学 | 一种高时间分辨率的穆勒矩阵椭偏测量装置与方法 |
JP7435464B2 (ja) * | 2018-11-21 | 2024-02-21 | ソニーグループ株式会社 | ワーク判別システム、ワーク判別装置及びワーク判別方法 |
CN111670372A (zh) * | 2019-01-09 | 2020-09-15 | 深圳市大疆创新科技有限公司 | 扫描模组、测距装置及移动平台 |
WO2020202221A1 (en) * | 2019-04-04 | 2020-10-08 | Lovely Professional University | A method and system for detecting and modeling objects in space using lidar |
CN110163303B (zh) * | 2019-06-03 | 2022-01-11 | 中国农业大学 | 一种基于格网的遥感影像并行分类方法及系统 |
US11499911B2 (en) * | 2019-11-15 | 2022-11-15 | Montana State University | Systems and methods for detecting thermodynamic phase of clouds with optical polarization |
WO2021150275A1 (en) * | 2020-01-21 | 2021-07-29 | Advanced Optical Technologies, Inc. | Polarimeter with multiple independent tunable channels and method for material orientation imaging |
WO2022015621A1 (en) * | 2020-07-13 | 2022-01-20 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Devices, systems, and methods for chiral sensing |
CN114419452B (zh) * | 2022-03-30 | 2022-07-05 | 中国人民解放军火箭军工程大学 | 一种高分辨率双极化sar抗角反射器干扰的目标辨识方法 |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4306809A (en) | 1979-03-26 | 1981-12-22 | The Board Of Regents Of The University Of Nebraska | Polarimeter |
US4688939A (en) * | 1985-12-27 | 1987-08-25 | At&T Technologies, Inc. | Method and apparatus for inspecting articles |
US4881818A (en) | 1986-04-22 | 1989-11-21 | The University Of New Mexico | Differential imaging device |
JP2969009B2 (ja) * | 1991-02-22 | 1999-11-02 | 株式会社リコー | 軸状ミラ−偏向器 |
US5247176A (en) | 1991-07-22 | 1993-09-21 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Infrared laser polarimeter |
US5929443A (en) | 1995-12-18 | 1999-07-27 | The Research Foundation City College Of New York | Imaging of objects based upon the polarization or depolarization of light |
EP0902885A4 (en) * | 1996-05-16 | 2006-09-27 | Affymetrix Inc | SYSTEMS AND METHODS FOR DETECTION OF BRANDED PRODUCTS |
US5956147A (en) | 1997-06-13 | 1999-09-21 | Lockheed Martin Energy Research Corporation | Two modulator generalized ellipsometer for complete mueller matrix measurement |
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WO1999038046A1 (en) | 1998-01-23 | 1999-07-29 | Burger Robert J | Lenslet array systems and methods |
US6060710A (en) | 1998-12-21 | 2000-05-09 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Infrared Mueller matrix detection and ranging system |
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JP2002148554A (ja) | 2000-11-03 | 2002-05-22 | Samsung Electronics Co Ltd | 光スキャナ及びこれを適用したレーザ映像投射装置並びにその駆動方法 |
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JP2005181927A (ja) | 2003-12-24 | 2005-07-07 | Canon Inc | 光偏向装置およびそれを用いた画像表示装置 |
US7333897B2 (en) | 2005-12-07 | 2008-02-19 | Motorola, Inc. | Method and system for identifying material composition based upon polarization trajectories |
US8116000B2 (en) | 2006-08-18 | 2012-02-14 | Q5 Innovations Inc. | Tandem polarization beam splitters for real-time polarization difference sensing |
US20090116518A1 (en) | 2007-11-02 | 2009-05-07 | Pranalytica, Inc. | Multiplexing of optical beams using reversed laser scanning |
EP2225699A1 (en) | 2007-11-27 | 2010-09-08 | University of Washington | Eliminating illumination crosstalk while imaging using multiple imaging devices |
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DE102011013613A1 (de) * | 2010-10-01 | 2012-04-05 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Mikroskop und Mikroskopierverfahren |
EP2682776B1 (de) * | 2012-07-07 | 2017-06-28 | Airbus DS Electronics and Border Security GmbH | Verfahren zur Detektion von gepulster Laserstrahlung sowie bildgebender Laserwarner |
DE102012017922B4 (de) * | 2012-09-11 | 2024-03-14 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Optikanordnung und Lichtmikroskop |
US9983260B2 (en) * | 2012-10-12 | 2018-05-29 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Dual-phase interferometry for charge modulation mapping in ICS |
DE102013227105A1 (de) | 2013-09-03 | 2015-03-05 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Mikroskop und akustooptischer Strahlvereiniger für ein Mikroskop |
-
2016
- 2016-12-22 JP JP2017537482A patent/JP6748648B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2016-12-22 US US15/542,064 patent/US10540571B2/en active Active
- 2016-12-22 EP EP16920449.2A patent/EP3371631B1/en active Active
- 2016-12-22 WO PCT/US2016/068411 patent/WO2018118073A1/en active Application Filing
- 2016-12-22 AU AU2016388716A patent/AU2016388716A1/en not_active Abandoned
-
2018
- 2018-08-29 AU AU2018222946A patent/AU2018222946A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10540571B2 (en) | 2020-01-21 |
EP3371631A4 (en) | 2019-08-14 |
JP2019509463A (ja) | 2019-04-04 |
WO2018118073A1 (en) | 2018-06-28 |
US20180181839A1 (en) | 2018-06-28 |
EP3371631B1 (en) | 2021-08-18 |
AU2018222946A1 (en) | 2018-09-20 |
US20190073561A2 (en) | 2019-03-07 |
AU2016388716A1 (en) | 2018-07-12 |
EP3371631A1 (en) | 2018-09-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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|
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|
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