JP6320123B2 - 三次元積層装置及び三次元積層方法 - Google Patents
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Description
前記粉末供給部の前記ノズルを着脱することにより前記粉末供給部に装着されたノズルを交換するノズル交換部を有することが好ましい。この三次元積層装置は、粉末材料を噴射するノズルを交換することができるため、成形層の形成をより適切に行うことができる。
2 三次元積層室
3 予備室
4 積層ヘッド収納室
4a、5a Z軸スライド部
5 機械加工部収納室
6、7 扉
10 ベッド
11 テーブル部
12 積層ヘッド
13 機械加工部
15 Y軸スライド部
16 X軸スライド部
17 回転テーブル部
18、19 ベローズ
20 制御装置
22 工具
23 ノズル
24 先端部
25 空気排出部
30 形状計測部
31 加熱ヘッド
32 装置計測部
33 工具交換部
34 ノズル交換部
35、35A 粉末導入部
36 基台移動部
37 空気排出部
38 ガス導入部
39 粉末回収部
41 外管
42 内管
43 粉末流路
44 レーザ経路
46 本体
47 光源
48 光ファイバ
49 集光部
51 入力部
52 制御部
53 記憶部
54 出力部
55 通信部
56 先端
57 光源部
58 撮像部
61、71 軸部
62、72 円板部
63、73 保持部
64、74 ボルト
65、75 把持部
66、76 移動部
67、77 開口部
68、69、78、79 穴部
81、81A 粉末収納部
82、82A 粉末識別部
83 カートリッジ
84 材料表示部
85 導入部
86 サイクロン部
87 気体排出部
88 粉末排出部
91 台座
92、93 成形層
95 円板部
96 穴部
97 軸部
98 円錐台部
99 部材
100 基台部
102、104、106、108 矢印
A 溶融体
B 固化体
L レーザ光
P 粉末
Claims (21)
- 基台部に成形層を積層させて三次元形状物を形成する三次元積層装置であって、
粉末材料を供給する粉末供給部と、
前記粉末材料に光ビームを照射し、前記光ビームが照射された前記粉末材料の少なくとも一部を焼結又は溶融固化させて前記成形層を形成する光照射部と、
前記成形層の表面形状を計測する形状計測部と、
工具を備え、前記工具で前記成形層を機械加工する機械加工部と、
前記粉末供給部、前記光照射部、前記形状計測部及び前記機械加工部の少なくとも一つの動作を制御する制御部と、を有し、
前記粉末供給部は、前記基台部に向かって前記粉末材料を噴射し、
前記光照射部は、前記粉末供給部から前記基台部に向けて移動する前記粉末材料に光ビームを照射し、前記粉末材料を溶融させて、溶融した前記粉末材料を前記基台部上で固化させ、
前記制御部は、
前記形状計測部による前記成形層の表面形状の計測結果に応じて、前記成形層に機械加工が必要か否かを判断し、必要であると判断した場合に、前記機械加工部により前記成形層の機械加工を行わせ、
機械加工された前記成形層の表面に更に成形層を積層する必要があるか否かを判断し、必要であると判断した場合に、機械加工された前記成形層の表面に、前記粉末供給部及び前記光照射部により成形層を形成させる、三次元積層装置。 - 前記粉末供給部は、前記粉末材料を噴射するノズルを備え、
前記粉末供給部の前記ノズルを着脱することにより前記粉末供給部に装着されたノズルを交換するノズル交換部を有する請求項1に記載の三次元積層装置。 - 前記機械加工部の前記工具の先端位置を計測する機械加工部計測部を有し、
前記制御部は、前記形状計測部による前記表面形状の計測結果及び前記機械加工部計測部による前記工具の先端位置の計測結果に応じて前記機械加工部の動作を制御する請求項1又は請求項2に記載の三次元積層装置。 - 前記噴射された粉末材料の収束位置及び収束径の少なくとも一方を計測する粉末供給部計測部を有する請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の三次元積層装置。
- 前記制御部は、前記粉末供給部計測部で計測した粉末材料の収束位置及び収束径の少なくとも一方に応じて前記粉末供給部及び前記光照射部の少なくとも一つの動作を制御する請求項4に記載の三次元積層装置。
- 前記機械加工部の前記工具の先端位置を計測する機械加工部計測部と、前記粉末材料の収束位置及び収束径の少なくとも一方を計測する粉末供給部計測部とを有し、前記機械加工部計測部と前記粉末供給部計測部とが共通する装置であることを特徴とする請求項1に記載の三次元積層装置。
- 前記機械加工部の工具を着脱することにより、前記機械加工部に装着された前記工具を交換する工具交換部を有する請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の三次元積層装置。
- 前記粉末供給部に供給する前記粉末材料を貯留する貯留部と、前記貯留部に貯留されている前記粉末材料を識別する識別部と、を備え、前記識別部で識別した前記貯留部の前記粉末材料を前記粉末供給部に前記粉末材料を導入させる粉末導入部を有し、
前記制御部は、前記識別部の前記粉末材料の識別結果に応じて、前記粉末導入部から前記粉末供給部への前記粉末材料の導入を制御する請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の三次元積層装置。 - 前記制御部は、前記粉末導入部による前記粉末材料の識別結果に応じて、さらに前記粉末供給部及び前記光照射部の少なくとも一方の動作を制御する請求項8に記載の三次元積層装置。
- 前記粉末供給部、前記光照射部及び前記機械加工部を内蔵する三次元積層室と、
前記三次元積層室の外部から前記三次元積層室の内部に前記基台部を移動させる基台移動部と、を有する請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の三次元積層装置。 - 前記制御部は、前記形状計測部による前記成形層の表面粗さの測定結果値が所定の値より大きかった場合、前記機械加工部に機械加工を行わせる、誇求項1から請求項10のいずれか1項に記載の三次元積層装置。
- 前記制御部は、前記成形層の形成条件から算出された前記成形層の表面粗さが前記三次元形状物の設計情報に基づく必要な表面粗さよりも大きい場合に、前記成形層に機械加工が必要であると判断する、請求項11に記載の三次元積層装置。
- 前記形状計測部は、前記成形層の形成前後における表面形状を計測することが可能であり、
前記制御部は、前記形状計測部による前記成形層の表面形状の計測結果に応じて、前記成形層を形成する箇所と前記粉末供給部及び前記光照射部との間の距離を一定にするように、前記粉末供給部及び前記光照射部の位置を制御する、請求項1に記載の三次元積層装置。 - 前記形状計測部は、前記基台部上の台座の表面形状を計測することが可能であり、
前記制御部は、前記形状計測部による前記台座の計測結果に応じて、前記台座に機械加工が必要か否かを判断し、
機械加工が必要であると判断した場合に、前記機械加工部による機械加工を行わせ、機械加工された前記台座の表面に、前記粉末供給部及び前記光照射部により成形層を形成させ、
機械加工が必要でないと判断した場合に、前記機械加工部による機械加工を行わず、機械加工されていない前記台座の表面に、前記粉末供給部及び前記光照射部により成形層を形成させる、請求項1に記載の三次元積層装置。 - 基台部に粉末材料を焼結又は溶融固化させて形成した成形層を積層して三次元形状物を形成する三次元積層方法であって、
粉末供給部によって粉末材料を基台部に向かって噴射しつつ、光照射部によって前記粉末材料に光ビームを照射することにより前記粉末材料を溶融させ、前記溶融した粉末材料を前記基台部上で固化させることにより前記基台部上に成形層を形成し、当該成形層を積層する積層ステップと、
前記成形層の表面を機械加工する機械加工ステップと、を有し、
前記機械加工ステップは、
前記成形層の表面形状を計測し、
前記表面形状の計測結果に応じて前記成形層に機械加工が必要か否かを判断し、必要であると判断した場合に、前記成形層の機械加工を行い、
機械加工された前記成形層の表面に更に成形層を積層する必要があるか否かを判断し、必要であると判断した場合に、機械加工された前記成形層の表面に成形層を形成させる、三次元積層方法。 - 前記機械加工ステップは、前記機械加工を行う機械加工部の工具の先端位置を計測し、前記工具の先端位置の計測結果に基づいて、前記成形層の機械加工の加工条件を決定する請求項15に記載の三次元積層方法。
- 前記機械加工ステップは、前記成形層の表面形状の計測結果に基づいて、前記成形層の機械加工の加工条件を決定する請求項15又は請求項16に記載の三次元積層方法。
- 前記機械加工ステップは、前記機械加工を行う機械加工部の位置及び前記成形層の表面形状を計測し、前記成形層の表面形状及び前記機械加工部の位置の計測結果に基づいて前記成形層の機械加工の加工条件を決定する請求項15から請求項17のいずれか1項に記載の三次元積層方法。
- 前記積層ステップは、前記基台部に向かって噴射する前記粉末材料を識別し、前記粉末材料の識別結果に応じて、前記粉末材料を噴射する粉末供給部への粉末材料の導入条件を決定する請求項15から請求項18のいずれか1項に記載の三次元積層方法。
- 前記積層ステップは、前記粉末材料の識別結果に応じて、さらに前記粉末材料の噴射条件又は前記光ビームの照射条件の少なくとも一方を決定する請求項19に記載の三次元積層方法。
- 前記機械加工ステップは、前記成形層の表面形状の計測結果に応じて、前記成形層を形成する箇所と前記粉末供給部及び前記光照射部との間の距離を一定にするように、前記粉末供給部及び前記光照射部の位置を制御する、請求項15に記載の三次元積層方法。
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