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JP6058315B2 - デジタル保護リレー - Google Patents

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Description

本発明の実施形態は、主回路系統の異常を検出して、保護動作を行なうデジタル保護リレーに関する。
従来、デジタル保護リレーが正常に動作するか否かの点検である試験を行なう場合には、主回路に接続された変成器の出力が入力される端子に試験装置を接続し、保護機能の確認が行われる。
デジタル保護リレーの試験を行なうためには、デジタル保護リレーの外部である補助変成器の一次側に試験用端子を設け、主回路を停電させた状態で、試験用端子に対して数十アンペアの電流や百数十ボルトの電圧の試験用信号を印加している。
特開2009−171723号公報
デジタル保護リレーの試験を行なうには、前述したように、デジタル保護リレーの補助変成器の一次側に設けられた試験用端子に試験用信号を印加する必要がある。また、一般的にデジタル保護リレーの試験用端子、例えばトリップ出力接点はデジタル保護リレーの盤内に設けられている。
そのため、デジタル保護リレーの試験を行なう際は、大きな電流/電圧発生が可能なリレー試験装置が必要であるとともに、デジタル保護リレーの盤扉を開けて、試験用端子と試験装置とを接続するための試験用配線を設ける必要があった。
また、デジタル保護リレーの試験を実施すると、試験中に主回路の事故が発生した場合に主回路の保護動作できなくなるため、この主回路をあらかじめ停電させてから試験を行なう必要があった。
そのため、デジタル保護リレーの試験は、休日や深夜など、主回路を停電させた際の影響が小さな時間帯に限られ、かつ、試験時間(停電時間)も最小限にする必要があった。
本発明が解決しようとする課題は、主回路をあらかじめ停電させることなく、安全かつ容易に動作試験を行なうことが可能になるデジタル保護リレーを提供することにある。
実施形態によれば、デジタル保護リレーは、主回路変成器からの電気信号を所定の電圧に降圧した電気信号に変換する補助変成器と、入力側が前記補助変成器の出力側に接続されるΠ型またはT型回路でなる検出抵抗回路と、前記検出抵抗回路の出力側に取り付けられ、前記補助変成器からの電気信号の電気量を検出するアナログ検出回路と、前記アナログ検出回路に接続されたA/D変換回路と、前記A/D変換回路に接続されて、保護動作を実行する中央処理装置と、前記中央処理装置の処理によって動作して外部の遮断器を動作させるトリップ出力接点とをもち、試験装置を接続して前記試験装置からの前記アナログ検出回路への定電圧による試験用信号を前記補助変成器の出力に相当する信号として入力するための試験用端子を前記検出抵抗回路と前記アナログ検出回路との間に設ける。
実施形態におけるデジタル保護リレーの構成例を示すブロック図。 実施形態におけるデジタル保護リレーの外観を示す斜視図。 実施形態におけるデジタル保護リレーのポータブル試験装置の動作手順の一例を示すフローチャート。
以下、実施の形態について、図面を参照して説明する。
この実施形態では、保護対象の主回路を停電させず、主回路の保護を継続したままデジタル保護リレーの動作試験を行なうことができることを特徴としている。
図1は、実施形態におけるデジタル保護リレーの構成例を示すブロック図である。
図1に示すように、実施形態におけるデジタル保護リレーは、主回路変成器1、補助変成器2、アナログ検出回路3、A/D変換回路4、CPU(中央処理装置)5、メモリ6、表示回路7、スイッチ回路8、遮断器トリップ出力接点9、通信回路10、および試験用接点を備える。
主回路変成器1は、主回路に接続された変成器である。補助変成器2は、主回路変成器1からの電気信号を所定の電子回路レベルの電圧に降圧した電気信号に変換する。
また、補助変成器2の出力側とアナログ検出回路3の入力側との間には、3相の各相に応じた検出抵抗回路20a,20b,20cが接続される。
図2は、実施形態におけるデジタル保護リレーの外観を示す斜視図である。
デジタル保護リレーの試験用接点は、リレー試験用の入力接点である補助変成器二次側入力接点11、およびリレー試験用トリップ出力接点12であり、図2に示すように通信回路10の端子とともにデジタル保護リレーの盤の正面に設けられる。また、この盤の正面は開閉式のカバーで覆われている。ここで、通信回路10、補助変成器二次側入力接点11、およびリレー試験用トリップ出力接点12を単数のカバーで覆い、表示回路7やスイッチ回路8は露出していても良い。カバーで覆うことによって、接点への接触を防ぐことができる。
デジタル保護リレーを用いた試験を行なわない際はカバーを閉じ、試験を行なう際は、カバーを開けて、各種試験用接点や通信回路10の端子にポータブル試験装置13の接続が行えるようにする。このポータブル試験装置13は、デジタル保護リレーの動作試験のための作業員が携帯可能な試験装置である。
また、検出抵抗回路20a,20b,20cは、主回路からの電気信号を入力しながら、デジタル保護リレーの動作試験のための過電流などの試験用信号を、主回路からの電気信号に優先してアナログ検出回路3に入力するために設けられる。
検出抵抗回路20a,20b,20cはΠ型回路であり、その一次側が補助変成器2の出力側の各相に対応する端子に1対1で接続される。
検出抵抗回路20a,20b,20cの二次側の一方の端子は、アナログ検出回路3の入力側の各相に対応する端子に1対1で接続される。また、検出抵抗回路20a,20b,20cの二次側の他方の端子は、補助変成器二次側入力接点11に接続される。
詳しくは、補助変成器2とアナログ検出回路3の間の検出抵抗回路20a,20b,20cであるΠ型回路における補助変成器2側の抵抗器である第1の抵抗器の一端は、Π型回路における中央の抵抗器である第2の抵抗器の一端(補助変成器2側)に接続され、第1の抵抗器の他端は補助変成器二次側入力接点11に接続される。
また、検出抵抗回路20a,20b,20cであるΠ型回路におけるアナログ検出回路3側の抵抗器である第3の抵抗器の一端は第2の抵抗器の他端(アナログ検出回路3側)に接続され、第3の抵抗器の他端は補助変成器二次側入力接点11に接続される。
このような構成として、主回路からの電気信号が第1の抵抗器に入力された状態で、アナログ検出回路3側である第3の抵抗器の一端(第2の抵抗器の他端)に、定電圧による試験用信号の入力を行なうと、主回路から第1の抵抗器に印加された電圧と、第3の抵抗器に定電圧により印加された電圧との差分を第2の抵抗器により負担することとなる。
このような構成としたことにより、本実施形態による従来技術に比した顕著な特徴として、主回路からの電気信号が検出抵抗回路20a,20b,20cに入力されている状態でも、試験用信号を主回路からの電気信号に優先してアナログ検出回路3に入力することができる。
また、検出抵抗回路20a,20b,20cは、Π型回路から変換した等価回路であるT型回路であってもよい。
アナログ検出回路3は、補助変成器2から検出抵抗回路20a,20b,20cを介して出力された電流を検出する。A/D変換回路4は、アナログ検出回路3からの電流値をアナログ値からデジタル値に変換する。
CPU5は、A/D変換回路4からの電流値を処理し、保護動作を実行する。
CPU5には、メモリ6、表示回路7、スイッチ回路8が接続されている。メモリ6は、保護動作の基準となる電流値や各種データなどをCPU5により呼び出す、または保存するために用いられる。表示回路7は、主回路の異常などを表示する。スイッチ回路8は、保護動作の実行の基準となる電流値の設定や変更などを行うための操作を受け付けるスイッチを備える。
また、CPU5には、主回路に接続された遮断器21を動作させるための遮断器トリップ出力接点9が接続されている。遮断器トリップ出力接点9は分岐されて試験用端子であるリレー試験用トリップ出力接点12にも接続される。本実施形態では、遮断器トリップ出力接点9は第1のトリップ出力接点9a、第2のトリップ出力接点9bが直列接続されてなり、双方が動作して短絡された際に遮断器21のトリップコイル(TC)が励磁されて、主回路が保護される。
また、CPU5には通信回路10が接続される。この通信回路10は、保護動作の実行の基準となる電流値の変更や遮断器トリップ出力接点9の動作有無などを示す情報を外部の図示しない中央監視装置に通信できるようになっている。
本実施形態では、デジタル保護リレーの試験時に、作業員により、通信回路10、補助変成器二次側入力接点11、リレー試験用トリップ出力接点12にデジタル保護リレーの試験装置であるポータブル試験装置13を接続する。
前述したように、デジタル保護リレーの通信回路10、補助変成器二次側入力接点11およびリレー試験用トリップ出力接点12は、デジタル保護リレーの盤の正面に設けられているので、作業員は、ポータブル試験装置13をデジタル保護リレーに容易に接続する事ができる。
ポータブル試験装置13は、試験信号発生回路13aを有する。この試験信号発生回路13aは、デジタル保護リレーの動作確認用の過電流などの試験用信号の出力機能を有する。本実施形態では、ポータブル試験装置13にて、3相のうち試験対象の相を選択するための設定を行なうことができる。ポータブル試験装置13は、検出抵抗回路20a,20b,20cのうち、この選択された相に対応する検出抵抗回路とアナログ検出回路3の入力側の端子との間に試験用信号を出力することができる。
前述したように、デジタル保護リレーの補助変成器二次側入力接点11はアナログ検出回路3の入力側に接続されている。よって、動作試験のためにデジタル保護リレーに印加する電気信号を電子回路レベル(数V以下)の電気信号とすることができるので、ポータブル試験装置13は、従来の試験装置と比較して大幅に小型化した装置とする事が可能となる。
さらに、ポータブル試験装置13は、デジタル保護リレーの遮断器トリップ出力接点9からの信号の入力判定機能、およびデジタル保護リレーの通信回路10との通信機能を備える。この通信機能については後述する。
次に、デジタル保護リレーの動作およびポータブル試験装置の機能について説明する。図3は、実施形態におけるデジタル保護リレーのポータブル試験装置の動作手順の一例を示すフローチャートである。
まず、デジタル保護リレーの動作試験を行なうにあたり、作業員により、ポータブル試験装置13の試験信号発生回路13aの端子をデジタル保護リレーの補助変成器二次側入力接点11に接続する。また、作業員により、ポータブル試験装置13の保護リレー動作検出用の端子をデジタル保護リレーのリレー試験用トリップ出力接点12に接続する。また、本実施形態では、デジタル保護リレーの試験時に、作業員により、ポータブル試験装置13とデジタル保護リレーの通信回路10とを接続する(ステップS1)。
デジタル保護リレーの試験時は、ポータブル試験装置13は、このポータブル試験装置13に対する所定の操作により、複数種類の試験条件、例えば入力信号の電流/電圧値、試験時間、出力接点など)、および3相のうち所望の試験対象の相を設定する(ステップS2)。
ポータブル試験装置13は、前述した試験条件に基づいて、デジタル保護リレーの整定値を、通信回路10を介した通信により変更する。
そして、ポータブル試験装置13は、デジタル保護リレーのメモリ6から通信回路10による通信によりデジタル保護リレーの現整定値を読み出し(ステップS3)、この現整定値に基づいて、当該保護リレーの保護動作レベルに対応した定電圧による試験用信号を試験信号発生回路13aから出力する(ステップS4)。この出力された試験用信号は、デジタル保護リレーの補助変成器二次側入力接点11における試験対象の相に対応する接点を介してデジタル保護リレーのアナログ検出回路3に入力されて、A/D変換回路4を介してCPU5へ入力される。
CPU5は、デジタル保護リレーの現整定値に応じてデジタル保護リレーの保護処理を行なうためのトリップ出力有無を判定することで、試験対象相に対応するリレーを動作させる。
本実施形態では、デジタル保護リレーの試験時は、CPU5は、主回路の異常を検出していない、つまり主回路系統への3相入力のうち、試験対象相以外の相の電流/電圧の入力値が、あらかじめ設定された閾値を超えていない状態で、ポータブル試験装置13の試験信号発生回路13aからの試験対象相への出力値が、この相についての保護動作が正常である事を確認できる示す所定の閾値を超えている場合、つまり3相のうち試験対象相のみが動作している場合に(ステップS5のYES)、第1のトリップ出力接点9a、第2のトリップ出力接点9bのうち一方、例えば、第1のトリップ出力接点9aのみを動作(閉)させ、他方のトリップ出力接点については動作させない。
このため、遮断器21のトリップコイルを励磁させることなく、任意の1相の保護リレーの動作試験を行なうことが可能である。
また、ポータブル試験装置13は、デジタル保護リレーのリレー試験用トリップ出力接点12を介してデジタル保護リレーの動作を検出する(ステップS6)。これにより、主回路を停電させず、かつ、主回路の保護動作を継続したままデジタル保護リレーの動作試験が行える。
また、前述した、保護リレー動作試験の対象となった任意の1相を除く、保護リレー動作試験の対象外の残り2相については、デジタル保護リレーの動作試験中も主回路変成器1からの入力をCPU5が監視する。
CPU5は、ポータブル試験装置13の試験信号発生回路13aからの試験対象相への出力値が、この相についての保護動作が正常である事を確認できる示す所定の閾値を超えているか否かに関わらず、万が一、この監視中において主回路に事故が発生し、主回路系統への3相入力のうち、試験対象相以外の相の電流/電圧の入力値が、あらかじめ設定された閾値を超えた際に(ステップS7のYES)、この旨を示す信号を通信回路10によりポータブル試験装置13に出力して、ポータブル試験装置13からの試験用信号の出力を停止させることで、デジタル保護リレーの動作試験を中断し(ステップS8)、試験中の相への入力をポータブル試験装置13からの入力から主回路からの入力に切り替えて、複数直列のトリップ出力接点9a,9bをともに動作させて、外部にトリップ出力がなされるように保護動作を行なう(ステップS9)。よって、主回路を停電させず、主回路の保護を継続したままデジタル保護リレーの点検が行える。
以上のように、実施形態では、デジタル保護リレーは、保護対象となる主回路系統の電気量を検出するアナログ検出回路を備え、主回路系統の異常状態を検出し、遮断器を動作させるためのトリップ信号を出力して保護動作を行うデジタル保護リレーにおいて、デジタル保護リレーの補助変成器の二次側から電子回路レベルの試験用信号を用いて動作試験を行なうことができるので、試験装置をポータブル(小型)化することができる。
また、試験に必要な端子をデジタル保護リレーの盤の正面などに設けることにより、作業員により試験に必要な端子をデジタル保護リレーに容易に接続して動作試験が行える。なお、補助変成器2の信頼度は主回路変成器1の信頼度以上であり、万が一、補助変成器2が故障しても断線方向であるため、異常をデジタル保護リレーのCPU5で検出可能であり、主回路変成器1と同様に定期的な点検は不要である。
また、ポータブル試験装置13は、補助変成器2の二次側の3相の電流、電圧入力のうち試験対象相にリレーの保護動作レベルに対応した電子回路レベルの小さな試験用信号を印加し、デジタル保護リレーは、相ごとに整定された出力に動作出力するので、相ごとの動作試験を行なう事ができる。
これらの各実施形態によれば、主回路をあらかじめ停電させることなく、安全かつ容易に動作試験を行なうようにすることが可能になるデジタル保護リレー、デジタル保護リレー試験装置、およびデジタル保護リレー試験方法を提供することができる。
発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1…主回路変成器、2…補助変成器、3…アナログ検出回路、4…A/D変換回路、5…CPU(中央処理装置)、6…メモリ、7…表示回路、8…スイッチ回路、9…遮断器トリップ出力接点、10…通信回路、11…補助変成器二次側入力接点、12…リレー試験用トリップ出力接点、13…ポータブル試験装置、20a,20b,20c…検出抵抗回路。

Claims (5)

  1. 主回路変成器からの電気信号を所定の電圧に降圧した電気信号に変換する補助変成器と、
    入力側が前記補助変成器の出力側に接続されるΠ型またはT型回路でなる検出抵抗回路と、
    前記検出抵抗回路の出力側に取り付けられ、前記補助変成器からの電気信号の電気量を検出するアナログ検出回路と、
    前記アナログ検出回路に接続されたA/D変換回路と、
    前記A/D変換回路に接続されて、保護動作を実行する中央処理装置と、
    前記中央処理装置の処理によって動作して外部の遮断器を動作させるトリップ出力接点とを備え、
    試験装置を接続して前記試験装置からの前記アナログ検出回路への定電圧による試験用信号を前記補助変成器の出力に相当する信号として入力するための試験用端子を前記検出抵抗回路と前記アナログ検出回路との間に設けたことを特徴とするデジタル保護リレー。
  2. 前記試験用端子は、
    前記アナログ検出回路の入力側の各相に対応して接続される入力接点端子、および前記トリップ出力接点から分岐されたトリップ出力接点端子を含むことを特徴とする請求項1に記載のデジタル保護リレー。
  3. 前記試験用端子は、盤の正面に取り付けられていることを特徴とする請求項2に記載のデジタル保護リレー。
  4. 前記トリップ出力接点は、複数直列に設けられており、
    前記中央処理装置は、
    前記試験用信号の入力に伴う正常な動作として、前記複数のトリップ出力接点のうち一部を動作させ、その他のトリップ出力接点については動作させないことを特徴とする請求項2に記載のデジタル保護リレー。
  5. 前記中央処理装置は、
    前記アナログ検出回路の出力側の3相のうち任意の1相からは前記試験用信号を入力し、前記任意の1相を除く残り2相からは前記試験用信号を入力せずに前記主回路変成器からの信号を入力し、前記2相のいずれかからの信号の入力値のそれぞれが回路の異常を示す閾値を超えた際に、前記トリップ出力接点の全てを動作させることを特徴とする請求項4に記載のデジタル保護リレー。
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