JP5772991B2 - 電子機器 - Google Patents
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Description
請求項4の発明による電子機器は、反射率が異なる複数の領域を有する投影面に投影画像を投影する投影ユニットと、前記反射率が異なる複数の領域のうち反射率が所定値より低い領域では前記投影面の前記反射率の差による影響を残す様に、前記投影ユニットで投影する画像に対して前記反射率の差による影響を補正する補正部と、を有することを特徴とする。
ステップS1で行う投影特性の決定について説明する。
i番目の画素値が(R,G,B)iで与えられる画像データを投射ユニット110で投影したとき、i番目の画素値に対応する投影面の測色値(X,Y,Z)iは以下のような関係式になる。ここで、γは投射ユニット110の階調特性を表し、Mpiは投射ユニット110の画素値(Rγ,Gγ,Bγ)iから投射ユニット110の照明の測色値へ変換する色変換マトリックス(投射ユニット110の照明ムラを考慮して添字iを付ける)を表す。(Xkp,Ykp,Zkp)iは投射ユニット110で黒投影時の周囲照明も含めた投影面の照明条件(周囲照明や黒点の面内ムラを考慮して添字iを付ける)を表し、Riは投影面の反射率特性(投影面の模様など、反射率のムラを考慮して添字iを付ける)を表す。
ステップS2で行う投影画像補正係数の決定について説明する。
投影面にムラ(以後、投影面の反射率のムラや照明ムラを含めて、単に「ムラ」と表現する)や模様がある場合、投影面の各画素で最大表示可能な色域は変化するが、まずこの範囲を決定する。投影面での輝度Yiは、数式(1)より以下のように表すことができる。
ステップS4で行う投影画像の補正について説明する。
投影原画像の色空間がsRGBとすれば、投影原画像の画素値(R0,G0,B0)に対して、投影面での測色値(X,Y,Z)iは以下のようになればよい。
(1)所定のテスト画像(白画像、黒画像)が投影された投影面50を撮影して得られる撮影画像の画素値分布(図6、図7)を解析し、その解析結果に基づいて、投影原画像の補正量を調整(数式(5),(6),(7))するようにした。これにより、投影面50に著しく暗い場所があっても、投影画像を暗くしないように補正量を調整でき、投影画面の見えを改善できる。
−他の実施の形態1−
本発明の実施形態では、YMAX,i<YMAXを満たす画素については、最大輝度となる色が飽和しない範囲で補正画素の画素値を算出していた。しかし、補正画素の画素値を対象画素値が表現しうる最大値としてもよい。たとえば、すべての画素について、数式(6)にしたがって画素値を算出し、画素値が入力範囲を超えた場合(たとえば8bitの場合、画素値が255より大きい場合)クリッピングしてもよい。また、数式(6)で算出したR,G,Bのうちの最大となる色情報が飽和しない範囲で最大値となるように、MsRGB→XYZに乗算する係数を調整してもよい。
本発明の実施の形態では、ステップ2において、投影面内における最大輝度YMAX,iの分布および最小輝度YMIN,iの分布を算出した。しかし、投影画像の画像中心に相当する投影面上の位置(以下、画像中心と呼ぶ)からの距離が所定値以内の領域における最大輝度YMAX,iの分布および最小輝度YMIN,iの分布を算出し、画像中心からの距離が所定値より離れた領域における最大輝度YMAX,iの分布および最小輝度YMIN,iの分布を算出しないようにしてもよい。これにより、補正量を算出するために検出する画素数が少なくなり、画素値分布の解析を速く行うことができる。この場合、画像周辺部に投影面のムラなどが見えるが、画像中心から離れていれば、ユーザにとってそのムラなどが気になることが少ない。そして、画像周辺部に見える投影面のムラなどを見えなくするより、画像全体のダイナミックレンジを広げた方が投影画像の視認性が良好になるからである。
本発明の実施の形態では、ステップ2において、投影面内における最大輝度YMAX,iの分布および最小輝度YMIN,iの分布を算出した。しかし、投影画像の画像中心からの距離に応じて最大輝度YMAX,iおよび最小輝度YMIN,iに対して重み付けを行い、重み付けを行った最大輝度YMAX,iの分布および最小輝度YMIN,iの分布を算出するようにしてもよい。たとえば、画像中心においては、所定の最大輝度範囲における画素を1個見つけると度数1とカウントし、画像中心から離れるにしたがって、度数1とカウントする画素数を増やす(所定の最大輝度範囲における画素を10個見つけるごとに度数1とカウントするなど)。そして、この重み付けを行った最大輝度YMAX,iの分布および最小輝度YMIN,iの分布に基づいて、投影後の画像の最大輝度YMAXおよび最小輝度YMINを決定する。この場合も、投影面の周辺部に著しく暗い場所があっても、極端に投影画像を暗くしないように補正量を調整でき、投影画像の視認性を改善できる。
投影面に暗い部分があっても、その暗い部分に原画像の暗い部分が投影される場合、その投影面の暗い部分を考慮に入れずに投影原画像の補正を行うようにしてもよい。
上述の画像処理を組合せてもよい。たとえば、他の実施の形態3と他の実施の形態4とを組合せてもよい。
上述の実施の形態では、色域の補正として、輝度範囲の補正について説明したが、彩度方向の補正についてもYCrCb空間のCr,Cb、もしくは彩度(XYZからCIELABに変換し、C*=√(a*2+b*2)を使用)について同様に色域の補正を行ってもよい。たとえば、投影面に彩度の高い赤い部分があるとする。そのような赤い部分に投影される投影原画像を補正しようとすると、彩度方向のダイナミックレンジが非常に狭くなり、無彩色に近い色となる。このような場合、投影面の赤い部分の彩度を無視して彩度方向の補正を行う。その結果、赤い部分は多少視認されるものの、投影画像全体として、彩度方向にもダイナミックレンジの広い投影画像を視認することができる。
投影画像補正係数を決定する際、画像によらず補正係数を決定し、投影画像の補正を行ったが、補正係数は投影面内で変化させてもよい。たとえば、投影画像を複数の画素からなる領域に分割し、その領域単位で投影画像の補正を行うようにしてもよい。この場合、それぞれの領域における輝度や彩度ヒストグラムをとり、第1の実施の形態や他の実施の形態1〜5のようにそれぞれの領域毎に補正係数を決定して補正する。模様が投影面上一様でない場合に、過度な補正をせずにそれぞれの位置に適した補正が可能となる。領域は投影画像の形状に合わせて分割するとよい。
以上の実施の形態では投影画像によらず同じ補正係数としたが、投影画像の画像面内の画素値分布(輝度分布や色分布など)にしたがって、補正を画像にしたがって変化させる。たとえば、投影画像を領域に分割し、それぞれの領域で使用される画素値に対する輝度や彩度ヒストグラムを作成する。これらにしたがって、領域毎に第1の実施の形態の数式(5)のように最大輝度YMAXを決定し、数式(6)、(7)によって補正してもよい。また、領域に分割ではなく、補正対象画素の所定領域範囲内の平均輝度や色によって、補正対象画素毎に補正を変化させてもよい。
以上の実施形態の画像処理を行う装置は、投射機能付きカメラ1などの電子カメラに限定されない。たとえば、投影画像を撮影するカメラを備えたプロジェクタなどの投影装置でもよい。あるいは、投射機能および撮影機能を有する携帯電話などの電子機器でもよい。また、投影画像を投影する投影装置と、投影装置から投影される投影画像を撮影するカメラと、カメラが撮影した投影画像の画像データに基づいて画像処理を行い、画像処理を行った投影画像の画像データを投影装置に送信するコンピュータとを有する画像処理システムで、以上の実施形態の画像処理を実現するようにしてもよい。
日本国特許出願2007年第163986号(2007年6月21日出願)
Claims (6)
- テスト画像を投影面に投影する投影ユニットと、
前記テスト画像が投影された投影面を撮像する撮像ユニットと、
前記撮像ユニットで撮影した前記投影面に投影された画像から前記投影面の反射率を算出する反射率算出ユニットと、
前記投影面に投影された画像のうち前記投影面の反射率が低い領域を除いた領域の画素値を用いて前記投影ユニットで投影する投影画像に対する前記投影面の反射率の影響を補正する補正量を設定する制御部と、を有し、
前記制御部は、前記撮像ユニットで撮影した前記投影面に投影された画像の画素値が所定の閾値より小さい部分を前記投影面の反射率が低い領域として検出することを特徴とする電子機器。 - 請求項1に記載の電子機器において、
前記制御部は、前記撮像ユニットで撮影した前記投影面に投影された画像の画素値の最大値を基準とした所定の割合を前記所定の閾値とすることを特徴とする電子機器。 - 請求項1に記載の電子機器において、
前記制御部は、前記撮像ユニットで撮影した前記投影面に投影された画像の画素値が最も小さい画素から大きい画素に向かって数えていき、その画素数が所定画素数となる画素値を前記所定の閾値とすることを特徴とする電子機器。 - 反射率が異なる複数の領域を有する投影面に投影画像を投影する投影ユニットと、
前記反射率が異なる複数の領域のうち反射率が所定値より低い領域では前記投影面の前記反射率の差による影響を残す様に、前記投影ユニットで投影する画像に対して前記反射率の差による影響を補正する補正部と、
を有することを特徴とする電子機器。 - 請求項4に記載の電子機器において、
前記投影面の前記反射率の差による影響は、前記反射率が所定値より低い領域が、前記反射率が所定値より低い領域以外の領域よりも暗いことであることを特徴とする電子機器。 - 請求項4に記載の電子機器において、
前記反射率の差による前記投影面への影響は、前記投影面の前記反射率が所定値より低い領域がシミとして見えることであることを特徴とする電子機器。
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