JP4932595B2 - 表面疵検査装置 - Google Patents
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Description
2 ロール
10 照明装置
11 光源
12 光ファイバー束
13 光ファイバー束入力端
14 光ファイバー束出力端
20 2次元撮像装置
21 受光部
22 CMOS撮像素子
30 疵画像処理装置
31 オペレータ疵表示装置
40 PLG
L1 帯状光
LA 面状光照射領域
Lm、Ln 面状光照射領域内の撮像位置(部分領域)
M 表面疵検査装置
Claims (1)
- 移動する帯状体の表面に光を照射し、該表面からの反射光を2次元撮像装置で撮像して前記帯状体の表面の疵を検査する表面疵検査装置において、
前記帯状体の面状光照射領域に所定の垂直方向入射角度αで面状光を照射する照明装置と、
該面状光照射領域を挟んで該照明装置と対向配置されて、前記帯状体の移動に同期して前記面状光照射領域の内の複数の部分領域Lnを異なる複数の垂直方向反射角度βnで撮像して、複数の列単位画像を出力する2次元撮像装置と、
前記2次元撮像装置の撮像を制御し、且つ、該複数の列単位画像に基づいて、前記複数の垂直方向反射角度βn毎に前記複数の列単位画像のフレーム画像を構成する制御装置と、
該垂直方向反射角度βn毎のフレーム画像を画像処理して前記帯状体の表面の疵を検出する疵画像処理装置とからなり、
前記2次元撮像装置は、複数のCMOS撮像素子からなる2次元の画素配列を有する2次元CMOSカメラを備え、該画素配列から前記制御装置の指示により任意の画素列の前記列単位画像を出力するものであり、
前記制御装置は、予め設定した前記複数の垂直方向反射角度βnそれぞれに対応する前記複数の部分領域Lnを、1回の撮像動作中に撮像するために、前記2次元CMOSカメラの複数の画素列を設定して2次元撮像装置に指示し、
さらに、該2次元撮像装置から入力した部分領域Lnそれぞれの列単位画像を配列及び合成して、前記面状光照射領域を前記複数の垂直方向反射角度βnそれぞれで撮像したフレーム画像を導出することを特徴とする表面疵検査装置。
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