JP4689308B2 - 露光装置およびデバイス製造方法 - Google Patents
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Description
前記基板の露光が行われるチャンバと、
前記チャンバを通して気体を循環させ且つ該気体の温度を調整する気体温度調整系統と、
工場から供給された第1の水の温度を調整する水温度調整系統と、
を有し、
前記水温度調整系統は、前記第1の水より低温な第2の水を前記工場から供給されて前記第2の水との熱交換により前記第1の水を冷却し、その冷却された前記第1の水を、前記気体温度調整系統により前記チャンバから排出された前記気体との熱交換により加熱し、その加熱された前記第1の水を前記チャンバ内の熱源に供給して該熱源を冷却する、
ことを特徴とする露光装置である。
本発明における「工場から供給された水8」は、従来例である図2の「冷却水31」に相当し、いずれも露光装置全体の冷媒である。本発明における「工場から供給された冷却水9」は本発明の特徴の1であり、従来例にはない。
Claims (6)
- 基板を露光する露光装置であって、
前記基板の露光が行われるチャンバと、
前記チャンバを通して気体を循環させ且つ該気体の温度を調整する気体温度調整系統と、
工場から供給された第1の水の温度を調整する水温度調整系統と、
を有し、
前記水温度調整系統は、前記第1の水より低温な第2の水を前記工場から供給されて前記第2の水との熱交換により前記第1の水を冷却し、その冷却された前記第1の水を、前記気体温度調整系統により前記チャンバから排出された前記気体との熱交換により加熱し、その加熱された前記第1の水を前記チャンバ内の熱源に供給して該熱源を冷却する、
ことを特徴とする露光装置。 - 前記気体温度調整系統は、前記熱交換を行う熱交換経路と、前記経路をバイパスするバイパス経路と、前記熱交換経路に設けられた第1の弁と、前記バイパス経路に設けられた第2の弁とを有することを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記水温度調整系統は、前記第1の水の温度を検出する温度検出部と、前記温度検出部によって検出された温度に基づいて前記第1の弁および前記第2の弁を制御する制御部とを有することを特徴とする請求項2に記載の露光装置。
- 前記気体温度調整系統は、前記気体の温度を検出する気体温度検出部と、前記気体の温度を調整するための加温器と、前記気体温度検出部によって検出された温度に基づいて前記加温器を制御する気体温度制御部とをさらに有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の露光装置。
- 位置決めステージ駆動手段を前記熱源として有することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の露光装置。
- 請求項1〜5のいずれか1項に記載の露光装置を用いて基板を露光する工程と、
前記工程で露光された基板を現像する工程と、
を含むことを特徴とするデバイス製造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005078840A JP4689308B2 (ja) | 2005-03-18 | 2005-03-18 | 露光装置およびデバイス製造方法 |
US11/373,172 US7671964B2 (en) | 2005-03-18 | 2006-03-13 | Exposure apparatus, and device manufacturing method |
US12/101,314 US7652748B2 (en) | 2005-03-18 | 2008-04-11 | Exposure apparatus and device manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005078840A JP4689308B2 (ja) | 2005-03-18 | 2005-03-18 | 露光装置およびデバイス製造方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006261497A JP2006261497A (ja) | 2006-09-28 |
JP2006261497A5 JP2006261497A5 (ja) | 2008-05-01 |
JP4689308B2 true JP4689308B2 (ja) | 2011-05-25 |
Family
ID=37009936
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005078840A Expired - Fee Related JP4689308B2 (ja) | 2005-03-18 | 2005-03-18 | 露光装置およびデバイス製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7671964B2 (ja) |
JP (1) | JP4689308B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4689308B2 (ja) * | 2005-03-18 | 2011-05-25 | キヤノン株式会社 | 露光装置およびデバイス製造方法 |
WO2010045468A2 (en) * | 2008-10-16 | 2010-04-22 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for recovering heat from processing systems |
JP4760934B2 (ja) * | 2009-03-12 | 2011-08-31 | パナソニック株式会社 | ガスレーザ発振装置とガスレーザ加工機 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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EP0363098B1 (en) * | 1988-10-03 | 1995-04-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Temperature controlling device |
JPH09266167A (ja) * | 1996-03-28 | 1997-10-07 | Nikon Corp | 環境制御チヤンバ |
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JP3768825B2 (ja) | 2001-03-29 | 2006-04-19 | キヤノン株式会社 | 電磁アクチュエータ、リニアモータ、露光装置、半導体デバイス製造方法、半導体製造工場および露光装置の保守方法 |
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JP2004247688A (ja) | 2003-02-17 | 2004-09-02 | Canon Inc | 冷媒供給装置 |
JP4689308B2 (ja) | 2005-03-18 | 2011-05-25 | キヤノン株式会社 | 露光装置およびデバイス製造方法 |
-
2005
- 2005-03-18 JP JP2005078840A patent/JP4689308B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-03-13 US US11/373,172 patent/US7671964B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-04-11 US US12/101,314 patent/US7652748B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006261497A (ja) | 2006-09-28 |
US20060209275A1 (en) | 2006-09-21 |
US7652748B2 (en) | 2010-01-26 |
US7671964B2 (en) | 2010-03-02 |
US20080246930A1 (en) | 2008-10-09 |
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