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JP4560247B2 - Positive photosensitive resin composition - Google Patents

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JP4560247B2
JP4560247B2 JP2001233272A JP2001233272A JP4560247B2 JP 4560247 B2 JP4560247 B2 JP 4560247B2 JP 2001233272 A JP2001233272 A JP 2001233272A JP 2001233272 A JP2001233272 A JP 2001233272A JP 4560247 B2 JP4560247 B2 JP 4560247B2
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正志 木村
雅人 西川
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Asahi Kasei Corp
AZ Electronic Materials Japan Co Ltd
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AZ Electronic Materials Japan Co Ltd
Asahi Kasei E Materials Corp
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、優れた光感度と解像性を有するポジ型感光性樹脂組成物およびそれを用いた高耐熱性レリーフパターンの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から、半導体素子の表面保護膜、層間絶縁膜には、優れた耐熱性と電気特性、機械特性などを併せ持つポリイミド樹脂が用いられている。このポリイミド樹脂は、一般に感光性ポリイミド前駆体組成物の形で供され、これを塗布、活性光線によるパターニング、現像、熱イミド化処理等を施すことによって容易に形成させることが出来、従来の非感光型ポリイミドに比べて大幅な工程短縮が可能となるという特徴を有している。
ところが、その現像工程においては、現像液としてケトン系、ピロリドン系などの大量の有機溶剤を用いる必要があり、安全性および近年の環境問題の高まりなどから、脱有機溶剤対策が求められてきている。これを受け、最近になって、フォトレジストと同様に、希薄アルカリ水溶液で現像可能な耐熱性感光性樹脂前駆体の提案が各種なされている。
【0003】
中でも、水性アルカリ可溶性のポリヒドロキシアミド、例えばポリベンズオキサゾール(PBO)前駆体を、ナフトキノンジアジド(NQD)などの光活性成分(PAC)と混合して用いる方法が、近年注目されている。(特公平1−46862号公報、特開昭63―96162号公報など)
これらはポジ型のレリーフパターン形成が容易であり、現像性、保存安定性も良好で、ポリイミドと同等の熱硬化膜特性を有しているため、有機溶剤現像型ポリイミド前駆体の有望な代替材料として注目されている。他にも、フェノール性水酸基を主鎖に導入したポリマーとPACの組み合わせ(特開平11−106651号公報など)や、側鎖にフェノール系水酸基を導入したポリマーとPACとの組み合わせ(特許第2890213号公報など)が提案されている。
【0004】
しかしながら、これまでに開示されている、あるいは開示されている方法によって得られる高耐熱性感光性アルカリ溶解システムには、未だ問題点も多い。元来、NQDを用いた感光性樹脂組成物の場合、アルカリ可溶性ポリマーにNQDを添加することにより、組成物のアルカリ溶解性を低下させる(溶解抑止)能力が発現し、未露光部の現像液耐性が生じる。一方露光部は、NQDがインデンカルボン酸に変換され、溶解抑止が解けて現像液に溶解するようになる。
この露光部、未露光部のアルカリ溶解性の差を利用してパターニングを行うわけであるが、高感度でかつ高残膜率(高コントラスト)のパターニング性能を得るには、両者の溶解性の差を充分に取ることが出来るPACの選定が重要となる。
すなわち、PACの添加によりアルカリ溶解性が極端に低下し、未露光部では充分なアルカリ現像液耐性を持ち、一方露光部では、僅かな光によっても効率よく分解し、充分なアルカリ溶解性が発現する、高感度なPACを用いなければならない。
【0005】
また、これを現像プロセスにより改良すべく、アルカリ現像液として従来広く用いられている、2.38%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH)水溶液を、希釈して用いる方法もあるが、この場合、別途専用の現像液や専用の供給ラインを用意する必要があり、合理的とは言えない。
以上の問題を解決するするために、これまでも種々のナフトキノンジアジド系PACが検討されてきた。例えば、従来の微細加工用フォトレジストにおいて広く用いられてきた、ヒドロキシベンゾフェノン系やビスフェノール系化合物をNQD化したPACを用いる方法が提案されている。(特開昭64−6947号公報、特開平3−20743号公報など)
しかし、これらのPACでは、本発明に用いられるアルカリ可溶性ポリアミドに適用した場合、組成物のアルカリ溶解抑止能が非常に弱いため、コントラストが殆ど取れず、より少ない露光量で得られるパターンの膜厚は極端に低いものとなり、実用に耐えない。
【0006】
更に、これを改良するため、PACにおけるNQDの導入率を高めたり、PACの母核フェノール類の疎水性を高める目的で、嵩高い基を有するフェノール類を母核として用いる、などの検討が行われている。(特開平9−302221号公報、特開平9−321038号公報、特開平8−123034号公報)
これらのPACでは、確かに前記に比してコントラストは若干改善されるものの、光感度や解像度などのパターニング性能的には依然不充分である。これは、初期膜厚が10ミクロンを越える場合に特に顕著で、生産性を重視する半導体製造プロセスにとって、決して好ましいことではない。
このような厚膜条件下においても、未露光部の現像液耐性を高いレベルに保ったまま、短時間の露光によっても充分なアルカリ溶解性を実現しうる、高感度なPACが望まれているが、これまで述べてきたように、従来提案されているPACでは、これらの課題を解決するに充分な性能が得られていないのが現状である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、初期膜厚が10ミクロンを越える厚膜の場合においても高感度、すなわち低露光量域でのパターニングにおいても現像後のパターン膜減りが小さく、高コントラストであり、かつ優れた解像度を示し、更に汎用の2.38%TMAH水溶液によっても現像可能なポジ型感光性樹脂組成物およびそれを用いた高耐熱性レリーフパターンの製造方法を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、PACに着目し、2.38%TMAH水溶液での現像が可能であり、厚膜条件下においても高感度かつ高解像度のパターニング性能を発現し得る組成を開発すべく鋭意検討を行った。その結果、特定の構造を有するPACを用いると、前記特性を満足し得ることを見出し、本発明を完成するに至った。
【0009】
すなわち本発明は、(a)下記一般式(1)で示される繰り返し単位を有するポリアミド100重量部と、
【化5】

Figure 0004560247
(式中、X1 は少なくとも2個以上の炭素原子を有する2〜4価の有機基、Y1は少なくとも2個以上の炭素原子を有する2〜6価の有機基、p、qは0または1〜4の整数、R1 は水素原子または炭素数1〜20の有機基であり、mは0または1〜2の整数、nは2〜1000の整数である。ただし、m、p、qが同時に0であることはなく、かつp,qともにゼロの場合は、R はフェノール性水酸基を有する基である。)
【0010】
(b)下記一般式(2)で表される感光性ジアゾキノン化合物1〜100重量部を、必須成分とするポジ型感光性樹脂組成物である。
【化6】
Figure 0004560247
(式中、R2 〜R8 は1価の有機基、r、s、t、u、v は0または1〜3の整数である。また、Q1 〜Q4 のうち、少なくとも1個は下記に示される基であり、残りは水素原子である。)
【化7】
Figure 0004560247
【0011】
また本発明は、上記ポジ型感光性樹脂組成物を層またはフィルムの形で基板上に形成し、マスクを介して化学線で露光するか、または光線、電子線またはイオン線を直接照射した後、露光部または照射部を溶出または除去し、次いで得られたレリーフパターンを加熱硬化させることによって得られる、高耐熱性レリーフパターンの製造方法に関する発明も提供する。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を詳細に説明する。
本発明のポリアミドは、上記一般式(1)で示され、X1 (OH)pの構造を有するジアミンと、Y1 (OH)q(COOR1 )mの構造を有するジカルボン酸とからなる。このポリアミドを300〜400℃で加熱すると脱水閉環し、ポリイミドもしくはポリベンズオキサゾールという耐熱性樹脂に変換される。
【0013】
上記X1 (OH)pの構造を有するジアミンとしては、芳香族ジアミン、シリコンジアミン、ヒドロキシジアミンなどが挙げられる。このうち芳香族ジアミンとしては、例えば、m−フェニレンジアミン、p−フェニレンジアミン、2,4−トリレンジアミン、3,3’−ジアミノジフェニルエーテル、3,4’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、3,3’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、3,4’−ジアミノジフェニルスルホン、3,3’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルスルフィド、3,3’−ジアミノジフェニルケトン、4,4’−ジアミノジフェニルケトン、3,4’−ジアミノジフェニルケトン、2,2’−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2,2’−ビス(4−アミノフェニル)ヘキサフルオロプロパン、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、4−メチルー2,4−ビス(4−アミノフェニル)−1−ペンテン、4−メチルー2,4−ビス(4−アミノフェニル)−2−ペンテン、1,4−ビス(α、α―ジメチルー4−アミノベンジル)ベンゼン、イミノ−ジ−p−フェニレンジアミン、1,5−ジアミノナフタレン、2,6−ジアミノナフタレン、4−メチル−2,4−ビス(4−アミノフェニル)ペンタン、5(または6)−アミノー1−(4−アミノフェニル)−1,3,3−トリメチルインダン、ビス(p−アミノフェニル)ホスフィンオキシド、4,4’−ジアミノアゾベンゼン、4,4’−ジアミノジフェニル尿素、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、2,2−ビス[ 4−(4−アミノフェノキシ)フェニル] プロパン、2,2−ビス[ 4−(4−アミノフェノキシ)フェニル] ヘキサフルオロプロパン、2,2ビス[ 4−(3―アミノフェノキシ)フェニル] ベンゾフェノン、4,4’―ビス(4−アミノフェノキシ)ジフェニルスルホン、4,4’―ビス[ 4−(α、α―ジメチル−4−アミノベンジル)フェノキシ] ベンゾフェノン、4,4’―ビス[ 4−(α、α―ジメチル−4−アミノベンジル)フェノキシ] ジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノビフェニル、4,4’―ジアミノベンゾフェノン、フェニルインダンジアミン、3,3’−ジメトキシ−4,4' −ジアミノビフェニル、3,3’−ジメチル−4,4’−ジアミノビフェニル、o−トルイジンスルホン、2,2−ビス(4−アミノフェノキシフェニル)プロパン、ビス(4−アミノフェノキシフェニル)スルホン、ビス(4−アミノフェノキシフェニル)スルフィド、1,4−(4−アミノフェノキシフェニル)ベンゼン、1,3−(4−アミノフェノキシフェニル)ベンゼン、9,9−ビス(4−アミノフェニル)アントラセン、9,9−ビス(4−アミノフェニル)フルオレン、4,4’−ジ−(3−アミノフェノキシ)ジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノベンズアニリド等、およびこれら芳香族ジアミンの芳香核の水素原子が、塩素原子、フッ素原子、臭素原子、メチル基、メトキシ基、シアノ基、フェニル基からなる群より選ばれた少なくとも一種の置換基によって置換された化合物が挙げられる。
【0014】
また基材との接着性を高めるためにシリコンジアミンを選択することができ、この例としてはビス(4−アミノフェニル)ジメチルシラン、ビス(4−アミノフェニル)テトラメチルシロキサンビス(p−アミノフェニル)テトラメチルジシロキサン、ビス(γ―アミノプロピル)テトラメチルジシロキサン、1,4−ビス(γ―アミノプロピルジメチルシリル)ベンゼン、ビス(4−アミノブチル)テトラメチルジシロキサン、ビス(γ―アミノプロピル)テトラフェニルジシロキサン等が挙げられる。
【0015】
またポリマーのアルカリ溶解性を高める為には、ヒドロキシ基を有するジアミンを用いることが好ましく、例えばX1 が、下記式(4)のいずれか
【化8】
Figure 0004560247
(式中、A:−CH2 −、−O−、−S−、−SO2 −、−CO−、−NHCO−、−C(CF3 2 −)で示されるビスアミノフェノール化合物等が挙げられるがこれらに限定されるものではない。このうち特に好ましい例としては、X1 が下記の
【化9】
Figure 0004560247
から選ばれる基である。
【0016】
上記一般式(1)のY1 (OH)q(COOR1 )mとしては、下記の
【化10】
Figure 0004560247
(式中、Aは−CH2 −、−O−、−S−、−SO2 −、−CO−、−NHCO−、−C(CF3 2 −)等から選ばれる基や、下記の
【化11】
Figure 0004560247
(式中、R1 は上記一般式(1)のR1 と同じ)で示される基、さらには下記の
【化12】
Figure 0004560247
(式中、R1 は上記一般式(1)のR1 と同じ、X3 は−CH2 −、−O−、−S−、−SO2 −、−CO−、−NHCO−、−C(CF3 2 −、単結合、および以下で示される基)から選ばれる基を挙げることができる。
【0017】
【化13】
Figure 0004560247
(式中、X4 は以下の中から選ばれる基)
【化14】
Figure 0004560247
【0018】
上記一般式(1)において、R1 は水素、または炭素数1〜20までの有機基を表すが、R1 が水素の場合、ポリマーのアルカリ溶解性は向上するものの、得られる感光性組成物の安定性やPACとの溶解抑止能が低下するため、全てのR1 のうち50%以下であることが好ましい。またR1 が有機基の場合、得られる感光性組成物の安定性やPACとの溶解抑止能のが向上するので好ましいが、アルカリ溶解性が低下する。その為、有機基としてはフェノール性水酸基を有する基が好ましく、特に上記一般式(1)においてp、q共に0の場合は、必須である。フェノール性水酸基を持つ好ましい有機基の例としては、3−ヒドロキシベンジル基、3,5−ジヒドロキシベンジル基等を挙げることができる。
【0019】
本発明に用いられるポリアミドとしては特に、優れたアルカリ溶解性とそれに基く厚膜下での優れたパターニング特性の点において、下記一般式(3)で示される繰返し単位を有する構造が特に好ましい。
【化15】
Figure 0004560247
(式中、X2 は上記式(4)から選ばれる基であり、Y2 は上記Y1 と同じである。)このうち、Y2 としては特に、下記の
【化16】
Figure 0004560247
から選ばれる基が好ましいものとして挙げられる。
【0020】
上記一般式(1)、又は(3)で示される繰り返し単位を有するポリアミドにおいて、その末端基を特定の有機基で封止することも本発明の範囲に含まれる。
このような封止基としては、例えば特開平5−197153号公報に記載されているような不飽和結合を有する基が挙げられ、これらで封止した場合、加熱硬化後の塗膜の機械物性(特に伸度)や、レリーフパターン形状が良好となることが期待される。このような封止基のうちの好適例としては、以下のものが挙げられる。
【化17】
Figure 0004560247
【0021】
本発明のポジ型感光性樹脂組成物においては、下記一般式(2)で表される感光性ジアゾキノン化合物(PAC)を用いることが重要である。
【化18】
Figure 0004560247
(式中、R2 〜R8 は1価の有機基、r、s、t、u、v は0または1〜3の整数である。また、Q1 〜Q4 のうち、少なくとも1個は下記に示される基であり、残りは水素原子である。)
【化19】
Figure 0004560247
【0022】
本発明者らの検討の結果、上記一般式(2)におけるα位炭素が、本発明の如く4級炭素である場合が、特にPACとして有用であり、アルカリ可溶性ポリアミドと当該PACとを含有してなるポジ型感光性樹脂組成物が、優れた感度、解像度特性を示すことを初めて見出したのである。
上記一般式(2)のうち、R2 〜R8 はそれぞれ独立に1価の有機基であるが、中でもメチル基、エチル基、イソプロピル基、tert−ブチル基、シクロヘキシル基等が好ましい。
【0023】
上記一般式(2)で示されるPACとして、具体的には、下記に示される化合物を例示することができるが、これらに限定されない。
【化20】
Figure 0004560247
【0024】
【化21】
Figure 0004560247
これら本発明で用いられるPACは、上記一般式(2)のQ1 〜Q4 が、全て水素原子であるフェノール系化合物を原料として、その水酸基をキノンジアジドスルホン酸エステル化することにより、製造することが出来る。
【0025】
キノンジアジドスルホン酸エステル化に当たっては、1,2−ナフトキノンジアジド構造を有する各種のスルホン酸誘導体を用いることが出来るが、好ましくは1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニルハライドもしくは1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルハライドが用いられる。スルホニルハライド部分を構成するハロゲン原子としては、塩素原子や臭素原子があるが、通常は塩素原子であることが好ましく、従ってエステル化剤としては、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニルクロライドもしくは1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロライドが好ましい。また、この際、エステル化剤として、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニルハライドと1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルハライドを混合して用いることもできる。
【0026】
エステル化反応において、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニルハライドおよび/または1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルハライドは、原料のフェノール系化合物に対して、通常1.2〜4.0倍モルで用いられる。
この仕込み比だと、スルホニルハライドの分解失活が全く起こらないとすると、スルホン酸エステル化率が30〜100%となるが、本発明者らの検討の結果、PACとしての溶解抑止/溶解促進の効率を考慮すると、スルホン酸エステル化率は70〜100%であることが好ましいことが明らかになった。よって、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニルハライドおよび/または1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルハライドは、原料のフェノール系化合物に対して、2.8〜4.0倍モルで用いるのがより好ましい。
【0027】
この反応は、通常、脱ハロゲン化水素剤の存在下で行われる。脱ハロゲン化水素剤としては、一般にハロゲン化水素と塩を形成しうる塩基性の化合物、例えば、炭酸ナトリウム、炭酸水素ナトリウムなどの無機塩基類、エチルアミン、エタノールアミン、ジエチルアミン、ジエタノールアミン、トリエチルアミン、トリエタノールアミン、N,N−ジメチルアニリン、N,N−ジエチルアニリン、ピリジンなどのアミン類などが挙げられる。
脱ハロゲン化水素剤は、単独、もしくは数種を混合して用いることができ、数種を段階的に添加して用いてもよい。脱ハロゲン化水素剤の使用量は、全体で、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニルハライドおよび/または1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルハライドに対して、1.05〜1.4倍モルで用いるのが好ましい。
【0028】
エステル化反応は、通常、溶媒中で行われる。反応溶媒としては、スルホニルハライドの分解失活を抑制するためにも、ジオキソラン、1,4−ジオキサン、テトラヒドロフラン、ジエチルエーテルなどのエーテル類、エチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテルなどのグライム類、ガンマブチロラクトン、デルタラクトンなどのラクトン類、アセトン、メチルエチルケトンなどの脂肪族ケトン類を用いるのが好ましい。
反応溶媒は、用いるフェノール系化合物と1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニルハライドおよび/または1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルハライドの合計量に対して、4〜6倍重量で用いられる。
【0029】
このエステル化反応は、常温常圧下で容易に進行するが、反応に際しては若干の発熱を伴う。反応系が強塩基の存在下で50℃を越えるような高温になると、キノンジアジド部位の分解が懸念されるため、実際には、反応効率との兼ね合いで、反応温度を15〜35℃の範囲に制御することが重要である。
反応終了後、過剰に存在する塩基性化合物を中和する目的で、酢酸や塩酸、硝酸などを、中和量の2〜3倍モル投入し、析出する固形分を濾別した後、濾液をその5〜6倍重量の希薄酸性水溶液、例えば0.5〜1重量%濃度の塩酸水溶液に、その撹拌下で滴下投入することにより、エステル体を粉粒状に析出させることが出来る。これを濾別、水洗、乾燥させることにより、目的の感光性ジアゾキノン化合物(PAC)の粉体が得られる。
【0030】
このエステル化反応においては、用いる1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニルハライドおよび/または1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルハライドのモル比にもよるが、通常は上記一般式(2)におけるQ1 〜Q4 のいづれか一つがスルホニルエステル化されたもの(モノエステル)、いづれか二つがスルホニルエステル化されたもの(ジエステル)、いづれか三つがスルホニルエステル化されたもの(トリエステル)、四つ全てがスルホニルエステル化されたもの(テトラエステル)のうち、2種以上の混合物として得られるが、通常は混合物のままでPACとして用いることができる。
使用にあたっては単独でも2種類以上混合して用いても構わない。(a)ポリアミドに対する(b)感光性ジアゾキノン化合物の配合量は、(a)ポリアミド100重量部に対し、(b)感光性ジアゾキノン化合物1〜100重量部であり、(b)感光性ジアゾキノン化合物の配合量が1重量部未満だと樹脂の光パターニング性が不良となり、逆に100重量部を超えると加熱硬化後形成されたフィルムの引張り伸び率が著しく低下する。
【0031】
本発明のポジ型感光性樹脂組成物には、主に現像性を改良するために必要に応じて下記のようなフェノール化合物を添加することができる。
【化22】
Figure 0004560247
【0032】
また、本発明のポジ型感光性樹脂組成物はレベリング剤や密着性を高めるためにシランカップリング剤などの添加剤を加えることも可能である。
本発明においては、これらの成分を溶剤に溶解し、ワニス状にして使用する。
溶剤としては、N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトン、N,N−ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールジブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸ブチル、メチル−1,3−ブチレングリコールアセテート、1,3−ブチレングリコール−3−モノメチルエーテル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、メチル−3−メトキシプロピオネートなど単独または混合して使用する。
【0033】
本発明の感光性樹脂組成物の使用方法は、まず該組成物を適当な支持体、例えばシリコンウエハー、セラミック、アルミ基板などに塗布する。塗布方法は、スピンナーを用いた回転塗布、スプレーコーターを用いた噴霧塗布、浸漬、印刷、ロールコーティングなどで行う。
次に、60〜130℃でプリベークして塗膜を乾燥後、所望のパターン形状に化学線を照射する。化学線としては、X線、電子線、紫外線、可視光線などが使用できるが、200〜500nmの波長のものが好ましい。
【0034】
次に照射部を現像液で溶解除去することによりレリーフパターンを得る。現像液としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア水などの無機アルカリ類、エチルアミン、n−プロピルアミンなどの第一アミン類、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミンなどの第二アミン類、トリエチルアミン、メチルジエチルアミンなどの第三アミン類、ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミンなどのアルコールアミン類、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシドなどの第四級アンモニウム塩など、アルカリ類の水溶液、及びこれにメタノール、エタノールのようなアルコール類などの水溶性有機溶媒や界面活性剤を適当量添加した水溶液を好適に使用することができる。
【0035】
現像方法としては、スプレー、パドル、浸漬、超音波などの方式が可能である。次に、現像によって形成したレリーフパターンをリンスする。リンス液としては、蒸留水を使用する。次に加熱処理を行い、ポリマー骨格構造をイミド化もしくはオキサゾール化させ、耐熱性に優れた最終レリーフパターンを得る。
本発明による感光性樹脂組成物は、半導体用途のみならず、多層回路の層間絶縁膜、フレキシブル銅張板のカバーコート、ソルダーレジスト膜や液晶配向膜などとしても有用である。
【0036】
本発明を実施例に基づいて説明する。
【実施例1】
<ポリアミドA−1の合成>
容量3Lのセパラブルフラスコに、2、2−ビス(3−アミノ−4ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン183.1重量部(0.5モル)、N,N−ジメチルアセトアミド(DMAC)550重量部、ピリジン63.3重量部(0.8モル)を加え撹拌溶解した。これに、4,4' −ジフェニルエーテルジカルボニルクロリド118.1重量部(0.4モル)をジエチレングリコールジメチルエーテル360重量部に溶解したものを水冷しながら加え、その後室温で2時間反応させた。次に無水フタル酸59.2重量部(0.4モル)およびピリジン31.6重量部(0.4モル)を反応液に加え、さらに室温で12時間反応させることにより、末端を無水フタル酸で封止したポリマーを合成した。その後、上記反応液を8Lの水に高速撹拌下で滴下し、ポリマーを分散析出させ、これを回収し適宜水洗、脱水の後に真空乾燥を行い、目的のポリアミド(A−1)を得た。
【0037】
GPC分析(溶離液テトラヒドロフラン、流速1.0ml/分、カラムSHODEX805、804、803各1本、カラム温度40℃、RI検出器)の結果、ポリスチレン換算重量平均分子量Mwは9800、分子量分布の分散度dは1.85であった。
また、更にポリマーの精製が必要な場合は、以下の方法にて実施することが可能である。すなわち、上記で得られたポリマーをガンマブチロラクトン(GBL)に再溶解した後、これを陽イオン交換樹脂および陰イオン交換樹脂にて処理し、それにより得られた溶液をイオン交換水中に投入後、析出したポリマーを濾別、水洗、真空乾燥することにより精製されたポリマーを得ることができる。
【0038】
<感光性ジアゾキノン化合物Q−1の合成>
容量2000mlの三つ首フラスコに、原料であるフェノール系化合物として下記の化合物を50.26重量部(0.10モル)、
【化23】
Figure 0004560247
1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニルクロライドを50.3重量部(0.32モル、キノンジアジドスルホニルエステル化率90モル%相当)、テトラヒドロフランを750重量部加え、20℃で撹拌溶解した。これに、トリエチルアミン43.71重量部(0.432モル)をテトラヒドロフラン219重量部で希釈したものを、30分かけて一定速度で滴下した。この際、反応液は氷水浴などを用いて20〜30℃の範囲で温度制御した。滴下終了後、更に30分間、20℃で撹拌放置した後、36重量%濃度の塩酸水溶液19.7重量部を一気に投入し、次いで反応液を氷水浴で冷却し、析出した固形分を吸引濾別した。
【0039】
この際得られた濾液を、0.5重量%濃度の塩酸水溶液10リットルに、その撹拌下で1時間かけて滴下し、目的物を析出させ、吸引濾別して回収した。得られたケーク状回収物を、再度イオン交換水5リットルに分散させ、撹拌、洗浄、濾別回収し、この水洗操作を3回繰り返した。最後に得られたケーク状物を、40℃で24時間真空乾燥し、目的の感光性ジアゾキノン化合物Q−1を得た。
【0040】
<感光性ジアゾキノン化合物Q−1の同定>
上記で得られた感光性ジアゾキノン化合物Q−1を、逆相高速液体クロマトグラフィーを用いて分析した。分析条件を以下に記す。
カラム:関東化学製マイティーシル RP−18 GP250−4.6(5μm)
溶離液:アセトニトリル/水=8/2(v/v%)
流速:1.0ml/分
検出器:日本分光製UV−2075分光検出器、検出波長230nm
試料濃度:アセトニトリル中、0.005重量%
その結果、以下の6成分が検出された。
ピーク1.溶離時間2.164分 クロマトチャート面積比0.125%
ピ−ク2.溶離時間4.049分 クロマトチャート面積比0.750%
ピ−ク3.溶離時間6.675分 クロマトチャート面積比3.366%
ピ−ク4.溶離時間6.954分 クロマトチャート面積比3.472%
ピ−ク5.溶離時間13.306分 クロマトチャート面積比28.244%
ピ−ク6.溶離時間26.707分 クロマトチャート面積比64.043%
【0041】
ピーク1は、原料のフェノール系化合物の未反応残存分である。
ピーク2は、上記一般式(2)のQ1 〜Q4 のいづれか一つがスルホニルエステル化されたもの(モノエステル)である。
ピ−ク3および4は、上記一般式(2)のQ1 〜Q4 のうち、いづれか二つがスルホニルエステル化されたもの(ジエステル)であり、2通りある置換形態が近接して検出されている。
ピーク5は、上記一般式(2)のQ1 〜Q4 のうち、いづれか三つがスルホニルエステル化されたもの(トリエステル)である。
ピーク6は、上記一般式(2)のQ1 〜Q4 の、四つ全てがスルホニルエステル化されたもの(テトラエステル)である。
【0042】
以上の各ピークの同定結果(4つの水酸基のうちの何個がスルホニルエステル化されているか)およびそのピーク面積比より、全体のスルホニルエステル化率の概算値を算出すると、
((0.750 ×1)+(3.366 ×2)+(3.472 ×2)+(28.244×3)+(64.043×4)) /(100×4)=0.888
と、およそ88.8モル%となり、90モル%スルホニルエステル化を想定した仕込みに対して、ほぼ同等のエステル化目的物を得ることが出来た。
【0043】
<ポジ型感光性樹脂組成物の調整>
合成したポリアミド(A−1)100重量部、感光性ジアゾキノン化合物(Q−1)15重量部、p−クミルフェノール10重量部をGBL200重量部に溶解した後、0.2μmのフィルターで濾過しポジ型感光性樹脂組成物を得た。
<感光特性評価>
このポジ型感光性樹脂組成物を、事前にアミノシラン系カップリング剤にて処理したシリコンウェハー上にスピンコーターを用いて塗布した後、130℃のホットプレートで3分間乾燥し、膜厚約16μmの塗膜を得た。この塗膜に、テストパターン付きレチクルを通してi線ステッパー(ニコン製)で、25mJ/cm2 ステップで100〜1000mJ/cm2 の露光を行った。
次にこの露光膜をクラリアントジャパン製AZ−300MIF現像液(2.38%TMAH水溶液)を用いて、現像後残膜率が80%になるように、適宜現像時間を調整したパドル現像を施し、露光部を溶解除去した後、純水で20秒間リンスし、風乾し、評価用レリーフパターンを得た。
【0044】
【実施例2】
実施例1の<感光性ジアゾキノン化合物Q−1の合成>と同様の装置を用い、原料であるフェノール系化合物として、下記の化合物53.07重量部(0.10モル)を用いる以外は、実施例1と同様にしてジアゾキノン化合物Q−2を得た。
【化24】
Figure 0004560247
【0045】
このQ−2について実施例1と同様にして得た概算エステル化率は、89.3モル%となり、90モル%スルホニルエステル化を想定した仕込みに対して、ほぼ同等のエステル化目的物を得ることが出来た。
以下、このQ−2を用いる以外は、実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を調整し、実施例1と同様の操作により、感光特性評価用レリーフパターンを作製した。
【0046】
【実施例3】
実施例1におけるポリアミドの合成において、2、2−ビス(3−アミノ−4ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパンを174.0重量部(0.475モル)に減らし、代りに1、3−ビス(3−アミノプロピル)−1、1、3、3−テトラメチルジシロキサン6.2重量部を加え、末端封止剤として無水フタル酸の代りに5−ノルボルネン−2、3−ジカルボン酸無水物65.6重量部(0.4モル)を用いる以外は、実施例1と同様にしてポリアミドを合成した。
このポリマーを用いる以外は、実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を調整し、実施例1と同様の手法で塗布、露光、現像することにより、評価用レリーフパターンを得た。
【0047】
【実施例4】
乾燥窒素気流下、2、2−ビス(3−アミノ−4ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン293.0重量部(0.8モル)とピリジン253.1重量部(3.2モル)をアセトン2.0Lに溶解させ、−15℃に冷却した。ここにアセトン500mLに溶解させた無水トリメリット酸クロリド370.6重量部(1.76モル)を、反応液の温度が0℃を越えないように滴下した。滴下終了後、0℃で4時間反応させた。この溶液をエバポレータで濃縮後、石油エーテル5Lに投入して、酸無水物(6FA)を得た。この酸無水物(6FA)357.2重量部(0.5モル)、3−ヒドロキシベンジルアルコール136.6重量部(1.1モル)、NMP1.25L、ピリジン87.0重量部(1.1モル)を混合した後、室温で16時間撹拌しエステル化を行った。その後、1−ヒドロキシ−1、2、3、−ベンゾトリアゾール(1.1モル)を加え、氷冷下でジシクロヘキシルカルボジイミド(DCC)227.0重量部(1.1モル)をNMP230重量部に溶解したものを滴下しジカルボン酸誘導体とした。次に、この反応液に4,4’−ジアミノジフェニルエーテル110.1重量部(0.55モル)をNMP0.35Lに溶解したものを加え、室温で3時間撹拌反応させた。その後、5−ノルボルネン−2、3−ジカルボン酸無水物32.8重量部(0.2モル)を加え、さらに室温で4時間反応させた。この反応液を濾過し不溶分を除去した後、水/メタノール=10/1の溶液に投入、沈殿物を濾過により集め減圧乾燥してポリアミドを得た。
このポリマーを用いる以外は、実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を調整し、実施例1と同様の手法で塗布、露光、現像することにより、評価用レリーフパターンを得た。
【0048】
【比較例1】
実施例1の<感光性ジアゾキノン化合物Q−1の合成>と同様の装置を用い、原料であるフェノール系化合物として、下記の化合物47.46重量部(0.10モル)を用いる以外は、実施例1と同様にしてジアゾキノン化合物Q−3を得た。
【化25】
Figure 0004560247
【0049】
このQ−3について実施例1と同様にして得た概算エステル化率は、89.0モル%となり、90モル%スルホニルエステル化を想定した仕込みに対して、ほぼ同等のエステル化目的物を得ることが出来た。
以下、このQ−3を用いる以外は、実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を調整し、実施例1と同様の操作により、感光特性評価用レリーフパターンを作製した。
【0050】
【比較例2】
実施例1の<感光性ジアゾキノン化合物Q−1の合成>と同様の装置を用い、原料であるフェノール系化合物として、下記の化合物42.45重量部(0.10モル)、
【化26】
Figure 0004560247
【0051】
1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニルクロライドを72.54重量部(0.27モル、キノンジアジドスルホニルエステル化率90モル%相当)、アセトンを580重量部加え、20℃で撹拌溶解した。これに、トリエチルアミン32.78重量部(0.324モル)をアセトン164重量部で希釈したものを、30分かけて一定速度で滴下した。この際、反応液は氷水浴などを用いて20〜30℃の範囲で温度制御した。滴下終了後、更に30分間、20℃で撹拌放置した後、36重量%濃度の塩酸水溶液14.8重量部を一気に投入し、以下実施例1と同様にしてジアゾキノン化合物Q−4を得た。
このQ−4について実施例1と同様にして得た概算エステル化率は、88.7モル%となり、90モル%スルホニルエステル化を想定した仕込みに対して、ほぼ同等のエステル化目的物を得ることが出来た。
以下、このQ−4を用いる以外は、実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を調整し、実施例1と同様の操作により、感光特性評価用レリーフパターンを作製した。
【0052】
【比較例3】
実施例1の<感光性ジアゾキノン化合物Q−1の合成>と同様の装置を用い、原料であるフェノール系化合物として、下記の化合物30.64重量部(0.10モル)を用いる以外は、比較例1と同様にしてジアゾキノン化合物Q−5を得た。
【化27】
Figure 0004560247
【0053】
このQ−5について実施例1と同様にして得た概算エステル化率は、89.8モル%となり、90モル%スルホニルエステル化を想定した仕込みに対して、ほぼ同等のエステル化目的物を得ることが出来た。
以下、このQ−5を用いる以外は、実施例1と同様にして感光性樹脂組成物を調整し、実施例1と同様の操作により、感光特性評価用レリーフパターンを作製した。
【0054】
上記実施例、比較例で得られたレリーフパターンの評価結果を表1に示す。
尚、表1中の現像後残膜率(%)、露光感度(mJ/cm2 )、Via hole(μm)は、夫々以下に示す意味である。
(1)現像後残膜率(%)とは、現像後の未露光部膜厚を現像前の膜厚で除した値の百分率であり、現像による未露光部の膜減りの程度を表す指標である。
(2)露光感度(mJ/cm2 )とは、上記現像後残膜率が80%となる現像時間において、塗膜の露光部を完全に溶解除去しうる最低の露光量のことである。
(3)Via hole解像度(μm)とは、上記露光感度のパターンにおける正方形の露光部(Via hole)のうち、現像後に残滓(スカム)などが観察されない、最小の開口寸法である。
【0055】
【表1】
Figure 0004560247
【0056】
表1より、本発明の実施例のように、上記一般式(2)のα位炭素が4級炭素の場合、そうでない場合(比較例1)に較べて、初期膜厚が16ミクロンという厚膜条件にもかかわらず、格別な感度、解像特性の向上が認められ、実用性が高い。
一方、比較例2、3は、従来既知のPACを用いた場合であるが、露光部と未露光部の溶解速度差が小さいため、一定の現像残膜率で比較した場合、感度的に到底本発明の実施例には及ばない。
上記本発明の実施例、比較例で用いたジアゾキノン化合物(Q−1〜Q−5)、および実施例4中の酸無水物6FAの構造は、以下の通り。
【0057】
【化28】
Figure 0004560247
【0058】
【化29】
Figure 0004560247
【0059】
【化30】
Figure 0004560247
【0060】
【化31】
Figure 0004560247
【0061】
【化32】
Figure 0004560247
【0062】
【化33】
Figure 0004560247
【0063】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明は、アルカリ可溶性ポリアミドと特定の構造を有する感光性ジアゾキノン化合物を必須成分とするポジ型感光性樹脂組成物に関するもので、本組成物を用いることにより、汎用の2. 38%TMAH水溶液を現像液として用い、かつ初期膜厚10ミクロンを越える厚膜条件においても、高感度かつ高解像度のパターニング特性を実現しうる、極めて有用な材料を提供するものである。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a positive photosensitive resin composition having excellent photosensitivity and resolution and a method for producing a high heat-resistant relief pattern using the same.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, a polyimide resin having excellent heat resistance, electrical characteristics, mechanical characteristics, and the like has been used for a surface protective film and an interlayer insulating film of a semiconductor element. This polyimide resin is generally provided in the form of a photosensitive polyimide precursor composition, which can be easily formed by coating, patterning with active light, development, thermal imidization treatment, etc. Compared to photosensitive polyimide, the process can be greatly shortened.
However, in the development process, it is necessary to use a large amount of organic solvents such as ketones and pyrrolidones as a developer, and countermeasures for removing organic solvents have been demanded due to safety and the recent increase in environmental problems. . In response to this, recently, various proposals have been made on heat-resistant photosensitive resin precursors that can be developed with dilute alkaline aqueous solutions, as with photoresists.
[0003]
Among them, a method in which an aqueous alkali-soluble polyhydroxyamide, for example, polybenzoxazole (PBO) precursor is used in a mixture with a photoactive component (PAC) such as naphthoquinonediazide (NQD) has recently attracted attention. (Japanese Patent Publication No. 1-468662, Japanese Patent Laid-Open No. 63-96162, etc.)
These are easy to form positive-type relief patterns, have good developability and storage stability, and have thermosetting film properties equivalent to polyimide, so they are promising alternative materials for organic solvent-developed polyimide precursors. It is attracting attention as. In addition, a combination of a polymer in which a phenolic hydroxyl group is introduced into the main chain and PAC (Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-106651) or a combination of a polymer in which a phenolic hydroxyl group is introduced into the side chain and PAC (Japanese Patent No. 2890213). Publication etc.) have been proposed.
[0004]
However, the high heat-resistant photosensitive alkali dissolution system disclosed so far or obtained by the disclosed method still has many problems. Originally, in the case of a photosensitive resin composition using NQD, by adding NQD to an alkali-soluble polymer, the ability to reduce the alkali solubility (dissolution inhibition) of the composition is expressed, and the developer in the unexposed area Resistance develops. On the other hand, in the exposed portion, NQD is converted into indenecarboxylic acid, dissolution inhibition is solved, and dissolution occurs in the developer.
Patterning is performed by utilizing the difference in alkali solubility between the exposed and unexposed areas, but in order to obtain high sensitivity and high residual film patterning performance (high contrast), the solubility of both It is important to select a PAC that can make a sufficient difference.
In other words, the addition of PAC drastically reduces the alkali solubility, and the unexposed area has sufficient alkali developer resistance, while the exposed area is efficiently decomposed by even a small amount of light and exhibits sufficient alkali solubility. A highly sensitive PAC must be used.
[0005]
In addition, in order to improve this by a development process, there is a method of diluting and using a 2.38% tetramethylammonium hydroxide (TMAH) aqueous solution that has been widely used as an alkaline developer. It is not reasonable to have a dedicated developer and a dedicated supply line.
In order to solve the above problems, various naphthoquinonediazide PACs have been studied so far. For example, there has been proposed a method using a PAC obtained by converting a hydroxybenzophenone-based compound or a bisphenol-based compound into NQD, which has been widely used in conventional fine processing photoresists. (JP-A 64-6947, JP-A 3-20743, etc.)
However, in these PACs, when applied to the alkali-soluble polyamide used in the present invention, the alkali dissolution inhibiting ability of the composition is very weak, so that contrast is hardly obtained and the film thickness of the pattern obtained with a smaller exposure amount is obtained. Is extremely low and cannot withstand practical use.
[0006]
In addition, in order to improve this, studies have been made to increase the introduction rate of NQD in PAC and to increase the hydrophobicity of PAC mother phenols, using phenols having bulky groups as mother nucleus. It has been broken. (Japanese Patent Laid-Open Nos. 9-302221, 9-321038, and 8-123034)
In these PACs, the contrast is slightly improved as compared with the above, but the patterning performance such as light sensitivity and resolution is still insufficient. This is particularly remarkable when the initial film thickness exceeds 10 microns, and is not preferable for a semiconductor manufacturing process in which productivity is important.
Even under such thick film conditions, a highly sensitive PAC is desired that can realize sufficient alkali solubility even with a short exposure while keeping the developer resistance of the unexposed area at a high level. However, as described above, the PACs proposed in the past do not provide sufficient performance to solve these problems.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
The present invention has a high sensitivity even when the initial film thickness exceeds 10 microns, that is, the pattern film reduction after development is small even in patterning in a low exposure area, high contrast, and excellent resolution. Furthermore, an object of the present invention is to provide a positive photosensitive resin composition that can be developed even with a general-purpose 2.38% TMAH aqueous solution and a method for producing a high heat-resistant relief pattern using the same.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
The inventors of the present invention have focused on developing a composition capable of developing with 2.38% TMAH aqueous solution and capable of developing high-sensitivity and high-resolution patterning performance even under thick film conditions. Went. As a result, it has been found that the above characteristics can be satisfied when a PAC having a specific structure is used, and the present invention has been completed.
[0009]
That is, the present invention comprises (a) 100 parts by weight of a polyamide having a repeating unit represented by the following general formula (1):
[Chemical formula 5]
Figure 0004560247
Wherein X 1 is a divalent to tetravalent organic group having at least 2 carbon atoms, Y 1 is a divalent to hexavalent organic group having at least 2 carbon atoms, and p and q are 0 or An integer of 1 to 4, R 1 is a hydrogen atom or an organic group having 1 to 20 carbon atoms, m is an integer of 0 or 1 or 2, and n is an integer of 2 to 1000, provided that m, p, q it rather than but simultaneously 0, and p, in the case of q are both zero, R 1 is a group having a phenolic hydroxyl group.)
[0010]
(B) A positive photosensitive resin composition containing 1 to 100 parts by weight of a photosensitive diazoquinone compound represented by the following general formula (2) as an essential component.
[Chemical 6]
Figure 0004560247
(In the formula, R 2 to R 8 are monovalent organic groups, r, s, t, u, v are 0 or an integer of 1 to 3. Moreover, at least one of Q 1 to Q 4 is It is a group shown below, and the remainder is a hydrogen atom.)
[Chemical 7]
Figure 0004560247
[0011]
In the present invention, the positive photosensitive resin composition is formed on a substrate in the form of a layer or film and exposed to actinic radiation through a mask, or directly irradiated with light, electron beam or ion beam. Also provided is an invention relating to a method for producing a highly heat-resistant relief pattern obtained by eluting or removing an exposed portion or an irradiated portion and then heat-curing the obtained relief pattern.
[0012]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be described in detail.
The polyamide of the present invention is represented by the above general formula (1) and comprises a diamine having a structure of X 1 (OH) p and a dicarboxylic acid having a structure of Y 1 (OH) q (COOR 1 ) m. When this polyamide is heated at 300 to 400 ° C., it is dehydrated and closed and converted to a heat-resistant resin called polyimide or polybenzoxazole.
[0013]
Examples of the diamine having the X 1 (OH) p structure include aromatic diamine, silicon diamine, and hydroxydiamine. Among these, examples of the aromatic diamine include m-phenylenediamine, p-phenylenediamine, 2,4-tolylenediamine, 3,3′-diaminodiphenyl ether, 3,4′-diaminodiphenyl ether, and 4,4′-diamino. Diphenyl ether, 3,3′-diaminodiphenylsulfone, 4,4′-diaminodiphenylsulfone, 3,4′-diaminodiphenylsulfone, 3,3′-diaminodiphenylmethane, 4,4′-diaminodiphenylmethane, 3,4′- Diaminodiphenylmethane, 4,4′-diaminodiphenyl sulfide, 3,3′-diaminodiphenyl ketone, 4,4′-diaminodiphenyl ketone, 3,4′-diaminodiphenyl ketone, 2,2′-bis (4-aminophenyl) ) Propane, 2,2'-bis (4-aminophenyl) hexa Fluoropropane, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 4-methyl-2,4-bis ( 4-aminophenyl) -1-pentene, 4-methyl-2,4-bis (4-aminophenyl) -2-pentene, 1,4-bis (α, α-dimethyl-4-aminobenzyl) benzene, imino-di -P-phenylenediamine, 1,5-diaminonaphthalene, 2,6-diaminonaphthalene, 4-methyl-2,4-bis (4-aminophenyl) pentane, 5 (or 6) -amino-1- (4-amino) Phenyl) -1,3,3-trimethylindane, bis (p-aminophenyl) phosphine oxide, 4,4′-diaminoazobenzene, 4,4′-diamino Phenylurea, 4,4′-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl ] Hexafluoropropane, 2,2bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] benzophenone, 4,4'-bis (4-aminophenoxy) diphenylsulfone, 4,4'-bis [4- (α, α -Dimethyl-4-aminobenzyl) phenoxy] benzophenone, 4,4'-bis [4- (α, α-dimethyl-4-aminobenzyl) phenoxy] diphenylsulfone, 4,4'-diaminobiphenyl, 4,4 ' -Diaminobenzophenone, phenylindanediamine, 3,3'-dimethoxy-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminobi Phenyl, o-toluidine sulfone, 2,2-bis (4-aminophenoxyphenyl) propane, bis (4-aminophenoxyphenyl) sulfone, bis (4-aminophenoxyphenyl) sulfide, 1,4- (4-aminophenoxy) Phenyl) benzene, 1,3- (4-aminophenoxyphenyl) benzene, 9,9-bis (4-aminophenyl) anthracene, 9,9-bis (4-aminophenyl) fluorene, 4,4′-di- (3-aminophenoxy) diphenylsulfone, 4,4′-diaminobenzanilide and the like, and the hydrogen atom of the aromatic nucleus of these aromatic diamines are a chlorine atom, a fluorine atom, a bromine atom, a methyl group, a methoxy group, a cyano group, And compounds substituted with at least one substituent selected from the group consisting of phenyl groups. That.
[0014]
Silicon diamine can be selected to enhance adhesion to the substrate. Examples of this are bis (4-aminophenyl) dimethylsilane, bis (4-aminophenyl) tetramethylsiloxane bis (p-aminophenyl). ) Tetramethyldisiloxane, bis (γ-aminopropyl) tetramethyldisiloxane, 1,4-bis (γ-aminopropyldimethylsilyl) benzene, bis (4-aminobutyl) tetramethyldisiloxane, bis (γ-amino) Propyl) tetraphenyldisiloxane and the like.
[0015]
In order to increase the alkali solubility of the polymer, it is preferable to use a diamine having a hydroxy group. For example, X 1 is any one of the following formula (4):
Figure 0004560247
(Wherein, A: —CH 2 —, —O—, —S—, —SO 2 —, —CO—, —NHCO—, —C (CF 3 ) 2 —), etc. Although it is mentioned, it is not limited to these. Among these, as a particularly preferred example, X 1 is the following:
Figure 0004560247
Is a group selected from
[0016]
Y 1 (OH) q (COOR 1 ) m in the general formula (1) is the following:
Figure 0004560247
(Wherein A is a group selected from —CH 2 —, —O—, —S—, —SO 2 —, —CO—, —NHCO—, —C (CF 3 ) 2 —) and the like, Embedded image
Figure 0004560247
(Wherein R 1 is the same as R 1 in the above general formula (1)), and further,
Figure 0004560247
(In the formula, R 1 is the same as R 1 in the general formula (1), X 3 is —CH 2 —, —O—, —S—, —SO 2 —, —CO—, —NHCO—, —C. And a group selected from (CF 3 ) 2 —, a single bond, and a group shown below).
[0017]
Embedded image
Figure 0004560247
(Wherein X 4 is a group selected from the following)
Embedded image
Figure 0004560247
[0018]
In the general formula (1), R 1 represents hydrogen or an organic group having 1 to 20 carbon atoms. When R 1 is hydrogen, the alkali solubility of the polymer is improved, but the resulting photosensitive composition is obtained. Therefore, it is preferable that the total content of R 1 is 50% or less. Moreover, when R < 1 > is an organic group, since stability of the photosensitive composition obtained and the dissolution inhibitory ability with PAC improve, it is preferable, but alkali solubility falls. Therefore, as the organic group, a group having a phenolic hydroxyl group is preferable. In particular, when both p and q are 0 in the general formula (1), it is essential. Examples of preferable organic groups having a phenolic hydroxyl group include 3-hydroxybenzyl group and 3,5-dihydroxybenzyl group.
[0019]
As the polyamide used in the present invention, a structure having a repeating unit represented by the following general formula (3) is particularly preferable in terms of excellent alkali solubility and excellent patterning characteristics under a thick film based thereon.
Embedded image
Figure 0004560247
(In the formula, X 2 is a group selected from the above formula (4), and Y 2 is the same as Y 1 above.) Among these, Y 2 is particularly represented by the following formula:
Figure 0004560247
A group selected from is preferable.
[0020]
In the polyamide having the repeating unit represented by the general formula (1) or (3), it is also included in the scope of the present invention to seal the terminal group with a specific organic group.
Examples of such a sealing group include a group having an unsaturated bond as described in JP-A-5-197153, and when sealed with these, the mechanical properties of the coating film after heat curing (Especially elongation) and the relief pattern shape are expected to be good. The following are mentioned as a suitable example of such a sealing group.
Embedded image
Figure 0004560247
[0021]
In the positive photosensitive resin composition of the present invention, it is important to use a photosensitive diazoquinone compound (PAC) represented by the following general formula (2).
Embedded image
Figure 0004560247
(In the formula, R 2 to R 8 are monovalent organic groups, r, s, t, u, v are 0 or an integer of 1 to 3. Moreover, at least one of Q 1 to Q 4 is It is a group shown below, and the remainder is a hydrogen atom.)
Embedded image
Figure 0004560247
[0022]
As a result of the study by the present inventors, the case where the α-position carbon in the general formula (2) is a quaternary carbon as in the present invention is particularly useful as a PAC, and contains an alkali-soluble polyamide and the PAC. It was found for the first time that the positive photosensitive resin composition obtained showed excellent sensitivity and resolution characteristics.
In the general formula (2), R 2 to R 8 are each independently a monovalent organic group, and among them, a methyl group, an ethyl group, an isopropyl group, a tert-butyl group, a cyclohexyl group, and the like are preferable.
[0023]
Specific examples of the PAC represented by the general formula (2) include, but are not limited to, the compounds shown below.
Embedded image
Figure 0004560247
[0024]
Embedded image
Figure 0004560247
The PAC used in the present invention is produced by converting a hydroxyl group into a quinonediazide sulfonic acid ester from a phenolic compound in which Q 1 to Q 4 in the general formula (2) are all hydrogen atoms. I can do it.
[0025]
In the quinonediazide sulfonate esterification, various sulfonic acid derivatives having a 1,2-naphthoquinonediazide structure can be used, and preferably 1,2-naphthoquinonediazide-4-sulfonyl halide or 1,2-naphthoquinonediazide- 5-sulfonyl halide is used. The halogen atom constituting the sulfonyl halide moiety includes a chlorine atom and a bromine atom, but is usually preferably a chlorine atom. Therefore, as an esterifying agent, 1,2-naphthoquinonediazide-4-sulfonyl chloride or 1 , 2-naphthoquinonediazide-5-sulfonyl chloride. At this time, 1,2-naphthoquinonediazide-4-sulfonyl halide and 1,2-naphthoquinonediazide-5-sulfonyl halide can be mixed and used as the esterifying agent.
[0026]
In the esterification reaction, 1,2-naphthoquinonediazide-4-sulfonyl halide and / or 1,2-naphthoquinonediazide-5-sulfonyl halide is usually 1.2 to 4.0 times the starting phenolic compound. Used in moles.
At this charging ratio, if no decomposition / deactivation of the sulfonyl halide occurs, the sulfonic acid esterification rate becomes 30 to 100%. As a result of the present inventors' investigation, dissolution inhibition / dissolution promotion as PAC is achieved. In view of the efficiency, it has become clear that the sulfonic acid esterification rate is preferably 70 to 100%. Therefore, 1,2-naphthoquinonediazide-4-sulfonyl halide and / or 1,2-naphthoquinonediazide-5-sulfonyl halide is used in a molar amount of 2.8 to 4.0 times that of the starting phenolic compound. Is more preferable.
[0027]
This reaction is usually performed in the presence of a dehydrohalogenating agent. Dehydrohalogenating agents generally include basic compounds capable of forming salts with hydrogen halides, for example, inorganic bases such as sodium carbonate and sodium hydrogen carbonate, ethylamine, ethanolamine, diethylamine, diethanolamine, triethylamine, triethanol. Examples include amines, amines such as N, N-dimethylaniline, N, N-diethylaniline, and pyridine.
The dehydrohalogenating agent can be used singly or in combination of several kinds, and several kinds may be added stepwise. The total amount of dehydrohalogenating agent used is 1.05 to 1.4 times that of 1,2-naphthoquinonediazide-4-sulfonyl halide and / or 1,2-naphthoquinonediazide-5-sulfonyl halide. It is preferred to use in moles.
[0028]
The esterification reaction is usually performed in a solvent. As a reaction solvent, ethers such as dioxolane, 1,4-dioxane, tetrahydrofuran and diethyl ether, glymes such as ethylene glycol dimethyl ether and diethylene glycol dimethyl ether, gamma butyrolactone, and delta are also used as reaction solvents in order to suppress decomposition and deactivation of sulfonyl halides. Lactones such as lactones and aliphatic ketones such as acetone and methyl ethyl ketone are preferably used.
The reaction solvent is used at a weight of 4 to 6 times the total amount of the phenolic compound to be used and 1,2-naphthoquinonediazide-4-sulfonyl halide and / or 1,2-naphthoquinonediazide-5-sulfonyl halide.
[0029]
This esterification reaction proceeds easily under normal temperature and pressure, but is accompanied by a slight exotherm during the reaction. If the reaction system is heated to a high temperature exceeding 50 ° C. in the presence of a strong base, the decomposition of the quinonediazide moiety is concerned. Therefore, in practice, the reaction temperature is in the range of 15 to 35 ° C. in consideration of the reaction efficiency. It is important to control.
After completion of the reaction, for the purpose of neutralizing excess basic compounds, acetic acid, hydrochloric acid, nitric acid and the like are added in an amount of 2 to 3 times the neutralization amount, and the precipitated solid is separated by filtration. The ester body can be precipitated in the form of powder by dropping it into a dilute acidic aqueous solution having a weight of 5 to 6 times, for example, an aqueous hydrochloric acid solution having a concentration of 0.5 to 1% by weight with stirring. This is filtered, washed with water and dried to obtain the desired photosensitive diazoquinone compound (PAC) powder.
[0030]
In this esterification reaction, although it depends on the molar ratio of 1,2-naphthoquinonediazide-4-sulfonyl halide and / or 1,2-naphthoquinonediazide-5-sulfonyl halide to be used, usually in the above general formula (2) Any one of Q 1 to Q 4 is sulfonyl esterified (monoester), any two are sulfonyl esterified (diester), any three are sulfonyl esterified (triester), all four Is obtained as a mixture of two or more of those obtained by sulfonyl esterification (tetraester), but can usually be used as a PAC as a mixture.
In use, it may be used alone or in combination. The blending amount of (b) photosensitive diazoquinone compound with respect to (a) polyamide is (b) 1 to 100 parts by weight of photosensitive diazoquinone compound with respect to 100 parts by weight of polyamide, and (b) of photosensitive diazoquinone compound. If the blending amount is less than 1 part by weight, the photo-patterning property of the resin becomes poor. Conversely, if it exceeds 100 parts by weight, the tensile elongation rate of the film formed after heat-curing is remarkably lowered.
[0031]
To the positive photosensitive resin composition of the present invention, the following phenol compound can be added as needed mainly to improve developability.
Embedded image
Figure 0004560247
[0032]
In addition, the positive photosensitive resin composition of the present invention can be added with an additive such as a silane coupling agent in order to improve the leveling agent and adhesion.
In the present invention, these components are dissolved in a solvent and used in the form of a varnish.
Solvents include N-methyl-2-pyrrolidone, γ-butyrolactone, N, N-dimethylacetamide, dimethyl sulfoxide, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol dibutyl ether, propylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol monomethyl ether, propylene glycol Monomethyl ether acetate, methyl lactate, ethyl lactate, butyl lactate, methyl-1,3-butylene glycol acetate, 1,3-butylene glycol-3-monomethyl ether, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, methyl-3-methoxypropio Use alone or in combination.
[0033]
In the method of using the photosensitive resin composition of the present invention, the composition is first applied to a suitable support such as a silicon wafer, a ceramic, an aluminum substrate and the like. The coating method is performed by spin coating using a spinner, spray coating using a spray coater, dipping, printing, roll coating, or the like.
Next, after prebaking at 60 to 130 ° C. to dry the coating film, actinic radiation is applied to the desired pattern shape. As the actinic radiation, X-rays, electron beams, ultraviolet rays, visible rays and the like can be used, but those having a wavelength of 200 to 500 nm are preferable.
[0034]
Next, a relief pattern is obtained by dissolving and removing the irradiated portion with a developer. Developers include inorganic alkalis such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, sodium silicate, sodium metasilicate, and aqueous ammonia, primary amines such as ethylamine and n-propylamine, diethylamine, and di-n. Secondary amines such as propylamine, tertiary amines such as triethylamine and methyldiethylamine, alcohol amines such as dimethylethanolamine and triethanolamine, quaternary ammonium such as tetramethylammonium hydroxide and tetraethylammonium hydroxide An aqueous solution of an alkali such as a salt, and an aqueous solution to which an appropriate amount of a water-soluble organic solvent or a surfactant such as an alcohol such as methanol or ethanol is added can be preferably used.
[0035]
As a developing method, methods such as spraying, paddle, dipping, and ultrasonic waves are possible. Next, the relief pattern formed by development is rinsed. Distilled water is used as the rinse liquid. Next, heat treatment is performed to imidize or oxazolate the polymer skeleton structure to obtain a final relief pattern excellent in heat resistance.
The photosensitive resin composition according to the present invention is useful not only for semiconductor applications but also as an interlayer insulating film for multilayer circuits, a cover coat for flexible copper-clad plates, a solder resist film, a liquid crystal alignment film, and the like.
[0036]
The present invention will be described based on examples.
[Example 1]
<Synthesis of Polyamide A-1>
In a 3 L separable flask, 183.1 parts by weight (0.5 mol) of 2,2-bis (3-amino-4hydroxyphenyl) hexafluoropropane, 550 parts by weight of N, N-dimethylacetamide (DMAC), 63.3 parts by weight (0.8 mol) of pyridine was added and dissolved by stirring. To this, 118.1 parts by weight (0.4 mol) of 4,4′-diphenyl ether dicarbonyl chloride dissolved in 360 parts by weight of diethylene glycol dimethyl ether was added with water cooling, and then reacted at room temperature for 2 hours. Next, 59.2 parts by weight (0.4 mol) of phthalic anhydride and 31.6 parts by weight (0.4 mol) of pyridine are added to the reaction solution, and further reacted at room temperature for 12 hours. The polymer sealed with was synthesized. Thereafter, the reaction solution was dropped into 8 L of water under high-speed stirring to disperse and precipitate the polymer, and this was recovered, washed with water as appropriate, dehydrated and then vacuum dried to obtain the target polyamide (A-1).
[0037]
As a result of GPC analysis (eluent tetrahydrofuran, flow rate 1.0 ml / min, columns SHODEX 805, 804, 803, one each, column temperature 40 ° C., RI detector), polystyrene-reduced weight average molecular weight Mw is 9800, dispersity of molecular weight distribution d was 1.85.
In addition, when further purification of the polymer is necessary, it can be carried out by the following method. That is, after redissolving the polymer obtained above in gamma-butyrolactone (GBL), this was treated with a cation exchange resin and an anion exchange resin, and the solution obtained thereby was poured into ion exchange water, A purified polymer can be obtained by filtering the precipitated polymer, washing with water, and vacuum drying.
[0038]
<Synthesis of Photosensitive Diazoquinone Compound Q-1>
In a three-necked flask with a volume of 2000 ml, 50.26 parts by weight (0.10 mol) of the following compound as a phenolic compound as a raw material,
Embedded image
Figure 0004560247
50.3 parts by weight of 1,2-naphthoquinonediazide-4-sulfonyl chloride (0.32 mol, quinonediazidesulfonyl esterification rate corresponding to 90 mol%) and 750 parts by weight of tetrahydrofuran were added and dissolved by stirring at 20 ° C. A solution prepared by diluting 43.71 parts by weight (0.432 mol) of triethylamine with 219 parts by weight of tetrahydrofuran was added dropwise thereto at a constant rate over 30 minutes. At this time, the temperature of the reaction solution was controlled in the range of 20 to 30 ° C. using an ice water bath or the like. After completion of the dropwise addition, the mixture was left to stir at 20 ° C. for another 30 minutes, and then 19.7 parts by weight of a 36% by weight aqueous hydrochloric acid solution was added at once. The reaction solution was then cooled in an ice-water bath, and the precipitated solid was filtered off with suction. Separated.
[0039]
The filtrate obtained at this time was added dropwise to 10 liters of a 0.5 wt% aqueous hydrochloric acid solution over 1 hour with stirring to precipitate the desired product, which was collected by suction filtration. The obtained cake-like recovered material was again dispersed in 5 liters of ion-exchanged water, stirred, washed, collected by filtration, and this water washing operation was repeated three times. Finally, the obtained cake-like material was vacuum-dried at 40 ° C. for 24 hours to obtain the desired photosensitive diazoquinone compound Q-1.
[0040]
<Identification of photosensitive diazoquinone compound Q-1>
The photosensitive diazoquinone compound Q-1 obtained above was analyzed using reverse phase high performance liquid chromatography. The analysis conditions are described below.
Column: Mighty Sil RP-18 GP250-4.6 (5 μm) manufactured by Kanto Chemical
Eluent: acetonitrile / water = 8/2 (v / v%)
Flow rate: 1.0 ml / min Detector: JASCO UV-2075 spectroscopic detector, detection wavelength 230 nm
Sample concentration: 0.005% by weight in acetonitrile
As a result, the following 6 components were detected.
Peak 1. Elution time 2.164 minutes Chromato chart area ratio 0.125%
Peak 2. Elution time 4.049 minutes Chromato chart area ratio 0.750%
Peak 3. Elution time 6.675 minutes Chromatographic chart area ratio 3.366%
Peak 4. Elution time 6.954 minutes Chromatographic chart area ratio 3.472%
Peak 5. Elution time 13.306 minutes Chromato chart area ratio 28.244%
Peak 6. Elution time 26.707 minutes Chromato chart area ratio 64.043%
[0041]
Peak 1 is the unreacted residue of the starting phenolic compound.
Peak 2 is a sulfonyl ester of any one of Q 1 to Q 4 in the general formula (2) (monoester).
Peaks 3 and 4 are those in which any two of Q 1 to Q 4 in the general formula (2) are sulfonyl esterified (diesters), and two substitution forms are detected in proximity to each other. Yes.
Peak 5 is a sulfonyl esterified (triester) of any three of Q 1 to Q 4 in the general formula (2).
The peak 6 is a compound in which all four of Q 1 to Q 4 in the general formula (2) are sulfonyl esterified (tetraester).
[0042]
From the identification result of each of the above peaks (how many of the four hydroxyl groups are sulfonylesterified) and the peak area ratio, calculating the approximate value of the overall sulfonylesterification rate,
((0.750 × 1) + (3.366 × 2) + (3.472 × 2) + (28.244 × 3) + (64.043 × 4)) /(100×4)=0.888
And about 88.8 mol%, and almost the same esterification target product could be obtained with respect to the preparation assuming 90 mol% sulfonyl esterification.
[0043]
<Adjustment of positive photosensitive resin composition>
100 parts by weight of the synthesized polyamide (A-1), 15 parts by weight of the photosensitive diazoquinone compound (Q-1) and 10 parts by weight of p-cumylphenol are dissolved in 200 parts by weight of GBL, and then filtered through a 0.2 μm filter. A positive photosensitive resin composition was obtained.
<Photosensitive characteristic evaluation>
This positive photosensitive resin composition was applied on a silicon wafer previously treated with an aminosilane coupling agent using a spin coater, and then dried on a hot plate at 130 ° C. for 3 minutes, so that the film thickness was about 16 μm. A coating film was obtained. The coating film, an i-line stepper through a test pattern with the reticle (manufactured by Nikon), subjected to exposure of 100~1000mJ / cm 2 at 25 mJ / cm 2 steps.
Next, this exposure film was subjected to paddle development using a AZ-300 MIF developer (2.38% TMAH aqueous solution) manufactured by Clariant Japan, with an appropriate development time adjusted so that the residual film ratio after development was 80%. After dissolving and removing the exposed portion, it was rinsed with pure water for 20 seconds and air-dried to obtain a relief pattern for evaluation.
[0044]
[Example 2]
Using the same apparatus as used in <Synthesis of photosensitive diazoquinone compound Q-1> in Example 1, except that 53.07 parts by weight (0.10 mol) of the following compound was used as the phenolic compound as a raw material. In the same manner as in Example 1, diazoquinone compound Q-2 was obtained.
Embedded image
Figure 0004560247
[0045]
The estimated esterification rate obtained for Q-2 in the same manner as in Example 1 was 89.3 mol%, and almost the same esterification target product was obtained with respect to the preparation assuming 90 mol% sulfonyl esterification. I was able to.
Hereinafter, a photosensitive resin composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that this Q-2 was used, and a relief pattern for evaluating photosensitive characteristics was prepared in the same manner as in Example 1.
[0046]
[Example 3]
In the synthesis of the polyamide in Example 1, 2,2-bis (3-amino-4hydroxyphenyl) hexafluoropropane was reduced to 174.0 parts by weight (0.475 mol), instead of 1,3-bis (3 -Aminopropyl) -1,1,3,3-tetramethyldisiloxane (6.2 parts by weight) was added, and 5-norbornene-2,3-dicarboxylic anhydride 65. instead of phthalic anhydride as an end-capping agent. A polyamide was synthesized in the same manner as in Example 1 except that 6 parts by weight (0.4 mol) was used.
A photosensitive resin composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that this polymer was used, and a relief pattern for evaluation was obtained by coating, exposing and developing in the same manner as in Example 1.
[0047]
[Example 4]
Under a dry nitrogen stream, 293.0 parts by weight (0.8 mol) of 2,2-bis (3-amino-4hydroxyphenyl) hexafluoropropane and 253.1 parts by weight (3.2 mol) of pyridine were added to acetone 2. Dissolved in 0 L and cooled to -15 ° C. Here, 370.6 parts by weight (1.76 mol) of trimellitic anhydride chloride dissolved in 500 mL of acetone was added dropwise so that the temperature of the reaction solution did not exceed 0 ° C. After completion of dropping, the reaction was carried out at 0 ° C. for 4 hours. This solution was concentrated with an evaporator and then poured into 5 L of petroleum ether to obtain an acid anhydride (6FA). 357.2 parts by weight (0.5 mol) of this acid anhydride (6FA), 136.6 parts by weight (1.1 mol) of 3-hydroxybenzyl alcohol, NMP 1.25 L, 87.0 parts by weight of pyridine (1.1 Mol) were mixed and then stirred at room temperature for 16 hours for esterification. Thereafter, 1-hydroxy-1,2,3, -benzotriazole (1.1 mol) was added, and 227.0 parts by weight (1.1 mol) of dicyclohexylcarbodiimide (DCC) was dissolved in 230 parts by weight of NMP under ice cooling. The product was added dropwise to obtain a dicarboxylic acid derivative. Next, a solution prepared by dissolving 110.1 parts by weight (0.55 mol) of 4,4′-diaminodiphenyl ether in 0.35 L of NMP was added to this reaction solution, and the mixture was stirred at room temperature for 3 hours. Thereafter, 32.8 parts by weight (0.2 mol) of 5-norbornene-2,3-dicarboxylic acid anhydride was added, and the mixture was further reacted at room temperature for 4 hours. The reaction solution was filtered to remove insolubles, and then poured into a solution of water / methanol = 10/1. The precipitate was collected by filtration and dried under reduced pressure to obtain polyamide.
A photosensitive resin composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that this polymer was used, and a relief pattern for evaluation was obtained by coating, exposing and developing in the same manner as in Example 1.
[0048]
[Comparative Example 1]
Using the same apparatus as in <Synthesis of Photosensitive Diazoquinone Compound Q-1> in Example 1, except that 47.46 parts by weight (0.10 mol) of the following compound was used as the phenolic compound as a raw material. In the same manner as in Example 1, diazoquinone compound Q-3 was obtained.
Embedded image
Figure 0004560247
[0049]
The estimated esterification rate obtained in the same manner as in Example 1 for Q-3 was 89.0 mol%, and a substantially equivalent esterification target product was obtained with respect to the preparation assuming 90 mol% sulfonylesterification. I was able to.
Hereinafter, a photosensitive resin composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that this Q-3 was used, and a relief pattern for evaluating photosensitive characteristics was prepared in the same manner as in Example 1.
[0050]
[Comparative Example 2]
Using the same apparatus as in <Synthesis of Photosensitive Diazoquinone Compound Q-1> in Example 1, 42.45 parts by weight (0.10 mol) of the following compound as a raw material phenol compound,
Embedded image
Figure 0004560247
[0051]
72.54 parts by weight of 1,2-naphthoquinonediazide-4-sulfonyl chloride (0.27 mol, quinonediazidesulfonyl esterification rate corresponding to 90 mol%) and 580 parts by weight of acetone were added and dissolved by stirring at 20 ° C. A solution obtained by diluting 32.78 parts by weight (0.324 mol) of triethylamine with 164 parts by weight of acetone was added dropwise thereto at a constant rate over 30 minutes. At this time, the temperature of the reaction solution was controlled in the range of 20 to 30 ° C. using an ice water bath or the like. After completion of the dropwise addition, the mixture was further allowed to stir at 20 ° C. for 30 minutes, and then 14.8 parts by weight of a 36 wt% hydrochloric acid aqueous solution was added all at once, and diazoquinone compound Q-4 was obtained in the same manner as in Example 1.
The approximate esterification rate obtained in the same manner as in Example 1 for Q-4 was 88.7 mol%, and almost the same esterification target product was obtained with respect to the preparation assuming 90 mol% sulfonylesterification. I was able to.
Hereinafter, a photosensitive resin composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that this Q-4 was used, and a relief pattern for evaluating photosensitive characteristics was prepared in the same manner as in Example 1.
[0052]
[Comparative Example 3]
Using the same apparatus as in <Synthesis of Photosensitive Diazoquinone Compound Q-1> in Example 1, except that 30.64 parts by weight (0.10 mol) of the following compound was used as the phenolic compound as a raw material. In the same manner as in Example 1, diazoquinone compound Q-5 was obtained.
Embedded image
Figure 0004560247
[0053]
The estimated esterification rate obtained in the same manner as in Example 1 for Q-5 was 89.8 mol%, and almost the same esterification target product was obtained with respect to the preparation assuming 90 mol% sulfonyl esterification. I was able to.
Hereinafter, a photosensitive resin composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that this Q-5 was used, and a relief pattern for evaluating photosensitive characteristics was prepared in the same manner as in Example 1.
[0054]
Table 1 shows the evaluation results of the relief patterns obtained in the above examples and comparative examples.
In Table 1, the post-development residual film ratio (%), exposure sensitivity (mJ / cm 2 ), and Via hole (μm) have the following meanings, respectively.
(1) Residual film ratio after development (%) is a percentage of a value obtained by dividing the unexposed film thickness after development by the pre-development film thickness, and is an index representing the degree of film reduction in the unexposed area due to development. It is.
(2) The exposure sensitivity (mJ / cm 2 ) is the lowest exposure amount that can completely dissolve and remove the exposed portion of the coating film during the development time in which the post-development residual film ratio is 80%.
(3) Via hole resolution (μm) is a minimum opening size in which a residue (scum) or the like is not observed after development in a square exposure portion (Via hole) in the exposure sensitivity pattern.
[0055]
[Table 1]
Figure 0004560247
[0056]
As shown in Table 1, when the α-position carbon of the general formula (2) is a quaternary carbon as in the example of the present invention, the initial film thickness is 16 microns compared to the case where the α-position carbon is not (Comparative Example 1). Regardless of the film conditions, exceptional sensitivity and improved resolution are recognized, which is highly practical.
On the other hand, Comparative Examples 2 and 3 are cases where a conventionally known PAC is used. However, since the difference in dissolution rate between the exposed area and the unexposed area is small, when compared at a constant development residual film ratio, sensitivity is completely reached. It does not extend to the embodiment of the present invention.
The structures of the diazoquinone compounds (Q-1 to Q-5) used in Examples and Comparative Examples of the present invention and the acid anhydride 6FA in Example 4 are as follows.
[0057]
Embedded image
Figure 0004560247
[0058]
Embedded image
Figure 0004560247
[0059]
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Figure 0004560247
[0060]
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Figure 0004560247
[0061]
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Figure 0004560247
[0062]
Embedded image
Figure 0004560247
[0063]
【The invention's effect】
As described above, the present invention relates to a positive photosensitive resin composition containing an alkali-soluble polyamide and a photosensitive diazoquinone compound having a specific structure as essential components. The present invention provides an extremely useful material capable of realizing high sensitivity and high resolution patterning characteristics even under a thick film condition using a 38% TMAH aqueous solution as a developer and having an initial film thickness exceeding 10 microns.

Claims (3)

(a)下記一般式(1)で示される繰り返し単位を有するポリアミド100重量部と、
Figure 0004560247
(式中、X1 は少なくとも2個以上の炭素原子を有する2〜4価の有機基、Y1は少なくとも2個以上の炭素原子を有する2〜6価の有機基、p、qは0または1〜4の整数、R1 は水素原子または炭素数1〜20の有機基であり、mは0または1〜2の整数、nは2〜1000の整数である。ただし、m、p、qが同時に0であることはなく、かつp,qともにゼロの場合は、R はフェノール性水酸基を有する基である。)
(b)下記一般式(2)で表される感光性ジアゾキノン化合物1〜100重量部を、必須成分とするポジ型感光性樹脂組成物。
Figure 0004560247
(式中、R2 〜R8 は1価の有機基、r、s、t、u、v は0または1〜3の整数である。また、Q1 〜Q4 のうち、少なくとも1個は下記に示される基であり、残りは水素原子である。)
Figure 0004560247
(A) 100 parts by weight of a polyamide having a repeating unit represented by the following general formula (1);
Figure 0004560247
Wherein X 1 is a divalent to tetravalent organic group having at least 2 carbon atoms, Y 1 is a divalent to hexavalent organic group having at least 2 carbon atoms, and p and q are 0 or An integer of 1 to 4, R 1 is a hydrogen atom or an organic group having 1 to 20 carbon atoms, m is an integer of 0 or 1 or 2, and n is an integer of 2 to 1000, provided that m, p, q it rather than but simultaneously 0, and p, in the case of q are both zero, R 1 is a group having a phenolic hydroxyl group.)
(B) A positive photosensitive resin composition containing 1 to 100 parts by weight of a photosensitive diazoquinone compound represented by the following general formula (2) as an essential component.
Figure 0004560247
(In the formula, R 2 to R 8 are monovalent organic groups, r, s, t, u, v are 0 or an integer of 1 to 3. Moreover, at least one of Q 1 to Q 4 is It is a group shown below, and the remainder is a hydrogen atom.)
Figure 0004560247
(a)ポリアミドが、下記一般式(3)で示される繰り返し単位を有することを特徴とする、請求項1に記載のポジ型感光性樹脂組成物。
Figure 0004560247
(式中、X2 は4価の芳香族基、Y2 は2価の芳香族基、nは2〜1000の整数。)
The positive photosensitive resin composition according to claim 1, wherein the polyamide (a) has a repeating unit represented by the following general formula (3).
Figure 0004560247
(Wherein X 2 is a tetravalent aromatic group, Y 2 is a divalent aromatic group, and n is an integer of 2 to 1000.)
請求項1、又は請求項2に記載のポジ型感光性樹脂組成物を層またはフィルムの形で基板上に形成し、マスクを介して化学線で露光するか、または光線、電子線またはイオン線を直接照射した後、露光部または照射部を溶出または除去し、次いで得られたレリーフパターンを加熱硬化させることを特徴とする、高耐熱性レリーフパターンの製造方法。  The positive photosensitive resin composition according to claim 1 or 2 is formed on a substrate in the form of a layer or a film and exposed to actinic radiation through a mask, or a light beam, an electron beam or an ion beam. After directly irradiating, the exposed portion or irradiated portion is eluted or removed, and then the resulting relief pattern is heat-cured to produce a highly heat-resistant relief pattern.
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