Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP4308172B2 - 薄膜形成方法及び有機電界発光素子の製造方法 - Google Patents

薄膜形成方法及び有機電界発光素子の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4308172B2
JP4308172B2 JP2005194305A JP2005194305A JP4308172B2 JP 4308172 B2 JP4308172 B2 JP 4308172B2 JP 2005194305 A JP2005194305 A JP 2005194305A JP 2005194305 A JP2005194305 A JP 2005194305A JP 4308172 B2 JP4308172 B2 JP 4308172B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
thin film
forming
deposition
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2005194305A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006207023A (ja
Inventor
度根 金
韓基 金
明洙 許
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Display Co Ltd
Original Assignee
Samsung Mobile Display Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Mobile Display Co Ltd filed Critical Samsung Mobile Display Co Ltd
Publication of JP2006207023A publication Critical patent/JP2006207023A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4308172B2 publication Critical patent/JP4308172B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/60Forming conductive regions or layers, e.g. electrodes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/10Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/14Metallic material, boron or silicon
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/24Vacuum evaporation
    • C23C14/243Crucibles for source material
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/805Electrodes
    • H10K50/82Cathodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80Constructional details
    • H10K59/805Electrodes
    • H10K59/8052Cathodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/12Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

本発明は、薄膜形成方法及び有機電界発光素子の製造方法に関し、より詳細には、蒸着物質と共融点を有する添加物質を用いて蒸着することで、低温で薄膜形成が可能な薄膜形成方法及び有機電界発光素子の製造方法に関する。
基板に薄膜を形成する一般的な方法には、真空蒸着法、イオンプレーティング(ion-plating)法及びスパッタリング(sputtering)法などのような物理気相蒸着法(PVD)と、ガス反応による化学気相蒸着法(CVD)などが挙げられる。それらのうち、有機電界発光素子の有機膜層や電極などのような薄膜を形成するに際しては、真空蒸着法が主に使われる。
前記真空蒸着法は、真空蒸着チャンバーの下部に蒸発源を設け、その上部に成膜用基板を設けて、薄膜を形成する方法である。前記真空蒸着法には、抵抗熱蒸着、電子ビーム蒸着及び誘導加熱蒸着などが挙げられる。前記真空蒸着法に使われる蒸発源には、誘導加熱蒸着(または間接加熱蒸着)の蒸発源(effusion cell)が主に使われている。
前述のような薄膜形成方法は、有機電界発光素子を構成する多様な薄膜を形成するのに使われる。前記有機電界発光素子は、有機物薄膜に陰極と陽極を介して注入された電子と正孔が再結合して励起子(exciton)を形成し、形成された励起子からのエネルギーにより特定波長の光が発生する現象を利用する自発光型ディスプレイ素子である。前記有機電界発光素子は、低電圧で駆動が可能であり、軽量及び薄形であり、視野角が広いだけでなく、応答速度が速いという長所を有する。
かかる有機電界発光素子は、基板上に積層式で形成されるアノード電極、有機膜層及びカソード電極から構成される。前記有機膜層は、有機発光層を含み、電子輸送層、正孔輸送層、正孔注入層及び電子注入層をさらに含むことができる。
前記カソード電極は、金属を用いて形成することができ、特に、仕事関数が低いAlを用いて形成することができる。前記Alを成膜するためには、高温の熱源が必要である。すなわち、前記Alのような薄膜を形成するためには、多くのエネルギーが要求されるだけでなく、高温工程による基板の劣化が生じ得るという問題点がある。
本発明は、前述のような従来技術の問題点を解決するためになされたものであって、本発明の目的は、低い温度で成膜が可能なので、高温の熱源を必要とせず、形成される薄膜の機械的、電気的特性を向上させることができる薄膜形成方法及び有機電界発光素子の製造方法を提供する。
前記目的を達成するために、本発明の一態様に係る薄膜形成方法は、蒸着物質と添加物質とを混合した成膜物質を蒸着させて、薄膜を形成する段階を含み、前記添加物質は、前記蒸着物質と共融点を有する物質を使用する。これにより、従来、蒸着物質だけを使用して成膜する場合より、さらに低い温度で成膜が可能である。
前記形成される薄膜は、Al合金であってもよく、電極として使用することができる。
前記薄膜は、真空蒸着法を用いて形成することが好ましい。
また、本発明の他の態様に係る有機電界発光素子の製造方法は、基板上に第1電極を形成する段階と、前記第1電極上に少なくとも有機発光層を含む有機膜層パターンを形成する段階と、前記有機膜層パターン上に第2電極を形成する段階と、を含み、前記第1電極及び第2電極の少なくともいずれか1つは、蒸着物質と、前記蒸着物質と共融点を有する添加物質とを混合した成膜物質を蒸着させて形成する。
前記第2電極を形成する蒸着物質は、Alを使用することが好ましい。
前記第2電極は、カソード電極であってもよく、前記形成されるカソード電極は、Al合金よりなることができる。
前記第1電極及び第2電極の少なくともいずれか1つは、真空蒸着法を用いて形成することが好ましい。
前記蒸着物質は、金属又は無機物を使用することができ、前記金属の中でAlを使用することができる。
前記添加物質は、金属又は非金属物質を使用することができる。前記添加物質は、前記Alと仕事関数(work function)が同じ物質、又は前記Alより仕事関数が低い物質を使用することが好ましく、特に、Si、Mg及びCaのいずれか1つの物質を使用することができる。
本発明によれば、薄膜を形成する物質として、蒸着物質に加えて、前記蒸着物質と共融点を有する添加物質を混合して使用する。これにより、従来、蒸着物質だけを使用して成膜する場合より、さらに低い温度で成膜が可能である。すなわち、高温の熱源を必要としない。また、形成される薄膜、特に有機電界発光素子を構成するカソード電極の機械的、電気的特性を向上させることができる。
以下、添付の図面を参照して、本発明の好適な実施例を詳細に説明する。しかしながら、本発明は、下記実施例に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。
図1aは、本発明による薄膜形成方法を説明する模式図であり、図1bは、本発明による薄膜形成方法に使われる蒸発源を説明する断面図である。
図1a及び図1bを参照すれば、本発明による薄膜形成方法は、真空蒸着法を利用することを例示している。前記真空蒸着法に使われる真空蒸着装置100は、真空蒸着チャンバー110、蒸発源120及び基板130などから構成される。前記蒸発源120は、基板130上に蒸着しようとする物質を蒸発させる蒸発源部120aと、前記蒸発源部120aで蒸発した気体が噴射されるノズル部120bとから構成されることができる。
前記真空蒸着チャンバー110は、真空排気系(図示せず)に連結されており、これを用いて真空蒸着チャンバーの内部を一定の真空に維持させる。その後、前記真空蒸着チャンバー110の下部に配置された蒸発源120の炉121を、熱線124を用いて加熱させる。前記炉121に熱が供給されれば、成膜物質140にも熱が供給され蒸発する。
前記蒸発した成膜物質140は、前記ノズル部120bの孔125を通過して、前記蒸発源120の上部から一定の距離をもって離隔配置された基板130に到達するようになる。したがって、前記蒸発源120の炉121から蒸発した成膜物質140は、前記基板130に到達し、吸着、蒸着、再蒸発などの連続的過程を経て前記基板130上に固体化し、薄膜150を形成する。
前記炉121の内部には、成膜物質140である蒸着物質122及び添加物質123が収容される。
前記蒸着物質122として、無機物または金属を使用することができる。特に、金属の中でもAlは、仕事関数が低くて、電極を形成するのに使われることができる。
前記添加物質123は、金属または非金属物質を使用することができる。前記蒸着物質122だけを蒸発させて成膜する場合は、高温の熱源を必要としないので、本発明では、前記蒸着物質122と添加物質123とを混合した成膜物質140を使用して薄膜を形成する。
この際、前記添加物質123は、前記蒸着物質122と共融点(Eutectic Melting Point)を有する物質を使用する。前記共融点とは、2成分系の固体相−液体相曲線において2成分が固溶体を形成せずに、液体状態で完全に溶けて混ぜる点を言う。
前記蒸着物質122としてAlを使用する場合には、前記添加物質123として、Si、Mg及びCaのいずれか1つの物質を使用することが好ましい。前記Alの融点は、約660℃程度であり、一般的に前記Alを1200乃至1400℃程度の温度で溶解して蒸着を行う。したがって、前記Alと共融点を有する添加物質123を混合して蒸着させることによって、さらに低い温度での成膜を可能にする。その他にも、前記蒸着物質122と共融点を有する多様な物質を前記添加物質123として使用することができる。
前記蒸着物質122としてAlを使用し、前記添加物質123としてSi、MgまたはCaを使用し、これらを混合した成膜物質140を蒸着することによって形成される薄膜は、Al合金である。すなわち、各々Al−Si合金、Al−Mg合金、Al−Ca合金を形成することができる。前記形成されたAl合金は、機械的、電気的特性に優れていて、電極として使われることができる。特に、陰極として使われることが好ましい。
図2a乃至図2cは、本発明による蒸着物質と添加物質とを混合した成膜物質の相平衡図(phase diagram)である。それぞれの相平衡図において、X軸は、各成分の重量パーセント(wt%)を示し、Y軸は、摂氏温度を示す。
図2aを参照すれば、蒸着物質122としてAlを使用し、添加物質123としてSiを使用する場合、混合物質、すなわち成膜物質140の相平衡図を示している。
前記相平衡図から明らかなように、Al−Si系では、1つの共融点があることが分かる。Al−Si系の共融点は、580℃であり、Al及びSiの組成比は、約/97wt%であることが分かる。
すなわち、前記Alに添加物質123としてSiを添加させれば、混合物質であるAl−Si系の共融点は、580℃となるので、前記Alを固有の融点である660℃よりさらに低い温度で溶融させることができる。したがって、従来、Alを1200乃至1400℃程度の温度で蒸着させたが、本発明では、それより低い温度で前記Alを含む成膜物質を蒸着することができる。
この際、形成される薄膜は、Al−Si合金からなる。前記Al−Si合金は、膨脹係数が少なく、耐摩滅性が優れており、高温強度及び機械加工性が良い。前記Al−Si合金は、電極として使われることができ、陰極として使われることが好ましい。
図2bを参照すれば、蒸着物質122としてAlを使用し、添加物質123としてMgを使用する場合、成膜物質140の相平衡図を示している。
前記相平衡図から明らかなように、Al−Mg系では、5つの共融点があることが分かる。Al−Mg系の共融点は、Al及び Mgの組成比によって450℃、448℃、449℃、452℃及び437℃を示している。したがって、前記Alを固有の融点である660℃よりさらに低い温度で溶融させることができるので、前記Alを含む成膜物質を低温で蒸着することができる。
この際、形成される薄膜であるAl−Mg合金は、耐食性が良く、温度による変化が少ない。
図2cを参照すれば、蒸着物質122としてAlを使用し、添加物質123としてCaを使用する場合、成膜物質140の相平衡図を示している。
前記相平衡図から明らかなように、Al−Ca系では、3つの共融点があることが分かる。Al−Ca系の共融点は、Al及びCaの組成比によって640℃、699℃及び549℃を示している。前記Caの組成比を約92wt%または26wt%にした場合、共融点が各々640℃及び549℃を示す。したがって、前記Alを固有の融点である660℃よりさらに低い温度で溶融させることができるので、前記Alを含む成膜物質を低温で蒸着することができる。
図3は、本発明による有機電界発光素子の製造方法を説明する模式図である。
図3を参照すれば、まず、基板330上に第1電極を形成する。前記基板330上には、薄膜トランジスタと、該薄膜トランジスタ上に形成されたパッシベーション膜及び平坦化膜などが設けられていてもよい。
前記第1電極は、アノード電極であってもよく、仕事関数の高いITOまたはIZOのような透明電極を使用することができる。前記アノード電極は、仕事関数が5.0eV以上の物質を使用することが好ましい。前記仕事関数(work function)とは、金属内部の電子を外部に放出させるのに必要な最小限の仕事を意味する。
次に、前記第1電極上に有機膜層パターンを形成する。前記有機膜層パターンは、少なくとも有機発光層を含む。また、前記有機膜層パターンは、有機発光層よりなる1種の単一層で構成されるか、又は、前記有機発光層と共に、正孔注入層、正孔伝達層、電子伝達層及び電子注入層よりなる群から選ばれた2種以上の多重層で構成されることができる。
次に、前記有機膜層パターン上に第2電極を形成することによって、有機電界発光素子を完成する。前記第2電極は、カソード電極であってもよく、仕事関数の低い物質を使用することが好ましい。前記仕事関数の低い物質として、Mg、Ca、Al、Agなどのような金属物質を使用することができる。
前記金属物質の仕事関数は、各々Al(4.06〜4.41eV)、Ca(2.87〜3.00eV)、Mg(3.46eV)、Ag(4.26〜4.74eV)を有する。
この際、前記第1電極及び第2電極の少なくともいずれか1つは、真空蒸着法を用いて形成することができる。前記真空蒸着法に使われる真空蒸着装置300は、真空蒸着チャンバー310、蒸発源320及び基板330などから構成される。前記基板330上に成膜物質340を蒸着させて、前記第1電極または第2電極のような薄膜350を形成する工程は、図1a及び図1bで説明した通りである。
図1bをさらに参照すれば、前記蒸着物質122として、無機物または金属を使用することができる。
前記蒸着物質122に添加物質123を混合するが、前記添加物質123は、金属または非金属物質を使用することができる。この際、前記添加物質123は、前記蒸着物質122と共融点を有する物質を使用する。共融点についての詳細な説明は、前記図2a乃至図2cの説明を参照する。
前記第2電極は、カソード電極であってよく、前記カソード電極を形成する前記蒸着物質122として、仕事関数の低いAl(4.06〜4.41eV)を使用することができる。
この場合、前記添加物質123として、前記蒸着物質122と共融点を有するSi、Mg及びCaのいずれか1つの物質を使用することが好ましい。また、前記カソード電極は、仕事関数が低くなければならないので、前記 Al(4.06〜4.41eV)の仕事関数と類似する物質、又はそれより小さい物質を使用することが好ましい。
前記Mg及びCaは、各々2.87〜3.00eV、3.46eVの仕事関数を有し、Siの場合にも、低い仕事関数を有するので、前記Alと共にカソード電極として使用することができる。その他にも、前記蒸着物質122と共融点を有し且つ仕事関数が類似する多様な物質を前記添加物質123として使用することができる。
したがって、前記Alだけを蒸着させる場合より、さらに低い温度で前記カソード電極を形成することができる。
また、蒸着により形成されたカソード電極は、Al合金からなり、添加物質123によってAl−Si合金、Al−Mg合金、Al−Ca合金などが形成されることができる。前記Al合金は、機械的、電気的特性に優れているので、前記カソード電極の機械的、電気的特性を向上させることができる。
本発明の実施例では、アクティブマトリクス型有機電界発光素子のみについて説明したが、これに限らず、パッシブマトリクス型有機電界発光素子に適用することもできる。
以上において説明した本発明は、本発明が属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲内で、様々な置換、変形及び変更が可能であるので、上述した実施例及び添付された図面に限定されるものではない。
本発明による薄膜形成方法を説明する模式図である。 本発明による薄膜形成方法に使われる蒸発源を説明する断面図である。 本発明による蒸着物質と添加物質とを混合した成膜物質の相平衡図であって、蒸着物質としてAlを使用し、添加物質としてSiを使用したものである。 本発明による蒸着物質と添加物質とを混合した成膜物質の相平衡図であって、蒸着物質としてAlを使用し、添加物質としてMgを使用したものである。 本発明による蒸着物質と添加物質とを混合した成膜物質の相平衡図であって、蒸着物質としてAlを使用し、添加物質としてCaを使用したものである。 本発明による有機電界発光素子の製造方法を説明する模式図である。
符号の説明
100 真空蒸着装置
110 真空蒸着チャンバー
120 蒸発源
120a 蒸発源部
120b ノズル部
121 炉
122 蒸着物質
123 添加物質
124 熱線
125 孔
130 基板
140 成膜物質
150 薄膜

Claims (8)

  1. 蒸着物質と添加物質とを混合した成膜物質を蒸着させて、薄膜を形成する段階を含み、
    前記添加物質は、前記蒸着物質と共融点を有し、前記蒸着物質は、Alであり、前記添加物質は、金属または非金属物質であることを特徴とする薄膜形成方法。
  2. 前記添加物質は、Si、Mg及びCaのいずれか1つの物質であることを特徴とする請求項に記載の薄膜形成方法。
  3. 前記薄膜は、真空蒸着法を用いて形成することを特徴とする請求項1に記載の薄膜形成方法。
  4. 基板上に第1電極を形成する段階と、
    前記第1電極上に少なくとも有機発光層を含む有機膜層パターンを形成する段階と、
    前記有機膜層パターン上に第2電極を形成する段階と、を含み、
    前記第1電極及び第2電極の少なくともいずれか1つは、蒸着物質と、前記蒸着物質と共融点を有する添加物質とを混合した成膜物質を蒸着させて形成し、前記蒸着物質は、Alであり、前記添加物質は、金属または非金属物質であることを特徴とする有機電界発光素子の製造方法。
  5. 前記第2電極は、カソード電極であることを特徴とする請求項に記載の有機電界発光素子の製造方法。
  6. 前記添加物質は、前記Alと仕事関数(work function)が同じ物質、又は前記Alより仕事関数が低い物質であることを特徴とする請求項に記載の有機電界発光素子の製造方法。
  7. 前記添加物質は、Si、Mg及びCaのいずれか1つの物質であることを特徴とする請求項に記載の有機電界発光素子の製造方法。
  8. 前記第1電極及び第2電極の少なくともいずれか1つは、真空蒸着法を用いて形成することを特徴とする請求項4に記載の有機電界発光素子の製造方法。
JP2005194305A 2005-01-31 2005-07-01 薄膜形成方法及び有機電界発光素子の製造方法 Active JP4308172B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050008791A KR100611673B1 (ko) 2005-01-31 2005-01-31 박막 형성 방법 및 유기전계발광소자의 제조 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006207023A JP2006207023A (ja) 2006-08-10
JP4308172B2 true JP4308172B2 (ja) 2009-08-05

Family

ID=35514122

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005194305A Active JP4308172B2 (ja) 2005-01-31 2005-07-01 薄膜形成方法及び有機電界発光素子の製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20060172537A1 (ja)
EP (1) EP1686635A1 (ja)
JP (1) JP4308172B2 (ja)
KR (1) KR100611673B1 (ja)
CN (1) CN100440459C (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2584624A1 (en) * 2011-10-18 2013-04-24 Polyphotonix Limited Method of manufacturing precursor material for forming light emitting region of electroluminescent device

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1796053A1 (de) * 1967-08-29 1972-02-17 Jones & Laughlin Steed Corp Verfahren zur Metallisierung eines Substrates
US3637421A (en) * 1969-08-27 1972-01-25 Joseph Paul Gimigliano Vacuum vapor coating with metals of high vapor pressure
US3886583A (en) * 1971-07-01 1975-05-27 Motorola Inc Insulated gate-field-effect transistor
JPS4848334A (ja) * 1971-10-07 1973-07-09
US4885211A (en) * 1987-02-11 1989-12-05 Eastman Kodak Company Electroluminescent device with improved cathode
US5059862A (en) * 1990-07-26 1991-10-22 Eastman Kodak Company Electroluminescent device with improved cathode
US5429884A (en) * 1992-01-17 1995-07-04 Pioneer Electronic Corporation Organic electroluminescent element
WO1994003032A1 (en) * 1992-07-23 1994-02-03 Idemitsu Kosan Co., Ltd. Organic el device
JP2701738B2 (ja) * 1994-05-17 1998-01-21 日本電気株式会社 有機薄膜el素子
US5952037A (en) * 1995-03-13 1999-09-14 Pioneer Electronic Corporation Organic electroluminescent display panel and method for manufacturing the same
JP3684614B2 (ja) * 1995-06-06 2005-08-17 富士電機ホールディングス株式会社 有機薄膜発光素子およびその製造方法
US5714838A (en) * 1996-09-20 1998-02-03 International Business Machines Corporation Optically transparent diffusion barrier and top electrode in organic light emitting diode structures
JPH10125469A (ja) * 1996-10-24 1998-05-15 Tdk Corp 有機el発光素子
JPH10255987A (ja) * 1997-03-11 1998-09-25 Tdk Corp 有機el素子の製造方法
US6137223A (en) * 1998-07-28 2000-10-24 Eastman Kodak Company Electron-injecting layer formed from a dopant layer for organic light-emitting structure
US6781305B1 (en) * 1998-12-25 2004-08-24 Sanyo Electric Co., Ltd. Organic electroluminescent device having negative electrode containing a selective combination of elements
US7560175B2 (en) * 1999-12-31 2009-07-14 Lg Chem, Ltd. Electroluminescent devices with low work function anode
WO2001093346A2 (en) * 2000-05-31 2001-12-06 Board Of Regents, The University Of Texas System High brightness and low voltage operated leds based on inorganic salts as emitters and conductive materials as cathodic contacts
US6676990B1 (en) * 2000-07-27 2004-01-13 Eastman Kodak Company Method of depositing aluminum-lithium alloy cathode in organic light emitting devices
DE10117663B4 (de) * 2001-04-09 2004-09-02 Samsung SDI Co., Ltd., Suwon Verfahren zur Herstellung von Matrixanordnungen auf Basis verschiedenartiger organischer leitfähiger Materialien
US6965197B2 (en) * 2002-10-01 2005-11-15 Eastman Kodak Company Organic light-emitting device having enhanced light extraction efficiency
EP1586128B1 (de) * 2003-01-21 2019-07-31 OSRAM OLED GmbH Kathode für ein organisches elektronikbauteil
US7255151B2 (en) * 2004-11-10 2007-08-14 Husky Injection Molding Systems Ltd. Near liquidus injection molding process
US7329436B2 (en) * 2004-11-17 2008-02-12 United Technologies Corporation Vapor deposition of dissimilar materials

Also Published As

Publication number Publication date
US20060172537A1 (en) 2006-08-03
CN1815698A (zh) 2006-08-09
KR20060087915A (ko) 2006-08-03
KR100611673B1 (ko) 2006-08-10
EP1686635A1 (en) 2006-08-02
JP2006207023A (ja) 2006-08-10
CN100440459C (zh) 2008-12-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI599556B (zh) 有機發光元件
TWI557963B (zh) 沉積源設備以及包含其之有機層沉積設備
KR100826743B1 (ko) 유기 박막의 제조장치
US7838327B2 (en) Organic light-emitting device including transparent conducting oxide layer as cathode and method of manufacturing the same
KR102072805B1 (ko) 유기발광표시장치 및 그의 제조방법
US8502205B2 (en) Organic light emitting diode device and method of manufacturing the same
WO2009021365A1 (fr) Oled et son procédé
US8628369B2 (en) Method of fabricating organic light emitting diode display device
EP2137335B1 (en) Fine control of vaporized organic material
JP4308172B2 (ja) 薄膜形成方法及び有機電界発光素子の製造方法
TWI658621B (zh) 有機發光顯示裝置
KR100685827B1 (ko) 증발원, 증착장치 및 박막 형성 방법
JP2004164992A (ja) 電子注入性電極の製造方法、及び有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法
TWI586018B (zh) 有機發光元件及其製造方法
KR100700649B1 (ko) 증발원 및 증착장치
TWI582062B (zh) 有機發光元件
JP2008243874A (ja) 有機el素子、有機el素子製造方法
JP2004162108A (ja) 薄膜堆積用分子線源セル
JP4925903B2 (ja) 有機el素子、有機el素子製造方法
TWI570218B (zh) 有機發光元件
Kim et al. Blue electroluminescent aluminum (III) tris [2-(2-hydroxyphenyl)-5-phenyl-1, 3-oxazole]
JP2003178886A (ja) 有機el素子およびその製造方法
JP2011204800A (ja) 有機el素子及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080708

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081008

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20081208

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090225

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090331

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090430

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4308172

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120515

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130515

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130515

Year of fee payment: 4

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130515

Year of fee payment: 4

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250