JP3522469B2 - 基板処理装置および基板処理方法 - Google Patents
基板処理装置および基板処理方法Info
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- JP3522469B2 JP3522469B2 JP30688596A JP30688596A JP3522469B2 JP 3522469 B2 JP3522469 B2 JP 3522469B2 JP 30688596 A JP30688596 A JP 30688596A JP 30688596 A JP30688596 A JP 30688596A JP 3522469 B2 JP3522469 B2 JP 3522469B2
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- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Description
晶表示装置用ガラス基板のような基板に対して処理を行
う基板処理装置および基板処理方法に関する。
は、半導体ウエハや液晶表示装置用ガラス基板のような
基板上に薄膜を形成したり基板を洗浄したりするため
に、処理液を用いた基板処理工程が不可欠である。この
ような基板処理工程を行うための構成は、たとえば特開
平5−152266号公報に開示されている。
板処理装置を示す概略的な平面図である。この基板処理
装置には、複数枚の基板Wをそれぞれ収容できる複数の
カセットCを所定の載置方向に沿って載置できる基台2
00が備えられている。基台200の横には、カセット
Cに対して基板Wを搬入/搬出するためのインデクサ搬
送ユニット201が前記載置方向に沿って移動可能に備
えられている。インデクサ搬送ユニット201の基台2
00の反対側には、基板洗浄処理部210が備えられて
いる。
送ユニット201の移動方向に対してほぼ直交する方向
に移動可能なプロセス搬送ユニット211が備えられて
いる。プロセス搬送ユニット211を挟むように一対の
ユニット群220A,220Bが配置されている。ユニ
ット群220Bには、基板Wを洗浄/乾燥する処理を行
う2つの処理ユニット221a,221bが含まれてい
る。ユニット群220Aには、乾燥後の基板Wの表面の
水分子を蒸発させる処理を行う3つの処理ユニット22
2a,222b,222cが含まれている。
り出し用アーム202と処理済基板収納用アーム203
とを備えている。これら各アーム202,203は、真
空吸着によって基板Wを支持する基板支持面204,2
05をそれぞれ有しており、各基板支持面204,20
5を上下方向に互いにずらすことができるようになって
いる。プロセス搬送ユニット211は、1つのアーム2
12を有し、このアーム212によって基板Wを支持す
る。
場合、インデクサ搬送ユニット201は、基板取り出し
用アーム202の基板支持面204を処理済基板収納用
アーム203の基板支持面205よりも上方にずらした
状態で各アーム202,203をカセットCに同時に挿
入する。これにより、カセットC内の基板Wは基板取り
出し用アーム202の基板支持面204に支持される。
その後、アーム202,203を戻して基板Wをカセッ
トCから搬出した後、当該基板Wをプロセス搬送ユニッ
ト211に渡す。プロセス搬送ユニット211は、当該
基板Wをアーム212に保持した状態で処理ユニット2
21a,221bのうちいずれかに搬入した後、処理後
の基板Wを取り出してさらに処理ユニット222a〜2
22cのうちいずれかに搬入する。
ロセス搬送ユニット211によって搬出され、インデク
サ搬送ユニット201に渡される。このとき、インデク
サ搬送ユニット201は、処理済基板収納用アーム20
3の基板支持面205を基板取り出し用アーム202の
基板支持面204よりも上方にずらし、処理済の基板W
が処理済基板収納用アーム203の基板支持面205に
支持されるようにする。インデクサ搬送ユニット201
は、当該処理済の基板Wを支持した状態で元々収納され
ていたカセットCの前まで移動し、各アーム202,2
03をカセットC内に同時に挿入して処理済の基板Wを
カセットCに搬入する。
板Wにはパーティクルが付着している場合があり、この
パーティクルが当該基板Wを搬送するプロセス搬送ユニ
ット211のアーム212に転移する場合がある。プロ
セス搬送ユニット211では1つのアーム212で未処
理の基板Wも処理済の基板Wも支持されるから、処理済
の基板Wにパーティクルが付着し、基板Wを再汚染する
という問題がある。
だけであるから、基板Wを処理ユニット221a,22
1b;222a〜222cに搬入する動作と処理ユニッ
ト221a,221b;222a〜222cから搬出す
る動作とを同時に行うことはできず、処理タクトを短縮
するのにも限界があった。しかし、最近では、基板処理
の効率化の観点から、処理タクトのさらなる短縮化が要
望されている。
題を解決し、基板の汚染を防止できるとともに、処理タ
クトを短縮できる基板処理装置および基板処理方法を提
供することである。
の請求項1記載の発明は、複数枚の基板を収容するため
のカセットが載置されるカセット載置部と、基板を洗浄
するための少なくとも1つの洗浄処理部を含み、基板に
一連の処理を施すための複数の処理ユニットと、前記カ
セット載置部に載置されるカセットに収納されている未
処理の基板を取り出すための基板取出アームと、前記い
ずれかの処理ユニットにおいて処理された後の基板を前
記カセット載置部に載置されるカセットに収納するため
の基板収納アームと、前記基板取出アームから未処理の
基板を受け取り、この受け取った基板を前記複数の処理
ユニットのうちいずれかの処理ユニットに搬送するため
の第1の基板搬送ロボットと、前記複数の処理ユニット
のうちいずれかの処理ユニットから処理済の基板を搬出
し、この搬出された基板を前記基板収納アームに渡すた
めの第2の基板搬送ロボットとを含み、前記基板取出ア
ームと基板収納アームとは、前記カセットに対して選択
的に挿入されるものであることを特徴とする基板処理装
置である。また、請求項2記載の発明は、複数枚の基板
を収容するためのカセットが載置されるカセット載置部
と、基板を洗浄するための少なくとも1つの洗浄処理部
を含み、基板に一連の処理を施すための複数の処理ユニ
ットと、前記カセット載置部に載置されるカセットに収
納されている未処理の基板を取り出すための基板取出ア
ームと、前記いずれかの処理ユニットにおいて処理され
た後の基板を前記カセット載置部に載置されるカセット
に収納するための基板収納アームと、前記基板取出アー
ムから未処理の基板を受け取り、この受け取った基板を
前記複数の処理ユニットのうちいずれかの処理ユニット
に搬送するための第1の基板搬送ロボットと、 前記複数
の処理ユニットのうちいずれかの処理ユニットから処理
済の基板を搬出し、この搬出された基板を前記基板収納
アームに渡すための第2の基板搬送ロボットとを含み、
前記基板取出アームは、前記基板収納アームよりも下方
に配置されていることを特徴とする基板処理装置であ
る。請求項4記載の発明は、複数枚の基板を収容するた
めのカセットが載置されるカセット載置部と、基板を洗
浄するための少なくとも1つの洗浄処理部を含み、基板
に一連の処理を施すための複数の処理ユニットとを有す
る基板処理装置によって基板を処理するための基板処理
方法であって、前記カセット載置部に載置されるカセッ
トに収納されている未処理の基板を基板取出アームによ
って取り出すステップと、前記いずれかの処理ユニット
において処理された後の基板を基板収納アームによって
前記カセット載置部に載置されるカセットに収納するス
テップと、第1の基板搬送ロボットによって、前記基板
取出アームから未処理の基板を受け取り、この受け取っ
た基板を前記複数の処理ユニットのうちいずれかの処理
ユニットに搬送するステップと、第2の基板搬送ロボッ
トによって、前記複数の処理ユニットのうちいずれかの
処理ユニットから処理済の基板を搬出し、この搬出され
た基板を前記基板収納アームに渡すステップとを含み、
前記基板取出アームと基板収納アームとを、前記カセッ
トに対して選択的に挿入することを特徴とする基板処理
方法である。請求項5記載の発明は、複数枚の基板を収
容するためのカセットが載置されるカセット載置部と、
基板を洗浄するための少なくとも1つの洗浄処理部を含
み、基板に一連の処理を施すための複数の処理ユニット
とを有する基板処理装置によって基板を処理するための
基板処理方法であって、前記カセット載置部に載置され
るカセットに収納されている未処理の基板を基板取出ア
ームによって取り出すステップと、前記いずれかの処理
ユニットにおいて処理された後の基板を基板収納アーム
によって前記カセット載置部に載置されるカセットに収
納するステップと、 第1の基板搬送ロボットによって、
前記基板取出アームから未処理の基板を受け取り、この
受け取った基板を前記複数の処理ユニットのうちいずれ
かの処理ユニットに搬送するステップと、第2の基板搬
送ロボットによって、前記複数の処理ユニットのうちい
ずれかの処理ユニットから処理済の基板を搬出し、この
搬出された基板を前記基板収納アームに渡すステップと
を含み、前記基板取出アームは、前記基板収納アームよ
りも下方に配置されていることを特徴とする基板処理方
法である。
に搬送するためのロボットと処理済の基板を処理ユニッ
トから搬出するためのロボットとを別個のものとしてい
るから、未処理の基板からロボットにパーティクルが転
移していても、処理済の基板に当該パーティクルが付着
することはない。さらに、カセットから未処理の基板を
取り出すアームとカセットに処理済の基板を収納するア
ームとを別個のものとしているから、処理済の基板をカ
セットに収納するときにも、処理済の基板にアームに転
移したパーティクルが付着することはない。
るための洗浄処理部が含まれている場合でも、処理済の
基板の再汚染を防止できる。しかも、処理ユニットに対
する基板搬入動作と基板搬出動作とを同時に行うことが
できるから、処理タクトの向上を図ることができる。
基板取出アームと基板収納アームとを選択的にカセット
に挿入することができる。したがって、処理済の基板を
カセットに収納する場合、未処理の基板からパーティク
ルが転移するおそれのある基板取出アームをカセットに
挿入しないようにすることができる。そのため、基板を
カセットの下側から順に収納していくときでも、カセッ
トにすでに収納されている処理済の基板上に基板取出ア
ームからのパーティクルが落下することはない。また、
請求項2および請求項5の発明によれば、基板取出アー
ムに保持される未処理の基板に付着しているパーティク
ルや未処理の基板から基板取出アームに転移したパーテ
ィクルが基板収納アームに落下することを防止できる。
また、基板収納アームに処理済の基板が保持されている
場合に、当該処理済の基板に前記パーティクルが落下す
ることもない。
定のカセット載置方向に沿って前記カセット載置部に複
数載置されており、前記基板取出アームおよび基板収納
アームは、前記カセット載置方向に沿って移動可能な1
台のインデクサロボットに備えられているものであるこ
とを特徴とする請求項1または請求項2記載の基板処理
装置である。
板収納アームは1台のインデクサロボットに備えられて
いるから、複数のカセットがカセット載置部に載置され
ていても、ロボットは1台でよい。そのため、各アーム
をそれぞれ別個のロボットに備える場合に比べてコスト
ダウンを図ることができる。
を、添付図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発
明の一実施形態の基板処理装置の構成を概念的に示す平
面図である。この基板処理装置は、集積回路素子(I
C)の製造に用いられる半導体ウエハ(以下「基板」と
いう。)Wに対して一連の処理を施すためのもので、複
数枚の基板Wをそれぞれ収容することができる複数のカ
セットCに対して基板Wの搬入/搬出を行うインデクサ
10と、インデクサ10から供給される未処理の基板W
に一連の処理を施し、処理後の基板Wをインデクサ10
に向けて排出する処理モジュール20とを備えている。
クサ搬送路11上を往復移動することができるインデク
サロボット12と、インデクサ搬送路11に沿うように
複数のカセットCを載置できるカセット載置部13とを
備えている。インデクサ搬送路11のカセット載置部1
3とは反対側において、処理モジュール20がインデク
サ10に結合されている。
11の中間部付近からインデクサ搬送路11に直交する
方向に直線的に延びた主搬送路21を往復移動できる主
搬送ロボット22を備えている。主搬送路21を挟むよ
うに一対のユニット部30A,30Bが配置されてい
る。ユニット部30A,30Bは、それぞれ、主搬送路
21に沿って配置されており、基板Wに対して処理を施
すための処理装置31,32をそれぞれ内部に有する2
つの処理室33,34と、各処理室33,34に対して
基板Wの搬入および/または搬出を行うロボット35,
36,37を内部に有する搬送室38,39,40とを
備えている。
ット22は、ボールねじ機構のような直線搬送機構を含
む図示しない駆動機構によって、それぞれ、インデクサ
搬送路11および主搬送路21に沿う直線往復移動が可
能なように構成されている。インデクサロボット12
は、カセットC内の基板Wを1枚ずつ取り出して保持す
る機構を有している。主搬送ロボット22は、基板Wの
保持、インデクサロボット12との間の基板Wの受渡
し、および搬送ロボット35との間の基板Wの受け渡し
のための機構を有している。インデクサロボット12お
よび主搬送ロボット22は、図示しないシステムコンピ
ュータによる制御の下、所定のプログラムに従って動作
するようになっている。
板Wに同じ一連の処理を施すためのもので、処理室3
3,34が主搬送路21に沿って所定間隔を開けて配置
されている。処理モジュール20が基板Wに対して薬液
処理および水洗処理を施すものである場合には、たとえ
ば、インデクサ10から遠い側の処理室33は基板Wに
薬液を供給してエッチングするための薬液処理室(以下
「MTC」という。)であり、インデクサ10に近い側
の処理室34は薬液処理後の基板Wを純水で洗って乾燥
させるための水洗/乾燥処理室(以下「DTC」とい
う。)である。MTC33をインデクサ10から遠い側
に配置しているのは、MTC33で発生する薬液雰囲気
がインデクサ10に達しにくくするためである。
反対側には、主搬送ロボット22から未処理の基板Wを
受け取ってMTC33に搬入するための搬入ロボット3
5を内部に有する搬入室38が設けられている。また、
MTC33とDTC34との間には、薬液処理後の基板
WをMTC33から受け取ってDTC34に搬入するた
めの移送ロボット36を内部に有する移送室39が設け
られている。さらに、DTC34のインデクサ10側に
は、水洗/乾燥処理後の基板WをDTC34から受け取
ってインデクサロボット12に渡すための搬出ロボット
37を内部に有する搬出室40が設けられている。搬入
ロボット35、移送ロボット36および搬出ロボット3
7は、いずれも、たとえばスカラー方式のロボットであ
る。
び搬入ロボット35が第1の基板搬送ロボットに相当
し、搬出ロボット37が第2の基板搬送ロボットに相当
する。処理の開始に際し、インデクサロボット12は、
カセット載置部13に載置されている複数個のカセット
Cのうちのいずれか1つから基板Wを1枚だけ搬出し、
主搬送路21との結合部付近までインデクサ搬送路11
上を移動した後、前記搬出した基板Wを主搬送ロボット
22に渡す。基板Wを受け取った主搬送ロボット22
は、搬入室38の前まで主搬送路21上を移動し、受け
取った基板Wを搬入ロボット35に渡す。
をMTC33に搬入し、薬液処理装置31に渡す。薬液
処理装置31は、渡された基板Wを保持した状態で当該
基板Wを高速回転させつつ当該基板Wに薬液を供給す
る。こうして、基板Wに薬液処理が施される。薬液処理
が終了すると、移送ロボット36は、薬液処理後の基板
WをMTC33から搬出し、DTC34に搬入して水洗
/乾燥処理装置32に渡す。水洗/乾燥処理装置32
は、渡された基板Wを保持した状態で当該基板Wを高速
回転させつつ当該基板Wに純水を供給する。こうして、
基板Wに洗浄処理が施される。さらに、純水の供給を停
止した状態で基板Wを高速回転させ、基板W上の水分を
振り切って基板Wを乾燥させる。その後、搬出ロボット
37は、処理済の基板WをDTC34から搬出する。
WがDTC34から搬出されると、搬出室40の前まで
インデクサ搬送路11上を移動し、搬出ロボット37が
保持している基板を受け取る。その後、インデクサロボ
ット12は、受け取った基板Wが元々収納されていたカ
セットCの前まで移動し、保持している基板Wをそのカ
セットCに収納する。これにより、1枚の基板Wに対す
る一連の処理が完了する。
示す概略斜視図である。インデクサロボット12は、イ
ンデクサ搬送路11(図1参照)上にインデクサ搬送路
11の長手方向L1に沿って所定間隔を開けて延設され
ている2本のガイドレール15a,15b上に載せられ
た可動台50と、この可動台50の上部に可動台50に
対して上下方向に移動可能に設けられた基台60と、こ
の基台60の上部に設けられた基板保持機構70とを備
えている。
路11の長手方向L1に沿う方向であって、図1におけ
るユニット部30Bからユニット部30Aに向かう方向
を「+L1方向」、ユニット部30Aからユニット部3
0Bに向かう方向を「−L1方向」という。可動台50
には、インデクサ搬送路11の長手方向L1に沿って延
びたねじ軸51を含むボールねじ機構52が備えられて
いる。ねじ軸51が第1モータM1で回転方向C1また
はC2に回転駆動されると、可動台50がガイドレール
15a,15b上を+L1方向または−L1方向に向か
って移動する。この移動に伴って、基台60および基板
保持機構70も同じ方向に移動する。
して上下方向に移動させるためのボールねじ機構61が
備えられている。ボールねじ機構61には、可動台50
のほぼ中央上部から上方に向かって立設されたねじ軸6
2が含まれている。ねじ軸62が第2モータM2で回転
方向C3またはC4に回転駆動されると、基台60が可
動台50に対して上方または下方に移動する。この上下
移動に伴って、基板保持機構70も同じ方向に移動す
る。
理の基板Wを取り出すための基板取出アーム80と、カ
セットCに処理済の基板Wを収納するための基板収納ア
ーム90とを備えている。基板取出アーム80は、基板
Wを保持するための取出用アーム部81と、取出用アー
ム部81で保持される基板Wを位置決めするための取出
用位置決めガイド部82とを含む。
うち+L1方向側にずれた位置に上方に向かって立設さ
れたアーム支柱81aと、アーム支柱81aの上部に接
続され、−L1方向に向かって延びた連結部材81b
と、連結部材81bに接続され、インデクサ搬送路11
の長手方向L1にほぼ直交する方向であるカセットアク
セス方向L2に沿って延びたレバー81cと、レバー8
1cの先端部および途中部に取り付けられた基板保持部
材81dとを備えている。
ち+L1方向側にずれた位置にカセットアクセス方向L
2に沿って形成されたガイド溝83に沿って移動できる
ようになっている。これにより、取出用アーム部81全
体がカセットアクセス方向L2に沿って移動できる。ア
ーム支柱81aには、第3モータM3で発生された駆動
力が図示しないベルト機構によって伝達されるようにな
っており、これによりカセットアクセス方向L2に沿っ
て移動できる。
ーム部81に保持される基板Wの周縁が当接するような
形状の当接面82aが形成されたガイド部本体82bを
備えており、ガイド部本体82bは、アーム支柱81a
の近傍位置に立設されたガイド支柱82cによって支持
されている。ガイド支柱82cは、第1シリンダS1に
よってカセットアクセス方向L2に沿って移動可能にさ
れており、これによりカセットCから取り出した未処理
の基板Wを主搬送ロボット22に渡すときに、基板Wの
位置決め状態を解除できるようになっている。
出アーム80と同様の構成となっている。すなわち、ア
ーム支柱91a、アーム支柱91aの上部に接続された
連結部材91b、連結部材91bに接続されたレバー9
1c、レバー91cに取り付けられた基板保持部材91
dを含む収納用アーム部91、ならびにガイド支柱92
c、ガイド支柱92cによって支持され、当接面92a
が形成されたガイド部本体92bを含む収納用位置決め
ガイド部92を有する。
ち+L1方向側にずれた位置に立設され、同じく+L1
方向側にずれた位置にカセットアクセス方向L2に沿っ
て形成されたガイド溝93に沿って移動可能にされてい
る。また、ガイド支柱92cは、アーム支柱91aの近
傍位置に立設されている。これらアーム支柱91aおよ
びガイド支柱92cの駆動源は、それぞれ、第4モータ
M4および第2シリンダS2である。
とは上下方向に沿って互いにずれており、基板取出アー
ム80が基板収納アーム90に対して下方になるように
されている。すなわち、基板取出アーム80を基板収納
アーム90よりも上方になるようにすると、未処理の基
板Wや基板取出アーム80に未処理の基板Wから転移し
たパーティクルが基板収納アーム90や基板収納アーム
90に保持される基板Wに落下するおそれがあるからで
ある。また、基板取出アーム80と基板収納アーム90
とを同じ高さにすると、インデクサ搬送路11に沿うイ
ンデクサロボット12の長さが長くなり、装置サイズが
大型化するので、あまり好ましくない。
に第1および第2シリンダS1,S2は、たとえばマイ
クロコンピュータで構成された制御部100によってそ
の動作がそれぞれ独立に制御されるようになっている。
これにより、取出用アーム部81と収納用アーム部91
とを選択的にカセットアクセス方向L2に沿って移動さ
せることができる。また、取出用位置決めガイド部82
と収納用位置決めガイド部92とを選択的に位置決め状
態および位置決め解除状態に変位させることができる。
周面に沿って複数の基板収納溝110が形成されてい
る。基板Wは、各基板収納溝110にそれぞれ1枚ずつ
収納される。複数枚の基板WがカセットCに収納されて
いるとき、各基板Wの間は、取出用アーム部81および
収納用保持アーム部91が挿入できる程度のスペースが
開けられている。
取り出す際の動作を説明するための概念的な図である。
未処理の基板WをカセットCから取り出す際、制御部1
00は、まず、第1モータM1を駆動し、取出対象の基
板W0 が収納されているカセットCの前までインデクサ
ロボット12を移動させ、取出用アーム部81が取出対
象の基板W0 のほぼ中央位置に達したタイミングで停止
させる。
0および基板保持機構70を上昇させ、基板取出アーム
80の取出用アーム部81が取出対象の基板W0 と当該
基板W0 の1枚下の基板W1 との間に達した位置で停止
させる(図3(a) )。そして、第3モータM3を駆動
し、取出用アーム部81をカセットCに向けて移動さ
せ、取出対象の基板W0 の下方位置で停止させる(図3
(b) )。
台60および基板保持機構70を上昇させる。このとき
の上昇幅は、基板W0 を取出用アーム部81が保持する
のに十分な距離とする。その結果、取出対象の基板W0
が取出用アーム部81に保持される(図3(c) )。その
後、第3モータM3を駆動し、取出用アーム部81をカ
セットCから遠ざかる方向に移動させる。この移動の結
果、取出用アーム部81に保持されている基板W0 の周
縁が取出用位置決めガイド部82の当接面82aに当接
し、基板W 0 が位置決めされる(図3(d) )。これによ
り、未処理の基板Wの取出しが完了する。
を駆動し、インデクサロボット12を主搬送路21との
結合付近まで移動させ、この位置において、保持してい
る基板W0 を主搬送ロボット22に渡す。このとき、第
1シリンダS1を動かし、取出用位置決めガイド部82
をカセットCから遠ざかる方向に少し移動させ、基板W
0 の位置決め状態を解除する。さらに、第2モータM2
を駆動し、基台60および基板保持機構70を下降させ
る。その結果、その下降途中に設けられたリフタピン
(図示せず)に基板W0 が移される。主搬送ロボット2
2は、このリフタピンに載せられている状態の基板W0
の下方にアームを延ばし、このアームを上昇させること
によってリフタピンから基板W0 を受け取る。その後、
アームを縮めることで、基板W0 の受け取りが完了す
る。
納する際の動作を説明するための概念的な図である。カ
セットCから取り出された後ユニット部30Aおよび3
0Bで処理された基板W0 は、前述のように、搬出ロボ
ット37からインデクサロボット12に渡される。一
方、制御部100は、搬出ロボット37に基板W0 が渡
されると、第1モータM1を駆動し、インデクサロボッ
ト12を搬出室40の手前まで移動させる。この状態に
おいて、搬出ロボット37は図示しないリフタピン上に
処理済の基板W0 を置く。
2を動かして収納用位置決めガイド部92を位置決め解
除状態にし、第2モータM2を駆動し、基板収納アーム
91を上昇させる。その結果、リフタピン上の基板W0
が基板収納アーム91に移る。その後、第2シリンダS
2を動かして基板W0 を位置決めする。そして、第1モ
ータM1を駆動し、インデクサロボット12を当該基板
W0 が元々収納されていたカセットCの手前まで移動さ
せ、基板収納アーム91が当該カセットCのほぼ中央手
前まで達したときに停止させる。
0および基板保持機構70を上昇させ、基板収納アーム
90の取出用アーム部91が処理済の基板W0 を収納す
べき基板収納溝110(図2参照)とほぼ同じ高さに達
した位置で停止させる(図4(a) )。そして、第4モー
タM4を駆動し、基板収納アーム91をカセットCに向
けて移動させ、基板W0 をカセットC内に搬入する(図
4(b) )。次いで、第2モータM2を駆動し、基板収納
アーム91を下降させる(図4(c) )。その結果、基板
W0 はカセットC内の所定の基板収納溝110に収ま
る。その後、第4モータM4を駆動し、基板収納アーム
91をカセットCから遠ざかる方向に移動させる(図4
(d) )。これにより、基板収納動作がすべて完了する。
クサロボット12から未処理の基板Wを受け取るための
専用の主搬送ロボット22、主搬送ロボット22から未
処理の基板Wを受け取ってMTC33に搬入するための
搬入ロボット35、およびインデクサロボット12に処
理済の基板Wを渡すための専用の搬出ロボット37を備
えているから、処理済の基板Wの搬送を担当する搬出ロ
ボット37に未処理の基板Wに付着しているパーティク
ルが転移することはない。したがって、洗浄された後の
基板Wを再汚染することはない。
理の基板WをカセットCから取り出すための専用の基板
取出アーム80と処理済の基板WをカセットCに収納す
るための専用の基板収納アーム90とを備えているか
ら、処理済の基板Wの搬送を担当する基板収納アーム9
0に未処理の基板Wに付着しているパーティクルが転移
することはない。そのうえ、基板取出アーム81を基板
収納アーム91の下方に設けているから、未処理の基板
Wや基板取出アーム81に付着しているパーティクルが
基板収納アーム80や基板収納アーム80に保持される
処理済の基板Wに落下することがない。したがって、イ
ンデクサロボット12に処理済の基板Wが渡された後で
あっても、洗浄された後の基板Wを再汚染することがな
い。
できる。また、未処理の基板Wのユニット部30A,3
0Bへの搬入と、処理済の基板Wの搬出とを同時に行う
ことができるから、処理タクトの向上を図れる。そのた
め、基板処理の一層の効率化を図ることができる。本発
明の実施の一形態の説明は以上のとおりであるが、本発
明は前述の実施形態に限定されるものではない。たとえ
ば前記実施形態では、処理モジュール20の構成として
主搬送路21を挟んで互いに同じ処理を行う一対のユニ
ット部30A,30Bが配置された構成を採用している
が、たとえば図5に概略的な平面図を示すように、処理
ユニット150とスカラー方式の搬送ロボット151と
を交互に配置した順次搬送型の処理モジュール20を平
面視においてほぼコの字状に形成し、処理モジュール2
0の一端および他端に、それぞれ、未処理の基板Wをイ
ンデクサロボット12から受け取るための搬入ロボット
160、および処理済の基板Wをインデクサ12に渡す
ための搬出ロボット161を設けるようにしてもよい。
この構成によっても、未処理の基板Wを扱うロボットと
処理済の基板Wを扱うロボットとを別個にしているか
ら、前記実施形態と同様に、処理済の基板Wを再汚染す
ることはなく、基板Wの高品質化を図れるとともに、処
理タクトの向上を図れる。
6に示すような構成を採用してもよ。この構成の処理モ
ジュール20は、インデクサ搬送路11の一端付近から
インデクサロボット12の搬送方向に対しほぼ直交する
方向に延びた搬入路170上を移動する搬入ロボット1
71と、インデクサ搬送路11の他端付近から搬入路1
70とほぼ平行に延びた搬出路180上を移動する搬出
ロボット181と、搬入路170と搬出路180とに挟
まれるように配置されたユニット部190とを備えてい
る。ユニット部190には、インデクサ10に近い側か
ら順に、2つの洗浄処理ユニット191a,191bお
よび薬液処理ユニット192a,192bが一列に配列
されている。搬出ロボット181は洗浄処理ユニットか
らしか処理済の基板Wを受け取らないから、搬出路18
1は搬入路171の半分の長さになっている。
ト12から未処理の基板Wを受け取ると、当該基板Wを
薬液処理ユニット192a,192bのいずれかに搬入
する。薬液処理終了後、搬入ロボット171は薬液処理
ユニット192aまたは192bから処理済の基板Wを
取り出し、洗浄処理ユニット191a,191bのいず
れかに搬入する。洗浄処理終了後、処理済の基板Wは搬
出ロボット181にて搬出され、インデクサロボット1
2に渡される。
液処理ユニット192a,192bに搬送するロボット
と処理済の基板Wを洗浄処理ユニット191a,191
bから取り出してインデクサロボット12に渡すロボッ
トとを別個のものとしているから、前記実施形態と同様
に、処理済の基板Wを再汚染することがなく、基板Wの
高品質化を図れるとともに、処理タクトの向上を図るこ
とができる。
Wを搬送する搬入ロボットによってユニット部から搬出
されるので、パーティクルが薬液処理後の基板Wに付着
するおそれがある。しかし、薬液処理後の基板Wは洗浄
処理ユニットにて洗浄されるから、基板Wに付着したパ
ーティクルを洗い流すことができる。したがって、特に
問題はない。
収納されていたカセットCに収納する場合について説明
しているが、たとえば未処理の基板Wが収納されるカセ
ットCと処理済の基板Wが収納されるカセットCとをそ
れぞれ別個にしてもよい。この場合、たとえば処理済の
基板WをカセットCの下方の基板収納溝110から上方
の基板収納溝110に順次収納するときでも、前記実施
形態のように、基板取出アーム80と基板収納アーム9
0とを選択的にカセットC内に進入できるようにしてお
けば、カセットCにすでに収納されている処理済の基板
Wに基板取出アーム80からパーティクルが脱落するこ
とがない。よって、基板Wの再汚染を防止できる。
ンデクサロボット12に基板取出アーム80と基板収納
アーム90とを備えるようにしているが、これはカセッ
トCが複数台ある場合でもロボットが1台で済むからコ
スト的に有利であるとの点を重要視しているためで、こ
の点を特に重要視しないのであれば、たとえば基板取出
アーム80と基板収納アーム90とをそれぞれ別のロボ
ットに備えるようにしてもよい。
内で種々の設計変更を施すことが可能である。
ットに対して基板搬送動作を行うロボットと基板搬出動
作を行うロボットとを別個のものとしているから、未処
理の基板からロボットにパーティクルが転移していて
も、処理済の基板に当該パーティクルが付着することは
ない。したがって、処理済の基板の再汚染を防止でき
る。そのため、基板の高品質化を図れる。
作と基板搬出動作とを同時に行うことができるから、処
理タクトの向上を図れる。そのため、基板処理の一層の
効率化を図れる。さらに、請求項1および請求項4の発
明によれば、処理済の基板をカセットに収納する場合
に、基板取出アームをカセットに挿入しないようにする
ことができるから、基板をカセットの下側から順に収納
していくときでも、カセットにすでに収納されている処
理済の基板上に基板取出アームからのパーティクルが落
下することはない。よって、基板の再汚染を防止でき、
基板の一層の高品質化を図れる。この効果は、未処理の
基板が収納されているカセットと処理済の基板を収納す
るカセットとが別の場合に特に有効である。
ットがカセット載置部に載置されていても、カセットに
対してアクセスするためのロボットは1台でよいから、
各アームをそれぞれ別個のロボットに備える場合に比べ
てコストダウンを図ることができる。請求項2および請
求項5の発明によれば、未処理の基板や基板取出アーム
に付着しているパーティクルが基板収納アームや基板収
納アームに保持される処理済の基板に落下することはな
いから、処理済の基板を再汚染することがなく、基板の
一層の高品質化を図れる。
略的に示す平面図である。
る。
するための概念的な図である。
するための概念的な図である。
概略的に示す平面図である。
概略的に示す平面図である。
図である。
Claims (5)
- 【請求項1】複数枚の基板を収容するためのカセットが
載置されるカセット載置部と、 基板を洗浄するための少なくとも1つの洗浄処理部を含
み、基板に一連の処理を施すための複数の処理ユニット
と、 前記カセット載置部に載置されるカセットに収納されて
いる未処理の基板を取り出すための基板取出アームと、 前記いずれかの処理ユニットにおいて処理された後の基
板を前記カセット載置部に載置されるカセットに収納す
るための基板収納アームと、 前記基板取出アームから未処理の基板を受け取り、この
受け取った基板を前記複数の処理ユニットのうちいずれ
かの処理ユニットに搬送するための第1の基板搬送ロボ
ットと、 前記複数の処理ユニットのうちいずれかの処理ユニット
から処理済の基板を搬出し、この搬出された基板を前記
基板収納アームに渡すための第2の基板搬送ロボットと
を含み、 前記基板取出アームと基板収納アームとは、前記カセッ
トに対して選択的に挿入されるものである ことを特徴と
する基板処理装置。 - 【請求項2】複数枚の基板を収容するためのカセットが
載置されるカセット載置部と、 基板を洗浄するための少なくとも1つの洗浄処理部を含
み、基板に一連の処理を施すための複数の処理ユニット
と、 前記カセット載置部に載置されるカセットに収納されて
いる未処理の基板を取り出すための基板取出アームと、 前記いずれかの処理ユニットにおいて処理された後の基
板を前記カセット載置部に載置されるカセットに収納す
るための基板収納アームと、 前記基板取出アームから未処理の基板を受け取り、この
受け取った基板を前記複数の処理ユニットのうちいずれ
かの処理ユニットに搬送するための第1の基板搬送ロボ
ットと、 前記複数の処理ユニットのうちいずれかの処理ユニット
から処理済の基板を搬 出し、この搬出された基板を前記
基板収納アームに渡すための第2の基板搬送ロボットと
を含み、 前記基板取出アームは、前記基板収納アームよりも下方
に配置されている ことを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項3】前記カセットは所定のカセット載置方向に
沿って前記カセット載置部に複数載置されており、 前記基板取出アームおよび基板収納アームは、前記カセ
ット載置方向に沿って移動可能な1台のインデクサロボ
ットに備えられているものであることを特徴とする請求
項1または請求項2記載の基板処理装置。 - 【請求項4】複数枚の基板を収容するためのカセットが
載置されるカセット載置部と、基板を洗浄するための少
なくとも1つの洗浄処理部を含み、基板に一連の処理を
施すための複数の処理ユニットとを有する基板処理装置
によって基板を処理するための基板処理方法であって、 前記カセット載置部に載置されるカセットに収納されて
いる未処理の基板を基板取出アームによって取り出すス
テップと、 前記いずれかの処理ユニットにおいて処理された後の基
板を基板収納アームによって前記カセット載置部に載置
されるカセットに収納するステップと、 第1の基板搬送ロボットによって、前記基板取出アーム
から未処理の基板を受け取り、この受け取った基板を前
記複数の処理ユニットのうちいずれかの処理ユニットに
搬送するステップと、 第2の基板搬送ロボットによって、前記複数の処理ユニ
ットのうちいずれかの処理ユニットから処理済の基板を
搬出し、この搬出された基板を前記基板収納アームに渡
すステップとを含み、 前記基板取出アームと基板収納アームとを、前記カセッ
トに対して選択的に挿入することを特徴とする基板処理
方法。 - 【請求項5】複数枚の基板を収容するためのカセットが
載置されるカセット載置部と、基板 を洗浄するための少
なくとも1つの洗浄処理部を含み、基板に一連の処理を
施すための複数の処理ユニットとを有する基板処理装置
によって基板を処理するための基板処理方法であって、 前記カセット載置部に載置されるカセットに収納されて
いる未処理の基板を基板取出アームによって取り出すス
テップと、 前記いずれかの処理ユニットにおいて処理された後の基
板を基板収納アームによって前記カセット載置部に載置
されるカセットに収納するステップと、 第1の基板搬送ロボットによって、前記基板取出アーム
から未処理の基板を受け取り、この受け取った基板を前
記複数の処理ユニットのうちいずれかの処理ユニットに
搬送するステップと、 第2の基板搬送ロボットによって、前記複数の処理ユニ
ットのうちいずれかの処理ユニットから処理済の基板を
搬出し、この搬出された基板を前記基板収納アームに渡
すステップとを含み、 前記基板取出アームは、前記基板収納アームよりも下方
に配置されていることを特徴とする基板処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30688596A JP3522469B2 (ja) | 1996-11-18 | 1996-11-18 | 基板処理装置および基板処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30688596A JP3522469B2 (ja) | 1996-11-18 | 1996-11-18 | 基板処理装置および基板処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10150090A JPH10150090A (ja) | 1998-06-02 |
JP3522469B2 true JP3522469B2 (ja) | 2004-04-26 |
Family
ID=17962431
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30688596A Expired - Lifetime JP3522469B2 (ja) | 1996-11-18 | 1996-11-18 | 基板処理装置および基板処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3522469B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10748795B2 (en) | 2016-09-26 | 2020-08-18 | SCREEN Holdings Co., Ltd. | Substrate processing method and substrate processing apparatus |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000138283A (ja) * | 1998-08-28 | 2000-05-16 | Tadahiro Omi | ウエハの交換機能を有するウエハストッカ |
JP4348921B2 (ja) * | 2002-09-25 | 2009-10-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 被処理体の搬送方法 |
JP4283559B2 (ja) | 2003-02-24 | 2009-06-24 | 東京エレクトロン株式会社 | 搬送装置及び真空処理装置並びに常圧搬送装置 |
JP2004281475A (ja) | 2003-03-12 | 2004-10-07 | Seiko Epson Corp | 枚葉搬送装置および枚葉搬送方法 |
KR100934769B1 (ko) | 2005-08-01 | 2009-12-30 | 주식회사 에이디피엔지니어링 | 기판 이송 시스템 |
JP4744427B2 (ja) * | 2006-12-27 | 2011-08-10 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
US7694688B2 (en) * | 2007-01-05 | 2010-04-13 | Applied Materials, Inc. | Wet clean system design |
JP4906824B2 (ja) * | 2008-10-02 | 2012-03-28 | 東京エレクトロン株式会社 | 液処理装置 |
-
1996
- 1996-11-18 JP JP30688596A patent/JP3522469B2/ja not_active Expired - Lifetime
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---|---|---|---|---|
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---|---|
JPH10150090A (ja) | 1998-06-02 |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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EXPY | Cancellation because of completion of term |