JP2587089B2 - Method of transporting semiconductor device - Google Patents
Method of transporting semiconductor deviceInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子部品である半導体装置の搬送に利用し
て有効な技術に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a technology effective for transporting a semiconductor device as an electronic component.
従来の技術としては、電子部品を搬送する為の収容容
器として、特開昭59−32155号公報に記載されている。
その概要は、複数個の収納部を有する電子部品の収納容
器であって、収納部の周囲を規定する積み重ね可能に突
出した枠部と、収納部の底部に収納されるべき電子部品
の底部を支持するための突出部と、収納部の底部より下
方に突出し、かつ積み重ねたときに下部に位置する電子
部品の上部を所定の力で押しつけるための押し付け部と
を設けた収納容器に電子部品を収納し搬送していた。As a conventional technique, Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 59-32155 describes a container for transporting electronic components.
The outline is a storage container of an electronic component having a plurality of storage portions, a stackable protruding frame portion that defines the periphery of the storage portion, and a bottom portion of the electronic component to be stored in the bottom portion of the storage portion. The electronic component is placed in a storage container provided with a protruding portion for supporting and a pressing portion that protrudes below the bottom of the storing portion and presses the upper portion of the electronic component located at the bottom when stacked with a predetermined force. It was stored and transported.
本発明者は、上記収納容器と同様な収納容器を用い
て、電子部品の搬送を行なったところ、以下に示すよう
な問題があることを明らかにした。The present inventor has clarified that the following problems are encountered when electronic components are transported using the same storage container as the above storage container.
すなわち、収容容器を積み重ねた状態では、電子部品
はその動きを規制され、電子部品が収納容器内で不必要
に動くことが低減され、そのリード曲りなどを低減でき
るが、収納容器を個々に分離した際には、電子部品が上
方からおさえられないので、電子部品は、衝撃により収
納容器内でリードが変形するという問題である。That is, in a state where the storage containers are stacked, the movement of the electronic components is restricted, and unnecessary movement of the electronic components in the storage container is reduced, and the lead bending and the like can be reduced, but the storage containers are separated individually. In such a case, since the electronic component is not pressed down from above, the electronic component has a problem that the lead is deformed in the storage container due to an impact.
また、電子部品は、積み重ねた収納容器の底部に接
し、押し付けられる為、そのパッケージがこすれ、パッ
ケージ主表面に印字されたマークがはがれたりする等と
いう問題があることも本発明者によって明らかにされ
た。The present inventors have also revealed that the electronic component comes into contact with and is pressed against the bottom of the stacked storage containers, so that the package is rubbed and the mark printed on the main surface of the package is peeled off. Was.
本発明の目的は、電子部品を収納した収納容器を重ね
ることを問わずとも、電気部品のリード変形を低減でき
る、部品の搬送技術を提供することにある。An object of the present invention is to provide a component transfer technique that can reduce lead deformation of an electrical component regardless of whether a storage container that stores electronic components is stacked.
本発明の他の目的は、電子部品のパッケージを押える
ことなく、そのリード曲りを低減できる部品の搬送技術
を提供することにある。It is another object of the present invention to provide a component transfer technique capable of reducing lead bending without pressing a package of an electronic component.
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は
本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろ
う。The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.
本願において開示される発明のうち代表的なものの概
要を簡単に説明すれば下記のとおりである。The outline of a representative invention among the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.
すなわち、電子部品のリードを、パッケージの厚さよ
り厚く、主表面より高くなるようろう材で覆い固化さ
せ、その状態で収納容器に入れ、搬送するものである。That is, the leads of the electronic component are covered with a brazing material so as to be thicker than the package and higher than the main surface, solidified, placed in a storage container in that state, and transported.
上述した手段によれば、電子部品のリードは、ろう材
の固化したもので覆われており、収納容器内で、外部か
らの何らかの衝撃で電子部品が動いたとしても、リード
への衝撃は、ろう材はもとより、周囲のリード群(沢山
のリードの意)で吸収することになり、特定のリードに
集中して衝撃が加わることが低減される為、リード変形
が低減されるものである。それゆえ、収納容器を重ね、
吸収容器の底部で電子部品を押さえることなく、リード
変形を低減できるものである。According to the above-described means, the lead of the electronic component is covered with solidified brazing material, and even if the electronic component moves by any external impact in the storage container, the impact on the lead is The lead material is absorbed not only by the brazing material but also by the surrounding lead group (meaning a large number of leads), and it is possible to reduce the possibility of the impact being concentrated on a specific lead, thereby reducing the lead deformation. Therefore, stack the storage containers,
The lead deformation can be reduced without holding down the electronic component at the bottom of the absorption container.
また、電子部品を収納した収納容器を多段に積み重
ね、収納容器の底部で電子部品を押さえたとしても、ろ
う材の固化したものが、パッケージの主表面よりも高い
位置に及んでいる為、ろう材と収納容器の底部がこすれ
ることになり、パッケージがこすれることが低減され、
パッケージ主表面のマークがはがれることを低減できる
ものである。Even if the storage containers containing the electronic components are stacked in multiple stages and the electronic components are pressed at the bottom of the storage container, since the solidified brazing material reaches a position higher than the main surface of the package, The material and the bottom of the storage container will be rubbed, reducing the rubbing of the package,
Peeling of the mark on the main surface of the package can be reduced.
第1図は、本発明の一実施例である半導体装置の搬送
方法において、収納容器としてのトレー内の1つのポケ
ットに、部品としての半導体装置(電子部品の一種)を
収納した状態を示す概略断面図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing a state in which a semiconductor device (a kind of electronic component) as a component is stored in one pocket in a tray as a storage container in the method of transporting a semiconductor device according to one embodiment of the present invention. It is sectional drawing.
第2図は、本発明の一実施例である部品の搬送方法に
おいて、部品としての半導体装置を、ろう材で覆う状態
を示す、概略断面図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing a state in which a semiconductor device as a component is covered with a brazing material in the component transport method according to one embodiment of the present invention.
第3図は、本発明の一実施例である半導体装置の搬送
方法において、部品としての半導体装置を収納した、収
納容器としてのトレーを重ねた一部を示す、概略断面図
である。FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a part of a stack of trays as storage containers in which semiconductor devices as components are stored in the method for transporting semiconductor devices according to one embodiment of the present invention.
第1図において、1は、ろう材で覆われた部品として
の半導体装置(以下梱包半導体装置1とする)を示す。
2は、部品としての半導体装置(電子部品)であり、本
実施例では、後述するパッケージの四側面からリードが
突出している。QF(クワッド・フラット)タイプの半導
体装置を示している。3は、パッケージであり、半導体
装置の心臓部といえる、半導体素子(図示せず)と、そ
の周囲を覆う、四方形状の樹脂体である。4は、リード
であり、図示しない半導体素子と、その外部との導通を
とる為のもので、パッケージ3の四側面(図示は、三側
面のみ)から突出している。5は、ろうであり、ろう材
の固化したもので、本実施例では、リード4の、パッケ
ージ3とのつけ根部分からその先端までを覆う直方体形
状で、パッケージ3の主表面よりも高い位置まで覆われ
るものである。6は、収納容器としてのトレーであり、
梱包半導体装置1が入り得るポケット7が、XY方向(図
示せず)に複数行、複数列に渡って形成された板状物
で、積み重ね可能になっている。8は、底部であり、ト
レー6のポケット7の底面部を示す。In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a semiconductor device as a component covered with a brazing material (hereinafter referred to as a packaged semiconductor device 1).
Reference numeral 2 denotes a semiconductor device (electronic component) as a component. In this embodiment, leads protrude from four sides of a package described later. 1 shows a QF (quad flat) type semiconductor device. Reference numeral 3 denotes a package, which is a semiconductor element (not shown), which can be said to be the heart of the semiconductor device, and a quadrangular resin body that covers the periphery thereof. Reference numeral 4 denotes a lead for conducting between a semiconductor element (not shown) and the outside thereof, and protrudes from four sides (only three sides in the figure) of the package 3. Reference numeral 5 denotes a braze, which is a solidified brazing material. In this embodiment, the lead 4 has a rectangular parallelepiped shape covering from the base of the package 3 to the tip thereof, and extends to a position higher than the main surface of the package 3. What is covered. 6 is a tray as a storage container,
The pockets 7 into which the packaging semiconductor device 1 can be inserted are plate-like objects formed in a plurality of rows and a plurality of columns in the XY direction (not shown) and can be stacked. Reference numeral 8 denotes a bottom, which indicates the bottom of the pocket 7 of the tray 6.
第2図において、9は、梱包治具であり、半導体装置
2を、ろう材で梱包する為のトレーで、半導体装置2が
入るポケット10が、複数個形成されている(図示は、一
部のみ)。11は、側板であり、前記ポケット10を構成す
るもので、ポケット10内の半導体装置2の、パッケージ
2主表面よりも高い位置まで伸びている。12は、ノズル
であり、ろう材を流し込む為のものである。13は、ろう
材であり、溶融しているものである。14は、第1のマス
クであり、半導体装置2のリード4を、ろう材で覆う
際、不所望な部分(パッケージ部分など)にろう材が付
着しないようにする為のもので、パッケージ3の上側を
カバーする。15は、第2のマスクであり、半導体装置2
のリード4を、ろう材で覆う際不所望な部分(パッケー
ジ部分など)にろう材が付着しないようにする為のもの
で、パッケージ3の下側をカバーする。In FIG. 2, reference numeral 9 denotes a packing jig, which is a tray for packing the semiconductor device 2 with a brazing material, and is formed with a plurality of pockets 10 into which the semiconductor device 2 is inserted. only). Reference numeral 11 denotes a side plate which constitutes the pocket 10, and extends to a position higher than the main surface of the package 2 of the semiconductor device 2 in the pocket 10. Reference numeral 12 denotes a nozzle for pouring a brazing filler metal. Reference numeral 13 denotes a brazing material which is molten. Reference numeral 14 denotes a first mask for preventing the brazing material from adhering to an undesired portion (such as a package portion) when the lead 4 of the semiconductor device 2 is covered with the brazing material. Cover the upper side. Reference numeral 15 denotes a second mask, which is a semiconductor device 2
In order to prevent the brazing material from adhering to an undesired portion (eg, a package portion) when the lead 4 is covered with the brazing material, it covers the lower side of the package 3.
第3図においては、第1図のトレーを、二段に重ねた
ものであり、同一番号を付け、説明は省略するが、上の
トレー6の底部8と、下のトレー6内の、梱包半導体装
置1のろう5の上面とのすき間を、16とする。In FIG. 3, the trays of FIG. 1 are stacked in two stages, and are denoted by the same reference numerals and the description thereof is omitted, but the bottom 8 of the upper tray 6 and the packing in the lower tray 6 are provided. The gap between the upper surface of the solder 5 of the semiconductor device 1 is set to 16.
以下上述した構成の本発明の一実施例について、その
作用を説明する。The operation of the embodiment of the present invention having the above-described configuration will be described below.
先ず、半導体装置2のリード4をろう材で覆うには、
第2図に示すように、半導体装置2のパッケージ3に対
し、第1のマスク14がその上側をカバーし、第2のマス
ク15がその下側をカバーするようセットされた後、梱包
治具9のポケット10に入れられる。その状態で、ノズル
12からポケット10内に溶融したろう材が流し込まれ、ろ
う材が固化される。First, to cover the leads 4 of the semiconductor device 2 with brazing material,
As shown in FIG. 2, after the first mask 14 is set to cover the upper side of the package 3 of the semiconductor device 2 and the second mask 15 is set to cover the lower side thereof, a packing jig is provided. 9 pockets 10 In that state, the nozzle
The molten brazing material is poured into the pocket 10 from 12 and the brazing material is solidified.
ろう5で、そのリード4を覆われた梱包半導体装置1
は、第1図に示すように、トレー6内のポケット7に収
納されトレー6一枚での搬送又は、トレー6複数枚での
搬送(第3図は、二枚のみ)が行なわれる。トレー一枚
の場合にあっては、搬送中に何らの衝撃が加わっても、
梱包半導体装置1は、トレー6のポケット7内で移動す
るものであり、ろう5と、ポケット7側面又は、ポケッ
ト7の底が接触する為、衝撃は、リード4を覆うろう5
及びその中のリード4群(沢山のリード4の意)で吸収
することになり、リード4を何ら覆わないものに比べ、
特定のリードに衝撃が加わることを低減でき、リード曲
りを低減して半導体装置を搬送できるものである。Packaging semiconductor device 1 covered with its lead 4 by wax 5
As shown in FIG. 1, the tray 6 is accommodated in a pocket 7 in the tray 6 and transported by one tray 6 or transported by a plurality of trays 6 (only two trays in FIG. 3). In the case of a single tray, no matter what impact is applied during transportation,
The packaged semiconductor device 1 moves within the pocket 7 of the tray 6, and the solder 5 contacts the side of the pocket 7 or the bottom of the pocket 7, so that the impact causes the wax 5 to cover the lead 4.
And it will be absorbed by the lead 4 group (the meaning of many leads 4) in it, and compared with the lead 4 which does not cover at all,
It is possible to reduce the impact of a specific lead on the semiconductor device and reduce the bending of the lead, thereby transporting the semiconductor device.
また、第3図に示されるように、トレー6を重ねて搬
送する場合にあっては、トレー6の底部8と、ポケット
7内にはさまれた梱包半導体装置1は、何らの衝撃が加
わった場合でも、ポケット7の側面及びポケット7の
底、さらには、上のトレー6の底部8に、ろう5が接触
するものであり、衝撃は、前記と同様リード4を覆うろ
う5、及びその中のリード4群で吸収することになり、
リード4を何ら覆わないものに比べ、特定のリードに衝
撃が加わることを低減でき、リード曲りを低減して半導
体装置を搬送できるものである。それゆえ、トレーを重
ねて搬送する場合でも、上のトレー6の底面8で、下に
ある半導体装置2のパッケージ3主表面を押さえなくて
もリード4の変形を防止することができる。また、複数
のトレー6を積み重ねる場合であっても、ろう5がパッ
ケージ3の主表面よりも高い位置まで設けられており、
パッケージ3自体を押さえる必要がない(ろう5を押さ
えればよい)。すなわち、トレー6の底部8と半導体装
置2のパッケージ3は、接触することが低減でき、パッ
ケージ3主表面のマーク(図示せず)が消えたりするこ
とを低減できるものである。As shown in FIG. 3, when the trays 6 are conveyed in an overlapping manner, the package semiconductor device 1 sandwiched between the bottom 8 of the tray 6 and the pocket 7 receives any impact. In this case, the wax 5 contacts the side surface of the pocket 7, the bottom of the pocket 7, and the bottom 8 of the upper tray 6, and the impact is applied to the wax 5 covering the lead 4 as described above. It will be absorbed by 4 groups of leads inside,
As compared with the case where the leads 4 are not covered at all, it is possible to reduce the impact applied to a specific lead, to reduce the lead bending, and to transport the semiconductor device. Therefore, even when the trays are stacked and conveyed, the deformation of the leads 4 can be prevented without pressing the main surface of the package 3 of the semiconductor device 2 below on the bottom surface 8 of the upper tray 6. Further, even when a plurality of trays 6 are stacked, the wax 5 is provided to a position higher than the main surface of the package 3,
There is no need to hold down the package 3 itself (it is sufficient to hold down the wax 5). That is, the contact between the bottom 8 of the tray 6 and the package 3 of the semiconductor device 2 can be reduced, and the disappearance of marks (not shown) on the main surface of the package 3 can be reduced.
ところで、上述したような、ろう5でリード4を覆わ
れた梱包半導体装置をプリント基板などに実装する際
は、梱包半導体装置を(ろう5を)加熱し、ろう5を溶
融するだけで、実装することができ、テープ等を貼り付
けてリードの変形を防止するものに比べ、テープ等をは
がすなど、リードに衝撃を与えることなく、容易に実装
できるものである。By the way, when mounting the packaging semiconductor device covered with the leads 4 with the solder 5 as described above on a printed circuit board or the like, the packaging semiconductor device is simply heated (the solder 5) and melted. In comparison with a method in which a tape or the like is attached to prevent deformation of the lead, the tape or the like can be easily mounted without giving an impact to the lead by peeling off the tape or the like.
本実施例では、半導体装置のリード全体をろう材で覆
ったが、リードの一部(例えば、曲り易い角部や、リー
ドの長手方向の一部)を覆うこともでき、その場合に
は、ろう材の使用量を低減して、半導体装置の搬送がで
き、種々の覆い方が考えられる。すなわち、半導体装置
全体を覆うこともでき、この場合には、搬送中に何らの
衝撃が加わっても、半導体装置及びそれを覆うもの全体
で衝撃を吸収することになり、リード部のみを覆うもの
に比べ、さらに衝撃に対して強くできるものである。In this embodiment, the entire lead of the semiconductor device is covered with the brazing material. However, a part of the lead (for example, a corner that is easy to bend or a part in the longitudinal direction of the lead) can be covered. The semiconductor device can be transported by reducing the amount of the brazing material used, and various covering methods are conceivable. In other words, the entire semiconductor device can be covered. In this case, even if any impact is applied during transportation, the semiconductor device and the entirety covering the semiconductor device absorb the impact, and only the lead portion is covered. It can be more resistant to shocks.
また、本実施例では、溶融可能なものとして、ろう材
を用いたが、水を固化させた氷を用いることもでき、こ
の場合には、トレーのポケット内に半導体装置を入れ、
そのポケットに水を注入し、冷凍搬送し、実装時にはベ
ークして水(氷)を除去できる。この場合には、ろう材
に比べ安価な水で対処できるものである。Further, in the present embodiment, the brazing material is used as a meltable material, but ice in which water is solidified can also be used. In this case, the semiconductor device is put in the pocket of the tray,
Water can be injected into the pocket, transported frozen, and baked during mounting to remove water (ice). In this case, it is possible to cope with water that is cheaper than brazing material.
さらに、ドライアイスでリードを覆うことや、他の媒
体(加熱などでない液体など)で溶融するもので、リー
ドを覆うことも可能である。Further, it is possible to cover the reed with dry ice, or to cover the reed with another medium (such as a liquid that is not heated).
(1) 半導体装置のリードを溶融可能なもので覆い、
その状態で搬送することにより、リードに対して衝撃が
加わった場合でも、リードを覆う溶融可能なもの、及び
溶融可能なものによって覆われたリード群で、その衝撃
を吸収することができ、何らリードを覆わないものに比
べ、特定のリードに衝撃が加わる(集中する)ことを低
減でき、リード曲りを低減して、半導体装置の搬送がで
きるという効果が得られる。(1) Cover the leads of the semiconductor device with a meltable material,
By transporting in that state, even when an impact is applied to the lead, the impact can be absorbed by the fusible material covering the lead and the lead group covered by the fusible material. As compared with the case where the leads are not covered, it is possible to reduce the impact (concentration) on a specific lead, to reduce the bending of the leads, and to carry the semiconductor device.
(2) 半導体装置のリードをそのパッケージ主表面よ
りも高く、溶融可能なもので覆うことによりその状態
で、トレーに収納し、そのトレーを重ねて搬送した場合
でも、溶融可能なものがパッケージ主表面よりも突出し
ている為、トレーの底面とその下にある半導体装置のパ
ッケージが接触することを低減できる。それゆえ、パッ
ケージ主表面と、トレーとのこずれを低減し、パッケー
ジ主表面のマークが消えたり、主表面に傷がつくことを
低減できるという効果が得られる。(2) The leads of the semiconductor device are higher than the main surface of the package and are covered with a fusible object, so that the semiconductor device is stored in a tray in that state, and even if the trays are stacked and conveyed, the fusible object remains. Since the tray protrudes from the front surface, the contact between the bottom surface of the tray and the semiconductor device package thereunder can be reduced. Therefore, it is possible to obtain the effect of reducing the displacement between the main surface of the package and the tray, and reducing the disappearance of marks on the main surface of the package and the damage to the main surface.
(3) 半導体装置のリードを、溶融可能なもので覆
い、その状態で搬送することにより、リード曲りを低減
して、半導体装置の搬送を行なうことができる。さら
に、半導体装置を実装する際、熱又は、媒体などでリー
ドを覆うものを、溶融して分離することができ、テープ
等を貼り付けて、リード曲り低減して搬送するものに比
べ、テープ等をはがす等のリードに衝撃を与えることな
く実装が可能になる。それゆえ、実装直前にリードが変
形してしまうことを低減し、しかも容易に実装が可能で
あり、実装性が向上するという効果が得られる。(3) By covering the leads of the semiconductor device with a meltable material and transporting the semiconductor device in that state, the bending of the leads can be reduced and the semiconductor device can be transported. Furthermore, when mounting a semiconductor device, a material that covers leads with heat or a medium can be melted and separated. Mounting can be performed without giving an impact to the lead such as peeling. Therefore, it is possible to reduce the possibility that the leads are deformed immediately before mounting, and furthermore, it is possible to easily mount the leads, and it is possible to obtain an effect that the mountability is improved.
以上本発明者によってなされた発明を実施例にもとづ
き、具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定さ
れるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変
更可能であることはいうまでもない。Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and it can be said that various modifications can be made without departing from the gist of the invention. Not even.
本願において開示される発明のうち代表的なものによ
って得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりで
ある。The effects obtained by the representative inventions among the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.
すなわち、半導体装置のリードを溶融可能なもので覆
い、その状態で搬送することにより、衝撃を緩和して、
リード曲りを低減し、実装時も熱などにより覆っている
ものを容易に溶融して分離して実装できるものである。In other words, the lead of the semiconductor device is covered with a meltable material, and is transported in that state, thereby mitigating the impact.
The lead bend can be reduced, and the parts covered by heat or the like can be easily melted and separated and mounted at the time of mounting.
第1図は、本発明の一実施例である半導体装置の搬送方
法において、収納容器としてのトレー内の1つのポケッ
トに部品としての半導体装置を収納した状態を示す概略
断面図、 第2図は、本発明の一実施例である半導体装置の搬送方
法において、部品としての半導体装置を、ろう材で覆う
状態を示す、概略断面図、 第3図は、本発明の一実施例である半導体装置の搬送方
法において、部品としての半導体装置を収納した、収納
容器としてのトレーを重ねた一部を示す概略断面図であ
る。 1……梱包半導体装置、2……半導体装置、3……パッ
ケージ、4……リード、5……ろう、6……トレー、7,
10……ポケット、8……底部、9……梱包治具、11……
側板、12……ノズル、13……ろう材、14……第1のマス
ク、15……第2のマスク、16……すき間。FIG. 1 is a schematic sectional view showing a state in which a semiconductor device as a component is stored in one pocket in a tray as a storage container in a method of transporting a semiconductor device according to one embodiment of the present invention. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a state in which a semiconductor device as a component is covered with a brazing material in a method of transporting a semiconductor device according to an embodiment of the present invention. FIG. FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing a part of a tray as a storage container in which a semiconductor device as a component is stored in the transfer method of FIG. 1 ... Packing semiconductor device, 2 ... Semiconductor device, 3 ... Package, 4 ... Lead, 5 ... Wax, 6 ... Tray, 7,
10 ... pocket, 8 ... bottom, 9 ... packing jig, 11 ...
Side plate, 12 ... Nozzle, 13 ... brazing material, 14 ... first mask, 15 ... second mask, 16 ... gap.
Claims (4)
出したQF型の半導体装置を、前記半導体装置が入り得る
ポケットがXY方向に、複数行、複数列に亘って形成され
た板状の収納容器に収納して搬送する半導体装置の搬送
方法であって、 前記半導体装置の複数のリードを、前記パッケージより
も厚くパッケージの主表面よりも高く形成した溶融可能
なものによって覆った状態で搬送することを特徴とする
半導体装置の搬送方法。1. A QF type semiconductor device having a plurality of leads projecting from four side surfaces of a package into a plate-like housing in which pockets into which the semiconductor device can be inserted are formed in a plurality of rows and a plurality of columns in an XY direction. A method of transporting a semiconductor device which is housed in a container and transported, wherein the plurality of leads of the semiconductor device are transported in a state where the leads are covered with a meltable material which is thicker than the package and higher than a main surface of the package. A method for transporting a semiconductor device, comprising:
枚積み重ねて搬送することを特徴とする請求項1に記載
の半導体装置の搬送方法。2. The method according to claim 1, wherein a plurality of storage containers storing the semiconductor devices are stacked and transported.
を特徴とする請求項1又は2に記載の半導体装置の搬送
方法。3. The method according to claim 1, wherein the meltable material is a brazing material.
徴とする請求項1又は2に記載の半導体装置の搬送方
法。4. The method according to claim 1, wherein the meltable material is ice.
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JP63128354A JP2587089B2 (en) | 1988-05-27 | 1988-05-27 | Method of transporting semiconductor device |
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JP63128354A JP2587089B2 (en) | 1988-05-27 | 1988-05-27 | Method of transporting semiconductor device |
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TWI583609B (en) * | 2015-06-30 | 2017-05-21 | All Ring Tech Co Ltd | Method and mechanism of electronic component loading and unloading |
-
1988
- 1988-05-27 JP JP63128354A patent/JP2587089B2/en not_active Expired - Fee Related
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JPH01298748A (en) | 1989-12-01 |
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