JP2011082108A - Led failure detecting device, backlight device, and liquid crystal display device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は,LED(発光ダイオード)の故障を検出するLED故障検出装置及びこれを備えたバックライト装置や液晶表示装置に関し,特に,直列接続された複数のLED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出するための技術に関するものである。 The present invention relates to an LED failure detection device that detects a failure of an LED (light emitting diode), and a backlight device and a liquid crystal display device including the LED failure detection device, and in particular, distinguishes between a short failure and an open failure of each of a plurality of LEDs connected in series. The present invention relates to a technique for detecting separately.
例えば,特許文献1には,LEDの故障の有無だけでなく,LEDが故障している場合に,その故障がLEDの両端が短絡するショート故障及びLEDの接続経路が断線するオープン故障のいずれであるかを特定することができるLED故障検出装置が開示されている。
具体的に,前記特許文献1に開示されているLED故障検出装置は,LEDに並列接続された抵抗素子と,LEDのカソードに接続された抵抗素子とを備えており,LEDのカソードの電位を検出するものである。このような構成では,LEDが正常時,ショート故障時,オープン故障時のいずれの状態であるかに応じて,該LEDのカソードの電位が異なるため,該電位を監視することにより,LEDのショート故障及びオープン故障を区別して検出することができる。
ところで,LEDは,例えば液晶テレビジョン受像機などの液晶表示装置に搭載されて液晶パネルを背後から照明するバックライト装置に用いられることがある。具体的に,このバックライト装置は,複数のLEDが直列接続された一列のLED群を垂直方向に複数並べることによって構成されることがある。そして,このように複数のLEDが直列接続されている構成においても,前述したようにLEDのショート故障及びオープン故障を区別して検出し得ることが望ましい。
For example, in
Specifically, the LED failure detection device disclosed in
By the way, the LED may be used in a backlight device that is mounted on a liquid crystal display device such as a liquid crystal television receiver and illuminates a liquid crystal panel from behind. Specifically, the backlight device may be configured by arranging a plurality of LEDs in a row in which a plurality of LEDs are connected in series in the vertical direction. Even in a configuration in which a plurality of LEDs are connected in series as described above, it is desirable that a short-circuit failure and an open failure of the LEDs can be distinguished and detected as described above.
しかしながら,例えば前記特許文献1に係る構成を複数のLEDが直列接続された構成に適用し,該LEDごとにショート故障及びオープン故障を区別して検出するためには,該LEDごとにカソードの電位を制御回路で監視する必要がある。そのため,前記制御回路の入力ポートは,検出対象となるLEDの数に対応して多数設けておく必要があり,構成が煩雑化してコスト高になるという問題が生じる。特に,近年の液晶表示装置の大画面化に伴ってバックライト装置も大型化されつつあり,該バックライト装置に設けられるLEDの数も増加しつつあるため,該LEDの数に対応する入力ポートを設けることは好ましくない。
従って,本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり,その目的とするところは,簡素な構成により,直列接続された複数のLED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出することのできるLED故障検出装置,及びこれを備えたバックライト装置,液晶表示装置を提供することにある。
However, for example, in order to apply the configuration according to
Accordingly, the present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to distinguish and detect a short fault and an open fault of each of a plurality of LEDs connected in series with a simple configuration. An object of the present invention is to provide an LED failure detection device, a backlight device including the same, and a liquid crystal display device.
上記目的を達成するために本発明は,直列接続された複数のLEDのいずれかにショート故障又はオープン故障が生じた場合に測定される電流が,該ショート故障又はオープン故障が生じた前記LEDごとに異なり,且つショート故障及びオープン故障ごとに異なるように構成された電流変化測定手段と,前記電流変化測定手段で測定される電流に応じて,前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出するLED故障検出手段とを備えてなることを特徴とするLED故障検出装置として構成される。
本発明によれば,前記電流変化測定手段で測定される電流のみを監視するという簡素な構成により,直列接続された前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出することが可能となる。
In order to achieve the above object, according to the present invention, a current measured when a short failure or an open failure occurs in any of a plurality of LEDs connected in series is measured for each LED in which the short failure or the open failure occurs. Current change measuring means configured to be different for each short fault and open fault, and detecting and detecting the short fault and the open fault of each LED according to the current measured by the current change measuring means. The LED failure detection device is configured to include an LED failure detection means.
According to the present invention, it is possible to distinguish and detect a short fault and an open fault of each of the LEDs connected in series with a simple configuration in which only the current measured by the current change measuring means is monitored.
本発明の具体的な構成例としては,前記電流変化測定手段が,前記LED各々に対応して設けられ,該LEDの正常時,ショート故障時,オープン故障時の各々で異なる電流を出力する電流変化手段と,前記電流変化手段各々の出力電流の合計を測定する合計電流測定手段とを備えてなることが考えられる。また,前記電流変化手段各々が,前記LEDのショート故障時及びオープン故障時各々に,他の前記電流変化手段が前記LEDのショート故障時及びオープン故障時各々に出力する電流と異なる予め定められた電流を出力するよう構成される。そして,前記LED故障検出手段は,前記合計電流測定手段により測定された出力電流の合計と,前記電流変化手段各々が前記LEDのショート故障時及びオープン故障時各々に出力する予め定められた電流とに応じて,前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出するよう構成される。
このような構成によれば,前記複数のLEDに対して一つの前記合計電流測定手段を用いる簡素な構成により,前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出することができる。
より具体的には,前記電流変化手段各々が,前記LEDの正常時には電流を出力しないように構成される。この場合,前記LED故障検出手段は,前記合計電流測定手段により測定された出力電流の合計と,前記電流変化手段のいずれかが前記LEDのショート故障時又はオープン故障時に出力する予め定められた電流とが一致することを条件に,該LEDにショート故障又はオープン故障が発生していると特定することが可能である。
例えば,前記電流変化手段が,前記LEDに逆極性で並列接続されたツェナーダイオードと,前記LEDの両端の電圧降下が予め定められた第1の閾値電圧より小さい場合には予め定められた第1の出力電圧を出力し,前記第1の閾値電圧以上である場合には前記第1の出力電圧を出力しない第1の比較器と,前記第1の比較器の出力側に接続された第1の抵抗素子と,前記LEDの両端の電圧降下が予め定められた第2の閾値電圧以上である場合には予め定められた前記第1の出力電圧と同一の第2の出力電圧を出力し,前記第2の閾値電圧より小さい場合には前記第2の出力電圧を出力しない第2の比較器と,前記第2の比較器の出力側に接続され,前記第1の抵抗素子と異なる抵抗値を有する第2の抵抗素子とを備えてなることが考えられる。この場合,前記第1の閾値電圧が前記LEDの正常時の電圧降下以下の値であり,前記第2の閾値電圧が前記LEDの正常時の電圧降下より大きく前記ツェナーダイオードの通電時の電圧降下以下の値であると共に,全ての前記第1の抵抗素子及び前記第2の抵抗素子の抵抗値が異なるものであるように構成することで,前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出することが可能となる。
また,前記電流変化手段が,前記LEDに逆極性で並列接続されたツェナーダイオードと,前記LEDの両端の電圧降下が予め定められた第1の閾値電圧より小さい場合には予め定められた第1の出力電圧を出力し,前記第1の閾値電圧以上である場合には前記第1の出力電圧を出力しない第1の比較器と,前記第1の比較器の出力側に接続された第1の抵抗素子と,前記LEDの両端の電圧降下が予め定められた第2の閾値電圧以上である場合には予め定められた前記第1の出力電圧と異なる第2の出力電圧を出力し,前記第2の閾値電圧より小さい場合には前記第2の出力電圧を出力しない第2の比較器と,前記第2の比較器の出力側に接続され,前記第1の抵抗素子と同一の抵抗値を有する第2の抵抗素子とを備えてなることも他の例として考えられる。この場合,前記第1の閾値電圧が前記LEDの正常時の電圧降下以下の値であり,前記第2の閾値電圧が前記LEDの正常時の電圧降下より大きく前記ツェナーダイオードの通電時の電圧降下以下の値であると共に,全ての前記第1の抵抗素子の抵抗値が異なるように構成することで,前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出することが可能となる。
As a specific configuration example of the present invention, the current change measuring means is provided corresponding to each of the LEDs, and outputs different currents when the LED is normal, short-circuit failure, and open failure. It is conceivable to include a changing means and a total current measuring means for measuring the total output current of each of the current changing means. Further, each of the current changing means is different from a current output when each of the LED short-circuit failure and open failure is different from the current output when the other current change means is short-circuiting and open failure of the LED. It is configured to output current. The LED failure detecting means includes a total of output currents measured by the total current measuring means, and a predetermined current output by each of the current changing means when the LED is short-circuited and when the LED is open. Accordingly, the LED is configured to distinguish and detect a short fault and an open fault of each LED.
According to such a configuration, it is possible to distinguish and detect a short fault and an open fault of each of the LEDs by a simple configuration using one total current measuring unit for the plurality of LEDs.
More specifically, each of the current changing means is configured not to output a current when the LED is normal. In this case, the LED failure detecting means includes a total of output currents measured by the total current measuring means and a predetermined current output when any of the current changing means is short-circuited or open-failed of the LED. It is possible to specify that a short circuit fault or an open fault has occurred in the LED on the condition that the
For example, when the current changing means is a Zener diode connected in parallel to the LED with a reverse polarity and the voltage drop across the LED is smaller than a predetermined first threshold voltage, a predetermined first voltage is used. The first comparator connected to the output side of the first comparator and the first comparator that does not output the first output voltage when the output voltage is equal to or higher than the first threshold voltage. And when the voltage drop across the LED is equal to or higher than a predetermined second threshold voltage, a second output voltage identical to the predetermined first output voltage is output, When the voltage is smaller than the second threshold voltage, the second comparator does not output the second output voltage, and is connected to the output side of the second comparator, and has a resistance value different from that of the first resistance element. And a second resistance element having It is. In this case, the first threshold voltage is equal to or lower than the normal voltage drop of the LED, and the second threshold voltage is larger than the normal voltage drop of the LED, and the voltage drop when the Zener diode is energized. In addition to the following values, all the first resistance elements and the second resistance elements are configured to have different resistance values, so that short-circuit faults and open faults of each of the LEDs are distinguished and detected. It becomes possible to do.
Further, when the current changing means is a Zener diode connected in parallel to the LED with a reverse polarity and the voltage drop across the LED is smaller than a predetermined first threshold voltage, a predetermined first voltage is set. The first comparator connected to the output side of the first comparator and the first comparator that does not output the first output voltage when the output voltage is equal to or higher than the first threshold voltage. And when the voltage drop across the LED is equal to or higher than a predetermined second threshold voltage, a second output voltage different from the predetermined first output voltage is output, When the voltage is smaller than the second threshold voltage, the second comparator does not output the second output voltage, and is connected to the output side of the second comparator, and has the same resistance value as the first resistance element. It is also another example that the second resistive element having And it is considered to. In this case, the first threshold voltage is equal to or lower than the normal voltage drop of the LED, and the second threshold voltage is larger than the normal voltage drop of the LED, and the voltage drop when the Zener diode is energized. In addition to the following values, the short-circuit failure and the open failure of each of the LEDs can be distinguished and detected by configuring the first resistance elements to have different resistance values.
また,本発明の具体例として他に,前記電流変化測定手段が,前記LED各々に対応して設けられ,前記LEDの正常時,ショート故障時の各々で異なる電流を出力する第1の電流変化手段,及び前記LEDの正常時,オープン故障時の各々で前記LEDが直列接続されたLED回路上に流れる電流を変化させる第2の電流変化手段と,前記第1の電流変化手段各々からの出力電流と前記LED回路上に流れる電流との合計を測定する合計電流測定手段とを備えてなることも考えられる。また,前記第1の電流変化手段各々が,前記LEDのショート故障時に,他の前記第1の電流変化手段が前記LEDのショート故障時に出力する電流と異なる電流を出力するように構成される。さらに,前記第2の電流変化手段各々が,前記LEDのオープン故障時に,前記LED回路上に流れる電流を他の前記第2の電流変化手段とは異なる電流に変化させるように構成される。そして,前記LED故障検出手段は,前記合計電流測定手段により測定された出力電流の合計と,前記第1の電流変化手段各々が前記LEDのショート故障時に出力する予め定められた電流及び前記LEDのオープン故障時に前記第2の電流変化手段各々により変化される予め定められた前記LED回路上に流れる電流とに応じて,前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出するよう構成される。
このような構成によっても,前記複数のLEDに対して一つの前記合計電流測定手段を用いる簡素な構成により,前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出することができる。
この場合,前記第1の電流変化手段が,前記LEDの両端の電圧降下が予め定められた第1の閾値電圧より小さい場合には予め定められた第1の出力電圧を出力し,前記第1の閾値電圧以上である場合には前記第1の出力電圧を出力しない第1の比較器と,前記第1の比較器の出力側に接続された第1の抵抗素子とを備えてなることが考えられる。また,前記第2の電流変化手段が,前記LEDに逆極性で並列接続されたツェナーダイオードと,前記ツェナーダイオードに直列接続された第3の抵抗素子とを備えてなることが考えられる。そして,前記第1の閾値電圧が前記LEDの正常時の電圧降下以下の値であり,前記ツェナーダイオード及び前記第3の抵抗素子の通電時の電圧降下が前記LEDの正常時の電圧降下よりも大きいものであり,全ての前記第1の抵抗素子の抵抗値が異なると共に全ての前記第3の抵抗素子の抵抗値が異なるように構成することが考えられる。
このような構成によれば,前記第1の比較器及び前記第2の比較器を用いる前述の具体例に比べて該第2の比較器を省略することができ,より簡素な構成によって前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出することができる。
In addition, as a specific example of the present invention, the current change measuring means is provided corresponding to each of the LEDs, and outputs a different current when the LED is normal and when a short circuit failure occurs. And second current changing means for changing the current flowing in the LED circuit in which the LEDs are connected in series when the LED is normal and when there is an open failure, and the output from each of the first current changing means It is also conceivable to include a total current measuring means for measuring the sum of the current and the current flowing on the LED circuit. Each of the first current changing means is configured to output a current different from the current output by the other first current changing means when the LED is short-circuited. Further, each of the second current changing means is configured to change the current flowing in the LED circuit to a current different from that of the other second current changing means when the LED has an open failure. The LED failure detection means includes a total of output currents measured by the total current measurement means, a predetermined current output by each of the first current change means when the LED is short-circuited, and the LED current A short circuit failure and an open failure of each of the LEDs are distinguished and detected according to a predetermined current flowing on the LED circuit that is changed by each of the second current changing means at the time of an open failure.
Even with such a configuration, it is possible to distinguish and detect a short fault and an open fault of each of the LEDs by a simple configuration using one total current measuring unit for the plurality of LEDs.
In this case, when the voltage drop across the LED is smaller than a predetermined first threshold voltage, the first current changing means outputs a predetermined first output voltage, and the first current changing means outputs the first output voltage. A first comparator that does not output the first output voltage and a first resistance element connected to the output side of the first comparator. Conceivable. Further, it is conceivable that the second current changing means includes a Zener diode connected in parallel to the LED in reverse polarity and a third resistance element connected in series to the Zener diode. The first threshold voltage is a value equal to or lower than the normal voltage drop of the LED, and the voltage drop when the Zener diode and the third resistance element are energized is lower than the normal voltage drop of the LED. It can be considered that the resistance values of all the first resistance elements are different and the resistance values of all the third resistance elements are different.
According to such a configuration, the second comparator can be omitted as compared with the above-described specific example using the first comparator and the second comparator, and the LED can be realized with a simpler configuration. Each short fault and open fault can be detected separately.
ところで,本発明は,液晶パネルを背後から照明する直列接続された複数のLEDを有するバックライト装置の発明として捉えることも可能である。即ち,前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出する前記LED故障検出装置を備えてなることを特徴とするバックライト装置として構成すればよい。
また,映像を表示する液晶パネルと,前記液晶パネルを背後から照明する直列接続された複数のLEDを有するバックライト装置と,前記バックライト装置のLED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出する前記LED故障検出装置とを備えてなることを特徴とする液晶表示装置の発明として捉えることも可能である。
By the way, this invention can also be grasped | ascertained as invention of the backlight apparatus which has several LED connected in series which illuminates a liquid crystal panel from back. That is, the backlight device may be configured to include the LED failure detection device that distinguishes and detects short-circuit failure and open failure of each LED.
In addition, a liquid crystal panel for displaying an image, a backlight device having a plurality of LEDs connected in series to illuminate the liquid crystal panel from behind, and a short circuit failure and an open failure of each LED of the backlight device are detected separately. It can also be understood as an invention of a liquid crystal display device comprising the LED failure detection device.
本発明によれば,前記電流変化測定手段で測定される電流のみを監視するという簡素な構成により,直列接続された前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出することが可能となる。 According to the present invention, it is possible to distinguish and detect a short fault and an open fault of each of the LEDs connected in series with a simple configuration in which only the current measured by the current change measuring means is monitored.
以下添付図面を参照しながら,本発明の実施の形態について説明し,本発明の理解に供する。尚,以下の実施の形態は,本発明を具体化した一例であって,本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。
まず,図1を用いて,本発明の実施の形態に係る液晶表示装置Xの概略構成について説明する。
図1に示すように,本発明の実施の形態に係る液晶表示装置Xは,表示制御部1,液晶パネル2,液晶駆動部3,バックライト装置4,バックライト制御部5,LED故障検出装置Y(Z)などを有する液晶テレビジョン受像機である。前記液晶表示装置Xは,前記LED故障検出装置Y(Z)の構成に特徴を有しており,この点については後段で詳述する。
なお,前記バックライト装置4が前記LED故障検出装置Y(Z)を備える構成も考えられ,この場合,該バックライト装置4が本発明に係るバックライト装置に相当する。また,本発明に係る液晶表示装置は液晶テレビジョン受像機に限らず,パソコンのディスプレイ装置なども本発明に係る液晶表示装置に該当する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings so that the present invention can be understood. The following embodiment is an example embodying the present invention, and does not limit the technical scope of the present invention.
First, a schematic configuration of the liquid crystal display device X according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 1, a liquid crystal display device X according to an embodiment of the present invention includes a
A configuration in which the
前記表示制御部1は,不図示のアンテナによって受信されるテレビジョン放送や不図示の外部入力端子から入力される映像コンテンツなどに含まれた映像信号を受信し,該映像信号に基づいて垂直同期信号や水平同期信号などを生成する。そして,前記映像信号や前記垂直同期信号,前記水平同期信号は,前記表示制御部1から前記液晶駆動部3に入力される。
前記液晶パネル2は,液晶層と該液晶層に走査信号及びデータ信号を印加するための走査電極及びデータ電極とによって形成され,印加電圧により透過率が変化する複数の液晶素子を有する従来周知のアクティブマトリクス型の液晶パネルである。
前記液晶駆動部3は,前記表示制御部1から入力される画像信号と垂直同期信号及び水平同期信号とに基づいて,前記液晶パネル2の走査電極(ゲート電極)及びデータ電極(ソース電極)を駆動させることにより,該液晶パネル2に映像を表示させる。
The
The
The liquid crystal driving unit 3 uses the scanning electrode (gate electrode) and the data electrode (source electrode) of the
前記バックライト装置4は,前記液晶パネル2の背面に配置され,該液晶パネル2を背後から照明するものである。ここに,図2は,前記バックライト装置4の構造の一例を示す模式図である。
図2に示すように,前記バックライト装置4は,前記液晶パネル2の垂直方向における複数の表示領域に対応して並設された複数のLED群L1〜L12を有している。前記LED群L1〜L12各々は,前記液晶パネル2の水平方向に並設された複数のLED11(111,112,…11n)を含んでいる。そして,前記バックライト装置4は,前記バックライト制御部5からの制御指示に応じて,多数の前記LED11を前記LED群L1〜L12の各単位で個別に明滅させる。
ここに,前記LED群L1〜L12各々において,複数の前記LED11は電気的に直列接続されている(図3参照)。なお,前記LED群L1〜L12各々に対応する前記表示領域各々は,前記液晶パネル2の複数ラインの表示画素を含む領域である。もちろん,前記LED群L1〜L12の数はこれに限らず,前記液晶パネル2のサイズに応じて適宜設計変更すればよい。
The
As shown in FIG. 2, the
Here, in each of the LED groups L1 to L12, the plurality of LEDs 11 are electrically connected in series (see FIG. 3). Each of the display areas corresponding to the LED groups L1 to L12 is an area including a plurality of lines of display pixels of the
そして,前記LED故障検出装置Y(Z)は,前記バックライト装置4に設けられた前記LED群L1〜L12各々に設けられた複数の前記LED11各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出するものである。なお,前記LED11のショート故障とは前記LED11の両端が短絡する故障,オープン故障とは前記LED11の接続経路が断線する故障をいう。
以下,まず図3〜5を用いて本発明の第1実施形態であるLED故障検出装置Yについて説明し,次に,図6及び図7を用いて本発明の第2実施形態であるLED故障検出装置Zについて説明する。
The LED failure detection device Y (Z) detects a short-circuit failure and an open failure of each of the plurality of LEDs 11 provided in each of the LED groups L1 to L12 provided in the
Hereinafter, the LED failure detection device Y according to the first embodiment of the present invention will be described first with reference to FIGS. 3 to 5, and then the LED failure according to the second embodiment of the present invention with reference to FIGS. 6 and 7. The detection device Z will be described.
(第1実施形態)
図3に示すように,前記LED故障検出装置Yは,前記LED群L1〜L12ごとに対応して設けられた抵抗10,電流計20,電流変化回路A1,A2,…Anと,前記LED群L1〜L12に共通の故障検出制御部30とを備えている。もちろん,前記故障検出制御部30が,前記LED群L1〜L12ごとに対応して設けられていてもよい。
前記電流変化回路A1,A2,…Anは,直列接続された複数の前記LED11(111,112,…11n)各々に対応して設けられ,該LED11の正常時,ショート故障時,オープン故障時の各々で異なる電流を出力する。ここに,前記電流変化回路A1,A2,…Anは電流変化手段の一例である。なお,図3に示すように,前記電流変化回路A1,A2,…Anについて同様の構成要素には同じ符号を付している。
(First embodiment)
As shown in FIG. 3, the LED failure detection device Y includes a
The current change circuits A1, A2,... An are provided corresponding to each of the plurality of LEDs 11 (111, 112,... 11n) connected in series, and when the LEDs 11 are normal, short-circuited, and open-failed Each outputs a different current. Here, the current changing circuits A1, A2,... An are examples of current changing means. As shown in FIG. 3, the same reference numerals are given to the same components in the current change circuits A1, A2,.
前記抵抗10は,前記電流変化回路A1の前段に直列接続されており,前記LED11に流れる電流を制限するものである。
前記電流計20は,前記電流変化回路A1,A2,…An各々からの出力電流の合計を測定する合計電流測定手段の一例である。具体的に,前記電流変化回路A1,A2,…Anに設けられた後述のオペアンプ23,33の出力端子が並列接続されることにより,これらの出力電流が合算されて前記電流計20に入力されている。前記電流計20各々で測定された電流(以下「測定合計電流」と称する)は,前記故障検出制御部30に入力される。
前記故障検出制御部30は,MPUやRAM,ROMなどの制御機器を有しており,該MPUによって所定の制御プログラムを実行することによって,前記電流計20から入力される前記測定合計電流に応じて前記LED11各々の故障の有無やその故障の内容を特定するための処理を実行する。ここに,前記LED11各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出するときの故障検出制御部30がLED故障検出手段に相当する。なお,前記故障検出制御部30は,前記液晶表示装置Xのメイン制御部に兼ねられるものであってもよく,この場合には,該メイン制御部がLED故障検出手段に相当する。
The
The
The failure
続いて,前記電流変化回路A1,A2,…Anの構成について説明する。
図3に示すように,前記電流変化回路A1,A2,…Anは,前記LED11各々に逆極性で並列接続され,通電時の電圧降下が前記LED11の正常時の電圧降下よりも大きいツェナーダイオード12と,前記LED11のアノード及びカソードに接続された二つのオペアンプ23(第1の比較器の一例),オペアンプ33(第2の比較器の一例)と,前記LED11のアノード側から前記オペアンプ23の−端子に入力される電圧を調整するための分圧抵抗21,22と,前記LED11のアノード側から前記オペアンプ33の+端子に入力される電圧を調整するための分圧抵抗31,32と,前記オペアンプ23の出力側に接続されて出力電流を調整する抵抗241,242,…24n(第1の抵抗素子の一例)と,前記オペアンプ33の出力側に接続されて出力電流を調整する抵抗341,342,…34n(第2の抵抗素子の一例)とを備えている。
前記ツェナーダイオード12は,前記LED11の正常時及びショート故障時には非通電となり,前記LED11のオープン故障時に通電となるように設定されたツェナー電圧(降伏電圧)を有するものである。このとき,前記ツェナーダイオード12の通電時の電圧降下は,後述のオペアンプ33の判断指標となる第2の閾値電圧以上のものである。
Next, the configuration of the current change circuits A1, A2,.
As shown in FIG. 3, the current change circuits A1, A2,... An are connected in parallel to each of the LEDs 11 in reverse polarity, and the
The
前記オペアンプ23は,前記LED11の両端の電圧降下が予め定められた第1の閾値電圧より小さい場合には5Vの直流電圧(予め定められた第1の出力電圧の一例)を出力し,前記第1の閾値電圧以上である場合には5Vの直流電圧を出力しない。
ここに,前記第1の閾値電圧は,前記LED11にショート故障が生じているか否かを判断するために予め定められる値であって,前記LED11の正常時の電圧降下以下の値である。そして,前記オペアンプ23は,前記LED11にショート故障が生じている場合に5Vの直流電圧を出力し,前記LED11にショート故障が生じていない場合には5Vの直流電圧を出力しない。
なお,前記第1の閾値電圧は,前記LED11のアノード側に印加される電圧が前記分圧抵抗21,22で分圧されて前記オペアンプ23の−端子に入力されることによって定められる。即ち,前記第1の閾値電圧は,前記LED11のアノード側に印加される電圧及び前記分圧抵抗21,22の抵抗値によって定まる。
The
Here, the first threshold voltage is a value that is determined in advance to determine whether or not a short circuit failure has occurred in the LED 11, and is a value that is equal to or less than the voltage drop of the LED 11 when it is normal. The
The first threshold voltage is determined by dividing the voltage applied to the anode side of the LED 11 by the
一方,前記オペアンプ33は,前記LED11の両端の電圧降下が予め定められた第2の閾値電圧以上である場合には,前記オペアンプ23の出力電圧と同一の5Vの直流電圧(第2の出力電圧の一例)を出力し,前記第2の閾値電圧より小さい場合には5Vの直流電圧を出力しない。
ここに,前記第2の閾値電圧は,前記LED11にオープン故障が生じているか否かを判断するために予め定められる値であって,前記LED11の正常時の電圧降下より大きく前記ツェナーダイオード12の通電時の電圧降下以下の値である。そして,前記オペアンプ33は,前記LED11にオープン故障が生じている場合に5Vの直流電圧を出力し,前記LED11にオープン故障が生じていない場合には5Vの直流電圧を出力しない。
なお,前記第2の閾値電圧は,前記LED11のアノード側に印加される電圧が前記分圧抵抗31,32で分圧されて前記オペアンプ33の+端子に入力されることによって定められる。即ち,前記第2の閾値電圧は,前記LED11のアノード側に印加される電圧及び前記分圧抵抗31,32の抵抗値によって定まる。
On the other hand, when the voltage drop across the LED 11 is equal to or higher than a predetermined second threshold voltage, the
Here, the second threshold voltage is a value determined in advance to determine whether or not an open failure has occurred in the LED 11, and is greater than a voltage drop of the LED 11 during normal operation. The value is less than the voltage drop during energization. The
The second threshold voltage is determined by the voltage applied to the anode side of the LED 11 being divided by the
また,前記電流変化回路A1,A2,…An各々において,前記オペアンプ23の出力側に接続された前記抵抗241,242,…24nと,前記オペアンプ33の出力側に接続された前記抵抗341,342,…34nとは異なる抵抗値を有するものである。
そのため,前記電流変化回路A1,A2,…An各々の出力電流は,前記オペアンプ23及び前記オペアンプ33のいずれからも直流電圧が出力されない場合,前記オペアンプ23から5Vの直流電圧が出力された場合,前記オペアンプ33から5Vの直流電圧が出力された場合の各状況に応じて変化することとなる。
.., 24n connected to the output side of the
Therefore, as for the output current of each of the current change circuits A1, A2,..., An, when no DC voltage is output from either the
さらに,前記LED故障検出装置Yでは,前記電流変化回路A1,A2,…An各々の前記オペアンプ23,33の出力側に接続された全ての前記抵抗241,341,242,342,…24n,34nの抵抗値がそれぞれ異なる。例えば,前記抵抗241,341,242,342,…24n,34nの順で徐々に抵抗値が高い或いは低いことが考えられる。
これにより,前記オペアンプ23,33各々から5Vの直流電圧を出力する場合に前記電流計20に入力される電流は,前記電流変化回路A1,A2,…Anごとに全て異なることとなる。即ち,前記電流変化回路A1,A2,…An各々は,前記LED11のショート故障時及びオープン故障時各々に,他の電流変化回路A1,A2,…Anが前記LED11のショート故障時及びオープン故障時各々に出力する電流と異なる電流を出力する。
従って,前記LED故障検出装置Yでは,複数の前記LED11(111,111,…11n)のいずれかにショート故障又はオープン故障が生じた場合に,前記電流計20によって測定される電流は,該ショート故障又はオープン故障が生じた前記LED11ごとに異なり,且つショート故障及びオープン故障ごとに異なることとなる。ここに,係る構成を具現するときの前記電流変化回路A1,A2,…An及び前記電流計20が電流変化測定手段の一例である。
Further, in the LED failure detection device Y, all the
As a result, when a DC voltage of 5 V is output from each of the
Therefore, in the LED failure detection device Y, when a short failure or an open failure occurs in any of the plurality of LEDs 11 (111, 111,... 11n), the current measured by the
そして,前記故障検出制御部30は,前記電流計20により測定された前記測定合計電流と,前記電流変化回路A1,A2,…An各々が前記LED11のショート故障時及びオープン故障時各々に出力する予め定められた電流とに応じて,前記LED11各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出する。
具体的に,前記電流変化回路A1,A2,…An各々が,前記LED11のショート故障時及びオープン故障時各々に出力する電流は,前記抵抗241,242,…24n及び前記抵抗341,342,…34nによって予め定められている。そのため,前記故障検出制御部30は,前記電流変化回路A1,A2,…An各々が前記LED11のショート故障時及びオープン故障時各々に出力する電流,即ち前記電流計20によって測定される前記測定合計電流と,前記LED11各々のショート故障及びオープン故障との対応関係を示す対応情報を記憶している。
そして,前記故障検出制御部30は,前記対応情報と前記電流計20により測定された前記測定合計電流とに応じて,前記電流計20により測定された前記測定合計電流と,前記電流変化回路A1,A2,…Anのいずれかが前記LED11のショート故障時又はオープン故障時に出力する予め定められた電流とが一致することを条件に,該LED11にショート故障又はオープン故障が発生していると特定する。
The failure
More specifically, the current changing circuits A1, A2,... An each output when the LED 11 is short-circuited and when the LED 11 is short-circuited are the
Then, the failure
以下,図4を参照しつつ,前記電流変化回路A1,A2,…Anの動作について,前記電流変化回路A1を例に挙げて説明する。ここに,図4(a)は前記LED111の正常時,図4(b)は前記LED111のショート故障時,図4(c)は前記LED111のオープン故障時の動作を示している。
ここでは,前記LED111のアノードの入力電圧V0は30.0V,前記LED111の正常時の電圧降下V2は0.7V,前記ツェナーダイオード12の通電時の電圧降下V2は1.2Vであるとする。従って,前記LED111の正常時は前記LED111のカソードからの出力電圧V1が29.3Vとなり,前記ツェナーダイオード12の通電時は前記出力電圧V1が28.8Vとなる。
また,前記分圧抵抗21,22の抵抗値は1Ω,59Ω,前記分圧抵抗31,32の抵抗値は1Ω,29Ωであるとする。よって,前記オペアンプ23の+端子に入力されるVin1は,前記入力電圧V0の30Vを前記分圧抵抗21,22で分圧した29.5V(30×(59/60))であり,前記オペアンプ33の−端子に入力されるVin3は,前記入力電圧V0の30Vを前記分圧抵抗31,32で分圧した29.0V(30×(29/30))である。即ち,前記第1の閾値電圧は前記LED11の正常時の電圧降下である0.7V以下の0.5Vに設定され,前記第2の閾値電圧は前記LED11の正常時の電圧降下である0.7Vより大きく前記ツェナーダイオード12の通電時の電圧降下である1.2V以下の1.0Vに設定されている。
さらに,前記オペアンプ23,33の出力側に接続された抵抗241,341各々の抵抗値は1kΩ,2kΩであるとする。そのため,前記電流変化回路A1では,前記LED111にショート故障が生じることにより前記オペアンプ23から5Vの出力電圧Vout1が出力されると,5V/1kΩ=5mAの電流が出力されることとなる。一方,前記LED111にオープン故障が生じることにより前記オペアンプ33から5Vの出力電圧Vout2が出力されると,5V/2kΩ=2.5mAの電流が出力されることとなる。
Hereinafter, the operation of the current change circuits A1, A2,... An will be described by taking the current change circuit A1 as an example with reference to FIG. 4A shows the operation when the
Here, it is assumed that the anode input voltage V0 of the
The resistance values of the
Furthermore, it is assumed that the resistance values of the
具体的に,前記電流変化回路A1では,図4(a)に示すように,前記LED111の正常時,前記LED111で前記電圧降下V2(0.7V)が生じる。そのため,前記出力電圧V1である29.3Vが,前記オペアンプ23の+端子のVin2,前記オペアンプ33の−端子のVin4としてそれぞれ入力される。
この場合,前記オペアンプ23は,+端子のVin2(29.3V)が−端子のVin1(29.5V)以下であると判断してVout1を出力しない(Vout1=0V)。また,前記オペアンプ33も,+端子のVin3(29.0V)が−端子のVin4(29.3V)以下であると判断してVout2を出力しない(Vout2=0V)。
従って,前記電流変化回路A1は,前記LED111の正常時には電流を出力しないように構成されている。即ち,全ての前記電流変化回路A1,A2,…Anに対応する前記LED11の正常時には,前記電流計20で測定される前記測定合計電流は0となる。
Specifically, in the current change circuit A1, the voltage drop V2 (0.7 V) occurs in the
In this case, the
Therefore, the current change circuit A1 is configured not to output a current when the
次に,図4(b)に示すように,前記電流変化回路A1において,前記LED111のショート故障時は,前記LED111が導通状態となるため前記電圧降下V2は0Vとなる(V0=V1=30.0V)。そのため,前記出力電圧V1である30.0Vが,前記オペアンプ23の+端子のVin2,前記オペアンプ33の−端子のVin4としてそれぞれ入力される。
この場合,前記オペアンプ23は,+端子のVin2(30.0V)が−端子のVin1(29.5V)よりも高いと判断してVout1を出力する(Vout1=5V)。他方,前記オペアンプ33は,+端子のVin3(29.0V)が−端子のVin4(30.0V)以下であると判断してVout2を出力しない(Vout2=0V)。
従って,前記電流変化回路A1は,前記LED111のショート故障時には,前記出力電圧Vout1(5V)及び前記抵抗241の抵抗値(1kΩ)に応じた電流(5mA=5V/1kΩ)を出力するように構成されている。即ち,前記電流変化回路A1,A2,…Anのいずれかに対応する前記LED11のショート故障時には,そのショート故障が生じた該LED11に対応する前記電流変化回路A1,A2,…Anによって異なる電流が前記測定合計電流として前記電流計20で測定されることになる。
Next, as shown in FIG. 4B, in the current change circuit A1, when the
In this case, the
Accordingly, the current changing circuit A1 is configured to output a current (5 mA = 5 V / 1 kΩ) corresponding to the output voltage Vout1 (5 V) and the resistance value (1 kΩ) of the
また,図4(c)に示すように,前記電流変化回路A1において,前記LED111のオープン故障時は,前記LED111の回路が遮断して前記ツェナーダイオード12に通電がなされ,前記ツェナーダイオード12で1.2Vの電圧降下が生じるため,前記LED111の両端の前記電圧降下V2が1.2Vとなる。そのため,前記出力電圧V1である28.8Vが,前記オペアンプ23の+端子のVin2,前記オペアンプ33の−端子のVin4としてそれぞれ入力される。
この場合,前記オペアンプ23は,+端子のVin2(28.8V)が−端子のVin1(29.5V)以下であると判断してVout1を出力しない(Vout1=0V)。他方,前記オペアンプ33は,+端子のVin3(29.0V)が−端子のVin4(28.8V)よりも高いと判断してVout2を出力する(Vout2=5V)。
従って,前記電流変化回路A1は,前記LED111のオープン故障時には,前記出力電圧Vout2(5V)及び前記抵抗341の抵抗値(2kΩ)に応じた電流(2.5mA=5V/2kΩ)を出力するように構成されている。即ち,前記電流変化回路A1,A2,…Anのいずれかに対応する前記LED11のオープン故障時にも,そのオープン故障が生じた該LED11に対応する前記電流変化回路A1,A2,…Anによって異なる電流が前記測定合計電流として前記電流計20で測定されることになる。
特に,前記LED故障検出装置Yにおいては,全ての前記抵抗241,341,242,342,…24n,34nの抵抗値が異なるため,直列接続された複数の前記LED11のいずれかのショート故障時及びオープン故障時に前記電流計20で測定される前記測定合計電流は,そのショート故障やオープン故障が生じた前記LED11に対応する前記電流変化回路A1,A2,…Anによって全て異なることになる。
Further, as shown in FIG. 4C, in the current change circuit A1, when the
In this case, the
Therefore, the current changing circuit A1 outputs a current (2.5 mA = 5 V / 2 kΩ) corresponding to the output voltage Vout2 (5 V) and the resistance value (2 kΩ) of the
In particular, in the LED failure detection device Y, since the resistance values of all the
そして,前記故障検出制御部30は,前記電流計20で測定された前記測定合計電流に応じて,前記LED11各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出する。
具体的に,前記故障検出制御部30は,前記電流計20で測定された前記測定合計電流が5mAである場合には,前記電流変化回路A1に対応する前記LED111のショート故障が生じていると特定し,前記測定合計電流が2.5mAである場合には,前記電流変化回路A1に対応する前記LED111のオープン故障が生じていると特定する。また,前記故障検出制御部30は,前記測定合計電流が0である場合には,全ての前記LED11が正常であると判断する。前記故障検出制御部30は,他の前記電流変化回路A2,A3,…Anに対応する前記LED11にショート故障やオープン故障が生じた場合にも同様に,該電流変化回路A2,A3,…Anのショート故障時又はオープン故障時に出力されて前記電流計20によって測定される前記測定合計電流に応じて,ショート故障又はオープン故障の発生と該故障の発生箇所とを検出する。
Then, the failure
Specifically, the failure
以上説明したように,前記LED故障検出装置Yでは,一つの前記電流計20によって測定される前記測定合計電流が,ショート故障又はオープン故障が生じた前記LED11ごとに異なり,且つショート故障及びオープン故障ごとに異なるため,該電流計20によって測定される前記測定合計電流のみを監視するという簡素な構成で,複数の前記LED11各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出することが可能である。
As described above, in the LED failure detection device Y, the measured total current measured by one
なお,ここでは,全ての前記抵抗241,242,…24n及び前記抵抗341,342,…34nの抵抗値が異なることにより,前記LED11各々のショート故障時及びオープン故障時に前記電流変化回路A1,A2,…Anからの出力電流を異ならせる場合を例に挙げて説明した。
一方,図5に示すように,前記LED故障検出装置Yにおいて,前記オペアンプ33各々が,前記LED11の両端の電圧降下が予め定められた第2の閾値電圧以上である場合に,前記オペアンプ23の出力電圧である5Vとは異なる6Vの直流電圧を出力するものであることが他の実施例として考えられる。このとき,前記オペアンプ33の出力側にも前記オペアンプ23の出力側と同一の抵抗値を有する抵抗241を接続することが考えられる。但し,この場合でも,ショート故障又はオープン故障が生じた前記LED11を特定するべく,前記電流変化回路A1,A2,…An各々のオペアンプ23,33から出力される電流が異なるように,前記抵抗241,242,…24n各々の抵抗値(即ち前記抵抗341,342,…34nの抵抗値)は異なるものである必要がある。
前記LED故障検出装置Yがこのように構成されている場合であっても,前記電流変化回路A1,A2,…An各々に対応する前記LED11のショート故障又はオープン故障が生じた場合に出力される電流が異なることとなり,前記電流変化回路A1,A2,…Anに対応する前記LED11各々のショート故障又はオープン故障を区別して検出することができる。そして,係る構成では,用いる抵抗値の種別は少なくてよいため,生産性に優れる構成を実現することができる。
もちろん,反対に前記オペアンプ23各々が,前記LED11の両端の電圧降下が予め定められた第1の閾値電圧より小さい場合に,前記オペアンプ33の出力電圧である5Vとは異なる6Vの直流電圧を出力するものであることも考えられる。
Here, since the resistance values of all of the
On the other hand, as shown in FIG. 5, in the LED failure detection device Y, when each of the
Even when the LED failure detection device Y is configured in this way, it is output when a short failure or an open failure of the LED 11 corresponding to each of the current change circuits A1, A2,. Since the currents are different, it is possible to distinguish and detect a short fault or an open fault of each of the LEDs 11 corresponding to the current change circuits A1, A2,. In such a configuration, the type of resistance value to be used may be small, so that a configuration with excellent productivity can be realized.
Of course, each of the
(第2実施形態)
以下,図6及び図7を用いて,本発明の第2実施形態に係るLED故障検出装置Zについて説明する。
図6に示すように,前記LED故障検出装置Zは,前記LED群L1〜L12ごとに対応して設けられた抵抗10,電流計20,電流変化回路B1,B2,…Bn(第1の電流変化手段の一例),電流変化回路C1,C2,…Cn(第2の電流変化手段の一例)と,前記LED群L1〜L12に共通の故障検出制御部30とを備えている。
前記電流変化回路B1,B2,…Bnは,直列接続された複数の前記LED11(111,112,…11n)各々に対応して設けられ,少なくとも前記LED11の正常時,ショート故障時の各々で異なる電流を出力する。
また,前記電流変化回路C1,C2,…Cnは,直列接続された複数の前記LED11(111,112,…11n)各々に対応して設けられ,少なくとも前記LED11の正常時,オープン故障時の各々で前記LED11が直列接続されたLED回路上に流れる電流を変化させる。ここに,前記電流変化回B1,B2,…Bn及び前記電流変化回路C1,C2,…Cnが,前記電流変化測定手段の一例である。
(Second Embodiment)
Hereinafter, the LED failure detection device Z according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 6 and 7.
As shown in FIG. 6, the LED failure detection device Z includes a
The current change circuits B1, B2,... Bn are provided corresponding to each of the plurality of LEDs 11 (111, 112,... 11n) connected in series, and differ at least when the LED 11 is normal and when a short circuit failure occurs. Output current.
The current changing circuits C1, C2,... Cn are provided corresponding to each of the plurality of LEDs 11 (111, 112,... 11n) connected in series, and at least when the LED 11 is normal and when an open failure occurs. The current flowing on the LED circuit in which the LEDs 11 are connected in series is changed. Here, the current change times B1, B2,... Bn and the current change circuits C1, C2,... Cn are examples of the current change measuring means.
前記電流計20は,前記電流変化回B1,B2,…Bn各々からの出力電流と前記LED回路上に流れる電流との合計を測定する合計電流測定手段の一例である。
具体的には,前記電流変化回路B1,B2,…Bnに設けられた前記オペアンプ241,242,…24nの出力端子が並列接続されると共に,該出力端子各々と前記LED回路が並列接続されることにより,これらの出力電流が合算されて前記電流計20に入力されている。
前記故障検出制御部30は,前記第1実施形態と同様に,前記電流計20により測定された電流(以下,「測定合計電流」という)に応じて前記LED11各々の故障の有無やその故障の内容を特定するための処理を実行する。
The
Specifically, output terminals of the
As in the first embodiment, the failure
続いて,前記電流変化回路B1,B2,…Bn及び前記電流変化回路C1,C2,…Cnの構成について説明する。
図6に示すように,前記電流変化回路B1,B2,…Bnは,前記LED11のアノード及びカソードに接続されたオペアンプ23(第1の比較器の一例)と,前記LED11のアノード側から前記オペアンプ23の−端子に入力される電圧を調整するための分圧抵抗21,22と,前記オペアンプ23の出力側に接続されて出力電流を調整する抵抗241,242…24n(第1の抵抗素子の一例)とを備えている。ここに,全ての前記抵抗241,242,…24n各々は異なる抵抗値を有するものである。これにより,前記電流変化回路B1,B2,…Bnは,前記LED11のショート故障時に,他の前記電流変化回路B1,B2,…Bnが前記LED11のショート故障時に出力する電流と異なる電流を出力する。
前記電流変化回路B1,B2,…Bnの動作については前記第1実施形態で説明したものと同様であるため,ここでは詳細な説明を省略するが,即ち前記LED11の正常時には電流を出力せず,前記LED11のショート故障時に電流変化回路B1,B2,…Bnごとに異なる電流を出力する。
Next, the configuration of the current change circuits B1, B2,... Bn and the current change circuits C1, C2,.
As shown in FIG. 6, the current changing circuits B1, B2,... Bn include an operational amplifier 23 (an example of a first comparator) connected to the anode and cathode of the LED 11, and the operational amplifier from the anode side of the LED 11. 23,
Since the operations of the current change circuits B1, B2,... Bn are the same as those described in the first embodiment, a detailed description is omitted here, that is, no current is output when the LED 11 is normal. When the LED 11 is short-circuited, a different current is output for each of the current change circuits B1, B2,.
また,前記電流変化回路C1,C2,…Cnは,前記LED11に逆極性で並列接続されたツェナーダイオード12と,前記ツェナーダイオード12に直列接続された抵抗131,132,…13n(第3の抵抗素子の一例)とを備えている。ここに,全ての前記抵抗131,132,…13n各々は異なる抵抗値を有するものである。これにより,前記電流変化回路C1,C2,…Cnは,前記LED11のオープン故障時に前記LED回路上に流れる電流を,他の前記電流変化回路C1,C2,…Cnとは異なる電流に変化させる。また,前記ツェナーダイオード12及び前記抵抗131,132,…13nによる電圧降下は前記LED11の正常時の電圧降下よりも大きいものである。
このように構成された前記LED故障検出装置Zでは,複数の前記LED11(111,112,…11n)のいずれかにショート故障又はオープン故障が生じた場合に,前記電流計20によって測定される前記測定合計電流は,該ショート故障又はオープン故障が生じた前記LED11ごとに異なり,且つショート故障及びオープン故障ごとに異なることとなる。
Further, the current change circuits C1, C2,... Cn include a
In the LED failure detection device Z configured in this manner, the
そして,前記故障検出制御部30は,前記電流計20により測定された前記測定合計電流と,前記電流変化回路B1,B2,…Bn各々が前記LED11のショート故障時に出力する予め定められた電流及び前記LED11のオープン故障時に前記電流変化回路C1,C2,…Cn各々により変化される予め定められた前記LED回路上に流れる電流とに応じて,前記LED11各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出する。
具体的に,前記電流変化回路B1,B2,…Bn各々が,前記LED11のショート故障時及びオープン故障時各々に出力する電流は,前記抵抗241,242,…24nによって予め定められている。前記電流変化回路B1,B2,…Bn各々により前記LED11のオープン故障時に前記電流変化回路C1,C2,…Cn各々により変化される予め定められた前記LED回路上に流れる電流は,前記抵抗131,132,…13nによって予め定められている。
そこで,前記故障検出制御部30は,そのため,前記故障検出制御部30は,前記電流変化回路B1,B2,…Bn各々が出力する電流及び前記LED回路上に流れる電流の合計,即ち前記電流計20により測定される前記測定合計電流と,前記LED11各々のショート故障及びオープン故障との対応関係を示す対応情報を記憶している。
そして,前記故障検出制御部30は,前記対応情報と前記電流計20により測定された前記測定合計電流とに応じて,前記LED11各々のショート故障又はオープン故障を区別して検出する。
Then, the failure
Specifically, the currents output by the current change circuits B1, B2,... Bn when the LED 11 is short-circuited and when the LED 11 is short-circuited are predetermined by the
Therefore, the failure
Then, the failure
以下,図7を参照しつつ,前記電流変化回路B1,B2,…Bn及び前記電流変化回路C1,C2,…Cnの動作について,前記電流変化回路B1,C1を例に挙げて説明する。ここに,図7(a)は前記LED111の正常時,図7(b)は前記LED111のショート故障時,図7(c)は前記LED111のオープン故障時の動作を示している。
ここでは,前記LED111のアノードの入力電圧V0は30.0V,前記LED111の正常時の電圧降下V21は0.7V,前記ツェナーダイオード12の通電時の電圧降下V23は1.2V,前記抵抗131の通電時の電圧降下V24は0.8Vであるとする。従って,前記LED111の正常時は前記LED111のカソードからの出力電圧V1が29.3Vとなり,前記ツェナーダイオード12及び前記抵抗131の通電時は前記出力電圧V1が28.0Vとなる。
また,前記分圧抵抗21,22の抵抗値は1Ω,59Ωであるとする。そのため,前記オペアンプ23の+端子に入力されるVin1は,前記入力電圧V0の30Vを前記分圧抵抗21,22で分圧した29.5V(30×(59/60))である。即ち,前記第1の閾値電圧は前記LED11の正常時の電圧降下である0.7V以下の0.5Vに設定されている。
さらに,前記オペアンプ23の出力側に接続された抵抗241の抵抗値は1kΩであるとする。そのため,前記電流変化回路B1では,前記オペアンプ23から5Vの出力電圧Vout1が出力されると,5V/1kΩ=5mAの電流が出力されることとなる。なお,前述したように,前記電流変化回路B1,B2,…Bn各々の前記抵抗241,242,…24nは異なる抵抗値を有するため,該電流変化回路B1,B2,…Bn各々において前記LED11のショート故障が生じた場合に出力される電流は全て異なることとなる。
Hereinafter, the operations of the current change circuits B1, B2,... Bn and the current change circuits C1, C2,... Cn will be described by taking the current change circuits B1, C1 as an example, with reference to FIG. 7A shows the operation when the
Here, the anode input voltage V0 of the
The resistance values of the
Furthermore, it is assumed that the resistance value of the
具体的に,前記電流変化回路B1では,図7(a)に示すように,前記LED111の正常時,前記LED111の両端の電圧降下V2は前記電圧降下V21(0.7V)となるため,前記出力電圧V1である29.3Vが前記オペアンプ23の+端子のVin2として入力される。
この場合,前記オペアンプ23は,+端子のVin2(29.3V)が−端子のVin1(29.5V)以下であると判断してVout1を出力しない(Vout1=0V)。即ち,前記電流変化回路B1は,前記LED111の正常時には電流を出力しないように構成されている。
一方,前記電流変化回路C1では,前記LED111の正常時,前記ツェナーダイオード12及び前記抵抗131に通電がなされない。そのため,全ての前記LED11の正常時,複数の前記LED11が直列接続された前記LED回路上に流れる電流Iは,前記抵抗10の抵抗値をR1,前記LED11の数をnとすると,以下の式(1)で表され,該電流Iが前記電流計20で測定されることとなる。
I=(V0−n・V21)/R1 …(1)
Specifically, in the current change circuit B1, as shown in FIG. 7A, when the
In this case, the
On the other hand, in the current change circuit C1, the
I = (V0−n · V21) / R1 (1)
次に,図7(b)に示すように,前記電流変化回路B1において,前記LED111のショート故障時は,前記LED111が導通状態となるため前記LED111の両端の電圧降下V2は電圧降下V22(0V)となる(V0=V1=30.0V)。そのため,前記出力電圧V1である30.0Vが,前記オペアンプ23の+端子のVin2として入力され,前記オペアンプ23は,+端子のVin2(30.0V)が−端子のVin1(29.5V)よりも高いと判断してVout1を出力する(Vout1=5V)。これにより,前記電流変化回路B1からは5mA(5V/1kΩ)の電流が出力されることとなる。
一方,前記電流変化回路C1では,前記LED111のショート故障時,前記ツェナーダイオード12及び前記抵抗131に通電がなされない。そのため,前記LED11のいずれかでショート故障が生じた場合,前記LED回路上に流れる電流Iは,前記抵抗10の抵抗値をR1,前記LED11の数をnとすると,以下の式(2)で表される。
I=(V0−(n−1)・V21)/R1 …(2)
従って,前記電流Iと前記電流変化回路B1から出力される電流(5mA)との合計が前記電流計20で前記測定合計電流として測定される。この場合,前記測定合計電流は,前記電流変化回路B1,B2,…Bnのいずれから電流が出力されるかによって変化することとなる。
Next, as shown in FIG. 7B, in the current change circuit B1, when the
On the other hand, in the current change circuit C1, when the
I = (V0− (n−1) · V21) / R1 (2)
Therefore, the sum of the current I and the current (5 mA) output from the current change circuit B1 is measured by the
また,図7(c)に示すように,前記電流変化回路B1において,前記LED111のオープン故障時は,前記LED111の回路が遮断して前記ツェナーダイオード12及び前記抵抗131に通電がなされる。これにより,前記LED111の両端の電圧降下V2は前記電圧降下V22(1.2V)及び前記電圧降下V23(0.8V)の合計である2.0Vとなる。そのため,前記出力電圧V1である28.0Vが,前記オペアンプ23の+端子のVin2として入力され,前記オペアンプ23は,+端子のVin2(28.0V)が−端子のVin1(29.5V)以下であると判断してVout1を出力しない(Vout1=0V)。
一方,前記電流変化回路C1では,前記LED111のショート故障時,前記ツェナーダイオード12及び前記抵抗131に通電がなされる。そのため,前記LED11のいずれかでショート故障が生じた場合,前記LED回路上に流れる電流Iは,前記抵抗10の抵抗値をR1,前記抵抗131,132,…13nの抵抗値をR13,前記LED11の数をnとすると,以下の式(3)で表され,該電流Iが前記電流計20で前記測定合計電流として測定される。
I=(V0−(n−1)・V21−V22)/(R1+R13) …(3)
従って,前記LED11各々が直列接続されたLED回路上に流れる電流,即ち前記電流計20によって測定される前記測定合計電流は,前記抵抗131の抵抗値R13に応じて変化することとなる。
Further, as shown in FIG. 7C, in the current change circuit B1, when the
On the other hand, in the current change circuit C1, the
I = (V0− (n−1) · V21−V22) / (R1 + R13) (3)
Accordingly, the current flowing on the LED circuit in which the LEDs 11 are connected in series, that is, the measured total current measured by the
そして,前記故障検出制御部30は,前記電流計20で測定された前記測定合計電流に応じて,前記LED11各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出する。
具体的に,前記故障検出制御部30は,前記電流計20で測定された前記測定合計電流が,前記式(2)に示す電流I及び前記電流変化回路B1から出力された電流の合計と一致する場合には,前記電流変化回路B1に対応する前記LED111のショート故障が生じていると特定する。また,前記測定合計電流が,前記式(3)の抵抗値R13に前記抵抗131の抵抗値を代入した場合の電流Iと一致する場合には,前記電流変化回路B1に対応する前記LED111のオープン故障が生じていると特定する。さらに,前記故障検出制御部30は,前記測定合計電流が前記式(1)に示す電流Iと一致する場合には,全ての前記LED11が正常であると判断する。
以上説明したように,前記LED故障検出装置Zでも,一つの前記電流計20によって測定される電流が,ショート故障又はオープン故障が生じた前記LED11ごとに異なり,且つショート故障及びオープン故障ごとに異なるため,該電流計20による測定合計電流のみを監視するという簡素な構成で,複数の前記LED11各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出することが可能である。
Then, the failure
Specifically, the failure
As described above, also in the LED failure detection device Z, the current measured by one
1:表示制御部
2:液晶パネル
3:液晶駆動部
4:バックライト装置
5:バックライト制御部
10:抵抗
11(111,111,…11n):LED(発光ダイオード)
12:ツェナーダイオード
131,132,…13n:抵抗(第3の抵抗素子の一例)
21,22,31,32:分圧抵抗
241,242,…24n:抵抗(第1の抵抗素子の一例)
341,342,…34n:抵抗(第2の抵抗素子の一例)
20:電流計(合計電流測定手段の一例)
30:故障検出制御部(LED故障検出手段の一例)
A1,A2,…An:電流変化回路(電流変化手段の一例)
B1,B2,…Bn:電流変化回路(第1の電流変化手段の一例)
C1,C2,…Cn:電流変化回路(第2の電流変化手段の一例)
L1〜L12:LED群
X:液晶表示装置
Y,Z:LED故障検出装置
1: Display control unit 2: Liquid crystal panel 3: Liquid crystal drive unit 4: Backlight device 5: Backlight control unit 10: Resistor 11 (111, 111,... 11n): LED (light emitting diode)
12:
21, 22, 31, 32:
341, 342,... 34n: resistance (an example of a second resistance element)
20: Ammeter (an example of total current measuring means)
30: Failure detection control unit (an example of LED failure detection means)
A1, A2,... An: current change circuit (an example of current change means)
B1, B2,... Bn: current changing circuit (an example of first current changing means)
C1, C2,... Cn: current changing circuit (an example of second current changing means)
L1 to L12: LED group X: Liquid crystal display device Y, Z: LED failure detection device
Claims (9)
前記電流変化測定手段で測定される電流に応じて,前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出するLED故障検出手段と,
を備えてなることを特徴とするLED故障検出装置。 The current measured when a short-circuit failure or an open failure occurs in any of a plurality of LEDs connected in series differs depending on the LED in which the short-circuit failure or open failure occurs, and for each short-circuit failure and open failure. Current change measuring means configured differently;
LED failure detection means for distinguishing and detecting a short fault and an open fault of each of the LEDs according to the current measured by the current change measurement means;
An LED failure detection device comprising:
前記電流変化手段各々が,前記LEDのショート故障時及びオープン故障時各々に,他の前記電流変化手段が前記LEDのショート故障時及びオープン故障時各々に出力する電流と異なる予め定められた電流を出力するものであり,
前記LED故障検出手段が,前記合計電流測定手段により測定された出力電流の合計と,前記電流変化手段各々が前記LEDのショート故障時及びオープン故障時各々に出力する予め定められた電流とに応じて,前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出するものである請求項1に記載のLED故障検出装置。 The current change measuring means is provided corresponding to each LED, and current changing means for outputting different currents when the LED is normal, short-circuit failure, open failure, and outputs of each of the current change means A total current measuring means for measuring the total current,
Each of the current changing means has a predetermined current different from a current output when the LED short-circuit failure and an open failure, respectively, and when the other current change means outputs a short-circuit failure and an open failure of the LED, respectively. Output,
The LED failure detecting means responds to the sum of the output currents measured by the total current measuring means, and the predetermined currents output by the current changing means when the LED is short-circuited and when the LED is short-circuited, respectively. The LED failure detection device according to claim 1, wherein a short-circuit failure and an open failure of each LED are distinguished and detected.
前記LED故障検出手段が,前記合計電流測定手段により測定された出力電流の合計と,前記電流変化手段のいずれかが前記LEDのショート故障時又はオープン故障時に出力する予め定められた電流とが一致することを条件に,該LEDにショート故障又はオープン故障が発生していると特定するものである請求項2に記載のLED故障検出装置。 Each of the current changing means does not output a current when the LED is normal,
The total of output currents measured by the total current measuring means by the LED fault detecting means coincides with a predetermined current that is output when any of the current changing means is short or open of the LED. 3. The LED failure detection device according to claim 2, wherein the LED failure detection device identifies that a short failure or an open failure has occurred in the LED on the condition that
前記LEDに逆極性で並列接続されたツェナーダイオードと,
前記LEDの両端の電圧降下が予め定められた第1の閾値電圧より小さい場合には予め定められた第1の出力電圧を出力し,前記第1の閾値電圧以上である場合には前記第1の出力電圧を出力しない第1の比較器と,前記第1の比較器の出力側に接続された第1の抵抗素子と,
前記LEDの両端の電圧降下が予め定められた第2の閾値電圧以上である場合には予め定められた前記第1の出力電圧と同一の第2の出力電圧を出力し,前記第2の閾値電圧より小さい場合には前記第2の出力電圧を出力しない第2の比較器と,前記第2の比較器の出力側に接続され,前記第1の抵抗素子と異なる抵抗値を有する第2の抵抗素子と,
を備えてなり,
前記第1の閾値電圧が前記LEDの正常時の電圧降下以下の値であり,前記第2の閾値電圧が前記LEDの正常時の電圧降下より大きく前記ツェナーダイオードの通電時の電圧降下以下の値であると共に,全ての前記第1の抵抗素子及び前記第2の抵抗素子の抵抗値が異なるものである請求項2又は3のいずれかに記載のLED故障検出装置。 The current changing means is
A Zener diode connected in parallel to the LED in reverse polarity;
When the voltage drop across the LED is smaller than a predetermined first threshold voltage, a predetermined first output voltage is output, and when the voltage drop is equal to or higher than the first threshold voltage, the first voltage is output. A first comparator that does not output the output voltage, a first resistance element connected to the output side of the first comparator,
When the voltage drop across the LED is greater than or equal to a predetermined second threshold voltage, a second output voltage that is the same as the predetermined first output voltage is output, and the second threshold voltage is output. A second comparator that does not output the second output voltage if it is smaller than the voltage, and a second comparator connected to the output side of the second comparator and having a resistance value different from that of the first resistor element. A resistance element;
With
The first threshold voltage is a value less than or equal to the normal voltage drop of the LED, and the second threshold voltage is greater than the normal voltage drop of the LED and a value less than or equal to the voltage drop when the Zener diode is energized. The LED failure detection device according to claim 2, wherein all of the first resistance elements and the second resistance elements have different resistance values.
前記LEDに逆極性で並列接続されたツェナーダイオードと,
前記LEDの両端の電圧降下が予め定められた第1の閾値電圧より小さい場合には予め定められた第1の出力電圧を出力し,前記第1の閾値電圧以上である場合には前記第1の出力電圧を出力しない第1の比較器と,前記第1の比較器の出力側に接続された第1の抵抗素子と,
前記LEDの両端の電圧降下が予め定められた第2の閾値電圧以上である場合には予め定められた前記第1の出力電圧と異なる第2の出力電圧を出力し,前記第2の閾値電圧より小さい場合には前記第2の出力電圧を出力しない第2の比較器と,前記第2の比較器の出力側に接続され,前記第1の抵抗素子と同一の抵抗値を有する第2の抵抗素子と,
を備えてなり,
前記第1の閾値電圧が前記LEDの正常時の電圧降下以下の値であり,前記第2の閾値電圧が前記LEDの正常時の電圧降下より大きく前記ツェナーダイオードの通電時の電圧降下以下の値であると共に,全ての前記第1の抵抗素子の抵抗値が異なるものである請求項2又は3のいずれかに記載のLED故障検出装置。 The current changing means is
A Zener diode connected in parallel to the LED in reverse polarity;
When the voltage drop across the LED is smaller than a predetermined first threshold voltage, a predetermined first output voltage is output, and when the voltage drop is equal to or higher than the first threshold voltage, the first voltage is output. A first comparator that does not output the output voltage, a first resistance element connected to the output side of the first comparator,
When the voltage drop across the LED is equal to or higher than a predetermined second threshold voltage, a second output voltage different from the predetermined first output voltage is output, and the second threshold voltage is output. If smaller, a second comparator that does not output the second output voltage and a second comparator connected to the output side of the second comparator and having the same resistance value as the first resistor element A resistance element;
With
The first threshold voltage is a value less than or equal to the normal voltage drop of the LED, and the second threshold voltage is greater than the normal voltage drop of the LED and a value less than or equal to the voltage drop when the Zener diode is energized. The LED failure detection device according to claim 2, wherein all of the first resistance elements have different resistance values.
前記第1の電流変化手段各々が,前記LEDのショート故障時に,他の前記第1の電流変化手段が前記LEDのショート故障時に出力する電流と異なる電流を出力するものであり,
前記第2の電流変化手段各々が,前記LEDのオープン故障時に,前記LED回路上に流れる電流を他の前記第2の電流変化手段とは異なる電流に変化させるものであって,
前記LED故障検出手段が,前記合計電流測定手段により測定された出力電流の合計と,前記第1の電流変化手段各々が前記LEDのショート故障時に出力する予め定められた電流及び前記LEDのオープン故障時に前記第2の電流変化手段各々により変化される予め定められた前記LED回路上に流れる電流とに応じて,前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出するものである請求項1に記載のLED故障検出装置。 The current change measuring means is provided corresponding to each of the LEDs, and a first current changing means for outputting different currents when the LED is normal and when a short fault occurs, and when the LED is normal, an open fault A second current changing means for changing a current flowing on the LED circuit in which the LEDs are connected in series at each time, an output current from each of the first current changing means and a current flowing on the LED circuit; A total current measuring means for measuring the total,
Each of the first current changing means outputs a current different from the current output when the other first current changing means outputs a short circuit failure of the LED when the LED short circuit failure occurs;
Each of the second current changing means changes the current flowing on the LED circuit to a current different from that of the other second current changing means when the LED has an open failure;
The LED failure detection means includes a total of output currents measured by the total current measurement means, a predetermined current output when each of the first current change means is a short circuit failure of the LED, and an open failure of the LED. The short circuit failure and the open failure of each of the LEDs are distinguished and detected according to a predetermined current flowing on the LED circuit that is sometimes changed by each of the second current changing means. The LED failure detection device described.
前記第2の電流変化手段が,前記LEDに逆極性で並列接続されたツェナーダイオードと,前記ツェナーダイオードに直列接続された第3の抵抗素子とを備えてなり,
前記第1の閾値電圧が前記LEDの正常時の電圧降下以下の値であり,前記ツェナーダイオード及び前記第3の抵抗素子の通電時の電圧降下が前記LEDの正常時の電圧降下よりも大きいものであり,全ての前記第1の抵抗素子の抵抗値が異なると共に全ての前記第3の抵抗素子の抵抗値が異なるものである請求項6に記載のLED故障検出装置。 When the voltage drop across the LED is smaller than a predetermined first threshold voltage, the first current changing means outputs a predetermined first output voltage, and the first threshold voltage In the case of the above, a first comparator that does not output the first output voltage, and a first resistance element connected to the output side of the first comparator,
The second current changing means comprises a Zener diode connected in parallel to the LED in reverse polarity, and a third resistance element connected in series to the Zener diode;
The first threshold voltage is equal to or less than the normal voltage drop of the LED, and the voltage drop when the Zener diode and the third resistance element are energized is larger than the normal voltage drop of the LED. The LED failure detection apparatus according to claim 6, wherein all of the first resistance elements have different resistance values and all of the third resistance elements have different resistance values.
前記LED各々のショート故障及びオープン故障を区別して検出する請求項1〜7のいずれかに記載のLED故障検出装置を備えてなることを特徴とするバックライト装置。 A backlight device having a plurality of LEDs connected in series for illuminating a liquid crystal panel from behind,
A backlight device comprising the LED failure detection device according to claim 1, wherein a short failure and an open failure of each LED are distinguished and detected.
A liquid crystal panel for displaying an image, a backlight device having a plurality of LEDs connected in series for illuminating the liquid crystal panel from behind, and a short circuit failure and an open failure of each LED of the backlight device are detected separately. A liquid crystal display device comprising the LED failure detection device according to any one of 1 to 7.
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