JP2008064579A - Ｏｖｄ検査装置及びｏｖｄ検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】基材に付与されているＯＶＤの圧力跡、基材の波打ち若しくは搬送中の基材のバタツキ又はうねりに影響を受けず、安定してＯＶＤの品質の検査を可能とし、比較的安価なＯＶＤの検査装置の提供及びＯＶＤの検査方法である。
【解決手段】ＯＶＤ検査装置は、少なくとも基材の一部にＯＶＤが付与された基材において、ＯＶＤの付与状態を検査する装置であって、ＯＶＤが付与された基材を搬送する搬送手段と、ＯＶＤに対してレーザー光を照射する照射手段と、照射手段から照射したレーザー光に対してＯＶＤから反射した反射波を受信し、信号へ変換する受信手段と、受信手段で変換された信号と、あらかじめ定めた閾値とを比較判定する識別手段から成る。
【選択図】図１

Description

本発明は、基材に付与されたOptically Variable Device（以下、「ＯＶＤ」という。）をセンサーによって検知し、ＯＶＤの品質（ＯＶＤの有無、位置ずれ又は欠損）及びＯＶＤの数量を検査するＯＶＤ検査装置に関するものである。

ＯＶＤは、レリーフ状の回折格子に金属を蒸着した箔のことで、立体画像の顕出やカラーシフトといった独特な光学的変化機能を持つものであり、近年、紙幣、金券、商品券、キャッシュカード及びクレジットカード等の貴重製品は、偽造防止効果を高める目的でＯＶＤが付与されてきている。また、これらの貴重製品の中には、より高度な偽造防止技術として、多重回折格子と呼ばれる複数の微細な回折格子を複雑に構成したＯＶＤであって、入射角度によって回折される光波長が異なる複数の図柄が組み込まれているものも利用されている。

これらのＯＶＤを付与した貴重製品の製造は、まず、用紙やプラスチックシートなどの基材に図柄や文字などの印刷を施し、次に転写又は圧着によって、シートタイプやパッチタイプ、あるいはスレッドタイプのＯＶＤ箔やＯＶＤシートを、カードや紙等の基材に付与する場合が多い。
ＯＶＤを基材に転写又は圧着する方法としては、一般的には、ＯＶＤ層を形成したＯＶＤシート又はフィルムを、加熱された金属製の刻印と基材の間に配置し、ＯＶＤシートを刻印で基材に押圧するホットスタンプ方式又は加熱された刻印の代わりに、加熱されたロールを使用するロール転写方式などが利用されている。

ＯＶＤは、貴重製品が本物であることを保証する要素であるため、貴重製品に付与されたＯＶＤに欠陥があってはならないが、製造工程で、ＯＶＤを基材に転写又は圧着する際、基材のバタツキや機械等の調整不良、転写又は圧着条件等によっては、基材にＯＶＤが付与されていないものや、ＯＶＤが付与されていても、適切な位置に付与されていないもの、適切な位置に付与されてはいるが、ＯＶＤに抜けや欠けなどの欠陥を有する貴重製品が発生する場合があった。
そこで、貴重製品に付与したＯＶＤの状態については、全数検査して品質を保証することが、不可欠となっている。

従来は、これらの検査を人間の目視による検査に頼っていたが、検査する者によって、良否の判定基準に差があるため、品質基準にバラツキが生じていた。また、人間が検査する方法では、多くの検査人員及び検査時間が必要となり、非効率であるため、人間に依存しない機械的な検査方法が求められていた。

これらの問題を解消するために、表面形状の欠陥を検査する装置が多数開発されてきており、従来の品質検査装置としては、カード基材に代表される表面が均一で平らな製品のＯＶＤを検査する「カード表面欠陥検査装置」がある（例えば、特許文献１参照）。

また、別の方法として、ＯＶＤ層を含む被検査物の搬送幅に亘るライン上領域に所定の入射角度で光照射し、ＯＶＤ層に記録されたＯＶＤ再生像を撮像し、撮像したＯＶＤ再生像の光強度分布に基づき、判定手段により、ＯＶＤ層の品質を検査する「品質検査装置」がある（例えば、特許文献２参照）。

また、本出願人が先に出願したＯＶＤ箔のの検査装置及び検査方法では、ＯＶＤを基材に付与した後、ＯＶＤのキャリアフィルムを再び巻き取った再巻箔について、光を照射した透過光により得られる光情報をもとに、正規の光情報と比較して、キャリアフィルム上に残ったＯＶＤ箔の有無により確実にＯＶＤが付与されたか否かを検査する方法がある（例えば、特許文献３参照）。

また、本出願人は、ＯＶＤの反射特性を踏まえて、ＯＶＤを付与した領域に赤外線又は赤外線を含む光源を照射し、可視光反射領域で可視光を遮断して赤外線を透過するフィルタを備えた画像入力手段で画像を読み取り、基準データと比較してＯＶＤの付与状態を検査する方法を出願している（例えば、特許文献４参照）。

特開平２−２４８８４５ 特許第３３３９４２６号 特願２００６−２５１９４ 特願２００４−２５９７８５

しかし、特許文献１に記載された発明は、搬送中にバタツキがおこりにくい剛度の高い基材の表面を検査するものであり、ＯＶＤを付与する基材、紙又はフィルムのように剛性が低く、搬送中にバタツキが生じやすい基材に付与されたＯＶＤを正確に検査することは難しく、また、装置の構造上、検査部を版胴に設けて光学的に検査する場合は、ＯＶＤが乱反射するため、安定した検査が出来なかった。
また、特許文献１は、一つのＯＶＤが一つの基材に付与されているものの検査であり、高速で搬送される一つの基材に対して複数のＯＶＤが付与されたものの検査ではなかった。

また、特許文献２に記載された発明では、ＯＶＤが付与された枚葉紙にバタツキが生じることにより、ＯＶＤの再生像が大きく変化して検査が不可能になることを防止するための品質管理装置が提供されているが、付与機等により高温高圧条件下で剛性の低い基材に付与したＯＶＤを検査する条件として、レーザーセンサーを基材の搬送方向に垂直に配置した場合は、刻印等による加圧によってＯＶＤ付与部分に生じたわずかな凹み（圧力跡）や、高温高圧によって基材自体に生じた波打ち等の基材表面状態の悪さが起因して、ＯＶＤに照射したレーザー光の反射光量が一定しない（乱反射する）ため、精度のよいＯＶＤの検査を行うことが出来なかった。

この理由として、ＯＶＤは基材に完全に接着させるため、付与機等により高温高圧条件の下で行われることから、加圧したことによって生じたＯＶＤ付与部分の凹み（圧力跡）や、高温高圧によって生じた基材の波打ち等のように、基材の表層状態がわずかに変形しているため、基材に特定な角度で光を当て、その反射光をカメラで撮影しても、安定した反射画像データが得られないことにある。
特に、基材が、紙の場合、付与時の変形を受けやすいため、前述した検査方法での検査精度は低くなる傾向にあった。

また、１枚の枚葉紙に複数列、複数行（例えば、縦４列×横５列＝計２０個）のＯＶＤを付与したＯＶＤを検査するような場合には、ホログラム部分の圧力跡や基材の波打ちに加え、搬送中の紙のバタツキやうねりが影響し、ＯＶＤに照射したレーザー光の反射光量が一定しないことから、ＯＶＤの検査精度があがらなかった。

また、本出願人が先に出願した特許文献３については、ＯＶＤを付与した後のキャリアフィルムを対象に検査することで、基材上のＯＶＤの状態を検査したこととするものであり、実際に基材上に付与されたＯＶＤ自体を検査するものではなかった。

また、本出願人が先に出願した特許文献４については、実際の基材上のＯＶＤを検査するものではあるが、赤外線を照射しなければならず、更に照射した光を画像処理することが必要となるため、検査するための装置が若干高価となる。

本発明は、上記の問題点を解決するためになされたものであり、ＯＶＤの圧力跡、基材の波打ち若しくは搬送中の基材のバタツキ又はうねりに影響を受けず、安定したＯＶＤの品質の検査を可能とし、比較的安価なＯＶＤ検査装置を提供することを目的とする。

また、本発明は、基材上に付与されているＯＶＤにラインタイプレーザーセンサーを基材の搬送方向に対し平行に配置することによって、基材上に付与されたＯＶＤの付与状態（ＯＶＤの有無、ＯＶＤの位置、ＯＶＤの欠損及びＯＶＤの個数）を検査するものである。

本発明は、少なくとも基材の一部にＯＶＤが付与された基材において、ＯＶＤの付与状態を検査する装置であって、ＯＶＤが付与された基材を搬送する搬送手段と、ＯＶＤに対してレーザー光を照射する照射手段と、照射手段から照射したレーザー光に対してＯＶＤから反射した反射波を受信し、信号へ変換する受信手段と、受信手段で変換された信号と、あらかじめ定めた閾値とを比較判定する識別手段から成るＯＶＤ検査装置である。

また、本発明は、ＯＶＤが搬送手段により搬送される搬送方向に対して平行に複数列ある場合に、照射手段をＯＶＤに対応して搬送方向に平行して複数配列することを特徴とするＯＶＤ検査装置である。

また、本発明は、識別手段がＯＶＤの有無、形状、付与位置及び／又は数量を比較判定することを特徴とするＯＶＤ検査装置である。

また、本発明は、少なくとも基材の一部にＯＶＤが付与された基材において、ＯＶＤの付与状態を検査する方法であって、ＯＶＤが付与された前記基材を搬送し、基材上のＯＶＤに対してレーザー光を照射し、照射したレーザー光に対してＯＶＤから反射した反射波を受信し、受信した反射波を信号に変換し、変換した信号と、あらかじめ定めた閾値とを比較判定するＯＶＤ検査方法である。

また、本発明は、あらかじめ定めた閾値がＯＶＤにレーザー光を照射したときの反射光量と、基材にレーザー光を照射したときの反射光量との差を用いた値であることを特徴とするＯＶＤ検査方法である。

また、ＯＶＤにレーザー光を照射したときの反射光量と、あらかじめ定めた閾値と比較することで、ＯＶＤの基材上への付与の有無、ＯＶＤの形状及び／又はＯＶＤの付与位置を判定し、及び／又は一定時間内におけるレーザー光の受信回数によりＯＶＤの個数を計数することを特徴とするＯＶＤ検査方法である。

本発明によれば、基材に付与されるＯＶＤの個数に関わらず、また、基材の表面状態（ＯＶＤの圧力跡）や搬送中の基材の表面振動（バタツキ等）に影響を受けず、基材上に付与されたＯＶＤの状態（ＯＶＤの有無、ＯＶＤの位置、ＯＶＤの欠損）を検査することができ、さらに、基材上に付与されているＯＶＤの個数を正確に計数することが可能となる。

以下に、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。

本発明によるＯＶＤ検査装置１は、ＯＶＤが付与された基材を搬送する搬送手段３とレーザー光を照射する照射手段４と、ＯＶＤ２から反射された反射波を受信し、信号へ変換する受信手段７と、受信手段７によって得られた信号をあらかじめ定めた閾値と比較判定する識別手段８を具備して構成されたものであり、基材に付与されたＯＶＤを検査対象とするものである。

図１は、本発明のＯＶＤ検査装置の構成を示す概略側面図である。

図１に示すように、ＯＶＤの付与された基材１が搬送手段３によって搬送され、照射手段４よりレーザー光５が照射され、基材１上に付与されたＯＶＤ２によって反射したレーザー光６を受信手段７が受信するように構成され、受信手段７によって得られた信号を識別手段８によって一定の閾値と比較判定するように構成されている。

基材１及びＯＶＤ２に照射するレーザー光４は、基材１に付与されたＯＶＤ２の搬送上に、ＯＶＤに対応して配置されるように構成する。このＯＶＤに対応するというのは、検査対象となる基材に複数のＯＶＤが付与されている場合又は一つの製品に一つのＯＶＤが付与された基材が複数配列されている（以下「多面版」という。）場合に、基材が搬送される方向に対して平行に複数配置されるように構成することである。例えば、図２に示すように、基材１上に複数個付与されたＯＶＤ（２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄ）を検査対象とする場合は、基材１が搬送方向（矢印方向）に機械的に搬送されると、基材上に付与されているＯＶＤ（２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄ）も矢印方向に移動するため、照射手段４は、基材に付与されたＯＶＤ（２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄ）が移動する位置（軌道）の上部（４箇所）に基材の搬送方向に対して平行に取り設けられる。

基材の搬送方向に対して垂直方向ではなく平行に配置する理由としては、ＯＶＤの乱反射の影響を受けにくく、ＯＶＤに照射したレーザー光の反射光量が安定するため、ＯＶＤの検査精度が上がることにある。そのため、基材が紙又はフィルム等のように剛性が低く、搬送中にバタツキが生じやすい基材に付与されているＯＶＤを検査する場合でも、ＯＶＤ付与時に基材に生じた圧力跡や基材の波打ち等のわずかな変形、さらに、搬送中の基材のバタツキやうねりによるＯＶＤの乱反射の影響を受けずに精度の良い検査を行うことができる。

ＯＶＤ２に照射して反射したレーザー光６を受光する受信手段７についても同様に搬送される方向に対して平行に配置されるように構成することが望ましい。

ＯＶＤ２に照射するレーザー光としては、可視光半導体レーザー光が最も好ましいが、ラインタイプのレーザー光を用いても良い。

また、照射手段、受信手段の設置位置は、基材に付与されたＯＶＤの付与位置及び付与数によって適宜調整すればよい。

次に、基材に付与されたＯＶＤのレーザー光による検出方法について、図３を用いて説明する。
図３は基材１に付与されたＯＶＤ２を検査する模式図である。
まず、基材１は搬送方向（矢印方向）に移動し、Ａの位置でＯＶＤ２に照射したレーザー光５に対して反射したレーザー光６を検出する（図３（ａ））。次に、基材１が、更に搬送方向（矢印方向）に移動し、ＯＶＤ２上のＢの位置で反射するレーザー光６を検出する（図３（ｂ））。そして、更に基材１が矢印方向に移動し、Ｃの位置で反射するレーザー光６を検出する（図３（ｃ））。このように、図３（ａ）から（ｃ）のような工程を繰り返し行って検査を行う。

この時、反射したレーザー光の強さを反射光量とし検出位置との関係を示しているのが図４である。レーザー光がＯＶＤを照射した場合（図３Ｂ）、大きな反射光量を得ることができるので、レーザー光が基材を照射した場合（図３ＡおよびＣ）に反射する反射光量８よりも一般的に高い値となる。

ＯＶＤ２を検知する判断基準として閾値を使用する。閾値１０は、検査における設定において任意に定めることができるが、図４では、ＯＶＤ２にレーザー光を照射した場合、反射して戻ってくるレーザー光の反射光量と、基材１にＯＶＤ２と同様にレーザー光を照射し、反射し戻ってくるレーザー光の反射光量の差を半分にした値を用いたものを挙げている。

ここで、本発明のＯＶＤ検査装置におけるＯＶＤの有無検査について図５を用いて説明する。照射手段４より照射されるレーザー光５が基材１に付与されたＯＶＤ箇所を走査する場合（図５（ａ））には受信手段７において反射したレーザー光６が受光される。そして、受信手段６が受信したレーザー光６の強さを、識別手段８にてあらかじめ設定した閾値と比較し、閾値以上の強さのレーザー光であれば基材１上にＯＶＤ２が付与されていると判断し（図５（ｂ））、閾値以下のレーザー光（図５（ｄ））であれば基材１上にＯＶＤ２が付与されていないと判断する。

以上のようにして、レーザー光反射光量と閾値の関係から基材上に付与されたＯＶＤの有無についての検出が可能となる。

ＯＶＤ２の反射光量の数値は、センサーの設置時に角度調整において感度が最大値となるようにするとより安定して検査が行える。

以上、ＯＶＤの有無検査について説明したが、前述した識別手段８において正規に付与されているＯＶＤの大きさを時間的長さに変換し、検査対象の基材上に付与されたＯＶＤが一定方向に移動し受信したレーザー光の時間的な長さを比較することにより、一部分のＯＶＤが欠けている形状不良を検出することもできる。

例えば図６（ａ）に示すように基材１上に付与されたＯＶＤ２が、正規の大きさの場合、反射光量のグラフは図６（ｂ）のようにピークが現れるが、図６（ｃ）のように、ＯＶＤ２が通常の大きさより小さい場合、反射光量のグラフは図６（ｄ）のように閾値１０’を超える反射光量の移動方向の長さが短くなり、あらかじめ設定した付与位置タイミングの長さと異なることから、図６（ｃ）で基材上に付与されたＯＶＤより移動方向の長さが短いＯＶＤが付与されていることが分かる。

このことから大きさの異なる基材上のＯＶＤを検出できるため、基材上に付与したＯＶＤの一部欠損した判別が可能となる。

さらに、あらかじめ識別手段に基材上のＯＶＤの位置に関するタイミングを設定することで、ＯＶＤが基材上における正規な位置に付与されているか否かの付与位置を検査すること、また一定時間内に受信するレーザー光の回数によって、基材上に付与されているＯＶＤの個数を計数することが可能となる。また、センサーによる一定時間内の応答速度は、速いほど検知回数が増して、検査精度が向上する。（今回使用した応答速度は、８０μｓｅｃである。）

本発明に関する実施形態を、実施例に基づき図面を参照にして説明するが、特許請求の範囲に記載の範囲であれば、これに限定するものではない。

（実施例１）
本発明のＯＶＤ検査装置を印刷機に応用したものについて、実施例として説明する。本発明の印刷機Ａの基本構成は、図７に示すように、給紙部Ｂ、印刷部Ｃ、排紙部Ｄ、ＯＶＤ検査部Ｅ、判定制御部Ｆから成っている。給紙部Ｂは、用紙積載部ａに積載された用紙ｂを搬送板ｃに沿って１枚毎に印刷部Ｃまで搬送させる。次に、印刷部Ｃは、給紙部Ｂから１枚毎に送り込まれた用紙ｂを、番号胴ｄと圧胴ｅの間に用紙ｂを通紙し、番号胴ｄに取設けた字輪ｆにより、用紙ｂの所定位置に番号を印刷する。

さらに、排紙部Ｄは、印刷部Ｃで印刷された用紙ｂを、搬送チェーンｇのグリッパーｈで搬送し、１枚毎に排紙パイルｉ又は排紙パイルｉ’に搬送する。このとき排紙パイルｉは正常な用紙ｂを積載し、排紙パイルｉ’は異常な用紙ｂを積載する機構としても良い。
また、ＯＶＤ検査部Ｆは、給紙部Ｂの用紙積載部ａから１枚毎に搬送された用紙ｂに付与されたＯＶＤを照射手段ｊによりレーザー光を照射し、その反射光量を検出し、ＯＶＤの検査を行う。

次にＯＶＤ検査部Ｆを上から観察した図８で説明するが、給紙部Ｂの搬送板ｃ上に用紙ｂが搬送さた用紙ｂは、前当板ｋ、横当板ｍに接触して位置決めを行い、番号印刷部Ｃに用紙ｂが送付される。レーザー受投光器ｊは、搬送板ｃの上部に取設け、用紙ｂに付与されたＯＶＤ２の搬送上に搬送方向と同じ方向に設定する。センサーと基材１との距離は、ＯＶＤ２の大きさによって異なり、ラインタイプレーザーセンサーの照射するレーザー光の長さがＯＶＤ２より長くなるよう高さを調整する。例えば、ＯＶＤの大きさが２０ｍｍ角程度の場合、センサーとＯＶＤとの距離は、レーザーと用紙の距離は、５０〜１００ｍｍが程度が望ましい。なお、レーザー受投光器ｊの取付位置は、用紙に付与したＯＶＤ２の付与箇所、付与位置及び付与数によって適宜調整することが望ましい。

判定制御部Ｆには、検査部Ｅの受光装置ｊで受光したレーザー光の反射光量が送られ、ＯＶＤ２が用紙ｂに正常に付与されているか否かの正損判定を行う。正損判定は、前述のとおりレーザー光の反射光量で判定し、例えば、一定の閾値を超えれば正常紙（以下「正紙」という。）、超えなければ異常紙（以下「損紙」という。）としても良いし、また、一定のレーザー反射幅を設定し、そのレーザー反射幅によりも長いと正紙、短いと損紙として検査しても良い。また、識別手段Ｆで正紙と判断した場合は、印刷部Ｃで印刷し、排紙部Ｄの排紙パイルｉに用紙ｂは搬送されるが、判定制御部Ｆで損紙と判断した場合は、印刷部Ｃで番号印刷し、排紙部Ｄの損紙専用となる排紙パイルｉ’に用紙ｂを搬送する機能にしても良い。さらに、判定制御部Ｆで損紙と判断した場合は、損紙が印刷部Ｃを通過するタイミングで、胴ｄと圧胴ｅの間隙を開けて、印刷しないで、排紙部Ｄの損紙専用となるパイルｉ’に用紙ｂを搬送する機能にしても良い。

上記実施例１では、基材として枚葉紙を用いているが、基材が巻き取られたロール紙等でも適用可能である。

また、実施例１では、ＯＶＤ検査装置を印刷機に搭載したものであるが、印刷機に限らず、どのような形態にも適用可能である。

（実施例２）
本実施例２は、実施例１の形態と異なった印刷機Ａ’を図９で説明するが、給紙部Ｂ’、印刷部Ｃ’、排紙部Ｄ’、ＯＶＤ検査部Ｅ’、判定制御部Ｆ’は、実施例１と同じ機能や方法で行うため説明を省略し、異なる部位や方法のみを説明する。印刷機Ａ’の特徴は、既に印刷やＯＶＤが付与された用紙ｂ’の印刷領域を検査できる機能を有することである。具体的には、給紙部Ｂ’と印刷部Ｃ’の間に印刷検査部Ｇを備え、用紙ｂ’を検査胴ｏで吸引密着させて用紙ｂ’の印刷領域を光学カメラｐで画像入力した後、渡し胴ｑを経由して、印刷部Ｂ’に用紙を搬送させる。

また、ＯＶＤ検査部Ｅ’は、検査胴ｏの上方に位置し、光学カメラｐで印刷領域を検査した後、レーザー受投光器ｊ’でＯＶＤの検査を行う。光学カメラｐ及びレーザー受投光器ｊ’で得られた情報は、判定制御部Ｆ’で一括判定され、正紙と判断した場合は、印刷部Ｃ’で印刷し、排紙部Ｄ’のパイルｉ’’に用紙Ｃ’は搬送されるが、しかし、判定制御部Ｆ’で損紙と判断した場合は、印刷部Ｃ’で印刷し、排紙部Ｄ’の損紙専用となるパイルｉ’’’に用紙ｂ’を搬送する機能にしても良い。さらに判定制御部Ｆ’で損紙と判断した場合は、損紙が番号印刷部Ｃ’を通過するタイミングで、圧胴ｅ’と番号胴ｄ’との間隙を開けて、印刷しないで、排紙部Ｄ’の損紙専用となるパイルｉ’’’に用紙ｂ’を搬送する機能にしても良い。なお、レーザー受投光器ｊ’は、光学カメラｐを検査する前に取設けても構わないし、検査胴を印刷物の表裏を検査するために２箇所設けても良い。

ＯＶＤ検査装置概要側面図 レーザー光照射位置概要図 基材に付与したＯＶＤ２を検査する模式図 レーザー反射状態を示す図である。 ＯＶＤ有無検出図 ＯＶＤ形状異常検出図 ＯＶＤ検査装置搭載型番号印刷機 ＯＶＤの検出図である。 ＯＶＤ検査装置搭載型番号印刷機

符号の説明

１ 基材
２ ＯＶＤ
３ 搬送手段
４ 照射手段
５ 照射レーザー光
６ 反射レーザー光
７ 受信手段
８ 識別手段
９ 反射光量
１０ 閾値
１１ 設定タイミング
Ａ、Ａ’ 番号印刷機
Ｂ、Ｂ’ 給紙部
Ｃ、Ｃ’ 番号印刷部
Ｄ、Ｄ’ 排紙部
Ｅ、Ｅ’ ＯＶＤ検査部
Ｆ、Ｆ’ 識別部（識別手段）
Ｇ 印刷検査部
ａ、ａ’ 用紙積載部
ｂ、ｂ’ 用紙
ｃ、ｃ’ 搬送板
ｄ、ｄ’ 番号胴
ｅ、ｅ’ 圧胴
ｆ、ｆ’ 字輪
ｇ、ｇ’ 搬送チェーン
ｈ、ｈ’ グリッパー
ｉ、ｉ’、ｉ’’、ｉ’’’ 排紙パイル
ｊ、ｊ’ レーザー受投光器
ｋ 前当板
ｍ 横当板
ｐ 光学カメラ
ｑ 渡胴

Claims (6)

1. 少なくとも基材の一部にＯＶＤが付与された基材において、前記ＯＶＤの付与状態を検査する装置であって、前記ＯＶＤが付与された基材を搬送する搬送手段と、前記ＯＶＤに対してレーザー光を照射する照射手段と、前記照射手段から照射したレーザー光に対して前記ＯＶＤから反射した反射波を受信し、信号へ変換する受信手段と、前記受信手段で変換された信号と、あらかじめ定めた閾値とを比較判定する識別手段から成るＯＶＤ検査装置。
2. 前記照射手段は、前記ＯＶＤが前記搬送手段により搬送される搬送方向に対して平行に複数列ある場合に、前記ＯＶＤに対応して搬送方向に平行して複数配列することを特徴とする請求項１記載のＯＶＤ検査装置。
3. 前記識別手段は、前記ＯＶＤの有無、形状、付与位置及び／又は数量を比較判定することを特徴とする請求項１又は２記載のＯＶＤ検査装置。
4. 少なくとも基材の一部にＯＶＤが付与された基材において、前記ＯＶＤの付与状態を検査する方法であって、前記ＯＶＤが付与された前記基材を搬送し、前記基材上の前記ＯＶＤに対してレーザー光を照射し、前記照射したレーザー光に対して前記ＯＶＤから反射した反射波を受信し、前記受信した反射波を信号に変換し、前記変換した信号と、あらかじめ定めた閾値とを比較判定するＯＶＤ検査方法。
5. 前記あらかじめ定めた閾値は、前記ＯＶＤに前記レーザー光を照射したときの反射光量と、前記基材に前記レーザー光を照射したときの反射光量との差を用いた値であることを特徴とする請求項４記載のＯＶＤ検査方法。
6. 前記ＯＶＤに前記レーザー光を照射したときの反射光量と、前記あらかじめ定めた閾値と比較することで、前記ＯＶＤの基材上への付与の有無、ＯＶＤの形状及び／又はＯＶＤの付与位置を判定し、及び／又は一定時間内における前記レーザー光の受信回数によりＯＶＤの個数を計数することを特徴とする請求項４又は５記載のＯＶＤ検査方法。

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