JP2003130790A - 光波コヒーレンス断層画像測定用光波の生成方法及びそれを用いた光源装置 - Google Patents
光波コヒーレンス断層画像測定用光波の生成方法及びそれを用いた光源装置Info
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- JP2003130790A JP2003130790A JP2001322408A JP2001322408A JP2003130790A JP 2003130790 A JP2003130790 A JP 2003130790A JP 2001322408 A JP2001322408 A JP 2001322408A JP 2001322408 A JP2001322408 A JP 2001322408A JP 2003130790 A JP2003130790 A JP 2003130790A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 安価かつ簡単な構成で、ガウス型スペクトル
を生成することができる光波コヒーレンス断層画像測定
用光波の生成方法及びそれを用いた光源装置を提供す
る。 【解決手段】 光波コヒーレンス断層画像測定用光波の
生成にあたり、光源１２のスペクトルＳS（λ）を測定
し、実現したいガウス型スペクトルＳcot （λ）を、前
記光源１２のスペクトルで割り、作製する最適フィルタ
ー特性ＴF（λ）を求め、この最適フィルター特性Ｔ
F（λ）を実現するために、薄膜計算プログラムで、実
際の多層構造をシミュレーションし、最適フィルター１
３の設計を行い、前記多層構造をシミュレーション結果
に沿って作製し、前記光源１２のスペクトルＳS（λ）
を作製された最適フィルター１３に入射させて、実現し
たいガウス型スペクトルＳcot （λ）を生成する。
を生成することができる光波コヒーレンス断層画像測定
用光波の生成方法及びそれを用いた光源装置を提供す
る。 【解決手段】 光波コヒーレンス断層画像測定用光波の
生成にあたり、光源１２のスペクトルＳS（λ）を測定
し、実現したいガウス型スペクトルＳcot （λ）を、前
記光源１２のスペクトルで割り、作製する最適フィルタ
ー特性ＴF（λ）を求め、この最適フィルター特性Ｔ
F（λ）を実現するために、薄膜計算プログラムで、実
際の多層構造をシミュレーションし、最適フィルター１
３の設計を行い、前記多層構造をシミュレーション結果
に沿って作製し、前記光源１２のスペクトルＳS（λ）
を作製された最適フィルター１３に入射させて、実現し
たいガウス型スペクトルＳcot （λ）を生成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、インコヒーレンス
または低コヒーレンス光源の任意形状スペクトルを、単
純にフィルターを用いることにより、理想的なガウス型
スペクトルに変更することができる光波コヒーレンス断
層画像測定用光波の生成方法及びそれを用いた光源装置
に関するものである。
または低コヒーレンス光源の任意形状スペクトルを、単
純にフィルターを用いることにより、理想的なガウス型
スペクトルに変更することができる光波コヒーレンス断
層画像測定用光波の生成方法及びそれを用いた光源装置
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】このような分野の参照文献としては、以
下のようなものが挙げられる。
下のようなものが挙げられる。
【０００３】参照文献〔１〕：精密工学会誌 Ｖｏｌ．
６７，Ｎｏ．４，２００１，ｐｐ．５４６−５４９ 参照文献〔２〕：日本光学会 第２回 生体医用光学研
究会 講演論文集 ｐｐ．９５−９８ 参照文献〔３〕：ＳＣＩＥＮＣＥ，Ｖｏｌ．２５４，２
２ ＮＯＶＥＭＢＥＲ１９９１ ｐｐ．１１７８−１１
８１ 参照文献〔４〕：ＪＯＵＲＮＡＬ ＯＦ ＢＩＯＭＥＤ
ＩＣＡＬ ＯＰＴＩＣＳ３（１），ｐｐ．７６−７９
（ＪＡＮＵＡＲＹ １９９８） 参照文献〔５〕：ＯＰＴＩＣＳ ＬＥＴＴＥＲＳ／Ｖｏ
ｌ．２４，Ｎｏ．１７／ＳＥＰＴＥＭＢＥＲ １，１９
９９，ｐｐ．１２２１−１２２３ 参照文献〔６〕：ＯＰＴＩＣＳ ＬＥＴＴＥＲＳ／Ｖｏ
ｌ．２６，Ｎｏ．８／ＡＰＲＩＬ １５，２００１，ｐ
ｐ．５６０−５６２ 図３は従来の光波コヒーレンス断層画像測定装置の基本
構成図である。
６７，Ｎｏ．４，２００１，ｐｐ．５４６−５４９ 参照文献〔２〕：日本光学会 第２回 生体医用光学研
究会 講演論文集 ｐｐ．９５−９８ 参照文献〔３〕：ＳＣＩＥＮＣＥ，Ｖｏｌ．２５４，２
２ ＮＯＶＥＭＢＥＲ１９９１ ｐｐ．１１７８−１１
８１ 参照文献〔４〕：ＪＯＵＲＮＡＬ ＯＦ ＢＩＯＭＥＤ
ＩＣＡＬ ＯＰＴＩＣＳ３（１），ｐｐ．７６−７９
（ＪＡＮＵＡＲＹ １９９８） 参照文献〔５〕：ＯＰＴＩＣＳ ＬＥＴＴＥＲＳ／Ｖｏ
ｌ．２４，Ｎｏ．１７／ＳＥＰＴＥＭＢＥＲ １，１９
９９，ｐｐ．１２２１−１２２３ 参照文献〔６〕：ＯＰＴＩＣＳ ＬＥＴＴＥＲＳ／Ｖｏ
ｌ．２６，Ｎｏ．８／ＡＰＲＩＬ １５，２００１，ｐ
ｐ．５６０−５６２ 図３は従来の光波コヒーレンス断層画像測定装置の基本
構成図である。
【０００４】この図において、１は光源、２はビームス
プリッタ（ＢＳ）、３はミラー（Ｍ）、４は対物レン
ズ、５は生体試料、６は光検出器である。
プリッタ（ＢＳ）、３はミラー（Ｍ）、４は対物レン
ズ、５は生体試料、６は光検出器である。
【０００５】この図に示すように、光源１からの光波の
一方の光波はビーム状に生体試料５に照射される。その
際、生体試料５の中の至るところで散乱し、その中でも
後方散乱光（信号光）は逆行して干渉光学系に戻る。
一方の光波はビーム状に生体試料５に照射される。その
際、生体試料５の中の至るところで散乱し、その中でも
後方散乱光（信号光）は逆行して干渉光学系に戻る。
【０００６】光検出器６では、他方の光路の参照光ＥR
と信号光ＥS の干渉信号のみが交流信号として検出され
る。このとき、信号光ＥS はさまざまな生体試料５内の
位置からの後方散乱光となるが、参照光ＥR の光路上の
ミラー（Ｍ）３が決定する光路長と等しい光路長の信号
光ＥS のみがコヒーレンス長の誤差内で検出される。
と信号光ＥS の干渉信号のみが交流信号として検出され
る。このとき、信号光ＥS はさまざまな生体試料５内の
位置からの後方散乱光となるが、参照光ＥR の光路上の
ミラー（Ｍ）３が決定する光路長と等しい光路長の信号
光ＥS のみがコヒーレンス長の誤差内で検出される。
【０００７】よって、奥行き方向の分解能を有する。通
常、コヒーレンス長の半分が、奥行き方向分解能であ
る。横方向の分解能はビームの大きさで与えられる。
常、コヒーレンス長の半分が、奥行き方向分解能であ
る。横方向の分解能はビームの大きさで与えられる。
【０００８】光波は電磁波であるので“連続した波”が
存在する。コヒーレンス長とはこの連続した波の長さと
考えられる。スペクトル幅は、スペクトルの幅であり、
その逆フーリエ変換がコヒーレンス関数で、その幅がコ
ヒーレンス長である。スペクトル幅が広いほどコヒーレ
ンス長は短くなり、ＯＣＴ（光波コヒーレンス断層画像
法）の分解能は高くなる。スペクトル形状がガウス型の
場合は、その逆フーリエ変換であるコヒーレンス関数も
ガウス型で、余分なサイドローブがない。
存在する。コヒーレンス長とはこの連続した波の長さと
考えられる。スペクトル幅は、スペクトルの幅であり、
その逆フーリエ変換がコヒーレンス関数で、その幅がコ
ヒーレンス長である。スペクトル幅が広いほどコヒーレ
ンス長は短くなり、ＯＣＴ（光波コヒーレンス断層画像
法）の分解能は高くなる。スペクトル形状がガウス型の
場合は、その逆フーリエ変換であるコヒーレンス関数も
ガウス型で、余分なサイドローブがない。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、一般の
スペクトル形状の場合はサイドローブが発生して、これ
が測定断層画像のバックグランドノイズを増大させて画
質を低下させる。
スペクトル形状の場合はサイドローブが発生して、これ
が測定断層画像のバックグランドノイズを増大させて画
質を低下させる。
【００１０】ＯＣＴの光源装置は、ハロゲンランプ、Ｌ
ＥＤなどのインコヒーレンス光源（上記参照文献
〔２〕）または、スーパールミネッセンスダイオード
（ＳＬＤ）（上記参照文献〔３〕）、活性イオンを含む
ファイバーからの蛍光（上記参照文献〔４〕）などを低
コヒーレンス光源としている。
ＥＤなどのインコヒーレンス光源（上記参照文献
〔２〕）または、スーパールミネッセンスダイオード
（ＳＬＤ）（上記参照文献〔３〕）、活性イオンを含む
ファイバーからの蛍光（上記参照文献〔４〕）などを低
コヒーレンス光源としている。
【００１１】世界最高の空間分解能（上記参照文献
〔５〕）は、モードロックレーザ（上記参照文献
〔６〕）で実現されているが、装置が複雑、高価であ
り、しかも操作が煩雑などの理由で実用化は困難であ
る。
〔５〕）は、モードロックレーザ（上記参照文献
〔６〕）で実現されているが、装置が複雑、高価であ
り、しかも操作が煩雑などの理由で実用化は困難であ
る。
【００１２】光源の実用化を考えると、安価なハロゲン
ランプ、ＬＥＤ、ＳＬＤ、蛍光などが候補となるが、一
般にこれらの光源のスペクトルは、完全なガウス型では
ない。
ランプ、ＬＥＤ、ＳＬＤ、蛍光などが候補となるが、一
般にこれらの光源のスペクトルは、完全なガウス型では
ない。
【００１３】すなわち、ＯＣＴにおいては、高空間分解
能のための広いスペクトル幅とサイドローブのない理想
的なガウス型スペクトルが重要である。後者は、断層画
像においてバックグランドノイズを下げるためのもので
ある。
能のための広いスペクトル幅とサイドローブのない理想
的なガウス型スペクトルが重要である。後者は、断層画
像においてバックグランドノイズを下げるためのもので
ある。
【００１４】ところで、ＯＣＴにおいては、光源のスペ
クトルのフーリエ変換がコヒーレンス関数となり、深さ
方向の信号強度プロファイルは、屈折率分布とコヒーレ
ンス関数のコンボリューションとなる。よって、光源の
スペクトルがガウス型以外の場合は、コヒーレンス関数
はガウス型と異なるために、ＯＣＴ像に、バックグラン
ドノイズが重畳して、ダイナミックレンジが低下して、
大きな問題になる。そこで、比較的ガウス型スペクトル
に近いＳＬＤ（スーパールミネッセンスダイオード）、
ＬＥＤなどが使用されているが、ハロゲンランプなどで
は、バックグランドが大きいために使用は制限される。
クトルのフーリエ変換がコヒーレンス関数となり、深さ
方向の信号強度プロファイルは、屈折率分布とコヒーレ
ンス関数のコンボリューションとなる。よって、光源の
スペクトルがガウス型以外の場合は、コヒーレンス関数
はガウス型と異なるために、ＯＣＴ像に、バックグラン
ドノイズが重畳して、ダイナミックレンジが低下して、
大きな問題になる。そこで、比較的ガウス型スペクトル
に近いＳＬＤ（スーパールミネッセンスダイオード）、
ＬＥＤなどが使用されているが、ハロゲンランプなどで
は、バックグランドが大きいために使用は制限される。
【００１５】本発明は、上記状況に鑑みて、安価かつ簡
単な構成で、ガウス型スペクトルを生成することができ
る光波コヒーレンス断層画像測定用光波の生成方法及び
それを用いた光源装置を提供することを目的とする。
単な構成で、ガウス型スペクトルを生成することができ
る光波コヒーレンス断層画像測定用光波の生成方法及び
それを用いた光源装置を提供することを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、 〔１〕光波コヒーレンス断層画像測定用光波の生成方法
において、（ａ）光源のスペクトルＳS（λ）を測定
し、（ｂ）実現したいガウス型スペクトルＳcot （λ）
を、前記光源のスペクトルで割り、作製する最適フィル
ター特性ＴF（λ）を求め、（ｃ）この最適フィルター
特性ＴF（λ）を実現するために、薄膜計算プログラム
で、実際の多層構造をシミュレーションし、最適フィル
ターの設計を行い、（ｄ）前記多層構造をシミュレーシ
ョン結果に沿って作製し、前記光源のスペクトルＳ
S（λ）を作製された最適フィルターに入射させて、実
現したいガウス型スペクトルＳcot （λ）を生成するこ
とを特徴する。
成するために、 〔１〕光波コヒーレンス断層画像測定用光波の生成方法
において、（ａ）光源のスペクトルＳS（λ）を測定
し、（ｂ）実現したいガウス型スペクトルＳcot （λ）
を、前記光源のスペクトルで割り、作製する最適フィル
ター特性ＴF（λ）を求め、（ｃ）この最適フィルター
特性ＴF（λ）を実現するために、薄膜計算プログラム
で、実際の多層構造をシミュレーションし、最適フィル
ターの設計を行い、（ｄ）前記多層構造をシミュレーシ
ョン結果に沿って作製し、前記光源のスペクトルＳ
S（λ）を作製された最適フィルターに入射させて、実
現したいガウス型スペクトルＳcot （λ）を生成するこ
とを特徴する。
【００１７】〔２〕光波コヒーレンス断層画像測定用光
源装置において、ガウス型スペクトルでない光源と、こ
の光源からの光を受けて、ガウス型スペクトルを生成す
る最適フィルターとを具備することを特徴とする。
源装置において、ガウス型スペクトルでない光源と、こ
の光源からの光を受けて、ガウス型スペクトルを生成す
る最適フィルターとを具備することを特徴とする。
【００１８】〔３〕上記〔２〕記載の光波コヒーレンス
断層画像測定用光源装置において、前記最適フィルター
は誘電体多層構造を有するフィルターであることを特徴
とする。
断層画像測定用光源装置において、前記最適フィルター
は誘電体多層構造を有するフィルターであることを特徴
とする。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
【００２０】図１は本発明の光波コヒーレンス断層画像
測定装置の基本構成図である。
測定装置の基本構成図である。
【００２１】この図において、１１は光源装置、１２は
光源、１３は最適フィルター、１４は最適フィルター１
３から生成される光波コヒーレンス断層画像測定用光波
である透過光である。
光源、１３は最適フィルター、１４は最適フィルター１
３から生成される光波コヒーレンス断層画像測定用光波
である透過光である。
【００２２】まず、本発明の光波コヒーレンス断層画像
測定装置において、光源１２は、ハロゲンランプ、ＬＥ
Ｄなどのインコヒーレンス光源または、スーパールミネ
ッセンスダイオード（ＳＬＤ）、活性イオンを含むファ
イバーからの蛍光などの低コヒーレンス光源などからな
る。一般にこれらの光源のスペクトルは、完全なガウス
型ではない。そこで、以下のステップで最適フィルター
を作成して、理想的なガウス型スペクトルを有するＯＣ
Ｔ用光源を実現する。 （１）光源のスペクトルＳs （λ）を測定する。 （２）実現したいガウス型スペクトルＳcot （λ）を、
測定した光源のスペクトルで割り〔ＳOCT（λ）／Ｓ
S（λ）〕、作製するフィルター特性ＴF（λ）を求め
る。 （３）このフィルター特性ＴF（λ）を実現するため
に、市販されている薄膜計算プログラムで、実際の多層
構造をシミュレーションし、フィルターの設計を行う。 （４）そこで、多層構造をシミュレーション結果に沿っ
て作製し、光源１２の光を最適フィルター１３に入射さ
せて、実現したいガウス型スペクトルＳcot を有する光
波コヒーレンス断層画像測定用光波である透過光１４を
生成させる。
測定装置において、光源１２は、ハロゲンランプ、ＬＥ
Ｄなどのインコヒーレンス光源または、スーパールミネ
ッセンスダイオード（ＳＬＤ）、活性イオンを含むファ
イバーからの蛍光などの低コヒーレンス光源などからな
る。一般にこれらの光源のスペクトルは、完全なガウス
型ではない。そこで、以下のステップで最適フィルター
を作成して、理想的なガウス型スペクトルを有するＯＣ
Ｔ用光源を実現する。 （１）光源のスペクトルＳs （λ）を測定する。 （２）実現したいガウス型スペクトルＳcot （λ）を、
測定した光源のスペクトルで割り〔ＳOCT（λ）／Ｓ
S（λ）〕、作製するフィルター特性ＴF（λ）を求め
る。 （３）このフィルター特性ＴF（λ）を実現するため
に、市販されている薄膜計算プログラムで、実際の多層
構造をシミュレーションし、フィルターの設計を行う。 （４）そこで、多層構造をシミュレーション結果に沿っ
て作製し、光源１２の光を最適フィルター１３に入射さ
せて、実現したいガウス型スペクトルＳcot を有する光
波コヒーレンス断層画像測定用光波である透過光１４を
生成させる。
【００２３】このように、光源１２からの光波をフィル
ター特性ＴF（λ）の最適フィルター１３で受けて、そ
の最適フィルター１３からガウス型スペクトルＳ
cot （λ）を生成することができる。
ター特性ＴF（λ）の最適フィルター１３で受けて、そ
の最適フィルター１３からガウス型スペクトルＳ
cot （λ）を生成することができる。
【００２４】近年、市販されている誘電体薄膜計算プロ
グラム（上記参照文献〔２〕）の基本性能・機能は、飛
躍的に向上しており、実際の材料パラメータを用いて、
最適化などの機能を用いれば誘電体多層構造の最適設計
が容易である。
グラム（上記参照文献〔２〕）の基本性能・機能は、飛
躍的に向上しており、実際の材料パラメータを用いて、
最適化などの機能を用いれば誘電体多層構造の最適設計
が容易である。
【００２５】図２は本発明の最適フィルターによって得
られる１．５μｍ帯の完全なガウス型スペクトル例を示
す図である。この図において、横軸は波長（ｎｍ）、縦
軸はスペクトルパワー密度（相対単位）である。
られる１．５μｍ帯の完全なガウス型スペクトル例を示
す図である。この図において、横軸は波長（ｎｍ）、縦
軸はスペクトルパワー密度（相対単位）である。
【００２６】一般に、ガウス型スペクトルＦG （λ）
は、 ＦG （λ）＝ｅｘｐ〔−（１／２）・δ2 （λ−λ0 ）
2 〕 ここで、δは根平均２乗幅、λ0 は中心波長である。で
表されるが、本発明においても、同様のガウス型スペク
トルを得ることができる。
は、 ＦG （λ）＝ｅｘｐ〔−（１／２）・δ2 （λ−λ0 ）
2 〕 ここで、δは根平均２乗幅、λ0 は中心波長である。で
表されるが、本発明においても、同様のガウス型スペク
トルを得ることができる。
【００２７】現在、種々の薄膜・光学デバイスの設計手
法が報告されており、高速コンピュータを用いることに
より具体的な設計が可能になってきている。例えば、多
層構造の光学特性シミュレーション、自動設計などが市
販のソフトで可能である。設計が決まれば、一般の真空
蒸着装置を用いて誘電体多層構造を有する最適フィルタ
ーの作製ができる。最適フィルターと先の光源を用いて
ＯＣＴ用の理想的な光源が実現できる。
法が報告されており、高速コンピュータを用いることに
より具体的な設計が可能になってきている。例えば、多
層構造の光学特性シミュレーション、自動設計などが市
販のソフトで可能である。設計が決まれば、一般の真空
蒸着装置を用いて誘電体多層構造を有する最適フィルタ
ーの作製ができる。最適フィルターと先の光源を用いて
ＯＣＴ用の理想的な光源が実現できる。
【００２８】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能
であり、これらを本発明の範囲から排除するものではな
い。
のではなく、本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能
であり、これらを本発明の範囲から排除するものではな
い。
【００２９】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、以下のような効果を奏することができる。
よれば、以下のような効果を奏することができる。
【００３０】（Ａ）安価かつ簡単な構成で、ガウス型ス
ペクトルを生成することができる光波コヒーレンス断層
画像測定用光波の生成方法及びそれを用いた光源装置を
実現することができる。
ペクトルを生成することができる光波コヒーレンス断層
画像測定用光波の生成方法及びそれを用いた光源装置を
実現することができる。
【００３１】（Ｂ）市販されている汎用の薄膜計算プロ
グラムを用いて、容易に最適フィルターの設計を行い、
ＯＣＴの光源に理想的なガウス型スペクトルを有する光
源を実現することができる。
グラムを用いて、容易に最適フィルターの設計を行い、
ＯＣＴの光源に理想的なガウス型スペクトルを有する光
源を実現することができる。
【図１】本発明の光波コヒーレンス断層画像測定装置の
基本構成図である。
基本構成図である。
【図２】本発明の最適フィルターによって得られる１．
５μｍ帯の完全なガウス型スペクトル例を示す図であ
る。
５μｍ帯の完全なガウス型スペクトル例を示す図であ
る。
【図３】従来の光波コヒーレンス断層画像測定装置の基
本構成図である。
本構成図である。
１１ 光源装置
１２ 光源
１３ 最適フィルター
１４ 透過光
Claims (3)
- 【請求項１】 光波コヒーレンス断層画像測定用光波の
生成方法において、（ａ）光源のスペクトルＳS（λ）
を測定し、（ｂ）実現したいガウス型スペクトルＳcot
（λ）を、前記光源のスペクトルで割り、作製する最適
フィルター特性ＴF（λ）を求め、（ｃ）該最適フィル
ター特性ＴF（λ）を実現するために、薄膜計算プログ
ラムで、実際の多層構造をシミュレーションし、最適フ
ィルターの設計を行い、（ｄ）前記多層構造をシミュレ
ーション結果に沿って作製し、前記光源のスペクトルＳ
S（λ）を作製された最適フィルターに入射させて、実
現したいガウス型スペクトルＳcot （λ）を生成するこ
とを特徴する光波コヒーレンス断層画像測定用光波の生
成方法。 - 【請求項２】 光波コヒーレンス断層画像測定用光源装
置において、（ａ）ガウス型スペクトルでない光源と、
（ｂ）該光源からの光を受けて、ガウス型スペクトルを
生成する最適フィルターとを具備することを特徴とする
光波コヒーレンス断層画像測定用光源装置。 - 【請求項３】 請求項２記載の光波コヒーレンス断層画
像測定用光源装置において、前記最適フィルターは誘電
体多層構造を有するフィルターであることを特徴とする
光波コヒーレンス断層画像測定用光源装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001322408A JP2003130790A (ja) | 2001-10-19 | 2001-10-19 | 光波コヒーレンス断層画像測定用光波の生成方法及びそれを用いた光源装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001322408A JP2003130790A (ja) | 2001-10-19 | 2001-10-19 | 光波コヒーレンス断層画像測定用光波の生成方法及びそれを用いた光源装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003130790A true JP2003130790A (ja) | 2003-05-08 |
Family
ID=19139463
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001322408A Pending JP2003130790A (ja) | 2001-10-19 | 2001-10-19 | 光波コヒーレンス断層画像測定用光波の生成方法及びそれを用いた光源装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003130790A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007066465A1 (ja) * | 2005-12-07 | 2007-06-14 | Kabushiki Kaisha Topcon | 光画像計測装置 |
| JP2007327909A (ja) * | 2006-06-09 | 2007-12-20 | Fujifilm Corp | 光断層画像化装置 |
| JP2014149242A (ja) * | 2013-02-01 | 2014-08-21 | Canon Inc | 波長可変光源装置とその駆動方法、及び該波長可変光源装置を備える光断層画像取得装置と光断層画像取得方法 |
| JP2016188795A (ja) * | 2015-03-30 | 2016-11-04 | 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス | 信号処理方法および画像処理装置 |
-
2001
- 2001-10-19 JP JP2001322408A patent/JP2003130790A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007066465A1 (ja) * | 2005-12-07 | 2007-06-14 | Kabushiki Kaisha Topcon | 光画像計測装置 |
| US8009297B2 (en) | 2005-12-07 | 2011-08-30 | Kabushiki Kaisha Topcon | Optical image measuring apparatus |
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