JP2003149208A - Nondestructive inspecting apparatus - Google Patents
Nondestructive inspecting apparatusInfo
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- JP2003149208A JP2003149208A JP2001345271A JP2001345271A JP2003149208A JP 2003149208 A JP2003149208 A JP 2003149208A JP 2001345271 A JP2001345271 A JP 2001345271A JP 2001345271 A JP2001345271 A JP 2001345271A JP 2003149208 A JP2003149208 A JP 2003149208A
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- metal structure
- signal
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、金属構造物を破
壊することなくその構造物内部の欠陥を検査して欠陥を
画像として表示する非破壊検査装置に係り、特に、超伝
導量子干渉素子(SQUID:superconducting quantu
m interference device)等の高感度磁気センサを利用
した非破壊検査において構造物内部の欠陥を3次元画像
として表示するための非破壊検査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a nondestructive inspection apparatus for inspecting defects inside a metal structure without destroying the metal structure and displaying the defects as an image, and more particularly to a superconducting quantum interference device ( SQUID: superconducting quantu
The present invention relates to a nondestructive inspection device for displaying a defect inside a structure as a three-dimensional image in the nondestructive inspection using a high-sensitivity magnetic sensor such as a magnetic interference device).
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、SQUID等の高感度磁気センサ
を利用して金属構造物内の欠陥を見つけ出す非破壊検査
が注目されている。たとえば、SQUIDは、それまで
の磁気センサと比較して高感度で磁気を検出することが
可能になる。また、直流から数十kHzまでの広い周波
数領域において、検出感度が周波数に依存しないという
特徴がある。2. Description of the Related Art In recent years, non-destructive inspection for finding defects in a metal structure using a high-sensitivity magnetic sensor such as SQUID has attracted attention. For example, SQUID can detect magnetism with high sensitivity as compared with the conventional magnetic sensors. Further, there is a feature that the detection sensitivity does not depend on the frequency in a wide frequency range from direct current to several tens of kHz.
【0003】さらに、SQUIDは、薄膜素子で構成す
ることにより極めて微小な素子とすることができるた
め、磁気を検出するにあたり空間分解能が高いという特
徴もある。Further, since the SQUID can be made into an extremely minute element by being composed of a thin film element, it has a feature that the spatial resolution is high in detecting magnetism.
【0004】このSQUIDをはじめとする高感度磁気
センサを利用して、金属構造物内の欠陥がどこにあるか
をユーザに明示するために、欠陥を3次元の画像として
表示する技術がある。There is a technique of displaying a defect as a three-dimensional image in order to clearly indicate to the user where the defect in the metal structure is, by using a high-sensitivity magnetic sensor such as SQUID.
【0005】金属構造物内の欠陥を3次元の画像として
表示するためには、多くの異なる高調波の振幅信号が必
要となる。従来技術では、これら異なる高調波に対応す
る発生源が、3次元の画像を表示するために必要となる
高調波の数だけ必要となる。In order to display a defect in a metal structure as a three-dimensional image, many different harmonic amplitude signals are required. In the prior art, sources corresponding to these different harmonics are required as many as the harmonics required to display a three-dimensional image.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】従来では、複数のサイ
ン波発生装置が使用されて、各サイン波発生装置から異
なる周波数のサイン波が発生され、その周波数における
磁気的応答を順番に測定していた。しかし、鋸波を用い
ることにより、1度に多くの周波数の応答が得られる。Conventionally, a plurality of sine wave generators are used, sine waves of different frequencies are generated from each sine wave generator, and magnetic responses at the frequencies are sequentially measured. It was However, by using the sawtooth wave, a response of many frequencies can be obtained at one time.
【0007】さらに、1つの高調波の振幅信号により非
破壊検査を実行した後に、これと異なる高調波の振幅信
号により再度非破壊検査を実行する。この手順を繰り返
し、3次元の画像を表示するために必要となる高調波の
数だけこの手順を実行する必要がある。Further, after performing the nondestructive inspection with the amplitude signal of one harmonic, the nondestructive inspection is performed again with the amplitude signal of the different harmonic. It is necessary to repeat this procedure and execute this procedure for the number of harmonics required to display a three-dimensional image.
【0008】したがって、3次元の画像を表示するため
に必要となるデータを高感度磁気センサを利用した非破
壊検査により獲得するまでに時間がかかる。迅速な非破
壊検査を実施したいユーザからは、短い測定時間で高感
度磁気センサを利用した非破壊検査による欠陥の3次元
画像を表示する非破壊検査装置の実現が望まれている。Therefore, it takes time to acquire the data necessary for displaying a three-dimensional image by the nondestructive inspection using the high-sensitivity magnetic sensor. A user who wants to perform a rapid non-destructive inspection needs to realize a non-destructive inspection device that displays a three-dimensional image of a defect by a non-destructive inspection using a high-sensitivity magnetic sensor in a short measurement time.
【0009】そこでこれら従来における問題に鑑み、こ
の発明の目的は、SQUID等の高感度磁気センサを利
用した非破壊検査による3次元画像を獲得するまでの時
間が短い非破壊検査装置を提供することにある。In view of these problems in the prior art, an object of the present invention is to provide a nondestructive inspection apparatus which takes a short time to acquire a three-dimensional image by nondestructive inspection using a high-sensitivity magnetic sensor such as SQUID. It is in.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】この発明によれば、金属
構造物の内部を破壊することなく検査して欠陥を検出す
る非破壊検査装置において、複数の周波数成分を含む信
号を生成する生成手段と、前記信号が入力されることに
より電磁波を励起して、当該電磁波を試料である金属構
造物に照射する励起コイルと、前記金属構造物から発生
する磁場を検出する磁場検出手段と、前記磁場から、磁
場の各周波数成分の振幅を算出する算出手段と、を具備
することを特徴とする非破壊検査装置によって提供され
る。According to the present invention, in a nondestructive inspection apparatus for detecting a defect by inspecting the inside of a metal structure without destroying it, a generating means for generating a signal containing a plurality of frequency components. An excitation coil that excites an electromagnetic wave by inputting the signal and irradiates the electromagnetic wave to a metal structure that is a sample; a magnetic field detection unit that detects a magnetic field generated from the metal structure; and the magnetic field. From the above, a non-destructive inspection device is provided, which comprises: a calculating unit that calculates the amplitude of each frequency component of the magnetic field.
【0011】[0011]
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながらこの発
明の実施形態に係る非破壊検査装置を説明する。図1
は、この発明の実施形態に係る非破壊検査装置の機能ブ
ロック図である。この実施形態の非破壊検査装置は、r
f−SQUID(rf型超電導量子干渉素子)磁束計
1、X−Yステージ2、X−Yステージコントローラ
3、コンピュータ4、励起コイル5、および鋸波発生装
置6を具備している。破壊することなく欠陥が検査され
るサンプル(試料とも呼ばれる)である金属構造物がX
−Yステージ2上に配置される。図1では、X−Yステ
ージ2上にサンプルとしてアルミニウムプレートが配置
されている。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A nondestructive inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. Figure 1
FIG. 3 is a functional block diagram of the nondestructive inspection device according to the embodiment of the present invention. The nondestructive inspection device of this embodiment is r
An f-SQUID (rf-type superconducting quantum interference device) magnetometer 1, an XY stage 2, an XY stage controller 3, a computer 4, an excitation coil 5, and a sawtooth wave generator 6 are provided. X is a metal structure that is a sample (also called a sample) in which defects are inspected without breaking.
-It is arranged on the Y stage 2. In FIG. 1, an aluminum plate is arranged as a sample on the XY stage 2.
【0012】鋸状の波形を有する電気信号が鋸波発生装
置6で生成される。鋸状波形の電気信号は、低周波数か
ら高周波数までの多くの異なる周波数成分のモードを含
んでいる。生成された電気信号は、励起コイル5に入力
される。An electric signal having a sawtooth waveform is generated by the sawtooth wave generator 6. A sawtooth electrical signal contains many different frequency component modes, from low to high frequencies. The generated electric signal is input to the excitation coil 5.
【0013】励起コイル5では、入力された電気信号に
含まれる異なる周波数成分の電気信号により、電磁波が
誘導される。誘導された電磁波は、X−Yステージ2上
のアルミニウムプレート内に渦電流を誘導する。In the exciting coil 5, electromagnetic waves are induced by electric signals having different frequency components contained in the inputted electric signal. The induced electromagnetic wave induces an eddy current in the aluminum plate on the XY stage 2.
【0014】誘導された渦電流は、アルミニウムプレー
ト内に存在する欠陥によって散乱され、擾乱される。ア
ルミニウムプレート内で擾乱された渦電流や擾乱されて
いない渦電流は、ともに磁場を生成する。生成された磁
場は、rf−SQUID磁束計1に検出される。The induced eddy currents are scattered and disturbed by defects existing in the aluminum plate. Both disturbed and undisturbed eddy currents in the aluminum plate generate a magnetic field. The generated magnetic field is detected by the rf-SQUID magnetometer 1.
【0015】検出された磁場の振幅値は、測定点である
X−Yステージ2上のアルミニウムプレートの位置とと
もに、コンピュータ4に入力される。コンピュータ4で
は、高速フーリエ変換(FFT:Fast Fourier transfo
rmation)が実行される。The amplitude value of the detected magnetic field is input to the computer 4 together with the position of the aluminum plate on the XY stage 2 which is the measurement point. The computer 4 uses a fast Fourier transform (FFT).
rmation) is executed.
【0016】FFTは、測定点ごとの入力された磁場の
振幅値を、異なる高調波ごとの磁場の振幅値に変換す
る。すなわち、測定点ごとの磁場の周波数スペクトルを
得ることが可能になる。The FFT converts the amplitude value of the input magnetic field for each measurement point into the amplitude value of the magnetic field for each different harmonic. That is, it becomes possible to obtain the frequency spectrum of the magnetic field for each measurement point.
【0017】また、コンピュータ4からX−Yステージ
コントローラ3にX−Yステージ2の位置を指定するた
めの指定信号が出力される。出力された指定信号は、X
−Yステージコントローラ3に入力されて、X−Yステ
ージ2を動かすための駆動信号がX−Yステージ2に出
力される。出力された駆動信号をX−Yステージ2が入
力して、X−Yステージ2がコンピュータ4に指定され
た位置に動かされる。Further, a designation signal for designating the position of the XY stage 2 is output from the computer 4 to the XY stage controller 3. The specified signal output is X
The drive signal for inputting to the -Y stage controller 3 and moving the XY stage 2 is output to the XY stage 2. The output drive signal is input to the XY stage 2, and the XY stage 2 is moved to the position designated by the computer 4.
【0018】コンピュータ4のハードディスク等の記憶
部内に複数の周波数ごとの磁場の強さを示す振幅信号の
振幅値がサンプルの位置ごとにデータとして保存され
る。サンプル内部のすべての位置におけるデータによっ
て、サンプル内の欠陥を示す3次元画像が作成される。
データから3次元画像の作成は、3次元画像表示のため
のソフトウェアであればよい。たとえば、ビジュアルベ
ーシック(登録商標)等を使用する。The amplitude value of the amplitude signal indicating the strength of the magnetic field for each of a plurality of frequencies is stored as data at each sample position in a storage unit such as a hard disk of the computer 4. The data at all locations within the sample creates a three-dimensional image showing defects within the sample.
The software for displaying the three-dimensional image may be used to create the three-dimensional image from the data. For example, Visual Basic (registered trademark) or the like is used.
【0019】概略以上のように、励起コイル5から誘導
される電磁波が、サンプルであるアルミニウムプレート
の励起コイル5の近傍に照射される。その結果、電磁波
が照射されたアルミニウムプレート内に欠陥があるか否
か、ある場合は欠陥の位置を検出することが可能にな
る。As described above, the electromagnetic wave induced from the excitation coil 5 is applied to the vicinity of the excitation coil 5 of the aluminum plate which is the sample. As a result, it becomes possible to detect whether or not there is a defect in the aluminum plate irradiated with the electromagnetic wave, and if there is, the position of the defect.
【0020】金属等の導電体に電流を流すと、導電体内
部に欠陥が存在するとその欠陥によって、電流が乱れそ
の電流によって生成される磁場にも乱れが発生する。そ
の磁場の乱れは、欠陥の位置、形状、および大きさに対
応して定まる。一方、導電体内に欠陥がない場合は、そ
の中を流れる電流は導電体の形状により定まる一定の磁
場分布を示す。When a current is passed through a conductor such as a metal, if a defect exists inside the conductor, the defect causes a disturbance in the current and a disturbance in the magnetic field generated by the current. The disturbance of the magnetic field depends on the position, shape, and size of the defect. On the other hand, when there is no defect in the conductor, the current flowing through the conductor has a constant magnetic field distribution determined by the shape of the conductor.
【0021】したがって、原理的には、導電体の外部に
発生している磁場の分布を測定して、磁場分布の乱れた
部分を抽出して解析することによって、導電体内に存在
する欠陥を検出することが可能になる。Therefore, in principle, the distribution of the magnetic field generated outside the conductor is measured, and the disturbed portion of the magnetic field distribution is extracted and analyzed to detect defects existing in the conductor. It becomes possible to do.
【0022】この電流の乱れによる磁場分布の変化は、
サンプルの断面を流れる電流により生成される磁場の強
度と比較すると非常に小さく、高感度の磁気センサが必
要となる。たとえば、半導体磁気センサ、フラックスゲ
ート型磁気センサ、SQUID磁束計などがある。この
発明の実施形態では、SQUID磁束計を使用した場合
を説明している。もちろん、SQUID磁束計に限定さ
れるわけではなく、上記の高感度の磁気センサを使用し
てもよい。また、rf−SQUID磁束計1は、直流型
であるdc−SQUID磁束計に変えてもこの発明の本
質は変更されない。The change in the magnetic field distribution due to the disturbance of the current is
Compared to the strength of the magnetic field generated by the current flowing through the cross section of the sample, it is very small and requires a highly sensitive magnetic sensor. For example, there are a semiconductor magnetic sensor, a fluxgate type magnetic sensor, a SQUID magnetometer, and the like. In the embodiment of the present invention, the case where the SQUID magnetometer is used is described. Of course, it is not limited to the SQUID magnetometer, and the above-mentioned high-sensitivity magnetic sensor may be used. Further, the essence of the present invention is not changed even if the rf-SQUID magnetometer 1 is changed to a DC type dc-SQUID magnetometer.
【0023】また、コンピュータ4の指定にもとづい
て、サンプルが積載されるX−Yステージ2は自在に動
作する。X−Yステージ2は、通常2次元方向にのみ動
作する。すなわち、励起コイル5(またはrf−SQU
ID磁束計1)とX−Yステージ2との距離は一定に保
たれたままである。Further, based on the designation of the computer 4, the XY stage 2 on which the sample is loaded can freely operate. The XY stage 2 normally operates only in a two-dimensional direction. That is, the excitation coil 5 (or rf-SQU)
The distance between the ID magnetometer 1) and the XY stage 2 remains constant.
【0024】さらにまた、この実施形態では、コンピュ
ータ4にFFTを実行するためのソフトウェアがインス
トールされていて、FFTを実行している。これに限定
されず、処理速度を早めるために、FFTを実行するた
めのDSP(digital signalprocessor)が組み込まれ
たハードウェアを使用することが好ましい。Furthermore, in this embodiment, the software for executing the FFT is installed in the computer 4 to execute the FFT. However, the present invention is not limited to this, and in order to increase the processing speed, it is preferable to use hardware in which a DSP (digital signal processor) for executing FFT is incorporated.
【0025】また、鋸状波形の電気信号が有する周波数
範囲は、サンプルの厚さによって決定されて生成され
る。この周波数は、誘電体のいわゆる表皮効果にもとづ
いて決定される。すなわち、電磁波が侵入する、誘電体
表面からの侵入深さδは、δ=(2/ω・σ・μr)
1/2である。ここで、ωは励起コイル5に誘導される
電磁波の角周波数、σはサンプルであるアルミニウムプ
レートの伝導率、μrはサンプルの透磁率である。この
侵入深さδがX−Yステージに積載されているサンプル
の厚さ以上になるような電磁波を励起コイル5から誘導
する。侵入深さδは、励起コイルから誘導される電磁波
の周波数によって、変化させることができる。すなわ
ち、侵入深さがほとんどゼロである高い周波数から、侵
入深さがサンプルの厚さ以上である低い周波数である電
磁波がサンプルに照射されることが可能である。通常
は、約数十Hzから約100Hz程度の周波数を有する
電磁波が励起コイル5から誘導される。The frequency range of the sawtooth-shaped electric signal is determined by the thickness of the sample. This frequency is determined based on the so-called skin effect of the dielectric. That is, the penetration depth δ from the dielectric surface where electromagnetic waves penetrate is δ = (2 / ω · σ · μ r ).
It is 1/2 . Here, ω is the angular frequency of the electromagnetic wave induced in the excitation coil 5, σ is the conductivity of the aluminum plate that is the sample, and μ r is the magnetic permeability of the sample. An electromagnetic wave is induced from the excitation coil 5 so that the penetration depth δ becomes equal to or larger than the thickness of the sample loaded on the XY stage. The penetration depth δ can be changed by the frequency of the electromagnetic wave induced from the excitation coil. That is, it is possible to irradiate the sample with electromagnetic waves having a low penetration depth of more than the thickness of the sample from a high penetration depth of almost zero. Usually, an electromagnetic wave having a frequency of about several tens Hz to about 100 Hz is induced from the excitation coil 5.
【0026】以上で説明されたように、サンプル内に存
在する欠陥は、サンプル内に誘導される渦電流の分布に
影響を与える。この誘導された渦電流によって生成され
る磁場は、サンプル内に欠陥があるか否かで変化を受け
る。この発明の実施形態では、励起コイル5に鋸波を有
する電気信号が生成される。鋸波には、低周波数から高
周波数までの多くの周波数成分が含まれる。したがっ
て、低周波数から高周波数までの複数の電気信号発生装
置を必要とせず、鋸波を発生する1つの電気信号発生装
置(すなわち、鋸波発生装置6)だけで十分である。As explained above, the defects present in the sample affect the distribution of eddy currents induced in the sample. The magnetic field generated by this induced eddy current undergoes a change depending on whether there are any defects in the sample. In the embodiment of the present invention, an electric signal having a sawtooth wave is generated in the excitation coil 5. The sawtooth wave contains many frequency components from low frequencies to high frequencies. Therefore, a plurality of electric signal generators from low frequencies to high frequencies are not required, and only one electric signal generator that generates a sawtooth wave (that is, sawtooth wave generator 6) is sufficient.
【0027】その結果、1つの電気信号発生装置から出
力される鋸波の電気信号によりサンプル内の欠陥を検出
することが可能になる。したがって、複数の電気信号を
生成する時間が不必要となるので、サンプル内の欠陥の
有無および欠陥の位置を検出する検査にかかる時間を短
くすることが可能になる。As a result, it becomes possible to detect the defect in the sample by the sawtooth electric signal output from one electric signal generator. Therefore, the time for generating a plurality of electric signals is unnecessary, and the time required for the inspection for detecting the presence / absence of a defect in the sample and the position of the defect can be shortened.
【0028】図2(A)は、図1に示される鋸波発生装
置6が発生する鋸波を示す図である。図2(B)は、図
2(A)に示される鋸波の1周期での振幅を示す方程式
である。図2(A)に示されるように、同一の鋸状の波
形が周期的に繰り返されて鋸波発生装置6から出力され
る。1周期で現れる鋸状の波形は、図2(B)に示され
る数式で計算される。ここで、ωは角周波数であり鋸波
の基本周波数fとの間で、ω=2πfの関係がある。す
なわち、図2(B)の式によれば、1つの鋸状の波形
は、無限に多くの周波数が含まれることがわかる。1つ
の鋸状の波形は、基本周波数fの整数倍の周波数を含ん
でいる。FIG. 2A shows a sawtooth wave generated by the sawtooth wave generator 6 shown in FIG. FIG. 2B is an equation showing the amplitude of the sawtooth wave shown in FIG. 2A in one cycle. As shown in FIG. 2A, the same sawtooth waveform is periodically repeated and output from the sawtooth wave generator 6. The sawtooth waveform that appears in one cycle is calculated by the mathematical formula shown in FIG. Here, ω is an angular frequency and has a relationship of ω = 2πf with the fundamental frequency f of the sawtooth wave. That is, according to the equation of FIG. 2B, it is understood that one sawtooth waveform includes infinitely many frequencies. One sawtooth waveform contains a frequency that is an integral multiple of the fundamental frequency f.
【0029】ここで重要なのは、励起信号が多くの単周
波数によって合成されていることである。したがって、
鋸波のほかに、三角波、矩形波でもよい。ただし、鋸波
は矩形波よりも高周波成分を多く含むので、幅広い周波
数範囲に対応する信号を生成することができるという特
徴がある。What is important here is that the excitation signal is synthesized by many single frequencies. Therefore,
A triangular wave or a rectangular wave may be used instead of the sawtooth wave. However, since the sawtooth wave contains more high-frequency components than the rectangular wave, it is characterized in that it can generate a signal corresponding to a wide frequency range.
【0030】図3は、この発明の実施形態に係る非破壊
検査装置において、3次元画像を作成するまでの流れ図
である。ステップST−1では、鋸波発生装置6で図2
(A)に示された鋸波の電気信号が発生され、その鋸波
の電気信号が励起コイル5に供給される。このステップ
では、位置(X0,Y0)にサンプルが測定される位置
が設定される。FIG. 3 is a flow chart for creating a three-dimensional image in the nondestructive inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. In step ST-1, the sawtooth wave generator 6 is used as shown in FIG.
The sawtooth electric signal shown in (A) is generated, and the sawtooth electric signal is supplied to the excitation coil 5. In this step, the position where the sample is measured is set to the position (X 0 , Y 0 ).
【0031】ステップST−2では、位置(X0,
Y0)でのサンプルの応答信号をSQUID磁束計1が
獲得する。この応答信号は、上述したように励起コイル
5に誘導されたサンプルに発生する渦電流により生成さ
れる磁場による信号である。At step ST-2, the position (X 0 ,
The SQUID magnetometer 1 acquires the sample response signal at Y 0 ). This response signal is a signal due to the magnetic field generated by the eddy current generated in the sample induced in the excitation coil 5 as described above.
【0032】この位置(X0,Y0)での応答信号は、
時間領域信号S(t,X0,Y0)である(ST−
3)。S(t,X0,Y0)は、時刻tでの位置
(X0,Y0)における磁場の強さに対応する。The response signal at this position (X 0 , Y 0 ) is
It is the time domain signal S (t, X 0 , Y 0 ) (ST-
3). S (t, X 0 , Y 0 ) corresponds to the strength of the magnetic field at the position (X 0 , Y 0 ) at time t.
【0033】ステップST−4では、S(t,X0,Y
0)を複素FFTにより変換する。そして、スペクトル
信号であるF(ω,X0,Y0)を得る。F(ω,
X0,Y 0)は、位置(X0,Y0)での周波数ごとに
磁場の強さに対応する値を示す関数である。At step ST-4, S (t, X0, Y
0) Is transformed by complex FFT. And the spectrum
The signal F (ω, X0, Y0) Get. F (ω,
X0, Y 0) Is the position (X0, Y0) For each frequency
It is a function indicating the value corresponding to the strength of the magnetic field.
【0034】ステップST−5では、スペクトル信号F
(ω,X0,Y0)から振幅R(ω,X0,Y0)を計
算する。すなわち、R(ω,X0,Y0)=[Re(F
(ω,X0,Y0))2+Im(F(ω,X0,
Y0))2]1/2である。In step ST-5, the spectrum signal F
(Ω, X 0, Y 0 ) from the amplitude R (ω, X 0, Y 0) is calculated. That is, R (ω, X 0 , Y 0 ) = [Re (F
(Ω, X 0 , Y 0 )) 2 + Im (F (ω, X 0 ,
Y 0 )) 2 ] 1/2 .
【0035】ステップST−6では、高調波角周波数に
対応する振幅R(ω,X0,Y0)を計算する。すなわ
ち、R(ωn,X0,Y0)(n=1,2,3・・・)
を算出する。この角周波数ωnは、図2(B)に示され
るnωに対応する。図2(B)に示されるようにnは原
理的には無限大まで続く数であるが、もちろん、ここで
は角周波数の上限を設けて、その上限以上の角周波数に
対してはR(ωn,X 0,Y0)は算出しない。通常、
この角周波数ωnの上限は、1kHzから1.5kHz
程度に設定される。At step ST-6, the harmonic angular frequency is changed to
Corresponding amplitude R (ω, X0, Y0) Is calculated. Sanawa
R (ωn, X0, Y0) (N = 1, 2, 3 ...)
To calculate. This angular frequency ωnIs shown in FIG. 2 (B)
Corresponding to nω. As shown in FIG. 2B, n is the original
It is a number that continues to infinity theoretically, but of course here
Set an upper limit of angular frequency, and
On the other hand, R (ωn, X 0, Y0) Is not calculated. Normal,
This angular frequency ωnUpper limit of 1kHz to 1.5kHz
It is set to a degree.
【0036】ステップST−7では、X−Yステージ2
を動かして、サンプルが測定された位置(X0,Y0)
からつぎに測定される位置(X1,Y1)に移動させ
る。その位置(X1,Y1)で上述したステップST−
1からステップST−6まで動作を実行する。すなわ
ち、R(ωn,X1,Y1)(n=1,2,3・・・)
を算出する。この動作をサンプル上のすべての位置
(X,Y)に関して実行して、R(ωn,X,Y)(n
=1,2,3・・・)を算出する。At step ST-7, the XY stage 2
The position where the sample was measured (X 0 , Y 0 )
Is moved to the next measurement position (X 1 , Y 1 ). At the position (X 1 , Y 1 ), the above-mentioned step ST-
The operation is performed from 1 to step ST-6. That is, R (ω n , X 1 , Y 1 ) (n = 1, 2, 3 ...)
To calculate. This operation is performed for all positions (X, Y) on the sample, and R (ω n , X, Y) (n
= 1, 2, 3 ...) is calculated.
【0037】この位置(X,Y)はサンプル上の有限個
の位置であり、サンプル上に一様に分布する。これらの
位置(X,Y)でのR(ωn,X,Y)(n=1,2,
3・・・)が算出されることにより、サンプル内の欠陥
を画面上に表示することが可能になる。This position (X, Y) is a finite number of positions on the sample and is uniformly distributed on the sample. R (ω n , X, Y) at these positions (X, Y) (n = 1, 2,
By calculating 3 ...), it becomes possible to display the defect in the sample on the screen.
【0038】ステップST−8では、R(ωn,X,
Y)(n=1,2,3・・・)がもとにされて、3次元
画像が表示される。高調波のモードによって、励起コイ
ル5が誘導する電磁波の周波数が変化する。したがっ
て、高調波のモードによって、電磁波が侵入する深さが
変化して、サンプル内のすべての領域を探査することが
可能になる。At step ST-8, R (ω n , X,
Y) (n = 1, 2, 3 ...) Based on this, a three-dimensional image is displayed. The frequency of the electromagnetic wave induced by the excitation coil 5 changes depending on the harmonic mode. Therefore, the modes of the harmonics change the penetration depth of the electromagnetic wave, making it possible to probe the entire area of the sample.
【0039】[0039]
【実施例】以下、実施例として、本発明の実施形態に係
る非破壊検査装置を使用した実験例を図を参照して説明
する。図4は、この発明の実施例において、非破壊検査
装置に検査されるサンプルとして使用されるアルミニウ
ムプレート10であって、中央部分に人工的に欠陥を設
けたプレートを示す断面図である。図4に示されるよう
に、サンプルには、人工的に孔11および孔12が設け
られている。これらの孔11および12が上述した欠陥
に対応する。すなわち、本発明の非破壊検査装置によっ
て、表示されるべき欠陥である。EXAMPLES An example of an experiment using the nondestructive inspection device according to the embodiment of the present invention will be described below as an example with reference to the drawings. FIG. 4 is a cross-sectional view showing an aluminum plate 10 used as a sample to be inspected by the nondestructive inspection apparatus in the embodiment of the present invention, in which a central portion is artificially provided with a defect. As shown in FIG. 4, the sample is artificially provided with holes 11 and 12. These holes 11 and 12 correspond to the above-mentioned defects. That is, it is a defect to be displayed by the nondestructive inspection device of the present invention.
【0040】アルミニウムプレート10は、厚さが10
mmであり、その中央部分に直径が5mmの孔11と直
径が10mmの孔12が設けられている。孔12は、下
面の中央から深さ3mmまで円柱状に設けられる。ま
た、孔11は、下面中央から深さ4mmから深さ7mm
まで円柱状に設けられる。The aluminum plate 10 has a thickness of 10
mm, and a hole 11 having a diameter of 5 mm and a hole 12 having a diameter of 10 mm are provided in the central portion thereof. The hole 12 is provided in a cylindrical shape from the center of the lower surface to a depth of 3 mm. Further, the hole 11 has a depth of 4 mm to a depth of 7 mm from the center of the lower surface.
It is provided in a column shape.
【0041】図5は、図1に示される鋸波発生装置6か
ら発生される鋸波を表示した図である。図2(A)に示
した鋸波と同様な鋸状の波形が励起コイル5に印加され
る。この図5に示される鋸波は、図3に示されるステッ
プST−1で生成される鋸波に対応する。図5に示され
る波形が励起コイル5に印加されて、励起コイル5から
電磁波が誘導される。誘導された電磁波がアルミニウム
プレート10上の特定の位置に照射される。照射される
位置は、X−Yステージコントローラ3によって設定さ
れている。FIG. 5 is a diagram showing a sawtooth wave generated by the sawtooth wave generator 6 shown in FIG. A sawtooth waveform similar to the sawtooth wave shown in FIG. 2 (A) is applied to the excitation coil 5. The sawtooth wave shown in FIG. 5 corresponds to the sawtooth wave generated in step ST-1 shown in FIG. The waveform shown in FIG. 5 is applied to the excitation coil 5 to induce electromagnetic waves from the excitation coil 5. The induced electromagnetic wave is applied to a specific position on the aluminum plate 10. The irradiation position is set by the XY stage controller 3.
【0042】図6は、図1に示されるSQUIDによっ
て検出された信号を高速フーリエ変換した後の、信号の
スペクトルを表示した図である。図5に示される鋸波の
電気信号によって誘導されたアルミニウムプレート10
内に発生する渦電流に生成された磁場がSQUIDで検
出され、その検出結果がFFT変換される。この動作は
図3に示されるステップST−6に対応する。FIG. 6 is a diagram showing the spectrum of the signal after the signal detected by the SQUID shown in FIG. 1 is subjected to the fast Fourier transform. Aluminum plate 10 induced by a sawtooth electrical signal shown in FIG.
The magnetic field generated by the eddy current generated inside is detected by SQUID, and the detection result is FFT-transformed. This operation corresponds to step ST-6 shown in FIG.
【0043】ある位置(X0,Y0)における渦電流に
より生成された磁場の強さを示す振幅R(ωn,X0,
Y0)(n=1,2,3・・・)がデータとしてコンピ
ュータ4内にあるハードディスク等の記憶部に格納され
る。An amplitude R (ω n , X 0 , which indicates the strength of the magnetic field generated by the eddy current at a position (X 0 , Y 0 ),
Y 0 ) (n = 1, 2, 3 ...) Is stored as data in a storage unit such as a hard disk in the computer 4.
【0044】図7は、高速フーリエ変換した後の信号の
周波数ごとの振幅をサンプルの位置に対応して表示した
図である。コンピュータの記憶部に格納されている振幅
R(ωn,X,Y)(n=1,2,3・・・)(X,Y
は、サンプルの上面にすべての検査された位置に対応す
る)を角周波数ωnごとに位置による変動を表示してい
る。FIG. 7 is a diagram showing the amplitude of each frequency of the signal after the fast Fourier transform corresponding to the position of the sample. Amplitude R (ω n , X, Y) (n = 1, 2, 3 ...) (X, Y stored in the storage unit of the computer
(Corresponding to all inspected positions on the upper surface of the sample) shows the variation with position for each angular frequency ω n .
【0045】図7の中央右付近にある山谷があるところ
が人為的に作った欠陥の位置に対応する。図7では、図
の下にある曲線ほど高周波の電磁波による応答を示す。
図7の下に描かれている曲線ほど、山谷が少なくなる現
象が見受けられる。The position of the mountain valley near the center right of FIG. 7 corresponds to the position of the artificially created defect. In FIG. 7, the curve at the bottom of the figure shows the response due to a high-frequency electromagnetic wave.
It can be seen that the curve shown at the bottom of FIG. 7 has fewer peaks and valleys.
【0046】この現象は、高周波の電磁波ほどサンプル
のアルミニウムプレート10内に侵入しないこと、換言
すれば低周波の電磁波ほどアルミニウムプレート10内
に侵入していることを示している。すなわち、周波数の
低い電磁波により誘導された渦電流ほど、欠陥の影響を
受けていることがわかる。This phenomenon indicates that a higher frequency electromagnetic wave does not penetrate into the aluminum plate 10 of the sample, in other words, a lower frequency electromagnetic wave penetrates into the aluminum plate 10. That is, it is understood that the eddy current induced by the electromagnetic wave having a lower frequency is more affected by the defect.
【0047】図8は、図7に示されたデータをもとにし
てサンプル中の欠陥を3次元画像として表示した図であ
る。3次元の斜視図として示されている。この画像は、
コンピュータ4の記憶部にある欠陥に関するデータを3
次元的に図示するソフトウェアによって表示されてい
る。たとえば、ビジュアルベーシック(登録商標)等が
使用される。図8において、黒く表示されているものが
サンプルであるアルミニウムプレート20である。白く
表示されているものが欠陥である。白部分21は、図4
の孔11に対応し、白部分22は、孔12に対応してい
る。FIG. 8 is a view showing defects in the sample as a three-dimensional image based on the data shown in FIG. It is shown as a three-dimensional perspective view. This image is
Data on defects in the memory of the computer 4
It is displayed dimensionally by the illustrated software. For example, Visual Basic (registered trademark) or the like is used. In FIG. 8, what is displayed in black is the aluminum plate 20 which is a sample. What is displayed in white is a defect. The white part 21 is shown in FIG.
The white portion 22 corresponds to the hole 12, and the white portion 22 corresponds to the hole 12.
【0048】図8の左に1つ下に2つ設けられているス
クロールバー23、24および25によって、表示され
ているアルミニウムプレート20の位置を3次元的に移
動することができる。これらのスクロールバー23、2
4および25を動かすことによってアルミニウムプレー
ト20内の欠陥の位置を確認することが可能である。The position of the displayed aluminum plate 20 can be moved three-dimensionally by the scroll bars 23, 24 and 25 provided one below the other on the left side of FIG. These scroll bars 23, 2
By moving 4 and 25 it is possible to locate the defect in the aluminum plate 20.
【0049】また、右上にあるボタン「ANIMATI
ON」を押すと、自動的にアルミニウムプレート20が
アニメーションとして動きだし、すべての方向から欠陥
の様子を観察することが可能になる。The button "ANIMATI" at the upper right corner
When pressing "ON", the aluminum plate 20 automatically starts moving as an animation, and it becomes possible to observe the state of the defect from all directions.
【0050】さらに、右上にあるボタン「ZOOM I
N」および「ZOOM OUT」によって、表示されて
いる画像をそれぞれズームインおよびズームアウトする
ことが可能である。また、ボタン「STOP」は、アニ
メーションを停止するためのボタンである。Furthermore, the button "ZOOM I" at the upper right corner
"N" and "ZOOM OUT" allow zooming in and out of the displayed image, respectively. The button "STOP" is a button for stopping the animation.
【0051】この発明は、上述した実施の形態に限定さ
れるものではなく、その技術的範囲において種々変形し
て実施することができる。The present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, but can be carried out with various modifications within the technical scope thereof.
【0052】[0052]
【発明の効果】本発明の非破壊検査装置によれば、鋸波
の励起信号と高速フーリエ変換とにより、1度に多くの
異なる高調波の振幅信号を得ることが可能になる。According to the non-destructive inspection apparatus of the present invention, it becomes possible to obtain many amplitude signals of different harmonics at once by the sawtooth wave excitation signal and the fast Fourier transform.
【0053】したがって、非破壊検査の測定時間が短縮
される。また、異なる高調波の振幅信号を生成する複数
の信号発生源を必要としないので、非破壊検査装置の構
成が単純になる。Therefore, the measurement time of the nondestructive inspection is shortened. Moreover, since a plurality of signal generation sources that generate amplitude signals of different harmonics are not required, the configuration of the nondestructive inspection device is simplified.
【図1】この発明の実施形態に係る非破壊検査装置の機
能ブロック図である。FIG. 1 is a functional block diagram of a nondestructive inspection device according to an embodiment of the present invention.
【図2】(A) 図1に示される鋸波発生装置が発生す
る鋸波を示す図である。
(B) 図2(A)に示される鋸波の1周期での振幅を
示す方程式である。FIG. 2A is a diagram showing a sawtooth wave generated by the sawtooth wave generator shown in FIG. 2B is an equation showing the amplitude of the sawtooth wave shown in FIG. 2A in one cycle.
【図3】この発明の実施形態に係る非破壊検査装置にお
いて、3次元画像を作成するまでの流れ図である。FIG. 3 is a flow chart for creating a three-dimensional image in the nondestructive inspection device according to the embodiment of the present invention.
【図4】この発明の実施例において、非破壊検査装置に
検査されるサンプルとして使用されるアルミニウムプレ
ートであって、中央部分に人工的に欠陥を設けたプレー
トを示す断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view showing an aluminum plate used as a sample to be inspected by a nondestructive inspection apparatus in an embodiment of the present invention, in which a central portion is artificially provided with a defect.
【図5】この発明の実施例において、図1に示される鋸
波発生装置から発生される鋸波を表示した図である。FIG. 5 is a diagram showing a sawtooth wave generated from the sawtooth wave generator shown in FIG. 1 in the embodiment of the present invention.
【図6】この発明の実施例において、図1に示されるS
QUIDによって検出された信号を高速フーリエ変換し
た後の、信号のスペクトルを表示した図である。FIG. 6 shows S shown in FIG. 1 in an embodiment of the present invention.
It is the figure which displayed the spectrum of the signal after carrying out the fast Fourier transform of the signal detected by QUID.
【図7】この発明の実施例において、高速フーリエ変換
した後の信号の周波数ごとの振幅をサンプルの位置に対
応して表示した図である。FIG. 7 is a diagram showing the amplitude of each frequency of the signal after being subjected to the fast Fourier transform in correspondence with the position of the sample in the embodiment of the invention.
【図8】図7に示されたデータをもとにしてサンプル中
の欠陥を3次元画像として表示した図である。FIG. 8 is a diagram in which defects in the sample are displayed as a three-dimensional image based on the data shown in FIG. 7.
【符号の説明】 1 SQUID磁束計 2 X−Yステージ 3 X−Yステージコントローラ 4 コンピュータ 5 励起コイル 6 鋸波発生装置 10 アルミニウムプレート 11 孔(欠陥) 12 孔(欠陥) 20 アルミニウムプレート 21 白部分(欠陥) 22 白部分(欠陥) 23、24、25 スクロールバー[Explanation of symbols] 1 SQUID magnetometer 2 XY stage 3 XY stage controller 4 computers 5 excitation coil 6 Sawtooth generator 10 Aluminum plate 11 holes (defects) 12 holes (defects) 20 aluminum plate 21 White part (defect) 22 White part (defect) 23, 24, 25 scroll bars
Claims (6)
査して欠陥を検出する非破壊検査装置において、 複数の周波数成分を含む信号を生成する生成手段と、 前記信号が入力されることにより電磁波を励起して、当
該電磁波を試料である金属構造物に照射する励起コイル
と、 前記金属構造物から発生する磁場を検出する磁場検出手
段と、 前記磁場から、磁場の各周波数成分の振幅を算出する算
出手段と、 を具備することを特徴とする非破壊検査装置。1. A non-destructive inspection apparatus for detecting defects by inspecting the inside of a metal structure without destroying the inside of the metal structure, and generating means for generating a signal including a plurality of frequency components, and by inputting the signal. An excitation coil that excites an electromagnetic wave and irradiates the electromagnetic wave to a metal structure that is a sample, a magnetic field detection unit that detects a magnetic field generated from the metal structure, and an amplitude of each frequency component of the magnetic field from the magnetic field. A nondestructive inspection apparatus comprising: a calculating unit that calculates.
いて、前記金属構造物の欠陥を表示する表示手段をさら
に具備することを特徴とする請求項1に記載の非破壊検
査装置。2. The non-destructive inspection apparatus according to claim 1, further comprising a display unit that displays a defect in the metal structure based on the amplitude of each frequency component of the magnetic field.
されている鋸状の波形である信号を生成することを特徴
とする請求項1又は請求項2に記載の非破壊検査装置。3. The non-destructive inspection apparatus according to claim 1, wherein the generation unit generates a signal having a sawtooth waveform in which a plurality of single frequencies are combined.
積載手段と、 前記金属構造物の欠陥を測定すべき位置に金属構造物を
移動させる信号を生成する信号生成手段と、 前記信号にもとづいて、前記積載手段に置かれた前記金
属構造物を移動させる移動手段と、 をさらに具備することを特徴とする請求項1から請求項
3のいずれかに記載の非破壊検査装置。4. A loading means for placing the metal structure as a sample, a signal generating means for generating a signal for moving the metal structure to a position where a defect of the metal structure is to be measured, and the signal The nondestructive inspection apparatus according to claim 1, further comprising: a moving unit that moves the metal structure placed on the stacking unit.
子により磁場を検出する装置であることを特徴とする請
求項1から請求項4のいずれかに記載の非破壊検査装
置。5. The nondestructive inspection apparatus according to claim 1, wherein the magnetic field detecting means is an apparatus for detecting a magnetic field by a superconducting quantum interference device.
って実行されることを特徴とする請求項1から請求項5
のいずれかに記載の非破壊検査装置。6. The method according to claim 1, wherein the calculation means is executed by a fast Fourier transform.
The nondestructive inspection device according to any one of 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001345271A JP2003149208A (en) | 2001-11-09 | 2001-11-09 | Nondestructive inspecting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
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Publication Number | Publication Date |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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