JP2002094240A - 層間接続バイア・ホールを有する多層プリント基板の製造方法 - Google Patents
層間接続バイア・ホールを有する多層プリント基板の製造方法Info
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- JP2002094240A JP2002094240A JP2000283482A JP2000283482A JP2002094240A JP 2002094240 A JP2002094240 A JP 2002094240A JP 2000283482 A JP2000283482 A JP 2000283482A JP 2000283482 A JP2000283482 A JP 2000283482A JP 2002094240 A JP2002094240 A JP 2002094240A
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Abstract
(57)【要約】 修正有
【課題】 高密度化に適しており、しかもバイア・ホー
ルに不具合の生じない多層プリント基板の製造方法を提
供すること。 【解決手段】 それぞれ絶縁層上に回路パターンを形成
してなる回路基板を少なくとも3枚積層して多層化し、
層間をバイア・ホールにより接続する多層プリント基板
の製造方法において、第1の回路基板11,21を用意
し、この第1の回路基板に接着剤12により第2の回路
基板13,22を固着し、この第2の回路基板における
バイア・ホール周辺の回路パターンをエッチングにより
除去してバイア・ホール形成領域を形成し、前記バイア
・ホール形成領域に異方性処理手段により前記第1の回
路基板までの前記第2の回路基板における絶縁層13お
よび接着剤12を除去して第1の穴を形成し、この第1
の穴にスルーホール・メッキ23を施す。この工程をく
り返すことを特徴とする、層間接続バイア・ホールを有
する多層プリント基板の製造方法。
ルに不具合の生じない多層プリント基板の製造方法を提
供すること。 【解決手段】 それぞれ絶縁層上に回路パターンを形成
してなる回路基板を少なくとも3枚積層して多層化し、
層間をバイア・ホールにより接続する多層プリント基板
の製造方法において、第1の回路基板11,21を用意
し、この第1の回路基板に接着剤12により第2の回路
基板13,22を固着し、この第2の回路基板における
バイア・ホール周辺の回路パターンをエッチングにより
除去してバイア・ホール形成領域を形成し、前記バイア
・ホール形成領域に異方性処理手段により前記第1の回
路基板までの前記第2の回路基板における絶縁層13お
よび接着剤12を除去して第1の穴を形成し、この第1
の穴にスルーホール・メッキ23を施す。この工程をく
り返すことを特徴とする、層間接続バイア・ホールを有
する多層プリント基板の製造方法。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、多層化した回路基
板の製造方法に係り、とくに各層間を接続するためのバ
イア・ホールの形成方法に関する。
板の製造方法に係り、とくに各層間を接続するためのバ
イア・ホールの形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】多層化された回路基板における各層間を
接続するには、層間を結ぶ穴つまりバイア・ホールを設
けて穴内壁にメッキを施し、各層に設けられた回路パタ
ーン同士を接続することが行われている。そしてバイア
・ホールの形成には、旧来のドリル加工法に換わって高
密度加工ができるレーザー照射法を用いることが一般化
している。
接続するには、層間を結ぶ穴つまりバイア・ホールを設
けて穴内壁にメッキを施し、各層に設けられた回路パタ
ーン同士を接続することが行われている。そしてバイア
・ホールの形成には、旧来のドリル加工法に換わって高
密度加工ができるレーザー照射法を用いることが一般化
している。
【0003】この高密度加工を行った多層プリント基板
において、バイア・ホールを形成するには、図5(a)
に示すように中間層バイア・ホールH1の位置と第1層
バイア・ホールH2の位置とを異ならせる場合と、図5
(b)に示すように重なり合わせた同一位置型バイア・
ホールH0を設ける場合とがある。
において、バイア・ホールを形成するには、図5(a)
に示すように中間層バイア・ホールH1の位置と第1層
バイア・ホールH2の位置とを異ならせる場合と、図5
(b)に示すように重なり合わせた同一位置型バイア・
ホールH0を設ける場合とがある。
【0004】このうち前者は、バイア・ホール形成のた
めの所要面積が大であるから高密度化の目的には沿うも
のではない。そこで、高密度化に適する後者がより一般
化している。
めの所要面積が大であるから高密度化の目的には沿うも
のではない。そこで、高密度化に適する後者がより一般
化している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このように中間層間を
接続するバイア・ホールと第1層目のバイア・ホールと
を位置合わせする方法が主流になっているが、図6に示
すように設計の都合上完全に同心位置にならないことが
ある。
接続するバイア・ホールと第1層目のバイア・ホールと
を位置合わせする方法が主流になっているが、図6に示
すように設計の都合上完全に同心位置にならないことが
ある。
【0006】すなわち、図6(a)に示すように中間層
のバイア・ホールH1と第1層のバイア・ホールH2と
が多少偏心していると、X部のように中間層のバイア・
ホール内壁のメッキと,第1層のバイア・ホール内壁の
メッキとの間に接着剤などの樹脂層が介在することにな
る。この場合、メッキ層と樹脂層とは熱膨張係数が異な
り、温度変化によって両者の収縮があるとX部のメッキ
が剥がれて空洞が生じることがある。
のバイア・ホールH1と第1層のバイア・ホールH2と
が多少偏心していると、X部のように中間層のバイア・
ホール内壁のメッキと,第1層のバイア・ホール内壁の
メッキとの間に接着剤などの樹脂層が介在することにな
る。この場合、メッキ層と樹脂層とは熱膨張係数が異な
り、温度変化によって両者の収縮があるとX部のメッキ
が剥がれて空洞が生じることがある。
【0007】また、図6(b)に示すように、回路基板
同士の積層時にX部の下部に樹脂が充填されずに空洞が
形成された状態が生じることもあり、このままでメッキ
処理を行ってしまうと、メッキ層が欠けた状態となるこ
ともある。
同士の積層時にX部の下部に樹脂が充填されずに空洞が
形成された状態が生じることもあり、このままでメッキ
処理を行ってしまうと、メッキ層が欠けた状態となるこ
ともある。
【0008】本発明は上述の点を考慮してなされたもの
で、高密度化に適しており、しかもバイア・ホールに不
具合の生じない多層プリント基板の製造方法を提供する
ことを目的とする。
で、高密度化に適しており、しかもバイア・ホールに不
具合の生じない多層プリント基板の製造方法を提供する
ことを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的達成のため、本
発明では、それぞれ絶縁層上に回路パターンを形成して
なる回路基板を少なくとも3枚積層して多層化し、層間
をバイア・ホールにより接続する多層プリント基板の製
造方法において、第1の回路基板を用意し、この第1の
回路基板に接着剤により第2の回路基板を固着し、この
第2の回路基板におけるバイア・ホール周辺の回路パタ
ーンをエッチングにより除去してバイア・ホール形成領
域を形成し、前記バイア・ホール形成領域に異方性処理
手段により前記第1の回路基板までの前記第2の回路基
板における絶縁層および接着剤を除去して第1の穴を形
成し、この第1の穴にスルーホール・メッキを施し、前
記第2の回路基板に対し接着剤により第3の回路基板を
固着し、この第3の回路基板に回路パターンを形成し、
前記第3の回路基板における回路パターンを利用して異
方性処理手段により前記バイア・ホール周りの絶縁層お
よび接着剤を除去して第2の穴を形成し、この穴にスル
ーホール・メッキを施す、工程を含むことを特徴とす
る、層間接続バイア・ホールを有する多層プリント基板
の製造方法、を提供するものである。
発明では、それぞれ絶縁層上に回路パターンを形成して
なる回路基板を少なくとも3枚積層して多層化し、層間
をバイア・ホールにより接続する多層プリント基板の製
造方法において、第1の回路基板を用意し、この第1の
回路基板に接着剤により第2の回路基板を固着し、この
第2の回路基板におけるバイア・ホール周辺の回路パタ
ーンをエッチングにより除去してバイア・ホール形成領
域を形成し、前記バイア・ホール形成領域に異方性処理
手段により前記第1の回路基板までの前記第2の回路基
板における絶縁層および接着剤を除去して第1の穴を形
成し、この第1の穴にスルーホール・メッキを施し、前
記第2の回路基板に対し接着剤により第3の回路基板を
固着し、この第3の回路基板に回路パターンを形成し、
前記第3の回路基板における回路パターンを利用して異
方性処理手段により前記バイア・ホール周りの絶縁層お
よび接着剤を除去して第2の穴を形成し、この穴にスル
ーホール・メッキを施す、工程を含むことを特徴とす
る、層間接続バイア・ホールを有する多層プリント基板
の製造方法、を提供するものである。
【0010】
【発明の実施の形態】図1は、本発明により形成される
バイア・ホールの基本的構造を示したものである。図1
上部に、本発明方法で形成したバイア・ホールの断面図
が示され、図1下部にはその俯瞰状態を概念的に描いた
図が示されている。
バイア・ホールの基本的構造を示したものである。図1
上部に、本発明方法で形成したバイア・ホールの断面図
が示され、図1下部にはその俯瞰状態を概念的に描いた
図が示されている。
【0011】これら両図から分かるように、回路基板は
絶縁層11、積層接着剤12、絶縁層13、積層接着剤
14、絶縁層15が積層されて5層構造の積層回路基板
を構成している。そして、絶縁層11、13および15
の図における各上面には、回路パターンすなわちランド
21、22、24(要部のみ図示)が形成されている。
絶縁層11、積層接着剤12、絶縁層13、積層接着剤
14、絶縁層15が積層されて5層構造の積層回路基板
を構成している。そして、絶縁層11、13および15
の図における各上面には、回路パターンすなわちランド
21、22、24(要部のみ図示)が形成されている。
【0012】そして、積層回路基板の全5層を貫通し、
同心配置されて内径が2段に変化する構成のバイア・ホ
ールが形成されている。このバイア・ホールは、2段構
成の下側が小径で上側が大径であり、小径部分がランド
21とランド22とを接続するもの、大径部分がランド
22とランド24とを接続するものである。
同心配置されて内径が2段に変化する構成のバイア・ホ
ールが形成されている。このバイア・ホールは、2段構
成の下側が小径で上側が大径であり、小径部分がランド
21とランド22とを接続するもの、大径部分がランド
22とランド24とを接続するものである。
【0013】このバイア・ホールを構成するために、俯
瞰図に示すように、ランド21,22,24が同心配置
されており、最内層にあるランド21の外径はφe、内
径がφc、中間にあるランド22の外径はφd、内径は
φc、最外層にあるランド24の外径はφb、内径はφ
aである。そして、各外径同士、内径同士を比べると何
れも外層側の径が大となっている。
瞰図に示すように、ランド21,22,24が同心配置
されており、最内層にあるランド21の外径はφe、内
径がφc、中間にあるランド22の外径はφd、内径は
φc、最外層にあるランド24の外径はφb、内径はφ
aである。そして、各外径同士、内径同士を比べると何
れも外層側の径が大となっている。
【0014】このバイア・ホールには、内層のランド2
1と中間のランド22とを接続するようにメッキ層22
が形成され、メッキ層22と外層のランド24とを接続
するために2段底状のメッキ層25が形成されている。
1と中間のランド22とを接続するようにメッキ層22
が形成され、メッキ層22と外層のランド24とを接続
するために2段底状のメッキ層25が形成されている。
【0015】図2および図3は、図1に示したバイア・
ホールを形成するための工程を示したもので、図2にお
ける4工程A−D、図3における4工程E−Hは一連の
工程である。ここで、各回路基板における銅箔はエッチ
ング処理を経ると回路パターンとなるが、エッチング処
理の前後を通じて同一符号を付している。
ホールを形成するための工程を示したもので、図2にお
ける4工程A−D、図3における4工程E−Hは一連の
工程である。ここで、各回路基板における銅箔はエッチ
ング処理を経ると回路パターンとなるが、エッチング処
理の前後を通じて同一符号を付している。
【0016】まず図2において、最初の工程Aでは、絶
縁層11の上面にバイア・ホールの底面を形成するのに
適当な大きさのランド21を持った第1の回路基板を用
意する。回路基板を形成するには、通常の銅張り積層板
材料、つまりガラス−エポキシ系、ポリイミド等が利用
できる。
縁層11の上面にバイア・ホールの底面を形成するのに
適当な大きさのランド21を持った第1の回路基板を用
意する。回路基板を形成するには、通常の銅張り積層板
材料、つまりガラス−エポキシ系、ポリイミド等が利用
できる。
【0017】ランド21の中心位置が、バイア・ホール
の中心位置である。そして、第1の回路基板の上面を被
うように積層接着剤12を介在させて第2の回路基板を
積層し、この第2の回路基板の銅箔にランド22を形成
する。ランド22には、第1の回路基板における回路パ
ターンと同心位置にバイア・ホールを形成するために、
銅箔を除去した部分が形成される。
の中心位置である。そして、第1の回路基板の上面を被
うように積層接着剤12を介在させて第2の回路基板を
積層し、この第2の回路基板の銅箔にランド22を形成
する。ランド22には、第1の回路基板における回路パ
ターンと同心位置にバイア・ホールを形成するために、
銅箔を除去した部分が形成される。
【0018】第2の工程Bでは、第2の回路基板の上方
からランド22を介して、異方性処理手段たとえばレー
ザービーム照射による樹脂成分の除去が行われる。レー
ザーとしては、エキシマ・レーザー、CO2レーザー等
の樹脂成分を昇華させ得るものであればよい。これらレ
ーザーによるビームが照射され、第2の回路基板の絶縁
層13および積層接着剤12が除去されて、第1の回路
基板におけるランド21の上面が露出される。
からランド22を介して、異方性処理手段たとえばレー
ザービーム照射による樹脂成分の除去が行われる。レー
ザーとしては、エキシマ・レーザー、CO2レーザー等
の樹脂成分を昇華させ得るものであればよい。これらレ
ーザーによるビームが照射され、第2の回路基板の絶縁
層13および積層接着剤12が除去されて、第1の回路
基板におけるランド21の上面が露出される。
【0019】異方性処理手段とは、図示の場合は図示縦
方向に向かって物質を除去する作用をするが、図示横方
向にはなんら作用しない手段を言い、その点で縦横両方
向に作用する等方性処理手段ともいうべきエッチング等
とは相違する。
方向に向かって物質を除去する作用をするが、図示横方
向にはなんら作用しない手段を言い、その点で縦横両方
向に作用する等方性処理手段ともいうべきエッチング等
とは相違する。
【0020】第3の工程Cでは、ランド21とランド2
2とを接続するようにメッキ層23を形成する。メッキ
は、通常のスルーホール・メッキによればよい。これに
より第1のバイア・ホールが形成される。
2とを接続するようにメッキ層23を形成する。メッキ
は、通常のスルーホール・メッキによればよい。これに
より第1のバイア・ホールが形成される。
【0021】第4の工程Dでは、メッキ層23を被うよ
うに、積層接着剤14を介在させて絶縁層15および銅
箔24を有する第3の回路基板を積層する。これによ
り、図3の工程Eに移行する。
うに、積層接着剤14を介在させて絶縁層15および銅
箔24を有する第3の回路基板を積層する。これによ
り、図3の工程Eに移行する。
【0022】図3に示す第5の工程Eでは、第4の工程
Dによって第1の回路基板ないし第3の回路基板が積層
された状態となっている。すなわち、絶縁層11、ラン
ド21からなる第1の回路基板上に、絶縁層13、ラン
ド22からなる第2の回路基板が積層接着剤12を介し
積層されてメッキ層23によりランド21とランド22
とが接続された状態となり、かつその上に絶縁層15お
よび銅箔24からなる第3の回路基板が積層接着剤14
を介して積層されている。
Dによって第1の回路基板ないし第3の回路基板が積層
された状態となっている。すなわち、絶縁層11、ラン
ド21からなる第1の回路基板上に、絶縁層13、ラン
ド22からなる第2の回路基板が積層接着剤12を介し
積層されてメッキ層23によりランド21とランド22
とが接続された状態となり、かつその上に絶縁層15お
よび銅箔24からなる第3の回路基板が積層接着剤14
を介して積層されている。
【0023】第6の工程Fでは、エッチングにより銅箔
を処理して第2のバイア・ホールを形成するためのラン
ド24を形成する。これは、第1の工程Aと同様の状態
である。第2のバイア・ホールは,第1のバイア・ホール
よりも径が大であるから回路パターンもそのように形成
する。
を処理して第2のバイア・ホールを形成するためのラン
ド24を形成する。これは、第1の工程Aと同様の状態
である。第2のバイア・ホールは,第1のバイア・ホール
よりも径が大であるから回路パターンもそのように形成
する。
【0024】次いで第7の工程Gによりレーザービーム
を照射し、絶縁層15および積層接着剤14を回路パタ
ーンにしたがって除去する。これは、第2の工程と同様
の状態である。これにより、ランド24に被われておら
ずメッキ層23よりも上側にある絶縁層15および積層
接着剤14がすべて除去されて、2段構造のバイア・ホ
ールが形成される。
を照射し、絶縁層15および積層接着剤14を回路パタ
ーンにしたがって除去する。これは、第2の工程と同様
の状態である。これにより、ランド24に被われておら
ずメッキ層23よりも上側にある絶縁層15および積層
接着剤14がすべて除去されて、2段構造のバイア・ホ
ールが形成される。
【0025】この状態で、第8の工程Hによりランド2
4の上からバイア・ホールを含めてメッキ層25を形成
する。この結果、メッキ層25によってランド21,2
2,24が全て接続された状態となる。すなわち、メッ
キ層23によりランド21とランド22とが接続され、
メッキ層25によりメッキ層22とランド24とが接続
され、結果として3つのランド21,22,24が接続
された状態となる。
4の上からバイア・ホールを含めてメッキ層25を形成
する。この結果、メッキ層25によってランド21,2
2,24が全て接続された状態となる。すなわち、メッ
キ層23によりランド21とランド22とが接続され、
メッキ層25によりメッキ層22とランド24とが接続
され、結果として3つのランド21,22,24が接続
された状態となる。
【0026】以上の工程に続いて、通常のプリント基板
製造工程を適用して多層プリント基板を製造する。
製造工程を適用して多層プリント基板を製造する。
【0027】図4は、上述の同心型バイア・ホールに近
い構造の偏心型バイア・ホールに、本発明を適用した例
を示している。この例のように、内層のバイア・ホール
全体が最外層のバイア・ホールの内壁よりも内側にあれ
ば、同心ではなくても段付きバイア・ホールとして構成
することができる。ただし、工程作業における位置ずれ
を考慮すると、実際にはある程度の余裕を見ておく必要
はある。
い構造の偏心型バイア・ホールに、本発明を適用した例
を示している。この例のように、内層のバイア・ホール
全体が最外層のバイア・ホールの内壁よりも内側にあれ
ば、同心ではなくても段付きバイア・ホールとして構成
することができる。ただし、工程作業における位置ずれ
を考慮すると、実際にはある程度の余裕を見ておく必要
はある。
【0028】(応用例)上記実施例では、2段構造のバ
イア・ホールを例示したが、4段以上の回路基板を積層
し3段以上のバイア・ホールで相互接続を行う構成につ
いても本発明を適用することができる。
イア・ホールを例示したが、4段以上の回路基板を積層
し3段以上のバイア・ホールで相互接続を行う構成につ
いても本発明を適用することができる。
【0029】また、異方性処理手段としては、レーザー
ビーム照射を例示したが、他のビーム照射手段などを用
いてもよい。
ビーム照射を例示したが、他のビーム照射手段などを用
いてもよい。
【0030】また、上記実施例では、積層するために接
着剤を用いることとしたが、これをプリプレグなどの等
価物に置き換えてもよい。
着剤を用いることとしたが、これをプリプレグなどの等
価物に置き換えてもよい。
【0031】また、メッキ処理の前に残留物を除去する
ために、過マンガン酸液に浸漬すると一層よい。
ために、過マンガン酸液に浸漬すると一層よい。
【0032】
【発明の効果】本発明は上述のように、多層プリント基
板における層間接続用バイア・ホールを形成するにつ
き、外層回路基板の回路パターンを利用して異方性処理
手段により不要物質を除去してメッキ層で被うようにし
たため、外層のバイア・ホールの範囲内に内層のバイア
・ホールが配置される包含型バイア・ホールが形成され
る。この結果、高密度化に対応しながら導通信頼性を損
なわないプリント基板を提供することができる。
板における層間接続用バイア・ホールを形成するにつ
き、外層回路基板の回路パターンを利用して異方性処理
手段により不要物質を除去してメッキ層で被うようにし
たため、外層のバイア・ホールの範囲内に内層のバイア
・ホールが配置される包含型バイア・ホールが形成され
る。この結果、高密度化に対応しながら導通信頼性を損
なわないプリント基板を提供することができる。
【図1】本発明の一実施例の構成を示す説明図。
【図2】本発明の一実施例における工程の前半部を示す
説明図。
説明図。
【図3】図2に示した実施例の工程後半部を示す説明
図。
図。
【図4】本発明により形成するバイア・ホールの他の例
を示す説明図。
を示す説明図。
【図5】従来のバイア・ホールの構造例を示すもので、
図5(a)はバイア・ホールの位置を変える場合の説明
図、図5(b)は同一位置型バイア・ホールの説明図。
図5(a)はバイア・ホールの位置を変える場合の説明
図、図5(b)は同一位置型バイア・ホールの説明図。
【図6】従来のバイア・ホールの構造例を示すもので、
図6(a)は不具合を起こす構造例を示し,図6(b)
はその結果生じた不具合例を示す説明図。
図6(a)は不具合を起こす構造例を示し,図6(b)
はその結果生じた不具合例を示す説明図。
11,13,15 絶縁層 12,14 積層接着剤 21,22,24 ランド 23,25 メッキ層
フロントページの続き (72)発明者 畔 柳 邦 彦 東京都港区芝大門一丁目12番15号 日本メ クトロン株式会社内 Fターム(参考) 5E317 AA21 AA24 CC31 CD27 CD32 GG17 5E346 AA43 CC04 CC09 CC10 CC32 DD12 FF12 HH07
Claims (2)
- 【請求項1】それぞれ絶縁層上に回路パターンを形成し
てなる回路基板を少なくとも3枚積層して多層化し、層
間をバイア・ホールにより接続する多層プリント基板の
製造方法において、 第1の回路基板を用意し、 この第1の回路基板に接着剤により第2の回路基板を固
着し、 この第2の回路基板におけるバイア・ホール周辺の回路
パターンをエッチングにより除去してバイア・ホール形
成領域を形成し、 前記バイア・ホール形成領域に異方性処理手段により前
記第1の回路基板までの前記第2の回路基板における絶
縁層および接着剤を除去して第1の穴を形成し、 この第1の穴にスルーホール・メッキを施し、 前記第2の回路基板に対し接着剤により第3の回路基板
を固着し、 この第3の回路基板に回路パターンを形成し、前記第3
の回路基板における回路パターンを利用して異方性処理
手段により前記バイア・ホール周りの絶縁層および接着
剤を除去して第2の穴を形成し、 この穴にスルーホール・メッキを施す、 工程を含むことを特徴とする、層間接続バイア・ホール
を有する多層プリント基板の製造方法。 - 【請求項2】請求項1記載の、層間接続バイア・ホール
を有する多層プリント基板の製造方法において、 前記異方性処理手段は、レーザービーム照射手段である
多層プリント基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000283482A JP2002094240A (ja) | 2000-09-19 | 2000-09-19 | 層間接続バイア・ホールを有する多層プリント基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP2000283482A JP2002094240A (ja) | 2000-09-19 | 2000-09-19 | 層間接続バイア・ホールを有する多層プリント基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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ID=18767838
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