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JP2000340953A - Manufacture of multilayered printed wiring board - Google Patents

Manufacture of multilayered printed wiring board

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Publication number
JP2000340953A
JP2000340953A JP14943399A JP14943399A JP2000340953A JP 2000340953 A JP2000340953 A JP 2000340953A JP 14943399 A JP14943399 A JP 14943399A JP 14943399 A JP14943399 A JP 14943399A JP 2000340953 A JP2000340953 A JP 2000340953A
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JP
Japan
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layer
bump
hole
base
wiring board
Prior art date
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JP14943399A
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Japanese (ja)
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Toru Takahashi
徹 高橋
Tomoyasu Gunji
智康 郡司
Shoji Fujisawa
昭二 藤澤
Masaru Ogasawara
勝 小笠原
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Clover Electronics Co Ltd
Original Assignee
Clover Electronics Co Ltd
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Publication date
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a method of manufacturing a printed wiring board, wherein a high density wiring pattern can be formed and a high connection reliability can be obtained. SOLUTION: In a multilayered wiring board 1, wherein a wiring layer 6 is connected to a wiring layer 2 through a bump 7, the layer 6 is a stripped to expose part of a base 7a of the bump 7. An insulator layer 9a is formed on the layer 6. A hole 11 for exposing the base 7a of the bump 7 is formed in the layer 9a. By plating the upper part of the layer 9a and the hole 11, a conductor layer 13 and a via hole 11a are formed. The layer 13 is etched to form a prescribed wiring pattern 14. The layer 9a is a photo-curing resin layer. The photo-curing resin layer is exposed and developed via a photoresist, and the unexposed part thereof is removed to form the hole 11. The hole 11 is formed in the layer 9a by having the layer 9a irradiated with a laser light.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、配線層間を貫通型
導体配線部により接続するプリント配線基板の製造方法
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a printed wiring board for connecting between wiring layers by a through-type conductive wiring portion.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子部品の小型化技術及び配線基
板に対する実装技術の進歩に伴い、プリント配線基板を
高密度化すると共にコストを低減する必要が生じてい
る。従来、多層プリント配線基板は、基板に設けられた
貫通孔(スルーホール)に銅等の導体をメッキして配線
層間の接続を行うことにより製造されているが、このよ
うな製造方法では、前記高密度化及びコスト低減に対応
することが困難になりつつある。
2. Description of the Related Art In recent years, with the development of technology for miniaturizing electronic components and mounting technology for wiring boards, it has become necessary to increase the density of printed wiring boards and reduce costs. Conventionally, a multilayer printed wiring board has been manufactured by plating a conductor such as copper in a through-hole (through hole) provided in the board and making connection between wiring layers. It is becoming difficult to cope with high density and cost reduction.

【0003】そこで、前記従来の製造方法に代わる技術
が検討されており、例えば、特開平6−342977号
公報に開示された製造方法が知られている。前記公報記
載の技術は、まず、銅箔等の導電性支持体上の所定位置
に銀ペーストを印刷して複数のバンプを形成し、該バン
プが形成された銅箔に合成樹脂系シートを積層し、加圧
することにより該バンプの先端を該合成樹脂系シートに
貫通、露出せしめる。そして、該合成樹脂系シートに銅
箔等の導電体層を積層、加圧して、該合成樹脂系シート
から露出した前記バンプの先端を該導電体層に圧着させ
ることにより、該バンプにより両銅箔を接続する貫通型
導体配線部を形成するものである。前記公報記載の技術
によれば、次いで、前記導電性支持体及び導電体層を形
成する銅箔にエッチングを施して配線パターンを形成す
ることにより、両面型プリント配線基板が得られる。
[0003] In view of the above, a technology that replaces the above-mentioned conventional manufacturing method is being studied. For example, a manufacturing method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-342977 is known. The technique described in the above publication firstly forms a plurality of bumps by printing a silver paste at a predetermined position on a conductive support such as a copper foil, and laminates a synthetic resin sheet on the copper foil on which the bumps are formed. Then, the tip of the bump penetrates and is exposed to the synthetic resin sheet by applying pressure. Then, a conductor layer such as a copper foil is laminated on the synthetic resin-based sheet and pressurized, and the tip of the bump exposed from the synthetic resin-based sheet is pressure-bonded to the conductor layer. A through-type conductor wiring portion for connecting foils is formed. According to the technique described in the above publication, a copper foil for forming the conductive support and the conductive layer is then etched to form a wiring pattern, thereby obtaining a double-sided printed wiring board.

【0004】また、前記導電体層を銅箔に代えて前記両
面型プリント配線基板とすれば、該両面型プリント配線
基板の表面に形成された配線パターンに前記合成樹脂系
シートから露出した前記バンプの先端を圧着させて貫通
型導体配線部を形成し、前記導電性支持体を形成する銅
箔にエッチングを施して配線パターンを形成する操作を
繰り返すことにより、多層プリント配線基板を製造する
ことができる。
If the conductor layer is replaced with a copper foil and the double-sided printed wiring board is used, the bumps exposed from the synthetic resin-based sheet are formed on a wiring pattern formed on the surface of the double-sided printed wiring board. To form a through-type conductor wiring portion by crimping the tip of the substrate and repeating the operation of etching the copper foil forming the conductive support to form a wiring pattern, thereby manufacturing a multilayer printed wiring board. it can.

【0005】前記公報記載の製造方法により得られる多
層プリント配線基板では、前記導電性支持体から形成さ
れた配線パターンに、BGA(Ball Grid A
rray)やCSP(Chip Size/Scale
Package)と呼ばれる半導体パッケージ等の電
子部品も実装することが充分可能な、高密度の配線パタ
ーンを得ることができる。
In a multilayer printed wiring board obtained by the manufacturing method described in the above-mentioned publication, a BGA (Ball Grid A) is added to a wiring pattern formed from the conductive support.
(rray) and CSP (Chip Size / Scale)
A high-density wiring pattern capable of sufficiently mounting electronic components such as a semiconductor package called “Package” can be obtained.

【0006】しかしながら、前記バンプは前記合成樹脂
系シートを貫通することができる程度の径を必要とする
ので、該バンプが形成されている銅箔等にエッチングに
より配線パターンを形成する際に、前記配線パターンの
ピッチが該バンプ径に規制され、さらに高密度の配線パ
ターンを形成することが難しい。
However, the bumps need to have a diameter enough to penetrate the synthetic resin sheet. Therefore, when forming a wiring pattern by etching on a copper foil or the like on which the bumps are formed, the bumps are required. The pitch of the wiring pattern is restricted by the bump diameter, and it is difficult to form a wiring pattern with higher density.

【0007】また、前記BGAやCSP等の電子部品を
さらに高密度の配線パターンに実装するときに、より接
続信頼性の高い多層プリント配線基板が求められてい
る。
Further, there is a need for a multilayer printed wiring board having higher connection reliability when mounting the electronic components such as the BGA and the CSP on a wiring pattern having a higher density.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、かかる事情
に鑑み、さらに配線パターンを高密度化することができ
るとともに、BGAやCSPと呼ばれる半導体パッケー
ジ等の電子部品を実装したときに、さらに高い接続信頼
性を得ることができるプリント配線基板の製造方法を提
供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the foregoing, the present invention can further increase the density of a wiring pattern, and can achieve higher wiring patterns when an electronic component such as a semiconductor package called BGA or CSP is mounted. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a printed wiring board that can obtain connection reliability.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、本発明の多層プリント配線基板の製造方法は、最
外層の配線層が第1の絶縁体層を介して相隣り合う配線
層と該第1の絶縁体層を貫通するバンプにより接続され
ている多層配線基板の表面で、該配線層の少なくとも一
部を剥離して該バンプの基部の一部を露出せしめる工程
と、該バンプの基部が露出せしめられている配線層の上
に合成樹脂からなる第2の絶縁体層を形成する工程と、
該第2の絶縁体層に該バンプの基部を露出する穴部を形
成する工程と、該第2の絶縁体層上及び該穴部にメッキ
を施して、該第2の絶縁体層上に施されたメッキにより
第1の導電体層を形成すると共に、該穴部に施されたメ
ッキにより第1の導電体層と該バンプの基部とを接続す
るビアを形成する工程と、第1の導電体層にエッチング
を施して所定の配線パターンを形成する工程とを備える
ことを特徴とする。
In order to achieve the above object, a method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention is characterized in that an outermost wiring layer is formed with an adjacent wiring layer via a first insulator layer. A step of exfoliating at least a part of the wiring layer to expose a part of a base of the bump on a surface of the multilayer wiring board connected by the bump penetrating the first insulator layer; Forming a second insulator layer made of a synthetic resin on the wiring layer whose base is exposed;
Forming a hole in the second insulator layer to expose the base of the bump; plating the second insulator layer and the hole to form a hole on the second insulator layer; Forming a first conductor layer by the applied plating, and forming a via connecting the first conductor layer and the base of the bump by the plating applied to the hole; Forming a predetermined wiring pattern by etching the conductor layer.

【0010】本発明の製造方法によれば、まず、前記多
層配線基板の最外層の配線層の一部が剥離されることに
より前記バンプの基部が露出される。そこで、前記多層
配線基板に積層された第2の絶縁体層に前記バンプの基
部を露出する穴部を形成して、該第2の絶縁体層上及び
穴部にメッキを施すことにより、該第2の絶縁体層上に
形成された第1の導電体層が、前記穴部に施されたメッ
キにより形成されたビアを介して、前記バンプに接続さ
れる。
According to the manufacturing method of the present invention, first, a part of the outermost wiring layer of the multilayer wiring board is peeled off to expose the base of the bump. Therefore, by forming a hole exposing the base of the bump in the second insulator layer laminated on the multilayer wiring board, and plating the hole on the second insulator layer, A first conductor layer formed on a second insulator layer is connected to the bump via a via formed in the hole by plating.

【0011】従って、前記第1の導電体層にエッチング
を施して配線パターンを形成する際に、バンプ径に規制
されることなく、高密度化された配線パターンを形成す
ることができる。また、前記穴部に施されたメッキと前
記バンプとの間では大きな接着強度が得られるので、第
1の導電体層にエッチングを施して形成される配線パタ
ーンは、前記ビアを介して接続されることにより、前記
バンプとの間で優れた接続信頼性を得ることができる。
Therefore, when the first conductor layer is etched to form a wiring pattern, a wiring pattern having a high density can be formed without being restricted by the bump diameter. In addition, since a large adhesive strength is obtained between the plating applied to the hole and the bump, a wiring pattern formed by etching the first conductive layer is connected through the via. Thereby, excellent connection reliability with the bump can be obtained.

【0012】本発明の製造方法において、前記多層配線
基板に積層される第2の絶縁体層は、光硬化性樹脂層で
もよく、非光硬化性樹脂層でもよい。前記第2の絶縁体
層が光硬化性樹脂層からなるときには、該光硬化性樹脂
層の表面に、前記バンプの基部が露出せしめられる部分
を被覆するフォトレジストを形成する。そして、前記フ
ォトレジストをマスクとして前記光硬化性樹脂層を露光
させて硬化せしめたのち、前記光硬化性樹脂の未露光部
分を除去して、前記バンプの基部を露出する穴部を形成
する。また、前記絶縁体層が非光硬化性樹脂層からなる
ときには、前記非光硬化性樹脂層の表面にレーザ光を照
射して前記バンプの基部を露出する穴部を形成する。
In the manufacturing method of the present invention, the second insulator layer laminated on the multilayer wiring board may be a photo-curable resin layer or a non-photo-curable resin layer. When the second insulator layer is made of a photocurable resin layer, a photoresist is formed on the surface of the photocurable resin layer so as to cover a portion where the base of the bump is exposed. Then, after exposing and curing the photocurable resin layer using the photoresist as a mask, an unexposed portion of the photocurable resin is removed to form a hole exposing a base of the bump. Further, when the insulator layer is made of a non-light-curable resin layer, the surface of the non-light-curable resin layer is irradiated with laser light to form a hole exposing a base of the bump.

【0013】前記非光硬化性樹脂層は、前記多層配線基
板に積層される面と反対側の面に第2の導電体層を備え
るものであってもよい。ただし、この場合には、第2の
導電体層にレーザ光を照射すると反射されるので、第2
の導電体層にエッチングを施して、前記バンプの基部が
露出せしめられる部分の第2の導電体層を剥離し、第2
の導電体層が剥離された部分の前記非光硬化性樹脂層に
レーザ光を照射して前記穴部を形成する。または、第2
の導電体層に酸化処理を施して、黒色の酸化被膜を形成
し、前記バンプの基部が露出せしめられる部分に前記酸
化被膜を介してレーザ光を照射して前記穴部を形成す
る。
The non-photocurable resin layer may include a second conductor layer on a surface opposite to a surface laminated on the multilayer wiring board. However, in this case, when the second conductive layer is irradiated with the laser beam, the laser beam is reflected.
The conductive layer is etched to remove the portion of the second conductive layer where the base of the bump is exposed,
The hole is formed by irradiating the non-light-curable resin layer at a portion where the conductive layer has been peeled off with laser light. Or the second
The conductor layer is subjected to an oxidation treatment to form a black oxide film, and a portion where the base of the bump is exposed is irradiated with laser light through the oxide film to form the hole.

【0014】前記非光硬化性樹脂層が前記第2の導電体
層を備えるときには、前記穴部の形成に続いて、前記絶
縁体層上の第2の導電体層上及び該穴部にメッキを施し
て、第2の導電体層上に施されたメッキにより第1の導
電体層を形成すると共に、該穴部に施されたメッキによ
り第1の導電体層と該バンプの基部とを接続するビアを
形成する。そして、前記第1及び第2の両導電体層にエ
ッチングを施して所定の配線パターンを形成する。
When the non-photocurable resin layer includes the second conductive layer, plating is performed on the second conductive layer on the insulating layer and on the hole following the formation of the hole. To form a first conductor layer by plating on the second conductor layer, and to connect the first conductor layer and the base of the bump by plating on the hole. Form vias to be connected. Then, the first and second conductor layers are etched to form a predetermined wiring pattern.

【0015】前記のように、前記穴部に施されたメッキ
と前記バンプとの間では大きな接着強度が得られるの
で、第1の導電体層は前記のように前記ビアを介して接
続されることにより前記バンプとの間で優れた接続信頼
性を得ることができ、第2の導電体層もまた積層されて
いる第1の導電体層を介して前記バンプとの間で優れた
接続信頼性を得ることができる。
As described above, since a large adhesive strength is obtained between the plating applied to the hole and the bump, the first conductor layer is connected via the via as described above. Thereby, excellent connection reliability with the bump can be obtained, and excellent connection reliability with the bump via the first conductor layer on which the second conductor layer is also laminated. Sex can be obtained.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】次に、添付の図面を参照しながら
本発明の実施の形態についてさらに詳しく説明する。図
1は本発明の製造方法に用いる多層配線基板の一構成例
を示す説明的断面図であり、図2は図1示の多層配線基
板の製造方法を示す説明的断面図である。図3乃至図7
は本実施形態の製造方法の第1の態様の工程を示す説明
的断面図であり、図8乃至図11は本実施形態の製造方
法の第2の態様の工程を示す説明的断面図である。
Next, embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is an explanatory sectional view showing one configuration example of a multilayer wiring board used in the manufacturing method of the present invention, and FIG. 2 is an explanatory sectional view showing a manufacturing method of the multilayer wiring board shown in FIG. 3 to 7
Is an explanatory sectional view showing a step of a first aspect of the manufacturing method of the present embodiment, and FIGS. 8 to 11 are explanatory sectional views showing steps of a second aspect of the manufacturing method of the present embodiment. .

【0017】まず、図1(a)を参照して、本実施形態
に用いる多層配線基板1について説明する。図1(a)
示の多層配線基板1は、表裏両面に配線層2が設けら
れ、配線層2,2がインターステシャルビアホール3に
より接続されているベース基板4をコアとして構成され
ている。多層配線基板1は、ベース基板4にプリプレグ
等の合成樹脂系シートからなる絶縁体層5を積層し、絶
縁体層5の表面に形成された配線層6がバンプ7を介し
てベース基板4の配線層2に接続された4層構成となっ
ている。
First, a multilayer wiring board 1 used in the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 1 (a)
The illustrated multilayer wiring board 1 has wiring layers 2 provided on both front and back surfaces, and is configured with a base substrate 4 in which the wiring layers 2 and 2 are connected by interstitial via holes 3 as a core. In the multilayer wiring board 1, an insulating layer 5 made of a synthetic resin sheet such as a prepreg is laminated on a base substrate 4, and a wiring layer 6 formed on the surface of the insulating layer 5 is It has a four-layer configuration connected to the wiring layer 2.

【0018】ベース基板4は、例えば300μm厚さの
ガラスエポキシ樹脂等からなる絶縁体層であり、配線層
2は例えば厚さ18μmの銅箔により形成されている。
また、インターステシャルビアホール3は、例えば、
0.25mmの径に形成され、内部には導電性ペースト
が充填され、乾燥されているか、または内部にメッキが
施されている。
The base substrate 4 is an insulating layer made of glass epoxy resin or the like having a thickness of, for example, 300 μm, and the wiring layer 2 is made of, for example, a copper foil having a thickness of 18 μm.
The interstitial via hole 3 is, for example,
It has a diameter of 0.25 mm, is filled with a conductive paste, is dried, or is plated inside.

【0019】多層配線基板1は、次の様にして製造する
ことができる。まず、図2(a)示のように、例えば厚
さ18μmの銅箔等の導電性支持体8上の所定の位置
に、複数のバンプ7を形成する。前記バンプ7は、導電
性支持体8に、所定の位置に貫通孔を備えるメタルマス
クを積層し、該メタルマスクの上から銀ペースト等の導
電性ペーストをスクリーン印刷して、乾燥することによ
り形成される。
The multilayer wiring board 1 can be manufactured as follows. First, as shown in FIG. 2A, a plurality of bumps 7 are formed at predetermined positions on a conductive support 8 such as a 18-μm-thick copper foil. The bumps 7 are formed by laminating a metal mask having a through hole at a predetermined position on the conductive support 8, screen-printing a conductive paste such as a silver paste on the metal mask, and drying the paste. Is done.

【0020】次に、図2(b)示のように、バンプ7が
形成された導電性支持体8に前記合成樹脂系シート5を
積層し、加圧して、バンプ7を合成樹脂系シート5に貫
通させ、その先端を合成樹脂系シート5から露出せしめ
る。合成樹脂系シート5は、60μmの厚さを備えてお
り、バンプ7はかかる合成樹脂系シート5を貫通するた
めに、例えば導電性支持体8に接触する部分の径が0.
2mm、高さが0.1mmの大きさとなるように形成さ
れる。
Next, as shown in FIG. 2B, the synthetic resin sheet 5 is laminated on the conductive support 8 on which the bumps 7 are formed, and the bumps 7 are pressed to form the bumps 7 on the synthetic resin sheet 5. And the tip thereof is exposed from the synthetic resin sheet 5. The synthetic resin sheet 5 has a thickness of 60 μm. In order for the bumps 7 to penetrate the synthetic resin sheet 5, for example, the diameter of a portion that comes into contact with the conductive support 8 is 0.1 μm.
It is formed so as to have a size of 2 mm and a height of 0.1 mm.

【0021】次に、図2(c)示のように、合成樹脂系
シート5が積層された導電性支持体8を、バンプ7が合
成樹脂系シート5から露出している面で、前記構成を備
えるベース基板4の両面に圧着する。次いで、合成樹脂
系シート5が積層された導電性支持体8が両面に圧着さ
れたベース基板4を多層プレス機に装着して、真空中に
て加熱プレスすることにより一体化する。
Next, as shown in FIG. 2 (c), the conductive support 8 on which the synthetic resin sheet 5 is laminated is placed on the surface where the bumps 7 are exposed from the synthetic resin sheet 5 as described above. Is pressed on both sides of the base substrate 4 having Next, the base substrate 4 on which the conductive support 8 on which the synthetic resin-based sheet 5 is laminated is pressure-bonded to both surfaces is mounted on a multilayer press, and is integrated by being heated and pressed in a vacuum.

【0022】次に、図2(d)示のように、ベース基板
4に合成樹脂系シート5を介して一体化された導電性支
持体8にエッチングを施すことにより配線層6が形成さ
れ、図1(a)示の多層配線基板1が得られる。尚、図
1(a)は図2(d)の多層配線基板1の要部拡大図に
相当する。
Next, as shown in FIG. 2D, a wiring layer 6 is formed by etching a conductive support 8 integrated with the base substrate 4 via a synthetic resin sheet 5. The multilayer wiring board 1 shown in FIG. 1A is obtained. FIG. 1A is an enlarged view of a main part of the multilayer wiring board 1 of FIG. 2D.

【0023】次に、図1(b)と、図3乃至図7を参照
して、多層配線基板1を用いる本実施形態の多層プリン
ト配線基板の製造方法の第1の態様について説明する。
Next, with reference to FIG. 1B and FIGS. 3 to 7, a first mode of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present embodiment using the multilayer wiring board 1 will be described.

【0024】本実施形態の第1の態様では、まず多層配
線基板1の最外層の配線層6にエッチングを施すことに
より配線層6の一部を剥離し、図1(b)示の様に、バ
ンプ7の基部7aを露出せしめる。このとき、配線層6
は剥離されていない部分によりバンプ7との接続が確保
されている。前記配線層6の一部を剥離する操作は、図
2(d)示の導電性支持体8から配線層6を形成するエ
ッチングと同時に行ってもよい。
In the first embodiment of the present embodiment, first, the outermost wiring layer 6 of the multilayer wiring board 1 is etched to remove a part of the wiring layer 6, and as shown in FIG. Then, the base 7a of the bump 7 is exposed. At this time, the wiring layer 6
The connection with the bump 7 is secured by the part which is not peeled off. The operation of peeling a part of the wiring layer 6 may be performed simultaneously with the etching for forming the wiring layer 6 from the conductive support 8 shown in FIG.

【0025】次に、図3示のように、多層配線基板1の
表裏両面のバンプ7の基部7aが露出されている配線層
6の上に、光硬化性樹脂層9を形成する。光硬化性樹脂
層9を形成する光硬化性樹脂としては、2量化反応樹
脂、カチオン重合樹脂、アニオン重合樹脂等の感光性エ
ポキシ樹脂を用いることができる。このような光硬化性
樹脂として、例えば株式会社タムラ製作所製ソルダーレ
ジスト(商品名:FINDEL DSR−2200M
L)、チバ・スペシャリティ・ケミカルズ株式会社製プ
ロビマー(商品名)等を挙げることができる。前記に例
示した光硬化性樹脂は、光硬化性と共に熱硬化性も兼ね
備えている。前記光硬化性樹脂は、スクリーン印刷、カ
ーテンコート、スプレーコート等の方法により多層配線
基板1に塗布し、乾燥することにより、例えば厚さ60
μmの光硬化性樹脂層9を形成することができる。
Next, as shown in FIG. 3, a photocurable resin layer 9 is formed on the wiring layer 6 where the bases 7a of the bumps 7 on both surfaces of the multilayer wiring board 1 are exposed. As the photocurable resin for forming the photocurable resin layer 9, a photosensitive epoxy resin such as a dimerization reaction resin, a cation polymerization resin, or an anion polymerization resin can be used. As such a photocurable resin, for example, a solder resist manufactured by Tamura Corporation (trade name: FINDEL DSR-2200M)
L), Provimer (trade name) manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd., and the like. The photocurable resin exemplified above has both thermosetting and photocurable properties. The photocurable resin is applied to the multilayer wiring board 1 by a method such as screen printing, curtain coating, spray coating, and the like, and dried to a thickness of, for example, 60 nm.
A photocurable resin layer 9 of μm can be formed.

【0026】次に、図4示のように、多層配線基板1の
バンプ7の基部7aが露出されている部分を被覆するよ
うにフォトレジスト10を設け、フォトレジスト10を
マスクとして光硬化性樹脂層9に紫外線を照射し、露光
せしめる。すると、前記光硬化性樹脂はフォトレジスト
10の背後に未露光の光硬化性樹脂層9を残し、前記紫
外線に露光した部分が硬化して絶縁体層9aが形成され
る。
Next, as shown in FIG. 4, a photoresist 10 is provided so as to cover a portion where the base 7a of the bump 7 of the multilayer wiring board 1 is exposed. The layer 9 is exposed to ultraviolet light to be exposed. Then, the photocurable resin leaves an unexposed photocurable resin layer 9 behind the photoresist 10, and the portion exposed to the ultraviolet rays is cured to form an insulator layer 9a.

【0027】前記フォトレジスト10及びその背後の未
露光の光硬化性樹脂層9は、次いで1%−炭酸ナトリウ
ム水溶液で現像することにより除去され、図5に示すよ
うに、バンプ7の基部7aを露出する穴部11が形成さ
れる。穴部11は、バンプ7の基部7aを露出させるた
めに十分な大きさであればよく、例えば、開口部の径が
0.1mmになるように形成される。このとき、所望に
よりスルーホールを形成する貫通孔12を穿設してもよ
い。貫通孔12は、ドリル、レーザ、電子ビーム等によ
り、例えば0.3mmの径に形成される。
The photoresist 10 and the unexposed photocurable resin layer 9 behind the photoresist 10 are then removed by developing with a 1% aqueous solution of sodium carbonate. As shown in FIG. 5, the base 7a of the bump 7 is removed. An exposed hole 11 is formed. The hole 11 only needs to be large enough to expose the base 7a of the bump 7, and is formed, for example, so that the diameter of the opening is 0.1 mm. At this time, if necessary, a through hole 12 for forming a through hole may be formed. The through hole 12 is formed to have a diameter of, for example, 0.3 mm by a drill, a laser, an electron beam, or the like.

【0028】次に、図6示のように、光硬化性樹脂から
なる絶縁体層9aの表面に、メッキを施して、例えば厚
さ18μmの導電体層13を形成する。前記メッキは同
時に穴部11及び貫通孔12内にも施され、穴部11に
導電体層13とバンプ7とを接続するビア11a、貫通
孔12に導電体層13,13を接続するスルーホール1
2aが形成される。図6では、ビア11aは配線層6に
接触していない構成を示しているが、前記導電体層13
はバンプ7を介して配線層6と導通するものであるの
で、ビア11aは配線層6に直接接触していてもよい。
Next, as shown in FIG. 6, the surface of the insulator layer 9a made of a photocurable resin is plated to form a conductor layer 13 having a thickness of, for example, 18 μm. The plating is simultaneously applied to the hole 11 and the through hole 12, and the via 11 a connects the conductor layer 13 and the bump 7 to the hole 11, and the through hole connects the conductor layers 13, 13 to the through hole 12. 1
2a is formed. FIG. 6 shows a configuration in which the via 11 a is not in contact with the wiring layer 6.
Are electrically connected to the wiring layer 6 via the bumps 7. Therefore, the via 11 a may be in direct contact with the wiring layer 6.

【0029】前記メッキは、絶縁体層9aの表面を洗浄
し、貫通孔12を穿設した際のバリを除去し、貫通孔1
2内を研磨材で研磨、水洗した後、デスミア処理、前処
理、無電解メッキ処理、電解メッキ処理の順で行う。
In the plating, the surface of the insulator layer 9a is cleaned to remove burrs when the through holes 12 are formed, and the through holes 1 are removed.
After polishing the inside of the 2 with an abrasive and washing with water, a desmear treatment, a pretreatment, an electroless plating treatment, and an electrolytic plating treatment are performed in this order.

【0030】前記デスミア処理は、前記貫通孔12を穿
設した際の切削熱により溶融した樹脂の切粉が貫通孔1
2の内壁に付着、固化してできたスミアを除去する処理
である。前記デスミア処理は、絶縁体層9a、穴部11
及び貫通孔12が形成された多層配線基板1を膨潤液に
浸漬した後、湯洗し、過マンガン酸カリウム溶液または
過マンガン酸ナトリウム溶液に前記スミアを溶解させて
除去する。そして、水洗後、付着した二酸化マンガンを
除去する。
In the desmear treatment, the resin chips melted by the cutting heat generated when the through hole 12 is formed
This is a process for removing smears formed and adhered to the inner wall of No. 2. The desmear treatment is performed by the insulating layer 9a, the hole 11
After immersing the multilayer wiring board 1 in which the through-holes 12 are formed in a swelling solution, washing with hot water and dissolving the smear in a potassium permanganate solution or a sodium permanganate solution to remove the smear. Then, after washing with water, the adhered manganese dioxide is removed.

【0031】前記デスミア処理に続く前処理は、脱脂剤
で絶縁体層9a及び穴部11の表面と貫通孔12内とを
脱脂、洗浄した後、湯洗し、ソフトエッチング剤(塩化
第二銅溶液)で処理し、絶縁体層9a、穴部11及び貫
通孔12の表面の酸化被膜を除去する。次いで、プリデ
ィップにより前記エッチング剤の残滓(スマット)を除
去する。そして、パラジウム化合物溶液で処理し、無電
解メッキの核を生成させるためのパラジウム化合物を付
着させる。
In the pretreatment subsequent to the desmear treatment, the surfaces of the insulating layer 9a and the holes 11 and the inside of the through holes 12 are degreased and washed with a degreasing agent, washed with hot water, and then with a soft etching agent (cupric chloride). Solution) to remove the oxide film on the surfaces of the insulator layer 9a, the holes 11, and the through holes 12. Next, the residue (smut) of the etching agent is removed by pre-dip. Then, a treatment with a palladium compound solution is performed to attach a palladium compound for generating nuclei for electroless plating.

【0032】前記前処理に続く無電解メッキは、初めに
還元剤により前記パラジウム化合物を還元して、無電解
メッキの核となるパラジウムを生成させる。次に、前記
還元剤を水洗、除去したのち、絶縁体層9a、穴部11
及び貫通孔12が形成された多層配線基板1を無電解メ
ッキ浴に浸漬する。前記無電解メッキ浴は、硫酸銅、ホ
ルマリン、水酸化ナトリウム、キレート剤、界面活性剤
からなり、ホルマリンにより硫酸銅を還元して銅を析出
させる。この結果、絶縁体層9a、穴部11及び貫通孔
12の表面に銅メッキ層が形成される。銅メッキ層が形
成された多層配線基板1は、水洗され、前記無電解メッ
キ浴の残滓が除去される。
In the electroless plating subsequent to the pretreatment, the palladium compound is first reduced by a reducing agent to generate palladium which is a core of the electroless plating. Next, after the reducing agent is washed with water and removed, the insulating layer 9a and the hole 11 are removed.
Then, the multilayer wiring board 1 in which the through holes 12 are formed is immersed in an electroless plating bath. The electroless plating bath includes copper sulfate, formalin, sodium hydroxide, a chelating agent, and a surfactant, and reduces copper sulfate with formalin to precipitate copper. As a result, a copper plating layer is formed on the surfaces of the insulator layer 9a, the holes 11, and the through holes 12. The multilayer wiring board 1 on which the copper plating layer is formed is washed with water to remove the residue of the electroless plating bath.

【0033】前記無電解メッキに続く電解メッキは、前
記銅メッキ層の厚付けのために行うものである。前記電
解メッキは、銅メッキ層が形成された多層配線基板1を
電解メッキ浴に浸漬し、前記銅メッキ層を陰極とし、含
リン銅からなる電極板を陽極として、両極間に通電する
ことにより行う。前記電解メッキ浴は、硫酸銅、硫酸、
塩素イオン、添加剤を含むものが用いられる。前記電解
メッキにより、前記導電体層13、ビア11a、スルー
ホール12aが形成される。
The electrolytic plating subsequent to the electroless plating is performed for thickening the copper plating layer. The electrolytic plating is performed by immersing the multilayer wiring board 1 on which the copper plating layer is formed in an electrolytic plating bath, using the copper plating layer as a cathode, and using an electrode plate made of phosphorous copper as an anode, and applying a current between both electrodes. Do. The electrolytic plating bath includes copper sulfate, sulfuric acid,
Those containing chlorine ions and additives are used. The conductor layer 13, the via 11a, and the through hole 12a are formed by the electrolytic plating.

【0034】前記導電体層13、ビア11a、スルーホ
ール12aが形成された多層配線基板1は水洗され、前
記電解メッキ浴の残滓が除去される。
The multilayer wiring board 1 on which the conductor layer 13, the via 11a and the through hole 12a are formed is washed with water to remove the residue of the electrolytic plating bath.

【0035】次に、導電体層13にエッチングを施すこ
とにより、図7示のように、配線パターン14を備える
多層プリント配線基板15が得られる。前記エッチング
は、例えば、次の様にして行うことができる。
Next, by etching the conductor layer 13, a multilayer printed wiring board 15 having a wiring pattern 14 is obtained as shown in FIG. The etching can be performed, for example, as follows.

【0036】まず、エッチングレジスト膜となる感光性
フィルム(ドライフィルム)を貼り付け、導電体層13
の配線パターン14として必要な部分を被覆すると共
に、ビア11a及びスルーホール12aの開口部を閉塞
する。次に、製造用フィルムを用いて露光、現像し、配
線パターン14として必要な部分と、ビア11a及びス
ルーホール12aの開口部とだけにエッチングレジスト
膜を残す。そして、エッチング液を吹き付けると、前記
エッチングレジスト膜で被覆されていない部分の導電体
層13が溶解除去され、配線パターン14が形成され
る。このとき、ビア11a及びスルーホール12aは、
前記エッチングレジスト膜で被覆されているので、前記
エッチング液により溶解除去されず、そのまま残すこと
ができる。
First, a photosensitive film (dry film) serving as an etching resist film is adhered to the conductive layer 13.
And the openings of the vias 11a and the through holes 12a are closed. Next, exposure and development are performed using a manufacturing film, and an etching resist film is left only in a portion necessary for the wiring pattern 14 and an opening of the via 11a and the through hole 12a. Then, when the etchant is sprayed, the portion of the conductor layer 13 not covered with the etching resist film is dissolved and removed, and the wiring pattern 14 is formed. At this time, the via 11a and the through hole 12a
Since it is covered with the etching resist film, it can be left as it is without being dissolved and removed by the etching solution.

【0037】図7示の多層プリント配線基板15では、
ビア11aに接続するランド径を、配線層6においてバ
ンプ7に接続するランド径よりも小さくすることがで
き、配線パターン14を高密度化することができた。ま
た、配線パターン14は前記メッキにより形成されたビ
ア11aによりバンプ7に接続されているので、配線層
6との間で優れた接続信頼性を得ることができた。
In the multilayer printed wiring board 15 shown in FIG.
The diameter of the land connected to the via 11a could be made smaller than the diameter of the land connected to the bump 7 in the wiring layer 6, and the density of the wiring pattern 14 could be increased. Further, since the wiring pattern 14 is connected to the bump 7 by the via 11a formed by the plating, excellent connection reliability with the wiring layer 6 can be obtained.

【0038】次に、図1(b)と、図8乃至図11を参
照して、多層配線基板1を用いる本実施形態の多層プリ
ント配線基板の製造方法の第2の態様について説明す
る。
Next, with reference to FIG. 1B and FIGS. 8 to 11, a second embodiment of the method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present embodiment using the multilayer wiring board 1 will be described.

【0039】本実施形態の第2の態様では、まず、前記
第1の態様と同一の操作により多層配線基板1の最外層
の配線層6の一部を剥離し、図1(b)示の様に、バン
プ7の基部7aを露出せしめる。このとき、配線層6は
剥離されていない部分によりバンプ7との接続が確保さ
れている。
In the second mode of the present embodiment, first, a part of the outermost wiring layer 6 of the multilayer wiring board 1 is peeled off by the same operation as in the first mode, and as shown in FIG. Thus, the base 7a of the bump 7 is exposed. At this time, the connection between the wiring layer 6 and the bump 7 is ensured by the portion that has not been peeled.

【0040】次に、図8示のように、多層配線基板1の
表裏両面のバンプ7の基部7aが露出されている配線層
6の上に、合成樹脂からなる絶縁体層16を形成する。
本実施形態の絶縁体層16を形成する合成樹脂は非光硬
化性であり、絶縁体層16は多層配線基板1に積層され
る面と反対側の面に、導電体層17を備えている。本実
施形態では、市販の樹脂付き銅箔を樹脂の側で多層配線
基板1に圧着することにより、多層配線基板1に絶縁体
層16、導電体層17が積層された構成とすることがで
きる。
Next, as shown in FIG. 8, an insulating layer 16 made of a synthetic resin is formed on the wiring layer 6 where the bases 7a of the bumps 7 on both surfaces of the multilayer wiring board 1 are exposed.
The synthetic resin forming the insulator layer 16 of the present embodiment is non-photocurable, and the insulator layer 16 has the conductor layer 17 on the surface opposite to the surface laminated on the multilayer wiring board 1. . In the present embodiment, a commercially available resin-coated copper foil is pressure-bonded to the multilayer wiring board 1 on the resin side, so that the multilayer wiring board 1 can be configured to have the insulator layer 16 and the conductor layer 17 laminated thereon. .

【0041】次に、図9示のように、導電体層17にエ
ッチングを施して、バンプ7の基部7aが露出せしめら
れる部分の導電体層17を剥離し、絶縁体層16が露出
された露出部16aを形成する。そして、絶縁体層16
の露出部16aにレーザ光を照射して、露出部16aの
下方の絶縁体層16を焼却する。このとき、導電体層1
7を剥離しないと、前記レーザ光が導電体層17に反射
され、絶縁体層16を焼却することができない。
Next, as shown in FIG. 9, the conductive layer 17 was etched to remove the portion of the conductive layer 17 where the base 7a of the bump 7 was exposed, and the insulating layer 16 was exposed. The exposed part 16a is formed. Then, the insulator layer 16
The exposed portion 16a is irradiated with a laser beam to incinerate the insulator layer 16 below the exposed portion 16a. At this time, the conductor layer 1
If the layer 7 is not peeled off, the laser beam is reflected on the conductor layer 17 and the insulator layer 16 cannot be burned.

【0042】この結果、図10に示すように、バンプ7
の基部7aを露出する穴部11が形成される。穴部11
は、バンプ7の基部7aを露出させるために十分な大き
さであればよく、例えば、開口部の径が0.1mmにな
るように形成される。このとき、所望によりスルーホー
ルを形成する貫通孔12を穿設してもよい。貫通孔12
は、ドリル、レーザ、電子ビーム等により、例えば0.
3mmの径に形成される。
As a result, as shown in FIG.
A hole 11 exposing the base 7a is formed. Hole 11
May be large enough to expose the base 7a of the bump 7, and is formed, for example, so that the diameter of the opening is 0.1 mm. At this time, if necessary, a through hole 12 for forming a through hole may be formed. Through hole 12
Can be measured, for example, with a drill, laser, electron beam, or the like.
It is formed to a diameter of 3 mm.

【0043】次に、絶縁体層16の上に積層された導電
体層17の表面に、前記第1の態様と全く同一の方法に
よりメッキを施して、図11に仮想線で示す導電体層1
3を形成する。導電体層13は、例えば18μmの厚さ
に形成される。前記メッキは同時に穴部11及び貫通孔
12内にも施され、穴部11に導電体層13とバンプ7
とを接続するビア11a、貫通孔12に導電体層13,
13を接続するスルーホール12aが形成される。図1
1では、ビア11aは配線層6に接触していない構成を
示しているが、前記導電体層13はバンプ7を介して配
線層6と導通するものであるので、ビア11aは配線層
6に直接接触していてもよい。
Next, the surface of the conductor layer 17 laminated on the insulator layer 16 is plated by exactly the same method as in the first embodiment, and the conductor layer shown by the phantom line in FIG. 1
Form 3 The conductor layer 13 is formed to a thickness of, for example, 18 μm. The plating is simultaneously performed in the hole 11 and the through hole 12, and the conductor layer 13 and the bump 7 are formed in the hole 11.
11a, the conductor layer 13 in the through hole 12,
13 are formed. FIG.
1 shows a configuration in which the via 11a is not in contact with the wiring layer 6, but since the conductor layer 13 is electrically connected to the wiring layer 6 via the bump 7, the via 11a is connected to the wiring layer 6. It may be in direct contact.

【0044】次に、導電体層13及び導電体層17に前
記第1の態様と全く同一の方法によりエッチングを施す
ことにより、図11示のように、配線パターン14を備
える多層プリント配線基板18が得られる。
Next, the conductor layer 13 and the conductor layer 17 are subjected to etching in exactly the same manner as in the first embodiment, thereby forming a multilayer printed wiring board 18 having a wiring pattern 14 as shown in FIG. Is obtained.

【0045】本態様では、導電体層17にエッチングを
施して絶縁体層16を露出させた露出部16にレーザ光
を照射するようにしているが、導電体層17に酸化処理
を施して、その表面に黒色の酸化被膜を形成し、該酸化
被膜を介してレーザ光を照射するようにしてもよい。前
記酸化被膜は、黒色であるので、レーザ光の反射を避け
ることができ、導電体層17とその下方の絶縁体層16
とを同時に除去することができる。
In this embodiment, the conductor layer 17 is etched to irradiate the exposed portion 16 where the insulator layer 16 is exposed with laser light. However, the conductor layer 17 is oxidized, A black oxide film may be formed on the surface, and laser light may be irradiated through the oxide film. Since the oxide film is black, reflection of laser light can be avoided, and the conductor layer 17 and the insulator layer 16 thereunder can be prevented.
And can be removed simultaneously.

【0046】前記酸化処理は、例えば、次の様にして行
うことができる。
The oxidation treatment can be performed, for example, as follows.

【0047】まず、前記導電体層17の表面に付着して
いる油分を除去するために、水酸化ナトリウム水溶液で
洗浄し、脱脂を行う。次に、脱脂された導電体層17を
ソフトエッチング剤(過硫酸ナトリウム・硫酸溶液)で
処理し、さらに前記ソフトエッチング剤により形成され
た水酸化物を除去するために硫酸で酸洗する。そして、
酸洗された導電体層17を酸化剤により処理することに
より、黒色の酸化被膜を形成する。前記酸化剤として
は、水酸化ナトリウム、亜塩素酸ナトリウム、リン酸三
ナトリウムの混合溶液等を用いることができる。
First, in order to remove oil adhering to the surface of the conductive layer 17, the conductive layer 17 is washed with an aqueous sodium hydroxide solution and degreased. Next, the degreased conductor layer 17 is treated with a soft etching agent (sodium persulfate / sulfuric acid solution), and further, is pickled with sulfuric acid to remove a hydroxide formed by the soft etching agent. And
By treating the pickled conductor layer 17 with an oxidizing agent, a black oxide film is formed. As the oxidizing agent, a mixed solution of sodium hydroxide, sodium chlorite, trisodium phosphate and the like can be used.

【0048】前記酸化被膜は、前記導電体層17上にメ
ッキを施す際に、ソフトエッチング剤により除去され
る。従って、前記酸化被膜は、前記レーザ光照射後、そ
のまま放置しても何ら不都合はない。
The oxide film is removed by a soft etching agent when plating on the conductor layer 17. Therefore, there is no inconvenience even if the oxide film is left as it is after the laser beam irradiation.

【0049】図11示の多層プリント配線基板18で
は、ビア11aに接続するランド径を、配線層6におい
てバンプ7に接続するランド径よりも小さくすることが
でき、配線パターン14を高密度化することができた。
また、配線パターン14は前記メッキにより形成された
ビア11aによりバンプ7に接続されているので、配線
層6との間で優れた接続信頼性を得ることができ、導電
体層17もまた積層されている配線パターン14を介し
て配線層6との間で優れた接続信頼性を得ることができ
た。
In the multilayer printed wiring board 18 shown in FIG. 11, the land diameter connected to the via 11a can be made smaller than the land diameter connected to the bump 7 in the wiring layer 6, and the wiring pattern 14 can be made denser. I was able to.
Further, since the wiring pattern 14 is connected to the bump 7 by the via 11a formed by the plating, excellent connection reliability with the wiring layer 6 can be obtained, and the conductor layer 17 is also laminated. Excellent connection reliability with the wiring layer 6 can be obtained via the wiring pattern 14 provided.

【0050】尚、本実施形態の第2の態様では、前述の
ように、導電体層17を備える絶縁体層16を多層配線
基板1に積層するようにしているが、絶縁体層16は導
電体層17を備えていなくてもよい。この場合には、絶
縁体層16のバンプ7の基部7aが露出せしめられる部
分に、直接レーザ光を照射して穴部11を形成する。そ
して、前記第1の態様と同一の方法により、導電体層1
3及び配線パターン14を形成することができる。
In the second embodiment of the present embodiment, as described above, the insulator layer 16 having the conductor layer 17 is laminated on the multilayer wiring board 1. The body layer 17 may not be provided. In this case, the hole 11 is formed by directly irradiating the portion of the insulator layer 16 where the base 7a of the bump 7 is exposed with laser light. Then, the conductor layer 1 is formed in the same manner as in the first embodiment.
3 and the wiring pattern 14 can be formed.

【0051】また、本実施形態の各態様で、配線パター
ン14は、耐熱性被覆及び外部環境からの保護のため、
その上に絶縁体インキを塗布し、例えば20μmの厚さ
のレジストを形成することが好ましい。
In each of the embodiments of the present embodiment, the wiring pattern 14 is provided for heat-resistant coating and protection from the external environment.
It is preferable to apply an insulating ink thereon to form a resist having a thickness of, for example, 20 μm.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の製造方法に用いる多層配線基板の一構
成例を示す説明的断面図。
FIG. 1 is an explanatory cross-sectional view showing one configuration example of a multilayer wiring board used in a manufacturing method of the present invention.

【図2】図1示の多層配線基板の製造方法を示す説明的
断面図。
FIG. 2 is an explanatory sectional view showing a method for manufacturing the multilayer wiring board shown in FIG. 1;

【図3】本発明の製造方法の第1の態様の工程を示す説
明的断面図。
FIG. 3 is an explanatory cross-sectional view showing a step of the first embodiment of the manufacturing method of the present invention.

【図4】本発明の製造方法の第1の態様の工程を示す説
明的断面図。
FIG. 4 is an explanatory cross-sectional view showing a step of the first embodiment of the manufacturing method of the present invention.

【図5】本発明の製造方法の第1の態様の工程を示す説
明的断面図。
FIG. 5 is an explanatory sectional view showing a step of the first embodiment of the manufacturing method of the present invention.

【図6】本発明の製造方法の第1の態様の工程を示す説
明的断面図。
FIG. 6 is an explanatory sectional view showing a step of the first embodiment of the manufacturing method of the present invention.

【図7】本発明の製造方法の第1の態様の工程を示す説
明的断面図。
FIG. 7 is an illustrative sectional view showing a step of the first embodiment of the manufacturing method of the present invention.

【図8】本発明の製造方法の第2の態様の工程を示す説
明的断面図。
FIG. 8 is an explanatory sectional view showing a step of the second aspect of the manufacturing method of the present invention.

【図9】本発明の製造方法の第2の態様の工程を示す説
明的断面図。
FIG. 9 is an explanatory sectional view showing a step of the second aspect of the manufacturing method of the present invention.

【図10】本発明の製造方法の第2の態様の工程を示す
説明的断面図。
FIG. 10 is an illustrative sectional view showing a step in the second embodiment of the manufacturing method of the present invention.

【図11】本発明の製造方法の第2の態様の工程を示す
説明的断面図。
FIG. 11 is an explanatory sectional view showing a step of the second aspect of the manufacturing method of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…多層配線基板、 2,6…配線層、 5…第1の絶
縁体層、 7…バンプ、 9…光硬化性樹脂層、 9
a,16…第2の絶縁体層、 10…フォトレジスト、
11…穴部、 13…第1の導電体層、 14…配線
パターン、 17…第2の導電体層。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Multilayer wiring board, 2, 6 ... Wiring layer, 5 ... First insulator layer, 7 ... Bump, 9 ... Photocurable resin layer, 9
a, 16: second insulator layer, 10: photoresist,
11: hole, 13: first conductive layer, 14: wiring pattern, 17: second conductive layer.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤澤 昭二 北海道恵庭市戸磯573−19 クローバー電 子工業株式会社北海道工場内 (72)発明者 小笠原 勝 北海道恵庭市戸磯573−19 クローバー電 子工業株式会社北海道工場内 Fターム(参考) 5E346 AA06 AA12 AA15 AA35 AA38 AA43 BB01 BB16 CC08 CC31 CC51 DD02 DD03 DD12 DD22 DD32 EE02 EE06 EE07 EE33 EE35 EE38 FF03 FF04 FF24 GG01 GG15 GG17 GG19 GG22 GG28 HH07 HH25 HH26  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Shoji Fujisawa 573-19 Toiso, Eniwa-shi, Hokkaido Clover Electronics Co., Ltd. Inside the Hokkaido Plant (72) Inventor Masaru Ogasawara 573-19 Toiso, Eniwa-shi, Hokkaido Clover Electronics Co., Ltd. F-term in the Hokkaido factory (reference)

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】最外層の配線層が第1の絶縁体層を介して
相隣り合う配線層と該第1の絶縁体層を貫通するバンプ
により接続されている多層配線基板の表面で、該配線層
の少なくとも一部を剥離して該バンプの基部の一部を露
出せしめる工程と、 該バンプの基部が露出せしめられている配線層の上に合
成樹脂からなる第2の絶縁体層を形成する工程と、 該第2の絶縁体層に該バンプの基部を露出する穴部を形
成する工程と、 該第2の絶縁体層上及び該穴部にメッキを施して、該第
2の絶縁体層上に施されたメッキにより第1の導電体層
を形成すると共に、該穴部に施されたメッキにより第1
の導電体層と該バンプの基部とを接続するビアを形成す
る工程と、 第1の導電体層にエッチングを施して所定の配線パター
ンを形成する工程とを備えることを特徴とする多層プリ
ント配線基板の製造方法。
An outermost wiring layer connected to an adjacent wiring layer via a first insulator layer by a bump penetrating the first insulator layer; Removing at least a part of the wiring layer to expose a part of the base of the bump; and forming a second insulator layer made of a synthetic resin on the wiring layer where the base of the bump is exposed. Forming a hole exposing the base of the bump in the second insulator layer; plating the second insulator layer and the hole to form the second insulating layer; The first conductor layer is formed by plating on the body layer, and the first conductor layer is formed by plating on the hole.
Forming a via connecting the conductive layer and the base of the bump, and forming a predetermined wiring pattern by etching the first conductive layer. Substrate manufacturing method.
【請求項2】前記第2の絶縁体層は光硬化性樹脂層から
なり、該光硬化性樹脂層の表面に、該バンプの基部が露
出せしめられる部分を被覆するフォトレジストを形成
し、該フォトレジストをマスクとして該光硬化性樹脂層
を露光させて硬化せしめたのち、該光硬化性樹脂の未露
光部分を除去して、前記バンプの基部を露出する穴部を
形成することを特徴とする請求項1記載の多層プリント
配線基板の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the second insulating layer is made of a photocurable resin layer, and a photoresist is formed on a surface of the photocurable resin layer so as to cover a portion where a base of the bump is exposed. After exposing and curing the photocurable resin layer using a photoresist as a mask, the unexposed portion of the photocurable resin is removed to form a hole that exposes the base of the bump. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 1.
【請求項3】前記第2の絶縁体層は非光硬化性樹脂層か
らなり、該非光硬化性樹脂層の表面にレーザ光を照射し
て前記バンプの基部を露出する穴部を形成することを特
徴とする請求項1記載の多層プリント配線基板の製造方
法。
3. The method according to claim 1, wherein the second insulator layer is made of a non-light-curable resin layer, and the surface of the non-light-curable resin layer is irradiated with laser light to form a hole exposing a base of the bump. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein:
【請求項4】前記非光硬化性樹脂層は、前記多層配線基
板に積層される面と反対側の面に第2の導電体層を備
え、第2の導電体層にエッチングを施して、前記バンプ
の基部が露出せしめられる部分の第2の導電体層を剥離
し、第2の導電体層が剥離された部分の前記非光硬化性
樹脂層にレーザ光を照射して前記バンプの基部を露出す
る穴部を形成する工程と、 第2の導電体層上及び該穴部にメッキを施して、第2の
導電体層上に施されたメッキにより第1の導電体層を形
成すると共に、該穴部に施されたメッキにより第1の導
電体層と該バンプの基部とを接続するビアを形成する工
程と、 両導電体層にエッチングを施して所定の配線パターンを
形成する工程とを備えることを特徴とする請求項3記載
の多層プリント配線基板の製造方法。
4. The non-photocurable resin layer includes a second conductor layer on a surface opposite to a surface laminated on the multilayer wiring board, and etching the second conductor layer, The second conductive layer at a portion where the base of the bump is exposed is peeled off, and the non-light-curable resin layer at the portion where the second conductive layer is peeled off is irradiated with laser light to form the base of the bump. Forming a hole that exposes the first conductive layer; and plating the second conductive layer and the hole to form a first conductive layer by plating performed on the second conductive layer. Forming a via connecting the first conductive layer and the base of the bump by plating applied to the hole; and forming a predetermined wiring pattern by etching both conductive layers. 4. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 3, comprising:
【請求項5】前記非光硬化性樹脂層は、前記多層配線基
板に積層される面と反対側の面に第2の導電体層を備
え、第2の導電体層に酸化処理を施して、黒色の酸化被
膜を形成し、前記バンプの基部が露出せしめられる部分
に該酸化被膜を介してレーザ光を照射して前記バンプの
基部を露出する穴部を形成する工程と、 第2の導電体層上及び該穴部にメッキを施して、第2の
導電体層上に施されたメッキにより第1の導電体層を形
成すると共に、該穴部に施されたメッキにより第1の導
電体層と該バンプの基部とを接続するビアを形成する工
程と、 両導電体層にエッチングを施して所定の配線パターンを
形成する工程とを備えることを特徴とする請求項3記載
の多層プリント配線基板の製造方法。
5. The non-photocurable resin layer includes a second conductor layer on a surface opposite to a surface laminated on the multilayer wiring board, and oxidizes the second conductor layer. Forming a black oxide film, irradiating a laser beam through the oxide film on a portion where the base of the bump is exposed, and forming a hole exposing the base of the bump; The first conductor layer is formed by plating on the body layer and the hole, and the first conductor layer is formed by plating on the second conductor layer, and the first conductor is formed by plating on the hole. 4. The multi-layer printing method according to claim 3, further comprising a step of forming a via connecting the body layer and the base of the bump, and a step of forming a predetermined wiring pattern by etching both conductor layers. Manufacturing method of wiring board.
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