JP2000182872A - Chip inductor and manufacture thereof - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、携帯電話等の電子
機器に使用されるチップインダクタおよびその製造方法
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip inductor used for an electronic device such as a mobile phone and a method for manufacturing the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、携帯電話等の電子機器の小型化、
高集積化および高周波化に伴い、小型で表面実装可能な
チップ型のインダクタンス素子、即ちチップインダクタ
に対する需要が急増している。2. Description of the Related Art In recent years, miniaturization of electronic devices such as cellular phones,
With the increase in integration and frequency, demand for chip-type inductance elements that are small and surface-mountable, that is, chip inductors, is rapidly increasing.
【0003】そのようなチップインダクタとしては、基
板上に別体としての巻線をマウントして全体を樹脂外装
して製造されるモールドタイプのチップインダクタ、フ
ェライトまたはセラミックのグリーンシートまたはペー
ストを利用して導電体と絶縁体とを交互に積層印刷した
後に焼成して製造される積層タイプのチップインダク
タ、ならびに絶縁基板上に例えば螺旋状の導電体パター
ン(螺旋状導体パターン)を形成して製造される平面タ
イプのチップインダクタ等が挙げられるが、現時点で
は、小型化、集積化および狭公差特性等の観点から有利
な平面タイプのチップインダクタが主流となっている。As such a chip inductor, a mold type chip inductor manufactured by mounting a winding as a separate body on a substrate and covering the whole with a resin, a green sheet or paste of ferrite or ceramic is used. A multilayer chip inductor manufactured by alternately laminating and printing conductors and insulators and then firing, and a spiral inductor pattern (spiral conductor pattern) formed on an insulating substrate, for example. At present, flat chip inductors that are advantageous from the viewpoint of miniaturization, integration, narrow tolerance characteristics, and the like are mainly used.
【0004】従来、平面チップインダクタの製造におい
て、螺旋状導体パターンは、その外周端に接続する端子
電極(外部電極)と共に、導体ペーストを塗布して焼き
付ける厚膜法や蒸着およびスパッタリング等の真空メッ
キ法等を用いて基板上に成膜した後、主としてウエット
エッチングによりエッチングしてパターン形成し、その
後、前記導体パターンの内周端を、前記導体パターン上
に設けた例えば空隙、絶縁ペーストまたは絶縁樹脂等か
らなる絶縁層を貫通する孔を介して導体パターン形成面
側で、あるいは基板を貫通する孔を介して導体パターン
形成面の裏面側で外周端とは異なる端子電極に接続して
引出し電極を形成することが一般的である(例えば、特
開平第9−129471号、特開平第9−191167
号および特開平第9−199365号参照)。Conventionally, in the manufacture of a planar chip inductor, a spiral conductive pattern, together with a terminal electrode (external electrode) connected to an outer peripheral end thereof, is subjected to a thick film method of applying and baking a conductive paste, or vacuum plating such as vapor deposition and sputtering. After the film is formed on the substrate using a method or the like, a pattern is formed by etching mainly by wet etching, and then, the inner peripheral end of the conductor pattern is provided on the conductor pattern, for example, a gap, an insulating paste or an insulating resin. The lead electrode is connected to a terminal electrode different from the outer peripheral end on the conductor pattern forming surface side through a hole penetrating the insulating layer made of the like, or on the back surface side of the conductor pattern forming surface through a hole penetrating the substrate. It is common to form them (for example, JP-A-9-129471, JP-A-9-191167).
And JP-A-9-199365).
【0005】そして、例えばVカットマシン(スリッ
タ)により断面V形の溝を形成して分割するか、ダイシ
ングソーでダイシングすることによってチップ化し、そ
の後、チップの両端面に、チップ内部に形成された電極
と接続するように端面電極を形成して外部電極を完成さ
せている。Then, for example, a V-shaped groove is formed by a V-cut machine (slitter) and divided into chips, or a chip is formed by dicing with a dicing saw. Thereafter, both ends of the chip are formed inside the chip. An external electrode is completed by forming an end face electrode so as to be connected to the electrode.
【0006】このとき、導体パターンの膜厚を厚くし
て、導体パターンの導体抵抗を抑え、Q特性を向上させ
ることが望ましい。At this time, it is desirable to increase the thickness of the conductor pattern, suppress the conductor resistance of the conductor pattern, and improve the Q characteristic.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来のチップインダクタの製造方法には次のよう
な問題点がある。即ち、従来の製造方法においては、イ
ンダクタンス取得範囲やQ特性等の向上を図り螺旋状導
体ペーストの膜厚を厚くすると、成膜後のエッチング時
間が長くなるために、特にウエットエッチングにおいて
は、図7に示すように、目的とする深さ方向だけでなく
側面方向も腐食されてサイドエッチングが生じて導体パ
ターンの寸法精度が低下し、それによりインダクタンス
特性のバラツキが大きくなってしまう。これを避けるた
めに、予め基板に導体パターンと同一パターンの凹部を
設けて膜厚をかせぐことも提案されている(特許開平第
9−129471号参照)が、基板の加工は製品強度お
よび加工コストの点で問題がある。However, the conventional method for manufacturing a chip inductor as described above has the following problems. That is, in the conventional manufacturing method, if the thickness of the spiral conductive paste is increased by improving the inductance obtaining range and the Q characteristic, the etching time after the film formation becomes longer. As shown in FIG. 7, not only the intended depth direction but also the side direction is corroded, and side etching occurs, thereby reducing the dimensional accuracy of the conductor pattern, thereby increasing the variation in inductance characteristics. In order to avoid this, it has been proposed to provide a concave portion having the same pattern as the conductor pattern on the substrate in advance to increase the film thickness (see Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-129471). There is a problem in the point.
【0008】さらに、従来法による導体パターンの成膜
に汎用される蒸着やスパッタリング等の真空メッキ法
は、基板等の部材に強い熱ストレスを与えるので、エッ
チング時の耐腐食性と同時に耐熱ストレス性をも考慮し
て使用材料を選択する必要があり、真空メッキ法を採用
する従来の製造方法においては、使用可能な基板材料が
限られるという問題がある。Further, the vacuum plating method such as evaporation or sputtering, which is generally used for forming a conductor pattern by a conventional method, gives a strong thermal stress to a member such as a substrate. It is necessary to select the material to be used in consideration of the above, and the conventional manufacturing method employing the vacuum plating method has a problem that usable substrate materials are limited.
【0009】また、従来のチップインダクタの製造方法
においては、外部電極、特に螺旋状導体パターンを有す
るインダクタの引出し電極を素子作製の前後に真空メッ
キ法等を用いて形成することが多く、基板が何度も強い
熱ストレスに晒されると同時に、素子に影響しない温度
で端子接続を行うために外部電極の強度の向上にも限界
があるという問題もある。In a conventional method for manufacturing a chip inductor, an external electrode, particularly an extraction electrode of an inductor having a spiral conductor pattern, is often formed by a vacuum plating method or the like before and after the device is manufactured. There is also a problem that the terminal connection is made at a temperature that does not affect the element at the same time as being exposed to strong thermal stress many times, and there is a limit to the improvement of the strength of the external electrode.
【0010】そして、チップ化工程においても、素子作
製後にスリッタにより溝を形成して分割したり、ダイシ
ングソーでダイシングしてチップ化しており、予めスナ
ップの入った基板を用いたチョコレートブレーク法によ
るチップ化よりも作業性および加工コストの点で不利で
はあるが、従来の製造方法では真空メッキ法を汎用して
いるために耐ストレス性の比較的弱いスナップ入基板を
採用してチョコレートブレーク法によるチップ化を図る
ことが難しいという問題もあった。また、同様の理由か
ら、さらに耐ストレス性の脆弱なスリット入基板を採用
することは非常に困難であった。In the chip forming step, chips are formed by forming a groove by a slitter after the device is manufactured, and are divided into chips by dicing with a dicing saw, and chips are formed by a chocolate break method using a substrate having a snap. Although it is more disadvantageous in terms of workability and processing cost than conversion, the conventional manufacturing method uses a vacuum-injection method, so a chip with a chocolate break method using a relatively weak stress-resistant snap-in board is used. There was also a problem that it was difficult to achieve this. Further, for the same reason, it is very difficult to employ a slit-embedded substrate that is more stress-resistant.
【0011】本発明は、上記課題を鑑みてなされたもの
であり、従来よりも広範囲の基板材料を採用することが
でき、外部電極の取付け強度が高く、加工作業性および
加工コストに優れたチップインダクタおよびその製造方
法の提供を目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and is capable of adopting a wider range of substrate materials than conventional ones, has high external electrode attachment strength, and is excellent in processing workability and processing cost. An inductor and a method for manufacturing the inductor are provided.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明のチップインダクタの製造方法は、スリット
入絶縁基板上に導電性極薄膜を形成する工程、前記導電
性極薄膜上の導体パターン形成領域にレジストを形成す
る工程、前記レジスト形成領域以外の前記導電性極薄膜
を除去する工程、前記レジストを剥離する工程、前記導
電性極薄膜からなる導体パターン形成領域以外の領域に
層間絶縁層を形成する工程、および前記層間絶縁層に囲
まれた導体パターン形成領域上に電解メッキ法により導
体層を形成する工程を少なくとも含むことを特徴とす
る。このような構成により、本発明のチップインダクタ
の製造方法は、サイドエッチングを最小限に抑えるの
で、高アスペクト比の導体パターンを有する高周波特性
に優れたチップインダクタを提供し得る。In order to solve the above-mentioned problems, a method of manufacturing a chip inductor according to the present invention comprises a step of forming a conductive ultra-thin film on a slit-filled insulating substrate; Forming a resist in a pattern forming region, removing the conductive ultra-thin film other than the resist forming region, removing the resist, and interlayer insulating in a region other than the conductive pattern forming region comprising the conductive ultra-thin film It is characterized by including at least a step of forming a layer and a step of forming a conductor layer by electrolytic plating on a conductor pattern formation region surrounded by the interlayer insulating layer. With such a configuration, the method for manufacturing a chip inductor of the present invention minimizes side etching, so that a chip inductor having a conductor pattern with a high aspect ratio and excellent in high-frequency characteristics can be provided.
【0013】上記課題を解決するために、本発明のチッ
プインダクタの製造方法は、スリット入絶縁基板上に導
電性極薄膜を形成する工程、前記導電性極薄膜上の導体
パターン形成領域および外部電極形成領域にレジストを
形成する工程、前記レジスト形成領域以外の前記導電性
極薄膜を除去する工程、前記レジストを剥離する工程、
前記導電性極薄膜からなる前記導体パターン形成領域お
よび前記外部電極形成領域以外の領域に層間絶縁層を形
成する工程、および前記層間絶縁層に囲まれた前記導体
パターン形成領域および前記外部電極形成領域上に電解
メッキ法により導体層を形成する工程を少なくとも含む
ことを特徴とする。このような構成により、本発明のチ
ップインダクタの製造方法は、サイドエッチングを最小
限に抑えて高アスペクト比の導体パターンを有する高周
波特性に優れたチップインダクタを提供すると共に、素
子形成と同時に外部電極を形成して高強度の外部電極を
有するチップインダクタを提供し得る。In order to solve the above-mentioned problems, a method of manufacturing a chip inductor according to the present invention comprises a step of forming a conductive ultra-thin film on an insulating substrate with slits, a conductive pattern forming region on the conductive ultra-thin film and an external electrode Forming a resist in a formation region, removing the conductive ultra-thin film other than the resist formation region, removing the resist,
Forming an interlayer insulating layer in a region other than the conductive pattern forming region and the external electrode forming region made of the conductive ultrathin film; and forming the conductive pattern forming region and the external electrode forming region surrounded by the interlayer insulating layer. The method is characterized by including at least a step of forming a conductor layer thereon by an electrolytic plating method. With such a configuration, the method for manufacturing a chip inductor of the present invention provides a chip inductor having a high aspect ratio and a conductor pattern having a high aspect ratio while minimizing side etching, and at the same time as forming an element, forming an external electrode. Can be formed to provide a chip inductor having a high-strength external electrode.
【0014】好ましくは、請求項1および2において、
真空メッキ工程を含まないことを特徴とする。このよう
な構成により、使用基板の選択範囲が広がると共に、製
造コストの低減化を図ることができる。Preferably, in claims 1 and 2,
It does not include a vacuum plating step. With such a configuration, the selection range of the substrate to be used is widened, and the manufacturing cost can be reduced.
【0015】また、好ましくは、請求項1〜3におい
て、前記スリット入絶縁基板がさらにスナップを有して
おり、前記導体パターンは前記スリット入絶縁基板のス
リットおよびスナップにより形成されるパターン毎に互
いに独立して形成され、前記導体パターン形成後に前記
スナップ入絶縁基板のスナップを用いたチョコレートブ
レーク法によりチップ化する工程をさらに含むことを特
徴とする。このような構成により、従来よりも作業性よ
く、安価にチップインダクタを製造し得る。Preferably, in claim 1 to 3, the insulating substrate with slits further has a snap, and the conductor patterns are mutually separated for each pattern formed by the slits and snaps of the insulating substrate with slits. The method is further characterized in that the method further comprises a step of independently forming and forming a chip by a chocolate break method using a snap of the snap-on insulating substrate after forming the conductor pattern. With such a configuration, a chip inductor can be manufactured at a lower cost with better workability than before.
【0016】さらに、上記課題を解決するために、本発
明のチップインダクタは、請求項1〜4に記載のチップ
インダクタの製造方法により製造されたことを特徴とす
る。このような構成により、本発明のチップインダクタ
は、高アスペクト比の導体パターンを有し、高周波特性
に優れたチップインダクタとなる。Further, in order to solve the above problems, a chip inductor according to the present invention is manufactured by the method for manufacturing a chip inductor according to any one of claims 1 to 4. With such a configuration, the chip inductor of the present invention has a conductor pattern with a high aspect ratio and is a chip inductor excellent in high-frequency characteristics.
【0017】さらに、上記課題を解決するために、本発
明のチップインダクタは、1〜10の範囲のアスペクト
比を有する導体パターンを有することを特徴とする。こ
のような構成により、本発明のチップインダクタは、優
れた高周波特性を有する。Further, in order to solve the above problems, a chip inductor according to the present invention is characterized in that it has a conductor pattern having an aspect ratio in a range of 1 to 10. With such a configuration, the chip inductor of the present invention has excellent high-frequency characteristics.
【0018】好ましくは、請求項6において、前記導体
パターンが導電性極薄膜と導体層とからなることを特徴
とする。このような構成により、導体パターンを容易に
高アスペクト比とすることができる。Preferably, in claim 6, the conductive pattern is formed of a conductive ultra-thin film and a conductive layer. With such a configuration, the conductor pattern can easily have a high aspect ratio.
【0019】また、好ましくは、請求項6および7にお
いて、少なくとも前記導体パターンと同じ厚みである層
間絶縁層と、前記導体パターンと前記層間絶縁層を被覆
する保護層とをさらに有することを特徴とする。このよ
うな構成により、導体パターンを容易且つ安価に高アス
ペクト比とすることができる。[0019] Preferably, in Claims 6 and 7, further comprising an interlayer insulating layer having at least the same thickness as the conductor pattern, and a protective layer covering the conductor pattern and the interlayer insulating layer. I do. With such a configuration, the conductor pattern can be easily and inexpensively made to have a high aspect ratio.
【0020】また、好ましくは、請求項6〜8におい
て、前記導体パターンが螺旋状導体パターンであり、さ
らに、直接基板上に外部電極、引出し電極および導体パ
ターンが形成されていることを特徴とする。このような
構成により、安価かつ容易に従来よりも外部電極の取付
け強度の向上したチップインダクタを製造することがで
きる。Preferably, in claim 6 to 8, the conductor pattern is a spiral conductor pattern, and an external electrode, a lead electrode and a conductor pattern are formed directly on the substrate. . With such a configuration, it is possible to manufacture a chip inductor in which the attachment strength of the external electrode is improved more easily and cheaply than before.
【0021】[0021]
【発明の実施の形態】以下に、本発明のチップインダク
タを、1つの実施の形態を例示して図面を参照しながら
より詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a chip inductor according to the present invention will be described in more detail with reference to the drawings, taking one embodiment as an example.
【0022】図1〜図5は、本発明によるチップインダ
クタの1実施形態の製造工程を模式的に示す図である。
なお、図2(a)〜図5(j)は、スリット入基板のス
リットに基づき形成されるチップの1つを拡大して表し
た部分拡大図であり、それぞれ上側の図は上面図、下側
の図は図2(a)上側の図に示した線分I−Iにおける
断面図である。FIGS. 1 to 5 are diagrams schematically showing a manufacturing process of an embodiment of a chip inductor according to the present invention.
2 (a) to 5 (j) are partially enlarged views in which one of the chips formed based on the slit of the slit-inserted substrate is enlarged and shown. The figure on the side is a cross-sectional view taken along line II shown in the figure on the upper side of FIG.
【0023】まず、本発明のチップインダクタの製造に
あたっては、図1に示すように、市販または自作のスリ
ット(1−A)を設けた絶縁基板1を採用することが望
ましい。スリット入絶縁基板1を用いることで、真空メ
ッキ法を採用しないことにより広範囲の基板材料が使用
可能であるという本発明の利点が顕著に発揮される。本
発明に用いるスリット入絶縁基板1としては、特に制限
されること無く、誘電率、強度およびコスト等を勘案し
て慣用の絶縁基板の中から自由に選択し得るが、例えば
アルミナのようなセラミック基板または液晶ポリマーの
ような有機基板等を好適に使用することができる。ま
た、基板に設けるスリットの形状にも制限はなく、所望
の形状であることができる。さらに、図6(a)〜図7
(e)に示すように、スリットと直交するスナップを設
けて、スリットとスナップの形成するパターン毎に独立
してチップを製造することもできる。その際には、絶縁
基板1に設けるスナップ1−Aは、基板の上下面双方ま
たはどちらか一方のみに設けることも、あるいは両面に
貫通して設けることもできる。必要であれば、基板の適
当な位置にスルーホールを設けてもよい(図7(e)参
照)。なお、図6および図7において、実線に囲まれた
白抜き領域としてスリットを、点線としてスナップを、
そして黒丸としてスルーホールを表している。First, in manufacturing the chip inductor of the present invention, as shown in FIG. 1, it is desirable to use an insulating substrate 1 provided with a commercially available or self-made slit (1-A). By using the insulating substrate 1 with slits, the advantage of the present invention that a wide range of substrate materials can be used by not employing the vacuum plating method is remarkably exhibited. The insulating substrate with slits 1 used in the present invention is not particularly limited, and can be freely selected from conventional insulating substrates in consideration of dielectric constant, strength, cost and the like. A substrate or an organic substrate such as a liquid crystal polymer can be suitably used. Further, there is no limitation on the shape of the slit provided on the substrate, and the slit can have a desired shape. Further, FIGS. 6A to 7
As shown in (e), by providing a snap orthogonal to the slit, a chip can be manufactured independently for each pattern formed by the slit and the snap. In this case, the snaps 1-A provided on the insulating substrate 1 may be provided on both or one of the upper and lower surfaces of the substrate, or may be provided penetrating both surfaces. If necessary, a through hole may be provided at an appropriate position on the substrate (see FIG. 7E). In FIGS. 6 and 7, slits are shown as white areas surrounded by solid lines, snaps are shown as dotted lines,
The through holes are shown as black circles.
【0024】図2(a)は、前記スリット入絶縁基板1
の表面に、銅等の導電性金属を無電解メッキ等の手法に
より塗布して導電性極薄膜2を形成した状態を示してい
る。導電性極薄膜2の厚みは、通常は0.05〜3.0
μm程度、好ましくは0.1〜1.0μm程度とするこ
とができる。しかし、所望によっては、この導電性極薄
膜2を設けずに、前記基板1上に後述の層間絶縁層4を
直接設けて外部電極パターンおよび螺旋状パターンを形
成し、そのパターン領域上に後述の導体層5を無電解メ
ッキ法により形成させることも可能である。FIG. 2A shows the insulating substrate 1 with the slit.
2 shows a state in which a conductive metal such as copper is applied to the surface by a technique such as electroless plating to form a conductive ultrathin film 2. The thickness of the conductive ultrathin film 2 is usually 0.05 to 3.0.
It can be about μm, preferably about 0.1 to 1.0 μm. However, if desired, an external electrode pattern and a spiral pattern are formed by directly providing an interlayer insulating layer 4 described later on the substrate 1 without providing the conductive ultrathin film 2, and forming an external electrode pattern and a spiral pattern on the pattern region. The conductor layer 5 can be formed by an electroless plating method.
【0025】図2(b)は、図2(a)で形成したの前
記導電性極薄膜2の外部電極パターン形成領域および螺
旋状パターン形成領域をマスクしてフォトリソグラフィ
またはレーザ等によりレジスト3を形成した状態を示し
ている。前記レジスト3の材料には、特に制限は無く、
通常用いられるレジスト材料の中から自由に選択するこ
とができる。このとき、図2(b)においては、レジス
ト3を、スリット側面に沿って導電性極薄膜2を覆うよ
うに形成させているが、スリットを挟んで対向する2つ
のチップの外部電極パターンの間に橋を架けるようにス
リットを跨いで、即ちスリットに蓋をして密閉するよう
に、形成させることもできる。FIG. 2 (b) shows the resist 3 formed by photolithography or laser or the like by masking the external electrode pattern forming region and the spiral pattern forming region of the conductive ultra-thin film 2 formed in FIG. 2 (a). The state in which it was formed is shown. The material of the resist 3 is not particularly limited.
It can be freely selected from commonly used resist materials. At this time, in FIG. 2B, the resist 3 is formed so as to cover the conductive ultrathin film 2 along the side surface of the slit, but between the external electrode patterns of two chips facing each other with the slit interposed therebetween. It can also be formed so as to span a bridge so as to bridge the bridge, that is, to cover the slit with a lid.
【0026】図2(c)は、図2(b)の前記レジスト
3に覆われた領域以外で露出した導電性極薄膜2をエッ
チング等によって除去して、外部電極パターンである2
aおよび2bと、一方の外部電極2aと接続した螺旋状
パターン2cを形成した状態を示している。FIG. 2C shows an external electrode pattern 2 which is obtained by removing the conductive ultrathin film 2 exposed in a region other than the region covered with the resist 3 in FIG. 2B by etching or the like.
a and 2b and a spiral pattern 2c connected to one external electrode 2a are shown.
【0027】図3(d)は、慣用の手法に従い前記スリ
ット入絶縁基板1を剥離液に浸漬して前記レジスト3を
溶解して剥離した状態を示している。FIG. 3D shows a state in which the insulating substrate 1 with slits is immersed in a stripping solution to dissolve and remove the resist 3 in accordance with a conventional method.
【0028】図3(e)は、前記外部電極パターン2
a,2bおよび前記螺旋状パターン2c以外の領域をマ
スクしてフォトリソグラフィ等により層間絶縁層4を形
成した状態を示している。前記層間絶縁層4の材料に
は、特に制限は無く、通常用いられる絶縁材料、例えば
ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂等の有機絶縁材料または
ガラスペースト等の無機絶縁材料の中から自由に選択す
ることができる。この層間絶縁層4の厚みは、少なくと
も最終的に形成される螺旋状導体パターンの厚み以上で
あり、好ましくは螺旋状導体パターンの厚みと同じ厚み
である。FIG. 3E shows the external electrode pattern 2.
This shows a state in which an interlayer insulating layer 4 is formed by photolithography or the like while masking regions other than a, 2b and the spiral pattern 2c. The material of the interlayer insulating layer 4 is not particularly limited, and can be freely selected from commonly used insulating materials, for example, an organic insulating material such as a polyimide resin or an epoxy resin or an inorganic insulating material such as a glass paste. . The thickness of the interlayer insulating layer 4 is at least equal to or greater than the thickness of the spiral conductor pattern finally formed, and is preferably the same as the thickness of the spiral conductor pattern.
【0029】図3(f)は、図3(e)の前記層間絶縁
層4に囲まれた外部電極パターンおよび螺旋状パターン
に銅のような導電性金属を電解メッキ等の手法により塗
布して導体層5を形成した状態を示している。この導体
層5の材料は、導電性材料であれば特に制限されるもの
ではないが通常は銅や銀等の導電性金属であり、そして
前記導電性極薄膜2と同じで材料あることも、あるいは
異なる材料であることもできる。このとき形成される螺
旋状導体パターン、即ち螺旋状パターン2cと導体層5
からなる螺旋状導体パターンは、アスペクト比が高いほ
ど電気特性に優れるが、コスト等も勘案して、通常は1
〜10の範囲、好ましくは1.5〜3の範囲のアスペク
ト比である。FIG. 3 (f) shows a method in which a conductive metal such as copper is applied to the external electrode pattern and the spiral pattern surrounded by the interlayer insulating layer 4 of FIG. 3 (e) by a technique such as electrolytic plating. The state where the conductor layer 5 is formed is shown. The material of the conductive layer 5 is not particularly limited as long as it is a conductive material, but is usually a conductive metal such as copper or silver, and may be the same material as the conductive ultrathin film 2. Alternatively, it can be a different material. The spiral conductor pattern formed at this time, that is, the spiral pattern 2c and the conductor layer 5
Although the spiral conductor pattern made of is superior in electrical characteristics as the aspect ratio is higher, it is usually 1 in consideration of cost and the like.
The aspect ratio ranges from 10 to 10, preferably from 1.5 to 3.
【0030】図4(g)は、前記基板1の上側表面全面
に上部絶縁層6を印刷した後にフォトリソグラフィまた
はレーザ等によりコンタクト7,8および9を形成した
状態を示している。上部絶縁層6を構成する絶縁材料と
しては、低誘電率で絶縁性を確保し得るものであれば特
に制限は無いが、例えば、有機材料としては液晶ポリマ
ー、ポリイミド樹脂またはエポキシ樹脂のような樹脂組
成物を、あるいは無機材料としてはガラスペースト等
を、それぞれ例示することができる。FIG. 4 (g) shows a state where contacts 7, 8 and 9 are formed by photolithography or laser or the like after printing the upper insulating layer 6 on the entire upper surface of the substrate 1. The insulating material constituting the upper insulating layer 6 is not particularly limited as long as it has a low dielectric constant and can secure insulation. For example, as the organic material, a resin such as a liquid crystal polymer, a polyimide resin or an epoxy resin is used. Examples of the composition and the inorganic material include a glass paste and the like.
【0031】図4(h)は、前記上部絶縁層6上に、銅
等の導電性金属を無電解メッキやフォトリソグラフィに
より、前記コンタクト7と9とを接続する引出し電極パ
ターン10を形成させた状態を示している。この引出し
電極パターン10は、導体ペーストをスクリーン印刷し
て形成させることもできる。前記引出し電極パターン1
0の材料は、導電性材料であれば特に制限されるもので
はないが通常は銅や銀等の導電性金属であり、そして前
記導電性極薄膜2および前記導体層5と同じで材料ある
ことも、あるいは互いに相異なる材料であることもでき
る。FIG. 4H shows a lead electrode pattern 10 for connecting the contacts 7 and 9 with the conductive metal such as copper by electroless plating or photolithography on the upper insulating layer 6. The state is shown. The extraction electrode pattern 10 can also be formed by screen-printing a conductive paste. The extraction electrode pattern 1
The material 0 is not particularly limited as long as it is a conductive material, but is usually a conductive metal such as copper or silver, and should be the same material as the conductive ultrathin film 2 and the conductive layer 5. Or different materials.
【0032】図4(i)は、前記基板1上側表面上の成
膜を全て包み込む保護層11を形成した状態を示してい
る。前記保護層11の材料としては、低誘電率で絶縁性
を確保し得るものであれば特に制限は無いが、例えば、
有機材料としてはポリイミド樹脂やエポキシ樹脂のよう
な樹脂組成物を、あるいは無機材料としてはガラスペー
スト等を、それぞれ例示することができる。この保護層
11は、製品を機械的に外界から保護する目的で設けら
れるものであるから、製品の使用条件によっては省略す
ることもできる。FIG. 4 (i) shows a state in which a protective layer 11 covering all the film formed on the upper surface of the substrate 1 is formed. The material of the protective layer 11 is not particularly limited as long as it can ensure insulation with a low dielectric constant.
Examples of the organic material include a resin composition such as a polyimide resin and an epoxy resin, and examples of the inorganic material include a glass paste. Since this protective layer 11 is provided for the purpose of mechanically protecting the product from the outside, it may be omitted depending on the use conditions of the product.
【0033】図5(j)は、前記スリット入絶縁基板1
を、ダイシング等の当技術分野で慣用の方法によりスリ
ットに対して垂直な方向に分割することによりチップ状
として得られたチップインダクタを示している。勿論、
図6および図7に示したようにスリットとスナップを共
に設けた基板を用いた場合には、スナップを利用したチ
ョコレートブレーク法により、さらに簡単かつ容易にチ
ップインダクタを得ることができる。FIG. 5 (j) shows the insulating substrate 1 with the slit.
Is shown in the form of a chip by dividing the substrate in a direction perpendicular to the slit by a method commonly used in the art such as dicing. Of course,
When a substrate provided with both slits and snaps as shown in FIGS. 6 and 7 is used, a chip inductor can be obtained more easily and easily by a chocolate break method using snaps.
【0034】この図5(j)から、本実施の形態では、
導電性極薄膜2の上に導体層5が形成されて一体となっ
て外部電極および螺旋状導体パターンを構成しているこ
とがわかる。From FIG. 5 (j), in the present embodiment,
It can be seen that the conductive layer 5 is formed on the conductive ultrathin film 2 and integrally forms the external electrode and the spiral conductive pattern.
【0035】本実施の形態によれば、素子形成と同時に
外部電極を形成するので、素子を損傷する恐れなく強固
な電極を簡単に製造することができる。そして、外部電
極の形成に真空メッキ法工程を含まないので、成膜膜厚
の制限も必要がなく、さらには、加工時間が短縮する
等、生産性が向上し、基板等の材料選択の幅が広がる。
従って、従来採用が難しかったスリット入基板を使用す
ることが可能となり、さらにスリットとスナップを共に
設けた基板を使用して、チョコレートブレーク工法で簡
便かつ安価にチップ化することができる。According to this embodiment, since the external electrodes are formed at the same time as the formation of the device, a strong electrode can be easily manufactured without fear of damaging the device. In addition, since the vacuum plating process is not included in the formation of the external electrodes, there is no need to limit the film thickness, and further, the processing time is shortened, the productivity is improved, and the material selection of the substrate and the like can be performed. Spreads.
Therefore, it is possible to use a substrate with a slit which has been conventionally difficult to employ, and furthermore, using a substrate provided with both slits and snaps, a chip can be easily and inexpensively formed by the chocolate break method.
【0036】また、本発明によれば、前記導電性極薄膜
2の除去にウエットエッチング法を採用した場合でも、
エッチング除去すべき導電性極薄膜2の厚みが薄いため
にエッチング時間が従来よりも極めて短時間ですむの
で、図9に示すような激しいサイドエッチングが生じて
マスク12下部の導体パターン13のアスペクト比が低
下し且つ不均一となる恐れが無い。即ち、図10に模式
的に示すように、本発明においては、導電性極薄膜2の
上に所望のパターンでレジスト3を形成し、そのパター
ン以外の領域の導電性極薄膜2をエッチング除去した後
にレジスト3を剥離し、次いで導電性極薄膜2を囲む層
間絶縁層4を形成し、その隙間を埋めるように導体層5
をメッキ塗布するので、本発明においては導電性極薄膜
2のみをエッチング除去することとなってエッチング時
間は従来よりも非常に短く、サイドエッチングは全く生
じないかあるいは生じたとしても極めて僅かである。そ
のために、従来の方法による導体パターンのアスペクト
比はサイドエッチングの影響により精々0.3〜0.5
程度であったにも拘らず、本発明により始めて、1〜1
0という高いアスペクト比を均一に有する導体パターン
を得ることが可能となった。Further, according to the present invention, even when a wet etching method is used for removing the conductive ultrathin film 2,
Since the thickness of the conductive ultra-thin film 2 to be removed by etching is thinner, the etching time is much shorter than before, so that severe side etching as shown in FIG. 9 occurs and the aspect ratio of the conductor pattern 13 under the mask 12 is reduced. Is not reduced and there is no possibility of non-uniformity. That is, as schematically shown in FIG. 10, in the present invention, a resist 3 is formed in a desired pattern on the conductive ultrathin film 2, and the conductive ultrathin film 2 in a region other than the pattern is removed by etching. Thereafter, the resist 3 is peeled off, and then an interlayer insulating layer 4 surrounding the conductive ultrathin film 2 is formed.
In the present invention, only the conductive ultra-thin film 2 is removed by etching, so that the etching time is much shorter than before, and no or little if any side etching occurs. . Therefore, the aspect ratio of the conductor pattern according to the conventional method is at most 0.3 to 0.5 due to the influence of side etching.
Despite the degree, for the first time according to the invention,
It has become possible to obtain a conductor pattern having a high aspect ratio of 0 uniformly.
【0037】さらに、本発明のチップインダクタに用い
る絶縁材料の一部または全て、即ち絶縁基板1、層間絶
縁層4、上部絶縁層6および保護層11の一部または全
てとして、フェライトのような磁性体からなるかまたは
磁性体を含む材料を用いた場合には、本発明のチップイ
ンダクタの特性は、磁性体を含まない材料のみを用いた
場合と比べて、高周波特性は若干低いものの、取得イン
ダクタンス範囲が広く、直流抵抗値が低減され得るの
で、高周波領域以外の用途、例えば携帯電子機器の電源
回路に使用し得るものとなる、従って、本発明によれ
ば、チップインダクタの製造にあたって、所望の特性に
応じた使用材料を選択して製品設計を行うことにより、
非常に広範な用途に好適なチップインダクタを得ること
ができる。Further, a part or all of the insulating material used for the chip inductor of the present invention, that is, a part or all of the insulating substrate 1, the interlayer insulating layer 4, the upper insulating layer 6, and the protective layer 11, may be made of a magnetic material such as ferrite. When a material made of a material or containing a magnetic material is used, the characteristics of the chip inductor of the present invention are slightly lower in high-frequency characteristics than when a material containing no magnetic material is used. Since the range is wide and the DC resistance value can be reduced, it can be used for applications other than the high frequency region, for example, for a power supply circuit of a portable electronic device.Accordingly, according to the present invention, when manufacturing a chip inductor, By selecting the materials used according to the characteristics and designing the product,
A chip inductor suitable for a very wide range of applications can be obtained.
【0038】さらに、本発明に用いる基板として、図7
(e)に示すようなスルーホールを設けた基板を採用し
て、図8(a)に示すように引出し電極を形成して前記
引出し電極パターン10を省いたり、図8(b)に示す
ように基板の表裏に異なる外部電極に接続する導体パタ
ーンを設けてその内部終端部同士を連結して、引出し電
極自体を省いたチップインダクタを得ることもできる。
なお、図8(a)および(b)はそれぞれ上から順にチ
ップインダクタの上面図、上面図中の破断線(II−I
I,III−III)における断面図および下面図であ
り、図中の符合は上述の図2〜5中の同一の符合と同じ
意味を表している。このような構造のチップインダクタ
も、本発明によりスリット入基板の利用が可能となるの
で、従来より容易かつ安価に製造することができる。Further, as a substrate used in the present invention, FIG.
By using a substrate provided with through holes as shown in FIG. 8E, an extraction electrode is formed as shown in FIG. 8A to omit the extraction electrode pattern 10, or as shown in FIG. In addition, it is also possible to provide a conductor pattern for connecting to different external electrodes on the front and back of the substrate and connect the internal terminations thereof to obtain a chip inductor without the extraction electrode itself.
FIGS. 8A and 8B are a top view of the chip inductor in order from the top and a broken line (II-I) in the top view.
I, III-III) are a cross-sectional view and a bottom view, and the symbols in the figures have the same meaning as the same symbols in FIGS. The chip inductor having such a structure can also be manufactured at a lower cost than the conventional one because the slit-embedded substrate can be used according to the present invention.
【0039】ここまで、螺旋状の導体パターンを有する
チップインダクタを例示して本発明を説明してきたが、
本発明のチップインダクタはこれに限られるものでは無
く、全ての平面チップインダクタを包含するものであ
る。Although the present invention has been described above by exemplifying a chip inductor having a spiral conductor pattern,
The chip inductor of the present invention is not limited to this, but includes all planar chip inductors.
【0040】[0040]
【発明の効果】以上に詳述した様に、本発明のチップイ
ンダクタの製造方法およびチップインダクタにおいて
は、ウエットエッチングを行わないか、あるいはウエッ
トエッチングを行う場合でもエッチング除去すべき導体
材料が極薄膜だけであり、従来よりも短時間で済むの
で、サイドエッチングが全く生じないかまたは極めて僅
かしか生じないために、従来よりも高いアスペクト比お
よび寸法精度で導体を形成可能であり、導体が螺旋状導
体であるときには螺旋状導体パターンのラインピッチを
短縮し、最大巻数を増大させることができる。また、イ
ンダクタンス取得範囲の拡大およびQ特性の向上を図る
ことができる。さらに、エッチング除去する導体材料の
分量が少量であるので、生産性および廃棄物による環境
問題の点で有利である。As described above in detail, in the method for manufacturing a chip inductor and the chip inductor according to the present invention, no wet etching is performed, or even when wet etching is performed, the conductive material to be etched is extremely thin. Since only a short time is required compared to the conventional method, no or very little side etching occurs. When it is a conductor, the line pitch of the spiral conductor pattern can be reduced, and the maximum number of turns can be increased. Further, it is possible to expand the inductance obtaining range and improve the Q characteristic. Further, since the amount of the conductive material to be removed by etching is small, it is advantageous in terms of productivity and environmental problems due to waste.
【0041】上記に加えて、本発明の方法は、真空メッ
キ工程を含まないので、基板等にかかる熱ストレスが少
なくなり基板のソリの発生がなく、真空メッキ工程採用
時にソリの発生を防ぐために必要とされる成膜膜厚の制
限も必要がない。また、真空中での加工がないので、使
用材料のアウトガス性に対する制限が緩和される。さら
に、真空引きや大気化が必要無いので、加工時間が短縮
する等、生産性が向上し、基板等の材料選択の幅が広が
る。In addition to the above, since the method of the present invention does not include a vacuum plating step, thermal stress applied to the substrate and the like is reduced, and no warpage is generated on the substrate. There is no need to limit the required film thickness. In addition, since there is no processing in a vacuum, restrictions on the outgassing property of the used material are relaxed. Further, since no evacuation or atmosphericization is required, the processing time is shortened, the productivity is improved, and the range of material selection for the substrate and the like is widened.
【0042】そして、本発明においては、素子形成と同
時に外部電極を形成するので、素子を損傷することな
く、導体ペーストの印刷等の工法により強固な電極を簡
単に製造することができる。In the present invention, since the external electrodes are formed at the same time as the formation of the element, a strong electrode can be easily manufactured by a method such as printing of a conductive paste without damaging the element.
【0043】さらに、本発明においては、導体パターン
を成膜する工法として部材にストレスの生じない電解メ
ッキ工法を採用するので、スリットおよび所望によりス
ナップを設けた基板を使用し、チョコレートブレーク工
法で簡便かつ安価にチップ化することができる。Further, in the present invention, since the electroplating method which does not cause stress on members is adopted as a method of forming a conductor pattern, a substrate provided with slits and, if desired, snaps is used, and a simple chocolate break method is used. In addition, chips can be formed at low cost.
【0044】以上の諸利点から、本発明によれば、製品
トータルコストを大幅に低減することが可能である。From the above advantages, according to the present invention, it is possible to greatly reduce the total product cost.
【図1】本発明によるチップインダクタの1実施形態に
用いるスリット入絶縁基板の上面図である。FIG. 1 is a top view of a slit-containing insulating substrate used in an embodiment of a chip inductor according to the present invention.
【図2】本発明によるチップインダクタの1実施形態の
製造工程の一部を模式的に示す図である。FIG. 2 is a diagram schematically showing a part of a manufacturing process of one embodiment of a chip inductor according to the present invention.
【図3】本発明によるチップインダクタの1実施形態の
製造工程の一部を模式的に示す図である。FIG. 3 is a diagram schematically showing a part of a manufacturing process of one embodiment of a chip inductor according to the present invention.
【図4】本発明によるチップインダクタの1実施形態の
製造工程の一部を模式的に示す図である。FIG. 4 is a diagram schematically showing a part of a manufacturing process of one embodiment of a chip inductor according to the present invention.
【図5】本発明によるチップインダクタの1実施形態を
模式的に示す図である。FIG. 5 is a diagram schematically showing one embodiment of a chip inductor according to the present invention.
【図6】本発明に使用し得るスリット入絶縁基板を模式
的に例示する図である。FIG. 6 is a diagram schematically illustrating a slit-containing insulating substrate that can be used in the present invention.
【図7】本発明に使用し得るスリット入絶縁基板を模式
的に例示する図である。FIG. 7 is a diagram schematically illustrating a slit-containing insulating substrate that can be used in the present invention.
【図8】本発明によるチップインダクタの図5とは異な
る実施形態を模式的に示す図である。FIG. 8 is a diagram schematically showing an embodiment different from FIG. 5 of the chip inductor according to the present invention.
【図9】従来の製造方法により生じるサイドエッチング
を模式的に示す図である。FIG. 9 is a diagram schematically showing side etching generated by a conventional manufacturing method.
【図10】本発明のチップインダクタの製造方法におけ
る導体パターン形成工程を説明する図である。FIG. 10 is a diagram illustrating a conductor pattern forming step in the method for manufacturing a chip inductor of the present invention.
1 基板 1−A スリット 2 導電性極薄膜 2a 外部電極パターン 2b 外部電極パターン 2c 螺旋状パターン 3 レジスト 4 層間絶縁層 5 導体層 6 上部絶縁層 7 コンタクト 8 コンタクト 9 コンタクト 10 引出し電極パターン 11 保護層 12 マスク 13 導体パターン Reference Signs List 1 substrate 1-A slit 2 conductive ultrathin film 2a external electrode pattern 2b external electrode pattern 2c spiral pattern 3 resist 4 interlayer insulating layer 5 conductive layer 6 upper insulating layer 7 contact 8 contact 9 contact 10 lead electrode pattern 11 protective layer 12 Mask 13 Conductor pattern
Claims (9)
形成する工程、 前記導電性極薄膜上の導体パターン形成領域にレジスト
を形成する工程、 前記レジスト形成領域以外の前記導電性極薄膜を除去す
る工程、 前記レジストを剥離する工程、 前記導電性極薄膜からなる前記導体パターン形成領域以
外の領域に層間絶縁層を形成する工程、および前記層間
絶縁層に囲まれた前記導体パターン形成領域上に電解メ
ッキ法により導体層を形成する工程を少なくとも含むこ
とを特徴とするチップインダクタの製造方法。A step of forming a conductive ultra-thin film on the slit-filled insulating substrate; a step of forming a resist in a conductive pattern forming region on the conductive ultra-thin film; Removing, removing the resist, forming an interlayer insulating layer in a region other than the conductive pattern forming region made of the conductive ultrathin film, and on the conductive pattern forming region surrounded by the interlayer insulating layer At least including a step of forming a conductor layer by an electrolytic plating method.
形成する工程、 前記導電性極薄膜上の導体パターン形成領域および外部
電極形成領域にレジストを形成する工程、 前記レジスト形成領域以外の前記導電性極薄膜を除去す
る工程、 前記レジストを剥離する工程、 前記導電性極薄膜からなる前記導体パターン形成領域お
よび前記外部電極形成領域以外の領域に層間絶縁層を形
成する工程、および前記層間絶縁層に囲まれた前記導体
パターン形成領域および前記外部電極形成領域上に電解
メッキ法により導体層を形成する工程を少なくとも含む
ことを特徴とするチップインダクタの製造方法。2. A step of forming a conductive ultra-thin film on the slit-filled insulating substrate; a step of forming a resist in a conductive pattern forming region and an external electrode forming region on the conductive ultra-thin film; Removing the conductive ultra-thin film; removing the resist; forming an interlayer insulating layer in a region other than the conductive pattern forming region and the external electrode forming region formed of the conductive ultra-thin film; A method for manufacturing a chip inductor, comprising at least a step of forming a conductor layer by electrolytic plating on the conductor pattern formation region and the external electrode formation region surrounded by layers.
する請求項1または2に記載のチップインダクタの製造
方法。3. The method according to claim 1, wherein the method does not include a vacuum plating step.
プを有しており、前記導体パターンは前記スリット入絶
縁基板のスリットおよびスナップにより形成されるパタ
ーン毎に互いに独立して形成され、 前記導体パターン形成後に前記スナップ入絶縁基板のス
ナップを用いたチョコレートブレーク法によりチップ化
する工程をさらに含むことを特徴とする請求項1〜3の
いずれか1項に記載のチップインダクタの製造方法。4. The conductive pattern forming step further comprises forming the conductive pattern independently of each other by a pattern formed by the slit and the snap of the slit-containing insulating substrate. The method of manufacturing a chip inductor according to claim 1, further comprising a step of forming chips by a chocolate break method using a snap of the snap-on insulating substrate.
の製造方法により製造されたことを特徴とするチップイ
ンダクタ。5. A chip inductor manufactured by the method for manufacturing a chip inductor according to claim 1.
導体パターンを有することを特徴とするチップインダク
タ。6. A chip inductor having a conductor pattern having an aspect ratio in a range of 1 to 10.
層とからなることを特徴とする請求項6に記載のチップ
インダクタ。7. The chip inductor according to claim 6, wherein the conductor pattern comprises a conductive ultra-thin film and a conductor layer.
である層間絶縁層と、前記導体パターンと前記層間絶縁
層を被覆する保護層とをさらに有することを特徴とする
請求項6または7に記載のチップインダクタ。8. The chip according to claim 6, further comprising an interlayer insulating layer having at least the same thickness as the conductor pattern, and a protective layer covering the conductor pattern and the interlayer insulating layer. Inductor.
であり、さらに、直接基板上に外部電極パターンおよび
導体パターンが形成されていることを特徴とする請求項
6〜8のいずれか1項に記載のチップインダクタ。9. The conductor pattern according to claim 6, wherein the conductor pattern is a spiral conductor pattern, and the external electrode pattern and the conductor pattern are formed directly on the substrate. Chip inductor.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10358845A JP2000182872A (en) | 1998-12-17 | 1998-12-17 | Chip inductor and manufacture thereof |
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Publications (1)
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060307 |