DE4439222C2 - Massenflußsensor mit Druckkompensation - Google Patents
Massenflußsensor mit DruckkompensationInfo
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Description
Es ist schon bekannt, den Massenfluß nach dem
Anemometerprinzip zu messen, wobei ein temperaturgeregelter
Widerstand beispielsweise auf der Oberfläche eines
Hohlkörpers angeordnet ist, durch den die Gase oder
Flüssigkeiten fließen. Der Heizwiderstand ändert durch die
Kühlwirkung des durchfließenden Mediums seinen Widerstand,
so daß die Widerstandsänderung oder die Änderung seiner
Temperatur als Maß für den Massenfluß auswertbar ist. Bei
bekannten Massenflußsensoren ergibt sich das Problem, daß
insbesondere bei einem in einem Siliciumchip
eindiffundierten Heizwiderstand sich aufgrund von
Druckänderungen in dem Hohlkörper piezoresistive Effekte
auftreten, die zu erheblichen Widerstandsänderungen des
Heizwiderstandes oder des Temperatursensors führen. Diese
druckabhängigen Widerstandsänderungen verfälschen diejenigen
Widerstandsänderungen, die durch den Massenfluß erzeugt wer
den, in erheblichem Maße. Bei Druckänderungen in dem Medium
sind daher keine zuverlässigen Messungen des Massenflusses
möglich. Um dieses Problem zu lösen, wurde schon versucht,
den Siliciumchip mit dem Heizwiderstand entsprechend steif
auszubilden. Dieses führt jedoch dazu, daß durch die Ver
steifungen ein Teil der Wärme abgeführt wird, die von dem
Heizwiderstand erzeugt wurde. Dadurch ist die Empfindlich
keit des Sensors reduziert.
Aus der US 4 683 159 ist bereits ein Massenflußsensor für
Gas oder Flüssigkeiten bekannt, bei dem eine Membran einen
Heizwiderstand und einen Temperatursensor aufweist. Die
Abkühlung der Membran durch die vorbeiströmenden Gase oder
Flüssigkeiten ist ein Maß für den Massen- oder Volumenstrom.
Aus der DE 33 03 885 A1 ist bereits ein Massenflußsensor mit
einer beheizten Einrichtung bekannt, deren Abkühlung durch
einen vorbeistreifenden Mediumstrom ein Maß für die Strömung
ist. Aus der DE 25 27 505 A1 ist bereits ein Massenfluß
sensor bekannt, bei dem eine Membran durch strukturierte
Abstützungen aus einem Material mit schlechter Wärmeleitung
abgestürzt wird. Aus der DE 42 33 153 A1 ist ein Durchfluß
sensor mit metallischen Widerstandselementen bekannt, deren
Abkühlung ein Maß für den Durchfluß ist. Zwischen den
Widerstandselementen und dem Medienstrom ist eine Membran
angeordnet. Aus der US 5 205 170 ist ein Massenflußsensor
bekannt, bei dem ein Heizwiderstand auf einer Membran
angeordnet ist. Die Membran wird von einer Platte mit
Abstützelementen unterstützt. Das Heizelement ist im
Volumenstrom angeordnet. Aus der DE 35 16 794 ist ein
Durchflußsensor bekannt, bei dem diffundierte Silizium
widerstände verwendet werden. Die Abkühlung dieser
Siliziumwiderstände ist ein Maß für den Durchfluß.
Der erfindungsgemäße Massenflußsensor mit den jeweiligen Merkmalen
nach den unabhängigen Patentansprüchen
hat demgegenüber den Vorteil, daß die druckabhängigen
Änderungen des Widerstandswertes sowohl beim Heizwiderstand
als auch beim Temperatursensor weitgehend vermieden werden,
so daß die Messung lediglich von der Druckdifferenz an der
Meßstrecke und nicht vom absoluten Druck abhängt, bei dem
der Massenflußsensor betrieben wird. Insbesondere können
dabei vorteilhaft Einflüsse des statischen Druckes im
Hohlkörper, der zu einer Querschnittsänderung für den
Massenstrom führt, sowie Längenänderungen oder Piezoeffekte
beim Heizwiderstand und/oder dem Temperatursensor weitgehend
vermieden werden.
Durch die in den abhängigen Ansprüchen aufgeführten Maß
nahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen
des jeweils in den unabhängigen Ansprüchen angegebenen
Massenflußsensors möglich.
Um eine möglichst große Empfindlichkeit des Sensors zu
erreichen, ist das Längen-/Breitenverhältnis möglichst groß
zu wählen, insbesondere dann, wenn weitere Parameter wie
eine bestimmte Sensorfläche oder Heizleistung vorgegeben
sind. Durch die vorgegebenen Maßnahmen gelingt es die
mechani
schen, thermischen und elektrischen Größen weitgehend von
einander zu entkoppeln.
Durch eine Reihen- und/oder Parallelschaltung von Teilwider
ständen des Heizwiderstands und/oder des Temperatursensors
ergibt sich vorteilhaft ein kompakter Aufbau mit einer rela
tiv großen Wärmeübergangsfläche, so daß die Empfindlichkeit
recht hoch ist.
Werden mehrere Temperatursensoren verwendet, die beispiels
weise am Anfang und Ende der Meßstrecke angeordnet sind,
dann kann durch Vergleich der gemessenen Temperaturen auch
die Strömungsrichtung des Gases bzw. der Flüssigkeit be
stimmt werden. Des weiteren ist eine Offsetkompensation der
Sensoren möglich, da nur die Differenzsignale ausgewertet
werden.
Um Piezoeffekte weiter zu vermeiden, kann der Heizwiderstand
und/oder der Temperatursensor aus einem Metall gefertigt
sein, da Metalle zwar empfindlich für temperaturabhängige
Längenänderungen, nicht aber für piezoresistive Effekte
sind. Besonders vorteilhaft ist auch eine Anordnung, wenn
beispielsweise der Heizwiderstand im Silicium eindiffundiert
und der Temperatursensor aus Metall auf dem Silicium abge
schieden ist. Eine umgekehrte Variante ist ebenfalls durch
führbar. Durch diese Kombination gelingt es, die Dimensio
nierungen unter Einbezug des Materials zu optimieren, da in
der Regel der Heizwiderstand relativ niederohmig und der
Temperatursensor relativ hochohmig gewählt werden und da
durch unterschiedlich große Flächen für die Sensoren benö
tigt werden.
Eine besonders günstige Konstruktion ergibt sich durch eine
mäanderförmige Ausbildung des Heizwiderstandes, in den der
Temperatursensor hineingewickelt ist. Dadurch entsteht ein
guter Wärmekontakt des Temperatursensors zum Heizwiderstand.
Durch entsprechende Ausbildung der Querschnitte ergibt sich
eine günstige Lösung für die Realisierung der unterschiedli
chen Widerstände.
In den Figuren sind vier Ausführungsbeispiele der Erfindung
dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher er
läutert. Es zeigen
Fig. 1 ein erstes Ausführungsbeispiel,
Fig. 2 zeigt ein zweites Ausführungsbeispiel,
Fig. 3 zeigt
ein drittes Ausführungsbeispiel,
Fig. 4 zeigt eine erste
Orientierung, und
Fig. 5 zeigt eine zweite Orientierung.
Fig. 1 zeigt ein erstes Ausführungsbeispiel, bei dem als
Strömungskanal ein Hohlkörper 5 parallel zur Oberfläche ei
nes Halbleiterchips gebildet ist. Der Strömungskanal kann
beispielsweise durch zwei Halbleiterchips aus Silicium 2, 6
gebildet werden, die aufeinandergebondet wurden, nachdem in
ihnen jeweils ein Kanal freigeätzt wurde. Durch Aufeinander
legen der beiden Kanäle ergibt sich somit der Strömungskanal
für Gase oder Flüssigkeiten. Der Strömungskanal hat einen
Einlaß 7 und einen Auslaß 8, durch das das zu messende Medi
um strömt. Eine geeignete Stelle des Hohlkörpers 5 ist als
Membran 9 ausgebildet. Die Membran 9 ist vorzugsweise an der
Oberfläche eines der beiden Halbleiterchips 2, 6 ausgebil
det. In die Membran 9 ist ein Heizwiderstand 1 eindiffun
diert, der über nicht dargestellte Zuleitungen auf dem Halb
leiterchip 2 elektrisch heizbar ist. Das Freiätzen des Strö
mungskanals sowie das Bonden der beiden Siliciumchips oder -
wafer ist per se bekannt und muß daher nicht näher erläutert
werden. Da die Membran 9 relativ dünn ist und insbesondere
den statischen Druck im Strömungskanal aufnehmen muß, hat
sie an geeigneten Stellen Abstützungen 3. Die Abstützungen
können dadurch gebildet werden, daß über dem Siliciumchip
ganz oder teilweise eine mechanisch steife Platte mit mög
lichst schlechter Wärmeleitung (vgl. Position 3a) aufge
bracht ist. Eine derartige Platte kann beispielsweise ein
Pyrexglas sein. Diese Abdeckung 4 ist dabei direkt auf den
Aluminiumleiterbahnen des Halbleiterchips aufgebracht, die
in diesem Fall die Abstützungen 3 bilden.
Alternativ kann gemäß der Fig. 2 die Abdeckung 4 mit Ab
stützungen 3a strukturiert werden, so daß ein gewisser Ab
stand zwischen der Oberfläche des Siliciumchips 2 mit seinen
Aluminiumleiterbahnen und der Abdeckung 4 gebildet wird. Die
Strukturierung der Abdeckung 4 ist in einem weiteren Ar
beitsgang durchzuführen, bevor die Abdeckung 4 mit dem Si
liciumchip 2 kontaktiert wird. Der Hohlkörper 5 wird ent
sprechend der Fig. 1 hergestellt.
In den Fig. 1 und 2 wurden Ausführungsbeispiele im Quer
schnitt für den kompletten Sensor dargestellt.
Fig. 3 zeigt ein drittes Ausführungsbeispiel der Anordnung
eines Heizwiderstandes 1 und eines Temperatursensors 11. Bei
dieser Anordnung sind der Heizwiderstand 1 und die beiden
Temperatursensoren 11 im Silicium eindiffundiert. Der Heiz
widerstand 1 ist dabei aus einer Reihen- und Parallelschal
tung aufgebaut, wobei jeweils vier parallele Teilwiderstände
in drei Gruppen in Reihe geschaltet sind. Die Orientierung
dieser Teilwiderstände ist so gewählt, daß die Längsachse
der Teilwiderstände in der kristallographischen <100<-Rich
tung ausgerichtet sind. Bei zwei Gruppen ist jedoch die Aus
richtung in der äquivalenten Richtung <010< angeordnet.
Diese Richtungen werden bevorzugt für Anordnungen, bei denen
der Silicium-Halbleiter in der <100<-Ebene gesägt wurde.
Über entsprechende Aluminiumleitungen 41, 42 wird die Heiz
leistung zugeführt bzw. die Temperatur gemessen. Mit dieser
Anordnung können piezoresistive Effekte weitgehend beseitigt
werden. Ein weiterer Vorteil dieser Anordnung ist, daß durch
die zwei Temperatursensoren 11 auch die Strömungrichtung ge
messen werden kann, da sich die Absolutwerte der beiden Tem
peraturen der Temperatursensoren 11 je nach Strömungsrich
tung unterscheiden. Vorteilhaft bei dieser Anordnung ist
auch, daß durch die Differenzmessung ein Offsetabgleich
nicht erforderlich ist, da beispielsweise durch Vergleich
der beiden Temperaturen und Umpolen der Strömungsrichtung
auf einfache Weise der Offset bestimmt und eliminiert werden
kann.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen,
dieses Ausführungsbeipiel der Fig. 3 dahingehend
abzuändern, daß jeweils ein Teil, der Heizwiderstand 1 oder
der Temperatursensor 11 im Silicium diffundiert ist, während
der zweite Teil als Metallisierung aufgebracht ist. Dadurch
kann die Bauform noch weiter verringert werden und durch die
geringen Abstände ein noch besserer Wärmekontakt zum Heizwi
derstand erzeugt werden, so daß die Empfindlichkeit dieses
Sensors sehr groß wird.
Anhand der Fig. 4 und 5 werden schematisch Anordnungen
für den Heizwiderstand 1 gezeigt. In Fig. 4 wird eine stan
dardgemäße Anordnung gewählt, bei der die Längsachse des
Heizwiderstandes in der <110<-Richtung ausgerichtet ist.
Diese Richtung erzeugt in ungünstiger Weise einen großen
Piezoeffekt. Dieses Achsenkreuz ist dreidimensional darge
stellt, wobei die Achsen der Grundebene <100< in die Rich
tungen <110< und <100< zeigen.
In Fig. 5 wird eine Anordnung für den Heizwiderstand 1 bzw.
den Temperatursensor 11 dargestellt, bei dem die Längsachse
des Widerstandes 1 in Richtung <100< liegt. Diese Anordnung
ist unempfindlich gegenüber piezoresistiven Effekten, so daß
Druckänderungen der Membran 9, in die dieser Widerstand
eindiffundiert ist, unberücksichtigt bleiben. Es wird auch
darauf hingewiesen, daß gute Ergebnisse sich dann ergeben,
wenn die Länge des Widerstandes ein mehrfaches,
beispielsweise mehr als das Fünffache der Breite des
Widerstandes entspricht.
Optimale Ergebnisse ergeben sich, wenn die vorgeschlagenen
Maßnahmen, die Ausrichtung der Widerstände nach der Orien
tierung des Silicium-Materials, Abstützungen der Membran und
Verwendung von Metallen als Widerstandsmaterial miteinander
kombiniert werden. Dadurch wird das Ausgangssignal des Mas
senflußsensors vom statischen und dynamischen Innendruck im
Strömungskanal des Hohlkörpers 5 praktisch unabhängig, so
daß im wesentlichen nur die durch die Temperaturänderung,
d. h. die durch den Massenfluß verursachte Kühlung des
Heizwiderstandes 1, gemessen wird.
Alternativ kann anstelle der Temperaturmessung mit einem
separaten Temperatursensor die Spannung am Heizwiderstand 1
als Maß für die Widerstandsänderung oder auch die zugeführte
Leistungsänderung, die durch die Kühlwirkung der Strömung
erforderlich ist, um den Heizwiderstand 1 auf einen
konstanten Wert zu halten, gemessen werden. In diesem Fall
erfolgt die Auswertung entweder über die Spannung am
Heizwiderstand 1 oder über den zugeführten Strom, wenn die
Heizleistung konstant gehalten wird.
Claims (6)
1. Massenflußsensor für Gase oder Flüssigkeiten mit einer
Membran auf der wenigstens ein Heizwiderstand oder
wenigstens ein Heizwiderstand zusammen mit wenigstens einem
Temperatursensor angeordnet ist, wobei die Abkühlung an der
Membran durch daran vorbeiströmende Gase oder Flüssigkeiten
ein Maß für den Massen- oder Volumenstrom ist, die Membran
aus Silizium besteht, wenigstens einer der genannten
Widerstände in die Membran eindiffundiert ist, und der
wenigstens eine eindiffundierte Widerstand eine längliche
Form aufweist, die sich der Länge nach größtenteils in eine
<100<-Kristallrichtung erstreckt.
2. Massenflußsensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Heizwiderstand (1) und ein Temperatursensor (11)
vorgesehen sind, und daß der Heizwiderstand (1) und der
Temperatursensor (11) unterschiedliche Materialien aufweisen
und/oder einen unterschiedlichen Querschnitt haben.
3. Massenflußsensor für Gase oder Flüssigkeiten mit einer
Membran auf der wenigstens ein Heizwiderstand oder
wenigstens ein Heizwiderstand zusammen mit wenigstens einem
Temperatursensor angeordnet ist, wobei die Abkühlung an der
Membran durch daran vorbeiströmende Gase oder Flüssigkeiten
ein Maß für den Massen- oder Volumenstrom ist, die Membran
zwischen den genannten Widerständen und dem Gas oder der
Flüssigkeit angeordnet ist, und die Membran durch
strukturierte Abstützungen (3a, 3) aus einem Material mit
schlechter Wärmeleitung, die nur stellenweise mit der
Membran verbunden sind, abgestützt ist.
4. Massenflußsensor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Abstützungen (3a) aus einer mechanisch steifen
Platte (4), beispielsweise Pyrexglas, heraustrukturiert
sind.
5. Massenflußsensor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß eine mechanisch steife Platte (4), beispielsweise aus
Pyrexglas, vorgesehen ist, und daß die Abstützungen (3)
zwischen der Platte (4) und der Membran angeordnet sind.
6. Massenflußsensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß jeweils wenigstens ein Tempera
tursensor (11) rechts und links des Heizwiderstandes (1) an
geordnet ist und daß durch Vergleich der gemessenen Tempera
turen die Strömungsrichtung des Gases oder der Flüssigkeit
bestimmbar und/oder eine Offsetkompensation durchführbar
ist.
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DE19944439222 DE4439222C2 (de) | 1994-11-03 | 1994-11-03 | Massenflußsensor mit Druckkompensation |
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DE19944439222 Expired - Fee Related DE4439222C2 (de) | 1994-11-03 | 1994-11-03 | Massenflußsensor mit Druckkompensation |
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