DE1774999C2 - Prüfvorrichtung für Münzen o.dgl - Google Patents
Prüfvorrichtung für Münzen o.dglInfo
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Description
)ic Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung für 11/cn od. dgl. mit einem an einem Münz-Durchlaufkaungeordneten
Sensor, zum Rrhalt eines Signals limmter Dauer aufgrund einer Zustandsänderung
Sensor beim Vorbeilauf einer Münze, sowie mit
;r Schädling /um Vergleich dieser Signaldaucr mit
;r l-üi'hmiin/cn entsprechenden Siandardzcildaucr,
deren Ergebnissignal eine Einrichtung zum Trennen vo: annehmbaren und nicht annehmbaren Münzen steuert.
Eine Prüfvorrichtung dieses Aufbaus, die im wesentli chen ohne bewegliche Teile auskommt, ist aus de
FR-PS 14 65 636 bekannt. An dem Münz-Durchlaufka nal der bekannten Prüfvorrichtung ist ein Sensor ii
Form eines Zweiges der Brücke eines Oszillator vorgesehen, an dem die Münzen vorbeigelangen
Solange sich an dem Sensor keine Münze vorbeibewegt ist die Brücke außer Gleichgewicht und der Oszillatoi
liefert ein sinusförmiges Signal. Dieses Signal wire unterbrochen, d. h. der Sensor nimmt einen geänderter
Zustand ein, wenn durch Vorbeibewegen einer Münze an dem Sensor die Brücke ins Gleichgewicht kommt
Ein mit dem Oszillator über einen Verstärker verbundener Detektor gibt umgekehrt nur dann ein Signal ab
wenn am Oszillator kein Signal erscheint, d. h. wenn sich eine annehmbare Münze am Sensor vorbeibewegt. Das
von dem Detektor abgegebene Signal wird in einem Schmitt-Trigger in ein Rechtecksignal umgewandelt,
wonach dieses Signal in einer Schaltung mit einem Standardsignal verglichen wird, das in einer monostabilen
Schaltung erzeugt wird. In der monostabilen Schaltung werden zwei solche Standardsignale erzeugt,
die eine obere und untere Toleranzgrenze darstellen. Nur wenn das von dem Schmitt-Trigger gelieferte
Signal bezüglich seiner Dauer innerhalb der beiden Toleranzgrenzen liegt, d. h. wenn die sich an dem Sensor
vorbeibewegende Münze eine annehmbare Münze ist, wird von der Vergleichsschaltung ein Signal abgegeben,
um z. B. einen Selbstkassierer so zu steuern, daß die annehmbare Münze in einen dafür vorgesehenen
Speicher fällt.
Die Prüfvorrichtung nach der FR-PS 14 65 636 weist
zwei wesentliche Nachteile auf. Die Prüfvorrichtung ist erstens nur zur Prüfung einer Sorte von Münzen
geeignet, da beim Vorbeilauf einer echten, jedoch einen anderen als der Eichung entsprechenden Wert aufweisenden
Münze an dem Sensor die Brücke nicht in eine Gleichgewichtslage gebracht und somit kein Signal
erzeugt wird. Wollte man die Prüfvorrichtung nach der FR-PS 14 65 636 gleichzeitig für mehrere Münzweite
verwenden, so wären drei verschiedene Münz-Durchlaufkanäle mit entsprechend geeichten Brückenschaltungen
erforderlich.
Wünscht man zweitens die Prüfvorrichtung nach der FR-PS 14 65 636 auf einen anderen Münzwert einzustellen,
so ist nicht nur die Standardzeitdauer einer monostabilen Schaltung einzustellen, sondern es ist auch
die Brückenschaltung auf den neuen Münzwert einzujustieren. Es versteht sich, daß eine solche
doppelte Einjustierung zeitaufwendig ist.
Der FR-PS 14 72 142 ist die Verwendung einer Lichtschranke als Sensor in Verbindung mit einer
Prüfvorrichtung für Münzen zu entnehmen. Die Lichtschranke hat dort jedoch keinerlei Prüffunktion zu
erfüllen. Vielmehr dient sie lediglich dazu, festzustellen, ob die zu prüfende Münze ihre Ruhelage eingenommen
hat. Die eigentliche Prüffunktion wird wie im Fall der zuvor genannten FR-PS von einer Wheatstoncschen
Brücke übernommen.
Aus den DT-PS 6 25 291 und 5 51 809 sind Prüfvorrichtungen
bekannt, die auf dem Prinzip beruhen, die Münzen aufgrund ihrer unterschiedlichen Flugbahnen
nach Herabrollen einer schrägen Laufbahn auszusortieren. Damit die Malerialbcschaffcnhcit der Münzen in
die Messung eingeht, sind neben der Laufbahn Magnete angeordnet, um die Münzen durch Wirbelströmc ie
nach Material unterschiedlich abzubremsen und dadurch die Flugbahn zu beeinflussen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Prüfvorrichtung für Münzen des eingangs genannten
Aufbaus zu schaffen, die also ohne bewegliche Teile auskommt und sich zur gleichzeitigen Prüfung unterschiedlicher
Münzwerte eignet. Außerdem soll das Umstellen cuf neue Münzwerte in einfacher Weise
möglich sein.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß vor dem Sensor im Münz-Durchlaufkanal das Feld
eines Magneten angeordnet ist und der Sensor eine Vorrichtung ist, die unabhängig von der Art der zu
prüfenden Münze während des Vorbeilaufs einer Münze einen zweiten von zwei alternativen Zuständen
einnimmt, und die Zeitdauer dieses zweiten Zustandes als alleiniges Kriterium für die Prüfung der Münzen das
Vergleichssignal zur Standardzeitdauer bildet.
Vorliegende Prüfvorrichtung beruht allein auf einem Vergleich der Zeitdauer, die eine zu prüfende Münze
zum Vorbeilauf an einem Sensor benötigt, mit einer Standardzeitdauer. Im Gegensatz hierzu hatte der
Sensor bei der Prüfvorrichtung nach der FR-PS 14 65 636 eine zusätzliche Prüfungsfunktion, da z.B.
Münzen falscher Materialzusammensetzung die Brücke nicht in eine Gleichgewichtslage bringen und somit ein
Signal am Ausgang des Oszillators erzeugen konnten.
Die Standardzeitdauer wird mit Hilfe einer monoEtabilen
Schaltung erhalten. Sollen mit vorliegender Vorrichtung Münzen unterschiedlichen Werts gleichzei·
tig geprüft werden, so ist lediglich erforderlich, mit Hilfe solcher monostabilen Schaltungen entsprechende Standardzeitdauern
festzulegen. Soll die Prüfvorrichtung z. B. bei einer Währungsumstellung auf neue Münzen
eingestellt werden, so ist lediglich erforderlich, neue Standardzeitdauern an den monostabilen Schaltungen
einzustellen. Eine Einjustierung der Sensoren wie bei der Prüfvorrichtung nach der FR-PS 14 65 636 ist nicht
erforderlich.
Ein weiterer Vorteil vorliegender Prüfvorrichtung gegenüber der nach der genannten FR-PS besteht darin,
daß sie eine wesentlich exaktere Zeitmessung erlaubt. Die Zustandsänderungen der Sensoren erfolgen sprungartig,
während die Zustandsänderung bei dem Sensor der bekannten Prüfvorrichtung allmählich erfolgt. Die
Vergleichsschaltung der bekannten Prüfvorrichtung erfordert daher noch die Zwischenschaltung eines
Schmitt-Triggers, um scharf abgegrenzte Signale zu erhalten.
Ausführungsbeispiele einer erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung werden nachfolgend anhand der Zeichnungen
näher beschrieben. Es zeigt
Fig. 1 eine Seitenansicht einer erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung, bei welcher ein Teil der Vorderwand
abgeschnitten ist,
Fig. 2 einen Schnitt durch die Vorrichtung nach Fig. 1 längs der geknickten Schnittlinie 11-11,
F i g. 3 ein Schaltbild der Prüfvorrichtung von Fig. I,
F i g. 4 eine Seitenansicht einer anderen Prüfvorrichtung, teilweise im Schnitt und
F i g. 5 ein Schaltbild der Prüfvorrichtung von F i g. 4.
Die Prüfvorrichtung nach Fig. I ist insgesamt mit 11
bezeichnet. Eine Rückwand 12 ist an ihrem oberen Ende mit Ansätzen 13 verschen und ein Vorderteil 14 tragt an
seinem oberen linde Ansätze 15. Die Ansätze 13 und 15 h_s
weiden durch einen Stift 16 zusammengehalten und /war in der Weise, daß der Vorteil gegenüber der
Rückwand drehbar ist. Ein Hebel 17 ist schwenkbar an der Rückwand 12 gelagert, wobei ein Ende des Hebels
17 einen der Ansätze 15 berührt Das andere Ende des Hebels 17 trägt einen Handgriff 18. Der Vorderteil 14
trägt einen schrägen Münz-Durchlaufkanal 19.
Ein Permanentmagnet 20 reicht durch ein Loch in der Rückwand 12 hindurch und wird von einem Arm 21
getragen, der an der Rückwand schwenkbar befestigt ist. Ein Fortsatz 22 des Vorderteils 14 steht mit dem Arm
21 in Berührung. Wenn der Handgriff 18 des Hebels 17 gedrückt wird, so wird der Vorderteil angehoben und
von der Rückwand 12 entfernt. Der Fortsatz 22 berührt den Arm 21, welcher den Magneten 20 von der
Vorderseite der Rückwand 12 fortbewegt.
Eine Sperre 23 ist über einen Arm 24 schwenkbar an der Rückwand 12 gelagert Die Sperre reicht durch
einen Schlitz in der Rückwand hindurch und setzt sich in den Raum zwischen der Rückwand und dem Vorderteil
fort. Eine Spule 25 ist auf der Rückwand angebracht und zieht bei ihrer Erregung den Arm 24 an, so daß die
Sperre in die Rückwand 12 zurückgezogen'wird.
Am oberen Ende des Vorderteils 14 ist ein Schacht 14' zum Einwurf von Münzen vorgesehen. Wenn eine
Münze aus einem eisenhaltigen Material in den Schacht eingeworfen wird, so gelangt sie in den Einflußbereich
des Magneten 20 und bleibt dort haften. Wenn man den Handgriff 18 drückt, wird der Magnet 20 zurückgezogen
und die Münze kann bis zum Boden der Einrichtung durchfallen. Die Sperre 23 liegt in einem solchen Winkel
zu dem schrägen Durchlaufkanal 19, daß Münzen verschiedenen Durchmessers an verschiedenen Stellen
des Durchlaufkanals 19 ihren Weg beginnen. Für große Münzen liegt der Punkt des Bewegungsbeginnes höher
als für kleine Münzen. Auf diese Weise entsteht ein größerer Unterschied zwischen den Zeiten, welche
Münzen verschiedenen Durchmessers zum Durchlaufen des Durchlaufkanals benötigen.
In der Rückwand 12 gegenüber dem schrägen
Durchlaufkanal 19 liegen zwei lichtempfindliche Transistoren 26 und 27. Gallium-Arsenid-Lichtquellen sind an
dem Vorderteil 14 gegenüber den Transistoren 26 und 27 angebracht, die einen Lichtstrahl aussenden, der beim
Durchlauf einer Münze unterbrochen wird. An dem Vorderteil ist zwischen den Transistoren 26 und 27 ein
Magnet 28 angebracht.
Eine in die Vorrichtung eingeworfene Münze wird auf dem schrägen Durchlaufkanal 19 durch die Sperre 23
festgehalten. In dieser Lage bedeckt die Münze den lichtempfindlichen Transistor 26. Dieser Transistor 26
liefert unter diesen Umständen ein Signal, welches über eine Verzögerungseinrichtung die Spule 25 eines
Solenoids erregt. Hierdurch wird die Sperre betätigt. Wenn die Münze aus einem eisenfreien Material
besteht, so rollt sie längs dem Durchlaufkanal 19 an dem Magneten 28 und an-dem Transistor 27 vorbei. Das
magnetische Feld des Magneten 28 erzeugt in der Münze Wirbelströme. Diese Wirbelströme sind ihrerseits
mit einem magnetischen Feld verbunden, welches mit dem magnetischen Feld des Magneten 28 zusammenwirkt
und eine Bremskraft auf die Münze ausübt. Die Größe der Wirbelströme und somit auch die Größe
der Bremskraft hängt von dem spezifischen Widerstand des Miinzenmatcrials ab. Die Geschwindigkeit der
Münze, mit welcher diese an dem lichtempfindlichen Transistor 27 vorbeiläuft, ist daher charakteristisch für
den Münzwert. Die Zeit, welche die Münze benötigt, um diesen Transistor 27 zu passieren, hängt von ihrer
Geschwindigkeit und von ihrem Durchmesser ab. Das Ausgangssigna! des Transistors 27 wird einer Schaltung
zugeführt, in welcher der Zeitbedarf der Münze für das Passieren des Transistors 27 mit einer .Standardzeitdauer
verglichen wird, welche solche Münzen benötigen, für die die "Prüfvorrichtung geeicht ist. Liegt die Zeil
innerhalb vorgegebener Toleranzgrenzen, so wird ein Signal von der Schaltung an ein Solenoid 29 geliefert,
das auf der Rückwand 12 befestigt ist.
Eine Laufbahn 30 ist an einem Arm 31 angebracht, welcher schwenkbar an der Rückseite der Rückwand 12
gelagert ist. Die Laufbahn 30 reicht durch einen Schlitz in der Rückwand 12 hindurch und erstreckt sich von
deren Vorderseite aus nach vorne. Vom unteren Ende des Durchlaufkanals 19 fallen dii Münzen auf die
Führungsschiene 30, wenn das Solenoid nicht erregt ist. Die längs der Führungsschiene 30 rollenden Münzen
fallen ' ein Sammelgefäß 32 für nicht angenommene Münzen. Wenn das Solenoid 29 erregt wird, so wird die
Führungsschiene 30 in die Rückwand 12 zurückgezogen,
und die Münzen fallen in ein nicht dargestelltes Sammelgefäß für angenommene Münzen.
F i g. 3 zeigt ein Schaltbild für eine Prüfvorrichtung nach Fig. 1. Das Ausgangssignal des Transistors 27
wird Schaltungen 34, 35 und 36 zugeführt. Diese Schaltungen sind den Münzen für beispielsweise 10
Pfennig, 50 Pfennig und 1,00 DM zugeordnet. Jede dieser Schaltungen enthält zwei monostabile Einheiten
39 und 40 nach Eccles-Jordan, mit denen die Ausgangsseite des Transistors 27 verbunden ist. Wenn
ein Signal an ihren Eingangsklemmen auftritt, liefern die monostabilen Einheiten ein Signal an ihren Ausgangsklemmen,
dessen Dauer durch die Größe eines einstellbaren Widerstandes bestimmt ist. Die monostabilen
Einheiten 39 und 40 sind mit Koinzidenzgattern 43 und 44 verbunden.
Die monostabile Einheit 39 liefert ein Signal, dessen Dauer der unteren Toleranzgrenze entspricht, welche
eine 10-Pfennig-Münze zum Passieren des Transistors 27 benötigt. Diese Zeitspanne wird mit derjenigen
Zeitspanne verglichen, welche eine die Prüfvorrichtung durchlaufende Münze für das Passieren des Transistors
27 benötigt, und zwar in dem Koinzidenzgatter 43. Es wird sodann ein Signal an einen Speicher 47 nur dann
gegeben, wenn die Dauer des Signals vom Transistor 27 größer ist als das Signal von der monostabilen Einheit
39. Der Speicher 47 speichert das ihm von dem Koinzidenzgatter 43 zugeleitete Signal.
Ebenso liefert die monostabile Einheit 40 ein Signal, dessen Dauer der oberen Toleranzgrenze entspricht,
welche eine 10-Pfennig-Münze zum Passieren des Transistors 27 benötigt. Von dem Koinzidenzgatter 44
gelangt dann ein Signal zu einem Speicher 48, wenn die Dauer des Signals vom Transistor 27 geringer ist als die
Dauer des Signals der monostabilen Einheit 44.
Die Ausgangsströme der Speicher 47 und 48 werden einem Und-Gatter 49 zugeleitet, das ein Ausgangssignal
stets dann liefert, wenn die angegebenen Bedingungen für eine 10-Pfennig-Münze erfüllt sind. Dieses Ausgangssignal wird einem Summierwerk 50 für die
10-Pfennig-Münzen und einem Nor-Gatter 51 zugeführt.
Ebenso liefert die Schaltung 35. die den 50-Pfennigstücken zugeordnet ist, ein Ausgangssignal an das
Nor-Gatter 51 und an ein 50-Pfennig-Summierwerk 52, wenn das Signal vom Transistor 27 den Erfordernissen
für ein 50-Pfennigstück entspricht Die 1,00-DM-Schaltung 36 liefert ein Ausgangssignal an das Nor-Gatter 51
sowie an em I,00-DM-Summierwerk 53, wenn das
Singal vom lichtempfindlichen Transistor 27 alle Erfordernisse für ein 1,00-DM-Stück erfüllt.
Das Vorhandensein eines Signals an einem der Eingänge des Nor-Gatters 51 bewirkt die Entstehung
eines Signals, welches die Spule des den annehmbaren Münzen zugeordneten Solenoids 29 erregt. Wenn eine
Münze in den Einwurfkanal 14' eingeführt wird, gelangt sie auf denjenigen Teil des schrägen DurchlauCkanals 19,
der dem Magneten 20 benachbart ist, so daß sie durch die Sperre 23 daran gehindert wird, sich auf dem
ίο Durchlaufkanal 19 nach unten zu bewegen. In dieser
Lage deckt die Münze den lichtempfindlichen Transistor 26 ab, so daß die Spule 25 nach einer geeigneten
Zeitverzögerung erregt wird. Die Sperre 23 wird somit aus dem Weg der Münze zurückgezogen und wenn die
Münze aus nicht eisenhaltigem Material besteht, rollt sie auf dem schrägen Kanal 19 nach unten. Besteht die
Münze jedoch aus einem eisenhaltigen Material, so wird sie vom Magneten 20 festgehalten. Um eine derartige
festgehaltene Münze zu lösen, wird der Handgriff 18 des Hebels 17 nach unten bewegt, so daß der Durchlaufkanal
19 und der Vorderteil 14 von der Rückwand 12 entfernt werden. Der Durchlaufkanal 19 wird somit
unter der Münze fortgezogen. Der Magnet 20 wird aus dem Loch in der Rückwand 12 zurückgezogen und
bewegt sich also von der Münze fort. Die Münze wird unter diesen Umständen nicht mehr vom Magneten
festgehalten und fällt bis zum Boden der Vorrichtung in ein Sammelgefäß 32 für nicht angenommene Münzen
hinab. Auf diese Weise wird eine Münze aus eisenhaltigem Material daran gehindert, den Magnpten
28 zu passieren und kann also nicht vom Magneten 28 dauernd festgehalten werden und den Weg für
annehmbare Münzen versperren.
Eisenfreie Münzen laufen den Durchlaufkanal 19 entlang und unterliegen einer Wirbelstrombremsung,
welche von dem Münzmaterial abhängt. Der Zeitbedarf einer Münze zum Passieren des Transistors 27 ist für die
Münze kennzeichnend. Diese Zeit wird mit der Standardzeitdauer einer Eichmünze verglichen und
wenn sie innerhalb der vorgeschriebenen Toleranzgrenzen ist. so wird die Spule 29 erregt und die
Führungsbahn 30 in die Rückwand 12 zurückgezogen. Die Münze, welche vom unteren Ende des schrägen
Durchlaufkanals 19 abfällt, gelangt in das Sammelgefäß für angenommene Münzen.
Wenn jedoch die Zeit einer zu prüfenden Münze nicht der Zeit einer Eichmünze entspricht, wird das Solenoid
29 nicht erregt und die Münzen fallen auf die Führungsschiene 30, so daß sie in das Sammelgefäß 32
für nicht angenommene Münzen gelangen.
F i g. 4 zeigt eine andere Prüfvorrichtung für Münzen gemäß der Erfindung. Ein Einwurftrichter 60 läßt die
Münzen an das obere Ende des schrägen Durchlaufkanals 61 gelangen. Ein Stift 62, der in den Weg der
Münzen von dem Einwurf trichter 60 zu dem Durchlaufkanal 61 hineinragt, lenkt die Münzen ab, so daß sie auf
eine Wand 63 am oberen Ende des Durchlaufkanals auftreffen. Em Magnet 64 befindet sich seitlich von dem
Durchlaufkanal 61. Münzen welche in den Einwurftrich
ter 60 eingeworfen werden, werden also durch den Stift
62 gegen die Wand 63 gedrückt, so daß sie längs des Durchlaufkanals 61 nahezu mit der Anfangsgeschwindigkeit 0 abrollen können. Dabei passieren diese
Münzen den Permanentmagneten 64. Es werden daher
in ihnen wieder Wirbelströme erzeugt welche eine Bremswirkung ausüben.
Der Durchlaufkanal 61 endet an einem vertikalen Kanal 65 und eine Laufbahn 66 von der gleichen
Schiaglage w,c der Durchlaufkanal 61 befinde, sich auf
der anderen See des vertikalen Kanals 65. Münzcnähnlicne
Stucke aus Kunststoff, welche in den Trichter eingeworfen werden, unterliegen keiner Bremsung
durch W.rbels.rome und rollen daher mit hoher
Gcschwndigkc,. bis zum unteren Ende des schrägen Durchlaufkanals 61. Sie überspringen dann den Kanal
und werden durch die Laufbahn 66 einem Sammelgefäß lur nicht angenommene Münzen zugeführt. Eine
MetiJJmunze dagegen wird durch die in ihr entstehenden
Wirbclstrome verzögert und gelangt in den Kanal
Ein lichtempfindlicher Transistor 67 ist seitlich von dem vertikalen Kanal 65 angeordnet. Wenn eine Münze
vor diesem Transistor vorbeiläuft, so liefert dieser ein ,«
Signal, welches einer Schaltung zugeführt wird
Am unteren Ende des vertikalen Kanals 65 befindet sich ein sogenannter Amboß 68 eines l.nearen
Transduktor* 69. Die Oberfläche dieses Ambosses ist abgeschrägt. Münzen, welche den Kanal 65 durchfallen
Irenen auf den Amboß 68 auf. Die Ablenkung des Ambosses hängt von der kinetischen Energie der Münze
ab und daher hängt auch die Zeit der Auslenkung des Ambosses aus seiner Ruhelage von dieser kinetischen
tncrgse der Münze ab.
Kiric Führungsbahn 70 ist auf dem Arm 71 befestigt, ^
wc eher schwenkbar an einer Stütze 72 angebracht ist
welche die anderen Teile der Einrichtung trägt Ein
Solenoid 73 ist in der Nähe der Führungsbahn 70 angeordnet. Eine weitere Führungsschiene 74 ist an dem
schon erwähnten Teil 72 befestigt. Die Oberfläche des Ambosses 68. die Führungsbahn 70 und die Führungsschiene
74 bilden mit ihren Oberflächen eine gerade Linie, wenn das Solenoid 73 nicht erregt ist. Erregt man
jedoch das Solenoid, so verlagert sich die Führungsschiene
70 aus der erwähnten geraden Linie heraus und Mun/en, welche die schräge Oberfläche des Ambosses
o» cntlanggcrolh sind, fallen unter Umgehung der Bahn
/»in cm Sammclgcfäß 75 für angenommene Münzen. t 'g. 5 zeigt die Schaltung der Ausführungsform nach
ig 4. welche derjenigen von F i g. 3 ähnlich ist, so daß
lediglich die von Fig. 3 abweichenden Teile beschrieben
werden sollen. Bei der Schaltung nach F i g. 5 wird aas Signal des Transduktors einer bistabilen Schaltung
/fe zugeführt, die ihrerseits ein Signal an ihren
Ausgangsklemmen liefert, wenn ein Signal an ihren
fngangsklcmmen auftritt. Die bistabile Schaltung
»clert also ein Signal, welches in seiner Länge der Dauer
. Auslenkung des Ambosses gleich ist Die Ausgangsseite
der bistabilen Schaltung ist mit den Eingangsklemmen
zweier monostabiler Einheiten jeder der Münzscna tungen 34,35 und 36 verbunden. Die Ausgangsseite
«es lichtempfindlichen Transistors 67 ist ebenfalls mit
" Elngangsseiten zweier monostabiler Schaltungen
verbunden.
Die Schaltung nach F i g. 5 vergleicht den Zeitbedarf
«er Münze zum Vorbeilauf an dem lichtempfindlichen
Tansistor 67 und die Zeit der Auslenkung des
Ambosses 68 mit den Zeiten für Eichmünzen. Wenn di«
Ze ten fur die Münzen innerhalb der vorgegebene Toleranzen hegen, so wird das Solenoid 73 erregt
E.ne in den Trichter 60 eingeworfene Münze gelang
auf den schrägen Durchlaufkanal 61 und wird wahren* des Abrollens auf diesem Kanal mittels des Magneten S
durch W.rbelstromkräfte gebremst. Die Geschwindig
ke.t, m„ wekher die Münze in den vertikalen Kanal I«
hineinfallt, hangt von ihrem spezifischen Widerstand von ihrer Oberfläche (wegen der Reibung zwischen de.
Münze und den Seitenwänden des schrägen Durchlaufkanals)
sowie von dem Trägheitsmoment (da die Bewegung aus dem Ruhezustand begann) ab D
Geschwindigkeit mit welcher die Münze an de*
Transistor 67 vorbeilauft, häng, also von dem Münzwen
ab. Die von der Münze zum Vorbeilauf an dem Transistor 67 benötigte Zeit häng, also von den
genannten Faktoren ab und ferner von dem Münzdurchmessen D.e Dauer des Signals von dem lichtempfindlichen
Transistor ist also kennzeichnend für den Munzwer. der Münze. Die Dauer des Signals des
Transistors wird in den Schaltungen mit der Dauer de
Signals von Eichmünzen verglichen und wenn der Vergleich e.ne Übereinstimmung innerhalb der vorgeschobenen
Toleranzgrenzen ergibt, wird jeweils ein Signal dem Betreffenden Speicher zugeführt
Die Münzen fallen dann auf dem Amboß 68 des Transduktors 69, und vom Transduktor wird somit ein
Signal proportional der Auslenkung des Ambosses geliefert. Die Auslenkung des Ambosses hängt von de
kinetischen Energie der Münze ab und diese wiederum ist kennzeichnend für den Münzwert. Die Dauer der
Ablenkung ist ebenfalls kennzeichnend für den Münzwert.
D.e Dauer der Ablenkung wird mi, der Ablenkung be, Eichmünzen verglichen und wenn der Vergleich eine
Übereinstimmung innerhalb der vorgegebenen ToIe
ranzerenzen praiUi m ~„i o.· 7
in die
Wenn alle Speicher für einen Münzwert gespeicherte
f'ffh hen7O HWlrddaS Solen0id 73 erregt und d.e
Laufbahn 70 wird in e.ne solche Lage gebracht, daß
Münzen von der schrägen Oberfläche des Ambosses 68 in das Sammelgefäß 75 für angenommene Münzen
rollen können.
Wenn die von den vorbeilaufenden Münzen erzeugten S.gnale dagegen keine annehmbare Münzen
anzeigen, wirdI das; Solenoid 73 nicht erregt und die
Laufbahn 70 fuhrt die Münzen der Führungsschiene 74 zu, von welcher sie in ein SammelgefäB für nicht
angenommene Münzen gelangen.
Nach dem Durchlauf jeder Münze werden die Speicher gelöscht
Die Erfindung zeigt somit, wie Münzen von verschiedenem Nennwert festgestellt und voneinander
unterschieden werden können. Es ist dabei bemerkenswert, daß die Prüfvorrichtung ohne bewegliche Teile
arbeitet
609631/84
Claims (6)
1. Prüfvorrichtung für Münzen od. dgl. mit einem an einem Münz-Durchlaufkanal angeordneten Sensor,
zum Erhalt eines Signals bestimmter Dauer aufgrund einer Zustandsänderung ara Sensor beim
Vorbeilauf einer Münze, sowie mit einer Schaltung zum Vergleich dieser Signaldauer mii einer Eichmünzen
entsprechenden Standardzeitdauer, deren Ergebnissignal eine Einrichtung zum Trennen von
annehmbaren und nichtannehmbaren Münzen steuert, dadurch gekennzeichnet, daß vor
dem Sensor (27) im Münz-Durchlaufkanal (19) das Feld eines Magneten (28) angeordnet ist und der
Sensor eine Vorrichtung ist, die unabhängig von der Art der zu prüfenden Münze während des
Vorbeilaufs einer Münze einen zweiten von zwei alternativen Zuständen einnimmt, und die Zeitdauer
dieses zweiten Zustandes als alleiniges Kriterium für die Prüfung der Münzen das Vergleichsignal zur
Standardzeitdauer bildet.
2. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Sensorausgang zusammen
mit dem Ausgang eines Signalgenerators wie einer monostabilen Schaltung (39, 40) an der Vergleichsschaltung
(43, 44) anliegt und die Vergleichsschaltung die Dauer des zweiten Zustandes des Sensors
mit dem Ausgang des Signalgenerators vergleicht.
3. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Sensor (27) an
einem geneigten Münz-Durchlaufkanal (19) unterhalb einer Münzsperre (23) angeordnet ist, welche
die Münzen zu Beginn des Durchlaufkanals anhält und sie dann zum Durchlaufen des Kanals freigibt.
4. Prüfvorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Münzsperre einen mit dem
bewegbaren Anker eines Solenoids (25) verbundenen Anschlag (23) zum Anhalten der Münzen zu
Beginn des Durchlaufkanals (19) aufweist, und daß ein zweiter Sensor (26) neben dem Anschlag (23) so
angeordnet ist, daß eine von dem Anschlag (23) angehaltene Münze an dessen Ausgang eine
Zustandsänderung bewirkt, wobei der Sensor (26) in einem Stromversorgungskreis des Solenoids (25)
angeordnet ist, der den Solenoid bei einer Zustandsänderung am Sensorausgang erregt.
5. Prüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Sensor eine
Lichtschranke (27) ist.
6. Prüfvorrichtung nach einem der Ansprüche I bis für Münzen unterschiedlichen Werts, dadurch
gekennzeichnet, daß einem einzigen Münz-Durchlaufkanal (19) mit Sensor (27) eine Mehrzahl an
Vergleichsschaltungen (43, 44) zum Vergleich der Signaldauer am Sensor mit den annehmbaren
Münzen der unterschiedlichen Werte entsprechenden Standardzeitdauern zugeordnet sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19681774999 DE1774999C2 (de) | 1967-07-17 | 1968-07-17 | Prüfvorrichtung für Münzen o.dgl |
Applications Claiming Priority (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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