CN203929811U - 一种测试夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种测试夹具，用于夹持矢量网络分析仪的标准件，包括底座，底座上设有放置标准件的凹槽，凹槽内设有安装标准件的安装孔；凹槽的中轴位置处开设有矩形槽，矩形槽的一端部设置挡板，另一端部设置接头。上述标准件也可以是测试件基片。本实用新型采用上述结构，提供一种测试夹具，减少测试校准件时候的人工误差，从而达到修正矢量网络分析仪的系统误差的目的。另外，该测试夹具的底座材料为黄铜，表面镀金处理，有助于熔锡焊接共面波导软基片，提高校准件与测试件的微波性能。
Description
技术领域
本实用新型涉及矢量网络分析仪，具体涉及用于该矢量网络分析仪的测试夹具。
背景技术
目前的矢量网络分析仪，是新一代微波毫米波测量技术及射频功率器件的表征平台。矢量网络分析仪既能测量单端口网络或两端口网络的各种参数幅值，又能测相位，即通过激励—响应测试来建立线性网络的传输与阻抗，矢量网络分析仪能用史密斯圆图显示测试数据。矢量网络分析仪功能很多，被称为“仪器之王”，是射频微波领域的万用表，主要测试微波网络的S参数。在微波频段，因为采用了波的概念，所以微波网络常用S参数表示。双口网络都可以用4个S参数（S11、S12、S21、S22）来表示其端口特性。S参量表达的是功率波，可以用入射功率波和反射功率波的方式来定义网络的输入、输出关系。S参数类似于反射和传输特性。在测量、建模和设计多元件的复杂系统中，器件的S参数特性起着关键的作用。矢量网络分析仪能方便快捷地测量出被测器件的四个S参数。
矢量网络分析仪采用校准和矢量误差修正提高测量精度，基于校准件的电子校准应用日趋广泛。矢量网络分析仪的附件包括各种校准件，在日常测试时必须先进行校准。校准的目的即是修正矢量网络分析仪的系统误差。掌握矢量网络分析仪的误差修正原理和操作方法，有助于操作者更好地使用矢量网络分析仪，取得真实可靠的测试结果。目前对测试校准件一般均是采用手持，这样给测量带来了一定的误差。
实用新型内容
因此，针对上述的问题，本实用新型提出一种用于矢量网络分析仪的测试夹具，也就是为校准件提供一个载台，从而避免手持而产生的误差。
为了解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是，一种测试夹具，用于夹持矢量网络分析仪的标准件，包括底座，底座上设有放置标准件的凹槽，凹槽内设有安装标准件的安装孔；凹槽的中轴位置处开设有矩形槽，矩形槽的一端部设置挡板，另一端部设置接头。上述标准件也可以是测试件基片。
进一步的，所述接头是SMA（Sub-Miniature-A，无线电天线接口）接头。
进一步的，所述底座是黄铜底座。进一步的，所述底座的表面镀金，有助于熔锡焊接共面波导的标准件，提高校准件的微波性能。镀金厚度0.002mm左右。
进一步的，所述矩形槽的宽度为2.5mm-4mm，优选的该矩形槽的宽度为3.5mm，保证标准件放置凹槽内时，矩形槽的宽度大于标准件的中心条带和缝隙的宽度之和，并不影响标准件的测试。
其中，所述标准件是开路校准件、短路校准件、匹配负载校准件或者直通校准件。标准件又称校准件，其技术指标已知，并且是可表征的。常用的校准标准有开路器、短路器、固定匹配负载、滑动匹配负载和精密空气线等，每一套标准件至少包含三个性能差别很大且相对独立的标准。美国Aglient公司根据不同测试精度将标准件分成三个级别，即经济级校准件，主要有开路器、短路器和固定匹配负载；标准级校准件，主要有开路器、短路器和滑动匹配负载；精密级校准件，主要有开路器、短路器、低频固定负载和精密空气线。每一个标准都有严格的数学定义，标准件的数学定义放在磁盘或磁带中供矢量网络分析仪调用。
本实用新型采用上述结构，提供一种测试夹具，减少测试校准件时候的人工误差，从而达到修正矢量网络分析仪的系统误差的目的。另外，该测试夹具的底座（或称载台）材料为黄铜，表面镀金处理，有助于熔锡焊接共面波导软基片，提高校准件与测试件的微波性能。
附图说明
图1为本实用新型的测试夹具的立体示意图；
图2为本实用新型的测试夹具的主视图；
图3为本实用新型的测试夹具的左视图；
图4为本实用新型的测试夹具的右视图；
图5为本实用新型的测试夹具的俯视图；
图6为本实用新型的测试夹具的仰视图；
图7a为本实用新型的开路校准件的俯视图；
图7b为本实用新型的开路校准件的仰视图；
图8为本实用新型的开路校准件与测试夹具配合的示意图。
具体实施方式
现结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。
本实用新型所采用的技术方案是，一种测试夹具，用于夹持矢量网络分析仪的标准件，参见图1-图8，其包括底座10，底座10上设有放置标准件20的凹槽11，凹槽11内设有安装标准件20的安装孔12；凹槽11的中轴位置处开设有矩形槽13，矩形槽13的一端部设置挡板14，另一端部设置接头15。
其中，所述接头15是SMA（Sub-Miniature-A，无线电天线接口）接头15，例如型号为D550P0204F01的接头，其性能为：频率范围DC-27GHz；VSWR:DC-18GHz是为1.1，18GHz-27GHz时为1.15。所述底座10是黄铜底座10。所述底座10的表面镀金，有助于熔锡焊接共面波导软基片，提高校准件与测试件的微波性能。
另外，所述矩形槽13的宽度为2.5mm-4mm，本实施例中，参见图2，该矩形槽13的宽度为3.5mm，保证标准件20放置凹槽11内时，矩形槽13的宽度大于标准件的中心条带和缝隙的宽度之和，并不影响标准件的测试。
其中，标准件20可以是开路校准件、短路校准件、匹配负载校准件或者直通校准件。本实施例以开路校准件为例来说明该测试夹具的应用。图7a和图7b分别为开路校准件的俯视图和仰视图。其共面波导基板材料是聚四氟乙烯玻璃布基板，双面板，介电常数：2.65，厚度：0.5mm，铜箔厚度：0.035mm。共面波导物理尺寸：中心条带宽度：W1=1.36mm，缝隙宽度：S1=1mm，长度：L1=30mm。开路校准件与测试件基片加工如图7a和图7b所示，上下面为镜像对称，单位为mm，Φ1为金属化孔，上下金属面都做镀金处理，镀金厚度0.002mm。
将该开路校准件放置于测试夹具上，其安装后的示意图如图8所示。其采用匹配校准件安装的匹配负载为日本YDS公司的表贴匹配负载HPT1608-50，工作频率0-15GHz，承受功率最大值2.5W，电压驻波比如下表所示。
| 频率(GHz) | 0-3 | 3.1-5 | 5.1-7.5 | 7.6-10 | 10.1-12.5 | 12.6-15 |
| VSWR | 1.2 | 1.2 | 1.3 | 1.3 | 1.4 | 1.5 |
因此，超过该频率范围的测试，如进行矢网端口的匹配负载校准，用户需连接矢网自带的匹配负载，而不是该匹配负载校准件。也可以采用高精度50Ω微波薄膜电阻作为匹配负载，以扩展该匹配负载校准件的工作频率范围到20GHz以上。
直通校准件校准之后，直接焊接接地电容后变成测试件，这样可提高ESR测试精度。
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。
Claims (7)
1.一种测试夹具，用于夹持矢量网络分析仪的标准件，其特征在于：包括底座，底座上设有放置标准件的凹槽，凹槽内设有安装标准件的安装孔；凹槽的中轴位置处开设有矩形槽，矩形槽的一端部设置挡板，另一端部设置接头。
2.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于：所述接头是SMA接头。
3.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于：所述底座是黄铜底座。
4.根据权利要求3所述的测试夹具，其特征在于：所述底座的表面镀金。
5.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于：所述矩形槽的宽度为2.5mm - 4mm。
6.根据权利要求5所述的测试夹具，其特征在于：所述该矩形槽的宽度为3.5mm。
7.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于：所述标准件是开路校准件、短路校准件、匹配负载校准件或者直通校准件。
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Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105004893A (zh) * | 2015-08-04 | 2015-10-28 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具 |
| CN105988022A (zh) * | 2014-12-30 | 2016-10-05 | 乐荣工业股份有限公司 | 测试治具及其操作方法 |
| CN107942157A (zh) * | 2017-10-31 | 2018-04-20 | 广东生益科技股份有限公司 | 无源互调测试夹具及装置 |
| CN109738785A (zh) * | 2018-12-24 | 2019-05-10 | 贵州航天计量测试技术研究所 | 一种用于微波芯片测试校准的装置及方法 |
| CN111398693A (zh) * | 2020-04-28 | 2020-07-10 | 江苏神州半导体科技有限公司 | 一种基于s参数网络分析仪测量真空电容esr和q值的方法 |
| CN113406485A (zh) * | 2021-08-19 | 2021-09-17 | 深圳飞骧科技股份有限公司 | 芯片测试夹具及芯片测试夹具组合 |
| CN114113691A (zh) * | 2021-11-24 | 2022-03-01 | 电子科技大学 | 一种可实现校准和去嵌入技术的波导端口测试夹具 |
| CN115014941A (zh) * | 2022-06-02 | 2022-09-06 | 广东嘉元科技股份有限公司 | 适用于单开口检测机构的铜箔在线检测方法及设备 |
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Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105988022A (zh) * | 2014-12-30 | 2016-10-05 | 乐荣工业股份有限公司 | 测试治具及其操作方法 |
| CN105004893A (zh) * | 2015-08-04 | 2015-10-28 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具 |
| CN107942157A (zh) * | 2017-10-31 | 2018-04-20 | 广东生益科技股份有限公司 | 无源互调测试夹具及装置 |
| CN107942157B (zh) * | 2017-10-31 | 2020-06-16 | 广东生益科技股份有限公司 | 无源互调测试夹具及装置 |
| CN109738785A (zh) * | 2018-12-24 | 2019-05-10 | 贵州航天计量测试技术研究所 | 一种用于微波芯片测试校准的装置及方法 |
| CN111398693A (zh) * | 2020-04-28 | 2020-07-10 | 江苏神州半导体科技有限公司 | 一种基于s参数网络分析仪测量真空电容esr和q值的方法 |
| CN113406485A (zh) * | 2021-08-19 | 2021-09-17 | 深圳飞骧科技股份有限公司 | 芯片测试夹具及芯片测试夹具组合 |
| CN114113691A (zh) * | 2021-11-24 | 2022-03-01 | 电子科技大学 | 一种可实现校准和去嵌入技术的波导端口测试夹具 |
| CN115014941A (zh) * | 2022-06-02 | 2022-09-06 | 广东嘉元科技股份有限公司 | 适用于单开口检测机构的铜箔在线检测方法及设备 |
| CN115014941B (zh) * | 2022-06-02 | 2023-01-06 | 广东嘉元科技股份有限公司 | 适用于单开口检测机构的铜箔在线检测方法及设备 |
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