CN209372983U - 微控制器管脚参数自动测试平台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种微控制器管脚参数自动测试平台,该平台与被测芯片连接,所述的测试平台包括数字万用表、电子负载、数字电源和IO管脚自动测试平台控制板,所述的IO管脚自动测试平台控制板分别与数字万用表、被测芯片连接,所述的数字万用表通过继电器开关分别与电子负载、数字电源、被测芯片连接,所述的电子负载与IO管脚自动测试平台控制板连接,所述的数字电源通过继电器开关分别与数字电源、被测芯片连接。与现有技术相比,本实用新型具有无需在每次测试时重新搭建测试电路,简化了测试流程等优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及微控制器管脚参数测试技术,尤其是涉及一种微控制器管脚参数自动测试平台。
背景技术
目前微控制器管脚参数测试基本上是人工搭建好电路再利用相关的测量仪器进行测量,主要不足之处有如下几点:
测试流程复杂:每次测试前都需要重新搭建电路,且不同参数测试的电路原理不同,因此电路的搭建、调试以及测试过程的操作都较为耗时,测试人员还需要具有相关的专业知识以及良好的心理素质才能完成此测试工作。
测试费用昂贵:有些失效分析的曲线若人工测试则需要测试大量数据,测试过较为复杂,测试结果偏差较大,这种情况下的测试会交由其它测试厂家用精密仪器进行测试,但测试费用高昂,一般只会在分析特殊问题时才会使用。
测试精度有限:有些参数测试在测量仪器相同的情况下受环境和操作流程影响较大,使测试数据的精度受限。
实用新型内容
本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种微控制器管脚参数自动测试平台。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现:
一种微控制器管脚参数自动测试平台,该平台与被测芯片连接,所述的测试平台包括数字万用表、电子负载、数字电源和IO管脚自动测试平台控制板,所述的 IO管脚自动测试平台控制板分别与数字万用表、被测芯片连接,所述的数字万用表通过继电器开关分别与电子负载、数字电源、被测芯片连接,所述的电子负载与 IO管脚自动测试平台控制板连接,所述的数字电源通过继电器开关分别与数字电源、被测芯片连接。
优选地,所述的数字万用表为六位半数字万用表。
优选地,所述的电子负载为可编程电子负载。
优选地,所述的数字电源为可编程数字电源。
优选地,所述的数字万用表依次通过继电器开关K3、继电器开关K1与被测芯片的IO管脚连接,所述的数字万用表依次通过继电器开关K4、继电器开关K2 与电子负载的正极连接,所述的IO管脚自动测试平台控制板分别通过串口与数字万用表、电子负载和被测芯片连接,构成微控制器管脚拉电流测试装置。
优选地,所述的数字万用表依次通过继电器开关K3、继电器开关K1与被测芯片的IO管脚连接,所述的数字万用表依次通过继电器开关K4、继电器开关K2 与电子负载的负极连接,所述的数字电源的正极与电子负载的正极连接,所述的 IO管脚自动测试平台控制板分别通过串口与数字万用表、电子负载和被测芯片连接,构成微控制器管脚灌电流测试装置。
优选地,所述的数字万用表依次通过继电器开关K5、继电器开关K1与被测芯片的IO管脚输出接口连接,所述的电子负载正极依次通过继电器开关K2、继电器开关K7与被测芯片的IO管脚输入接口连接,所述的IO管脚自动测试平台控制板分别通过串口与数字万用表、数字电源和被测芯片连接,构成微控制器管脚输入电平特性测试装置。
优选地,所述的数字万用表依次通过继电器开关K12、继电器开关K5与数字模拟转换器DAC连接,所述的数字万用表通过继电器开关K13与数字电源的正极连接,所述的数字电源的正极通过继电器开关K15与被测芯片的VDD管脚连接,所述的数字模拟转换器依次通过继电器开关K5、继电器开关K14与被测芯片的IO 管脚连接,所述的被测芯片的VSS管脚依次通过继电器开关K11、继电器开关K9 后接在继电器开关K14与被测芯片IO管脚之间,所述的被测芯片的VSS管脚通过继电器开关K10接在继电器开关K14和继电器开关K5之间,所述的IO管脚自动测试平台控制板分别与数字模拟转换器DAC、数字电源和被测芯片连接,构成微控制器管脚二极管特性测试装置。
与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:
无需在每次测试时重新搭建测试电路,简化了测试流程;无需人工过多参与,减少了测试过程中的误操作和测试数据记录出错的现象;部分失效分析可以使用测试平台测试,减少高昂的测试费用;减小人为操作对测试精度的影响,提高测试精度;自动化测试流程,方便、快捷、高效较少测试时间,增加测试数据点。
附图说明
图1微控制器管脚拉电流的测试结构图;
图2微控制器管脚灌电流的测试结构图;
图3微控制器管脚输入电平特性的测试结构图;
图4微控制器管脚二极管特性测试结构图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例,而不是全部实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都应属于本实用新型保护的范围。
本实用新型采用微型计算机技术控制各种精密实验仪器设备模拟人工测试的流程实现微控制器管脚参数的自动测试,并把测试数据处理后上传给计算机生成文件报告。
本方案所使用的测量仪器包括六位半数字万用表、可编程电子负载、可编程数字电源,测量仪器的精度直接影响测试数据的精度,可根据测试需求选择测量仪器,但测量仪器必须具备编程功能。
测试平台与各仪器之间进行通信连接后,选择测试模式,测试平台会通过微型继电器控制开关切换,使测试电路与测试模式相对应,然后按照程控流程控制仪器自动测量相关参数,并将处理后的数据上传至计算机端。
如图1-图4所示,一种微控制器管脚参数自动测试平台,该平台与被测芯片 RB005连接,所述的测试平台包括数字万用表RB001、电子负载RB002、数字电源RB003和IO管脚自动测试平台控制板RB004,所述的IO管脚自动测试平台控制板RB004分别与数字万用表RB001、被测芯片RB005连接,所述的数字万用表 RB001通过继电器开关分别与电子负载RB002、数字电源RB003、被测芯片RB005 连接,所述的电子负载RB002与IO管脚自动测试平台控制板RB004连接,所述的数字电源RB003通过继电器开关分别与数字电源RB003、被测芯片RB005连接。
所述的数字万用表RB001为六位半数字万用表。所述的电子负载RB002为可编程电子负载。所述的数字电源RB003为可编程数字电源。
如图1示,所述的数字万用表RB001依次通过继电器开关K3、继电器开关 K1与被测芯片RB005的IO管脚连接,所述的数字万用表RB001依次通过继电器开关K4、继电器开关K2与电子负载RB002的正极连接,所述的IO管脚自动测试平台控制板RB004分别通过串口与数字万用表RB001、电子负载RB002和被测芯片RB005连接,构成微控制器管脚拉电流测试装置。
如图2示,所述的数字万用表RB001依次通过继电器开关K3、继电器开关 K1与被测芯片RB005的IO管脚连接,所述的数字万用表RB001依次通过继电器开关K4、继电器开关K2与电子负载RB002的负极连接,所述的数字电源RB003 的正极与电子负载RB002的正极连接,所述的IO管脚自动测试平台控制板RB004 分别通过串口与数字万用表RB001、电子负载RB002和被测芯片RB005连接,构成微控制器管脚灌电流测试装置。
如图3示,所述的数字万用表RB001依次通过继电器开关K5、继电器开关 K1与被测芯片RB005的IO管脚输出接口连接,所述的电子负载RB002正极依次通过继电器开关K2、继电器开关K7与被测芯片RB005的IO管脚输入接口连接,所述的IO管脚自动测试平台控制板RB004分别通过串口与数字万用表RB001、数字电源RB003和被测芯片RB005连接,构成微控制器管脚输入电平特性测试装置。
如图4示,所述的数字万用表RB001依次通过继电器开关K12、继电器开关 K5与数字模拟转换器DAC连接,所述的数字万用表RB001通过继电器开关K13 与数字电源RB003的正极连接,所述的数字电源RB003的正极通过继电器开关 K15与被测芯片RB005的VDD管脚连接,所述的数字模拟转换器依次通过继电器开关K5、继电器开关K14与被测芯片RB005的IO管脚连接,所述的被测芯片 RB005的VSS管脚依次通过继电器开关K11、继电器开关K9后接在继电器开关 K14与被测芯片RB005IO管脚之间,所述的被测芯片RB005的VSS管脚通过继电器开关K10接在继电器开关K14和继电器开关K5之间,所述的IO管脚自动测试平台控制板RB004分别与数字模拟转换器DAC、数字电源RB003和被测芯片 RB005连接,构成微控制器管脚二极管特性测试装置。
本实用新型微工作过程包括以下步骤:
上电后测试平台会进入初始化状态,随后可以在计算机上选择相应的测试模式;
选择测试模式后,测试平台会通过继电器开关的通断切换至相应的测试模式;
测试平台控制各测量仪器按照预设的测试流程完成测试操作,并将测试数据发送至计算机端。
所述的测试模式具体包括:
测试模式一,测试平台控制继电器开关将测试电路切换为微控制器管脚拉电流测试装置,并将被测微控制器管脚配置为推挽输出高,然后控制可编程电子负载按照预设流程进行分压并将分压值实时反馈给测试平台,同时六位半数字万用表实时监测电流变化将电流值反馈给测试平台,测试平台将接收到的数据处理后发送至计算机端,然后进行下一组测试,直至完成所有管脚的测试;
测试模式二,测试平台控制继电器开关将测试电路切换为微控制器管脚灌电流测试装置,并将被测微控制器管脚配置为推挽输出低,然后控制可编程电子负载按照预设流程进行分压并将分压值实时反馈给测试平台,同时六位半数字万用表实时监测电流变化将电流值反馈给测试平台,测试平台将接收到的数据处理后发送至计算机端,然后进行下一组测试,直至完成所有管脚的测试;
测试模式三,测试平台控制继电器开关将测试电路切换为微控制器管脚输入电平特性测试装置,并将被测微控制器管脚分为两组,第一组配置为输入状态,第二组配置为输出状态且为第一组管脚的映射,然后控制可编程数字电源向第一组管脚脚输入一个不断变化的电压值并对该电压实时监测;同时六位半数字万用表则实时监测输出管脚的电压变化情况并将监测结果反馈给测试平台,当输出管脚有高低电平变换时,测试平台会记录此时的输入的电压值,并将测试数据处理后发送至计算机端,然后进行下一组测试,直至完成所有管脚的测试;
测试模式四,测试平台控制继电器开关将测试电路切换为微控制器管脚二极管特性测试装置,然后控制可编程数字电源提供一个不断增大的电压,并将电压值实时反馈回来;与此同时测试平台会控制六位半数字万用表监测电路中的电流,并将电流值实时反馈回来,当测试平台接收到反馈的电流值或电压值大于或等于限定值时将终止测试,并将接收到的测试数据处理后上传至计算机端,然后进行下一组测试,直至完成所有管脚的测试。
事先将测量仪器与测试平台的接口连接,选择测试模式后整个测试过程都按照程控流程自动完成,无需人工参与,测试完成后在计算机端将测试数据导出做相应的测试分析即可。
以上所述,仅为本实用新型的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,可轻易想到各种等效的修改或替换,这些修改或替换都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (8)
1.一种微控制器管脚参数自动测试平台,该平台与被测芯片(RB005)连接,其特征在于,所述的测试平台包括数字万用表(RB001)、电子负载(RB002)、数字电源(RB003)和IO管脚自动测试平台控制板(RB004),所述的IO管脚自动测试平台控制板(RB004)分别与数字万用表(RB001)、被测芯片(RB005)连接,所述的数字万用表(RB001)通过继电器开关分别与电子负载(RB002)、数字电源(RB003)、被测芯片(RB005)连接,所述的电子负载(RB002)与IO管脚自动测试平台控制板(RB004)连接,所述的数字电源(RB003)通过继电器开关分别与数字电源(RB003)、被测芯片(RB005)连接。
2.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台,其特征在于,所述的数字万用表(RB001)为六位半数字万用表。
3.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台,其特征在于,所述的电子负载(RB002)为可编程电子负载。
4.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台,其特征在于,所述的数字电源(RB003)为可编程数字电源。
5.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台,其特征在于,所述的数字万用表(RB001)依次通过继电器开关K3、继电器开关K1与被测芯片(RB005)的IO管脚连接,所述的数字万用表(RB001)依次通过继电器开关K4、继电器开关K2与电子负载(RB002)的正极连接,所述的IO管脚自动测试平台控制板(RB004)分别通过串口与数字万用表(RB001)、电子负载(RB002)和被测芯片(RB005)连接,构成微控制器管脚拉电流测试装置。
6.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台,其特征在于,所述的数字万用表(RB001)依次通过继电器开关K3、继电器开关K1与被测芯片(RB005)的IO管脚连接,所述的数字万用表(RB001)依次通过继电器开关K4、继电器开关K2与电子负载(RB002)的负极连接,所述的数字电源(RB003)的正极与电子负载(RB002)的正极连接,所述的IO管脚自动测试平台控制板(RB004)分别通过串口与数字万用表(RB001)、电子负载(RB002)和被测芯片(RB005)连接,构成微控制器管脚灌电流测试装置。
7.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台,其特征在于,所述的数字万用表(RB001)依次通过继电器开关K5、继电器开关K1与被测芯片(RB005)的IO管脚输出接口连接,所述的电子负载(RB002)正极依次通过继电器开关K2、继电器开关K7与被测芯片(RB005)的IO管脚输入接口连接,所述的IO管脚自动测试平台控制板(RB004)分别通过串口与数字万用表(RB001)、数字电源(RB003)和被测芯片(RB005)连接,构成微控制器管脚输入电平特性测试装置。
8.根据权利要求1所述的一种微控制器管脚参数自动测试平台,其特征在于,所述的数字万用表(RB001)依次通过继电器开关K12、继电器开关K5与数字模拟转换器DAC连接,所述的数字万用表(RB001)通过继电器开关K13与数字电源(RB003)的正极连接,所述的数字电源(RB003)的正极通过继电器开关K15与被测芯片(RB005)的VDD管脚连接,所述的数字模拟转换器依次通过继电器开关K5、继电器开关K14与被测芯片(RB005)的IO管脚连接,所述的被测芯片(RB005)的VSS管脚依次通过继电器开关K11、继电器开关K9后接在继电器开关K14与被测芯片(RB005)IO管脚之间,所述的被测芯片(RB005)的VSS管脚通过继电器开关K10接在继电器开关K14和继电器开关K5之间,所述的IO管脚自动测试平台控制板(RB004)分别与数字模拟转换器DAC、数字电源(RB003)和被测芯片(RB005)连接,构成微控制器管脚二极管特性测试装置。
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