CN117784999B - 涂布方法及系统、计算机设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种涂布方法及系统、计算机设备和存储介质，涉及电池生产技术领域，以至少解决相关技术中采用极值偏移算法进行非削薄区的巡边，使得非削薄区的准确度不高等问题。该方法包括：获取极片对应的涂布重量数据；其中，所述极片包括涂布区和留白区，所述涂布区涂覆有活性物质涂层；基于所述涂布重量数据和所述极片对应的基准重量，从所述极片中确定所述涂布区；其中，所述涂布区包括削薄区和非削薄区，所述削薄区的涂层厚度小于所述非削薄区的涂层厚度；基于所述极片的属性信息，从所述涂布区中确定所述非削薄区。

Description

涂布方法及系统、计算机设备和存储介质

技术领域

本公开涉及但不限于电池生产技术领域，尤其涉及一种涂布方法及系统、计算机设备和存储介质。

背景技术

相关技术中，基本上都是通过极值偏移算法从涂布重量数据中确定非削薄区边缘，而由于涂布区中的削薄区本身是不平滑的，则该算法对于削薄区的数据无法准确处理，使得该非削薄区的准确度不高。

发明内容

本公开实施例提供一种涂布方法及系统、计算机设备和存储介质，能够至少解决相关技术中采用极值偏移算法进行非削薄区的巡边，使得非削薄区的准确度不高等问题。本公开通过极片对应的涂布重量数据、极片对应的基准重量及极片的属性信息来确定有效的非削薄区，提高了非削薄区的准确度。

本公开实施例的技术方案是这样实现的：

本公开实施例提供一种涂布方法，该方法包括：

获取极片对应的涂布重量数据；其中，所述极片包括涂布区和留白区，所述涂布区涂覆有活性物质涂层；

基于所述涂布重量数据和所述极片对应的基准重量，从所述极片中确定所述涂布区；其中，所述涂布区包括削薄区和非削薄区，所述削薄区的涂层厚度小于所述非削薄区的涂层厚度；

基于所述极片的属性信息，从所述涂布区中确定所述非削薄区。

在一些实施方式中，所述基于所述涂布重量数据和所述极片对应的基准重量，从所述极片中确定所述涂布区，包括：基于所述极片对应的基材的重量和所述极片对应的涂布的重量，确定所述极片对应的基准重量；基于所述极片对应的基准重量，对所述涂布重量数据进行更新，得到更新后的涂布重量数据；基于所述更新后的涂布重量数据，从所述极片中确定所述涂布区。

在本公开实施方式中，一方面，通过该极片对应的基材的重量和涂布的重量来确定该基准重量，提高了基准重量确定的准确度；另一方面，通过该基准重量从该涂布重量数据中进行涂布区的巡边，提高了涂布区确定的准确度，进而有助于确定非削薄区。

在一些实施方式中，所述基于所述极片对应的基材的重量和所述极片对应的涂布的重量，确定所述极片对应的基准重量，包括：确定所述基材的重量和所述涂布的重量之间的和值；其中，所述涂布的重量包括以下之一：单面涂布的重量、双面涂布的重量；基于所述和值，确定所述极片对应的基准重量。

在本公开实施方式中，通过基材的重量及单/双面涂布的重量之间的和值来实时确定该基准重量，相较于恒定的基准重量而言，提高了基准重量的准确度。

在一些实施方式中，所述涂布重量数据包括所述极片中至少一个检测位置对应的重量，所述更新后的涂布重量数据包括每一所述检测位置对应的目标重量；所述基于所述极片对应的基准重量，对所述涂布重量数据进行更新，得到更新后的涂布重量数据，包括：针对所述极片中每一检测位置对应的重量，基于所述检测位置对应的重量和所述极片对应的基准重量，确定所述检测位置对应的目标重量。

在本公开实施方式中，根据该基准重量和各个检测位置对应的重量来确定各个检测位置对应的目标重量，提高了该检测位置对应的目标重量的准确度，从而提高了涂布区巡边的准确度。

在一些实施方式中，所述基于所述检测位置对应的重量和所述极片对应的基准重量，确定所述检测位置对应的目标重量，包括以下至少之一：在所述检测位置对应的重量小于所述极片对应的基准重量的情况下，将预设重量作为所述检测位置对应的目标重量；在所述检测位置对应的重量不小于所述极片对应的基准重量的情况下，将检测位置对应的重量作为所述检测位置对应的目标重量。

在本公开实施方式中，将基准重量和检测位置对应的重量进行比较，以将预设重量或检测位置对应的重量作为该目标重量，提高了目标重量的准确度，从而提高了涂布区巡边的准确度。

在一些实施方式中，所述极片的属性信息包括以下至少之一：削薄区的属性信息、光斑区的属性信息；所述基于所述极片的属性信息，从所述涂布区中确定所述非削薄区，包括：在所述极片的属性信息包括所述削薄区的属性信息和所述光斑区的属性信息的情况下，将所述涂布区两侧的边界线分别朝中间平移第一长度后所形成的区域，作为所述非削薄区；其中，所述第一长度包括所述削薄区的宽度和所述光斑区的半径；在所述极片的属性信息包括所述削薄区的属性信息情况下，将所述涂布区两侧的边界线分别朝中间平移第二长度后所形成的区域，作为所述非削薄区；其中，所述第二长度包括所述削薄区的宽度；在所述极片的属性信息包括所述光斑区的属性信息的情况下，将所述涂布区两侧的边界线分别朝中间平移第三长度后所形成的区域，作为所述非削薄区；其中，所述第三长度包括所述光斑区的半径。

在本公开实施方式中，根据预设的削薄区和/或光斑区的大小，从该涂布区中确定该非削薄区，提高了非削薄区的准确度。

在一些实施方式中，所述方法还包括：将所述非削薄区划分为至少一个涂膜子区；针对每一涂膜子区，基于所述涂膜子区对应的涂布重量数据，确定所述涂膜子区对应的分区信息。

在本公开实施方式中，一方面，将非削薄区划分为多个涂膜子区，使得各个子区涂布的重量数据与实际分区大小及位置均相符合，能够真实反应各个实际分区所包含的涂布重量数据；另一方面，根据各个涂膜子区对应的涂布重量数据来确定各个子区对应的分区信息，提高了分区信息的准确度。

在一些实施方式中，所述方法还包括：针对所述非削薄区中的每一涂膜子区，基于所述涂膜子区对应的涂布重量数据和所述涂膜子区对应的分区信息，确定所述涂膜子区的涂布质量。

在本公开实施方式中，根据各个涂膜子区对应的涂布重量数据和分区信息来分别确定各个涂膜子区的涂布质量，提高了各个子区的涂布质量的准确度，不仅能够快速且有效地定位是否存在质量异常的子区，从而提高了涂布的生产效率，而且降低了涂布异常的极片的流出的可能性，从而在后续极片的生产过程中，保证了极片表面的涂布质量，进而保证了电池的容量、寿命及安全性。

在一些实施方式中，所述涂膜子区对应的涂布重量数据包括至少一个检测位置对应的重量，所述涂膜子区的分区信息包括平均重量；所述基于所述涂膜子区对应的涂布重量数据和所述涂膜子区对应的分区信息，确定所述涂膜子区的涂布质量，包括：基于每一所述检测位置对应的重量和所述平均重量，确定所述涂膜子区对应的第一重量；基于阈值重量、所述平均重量和所述第一重量，确定所述涂膜子区对应的第二重量；其中，所述阈值重量是基于每一所述检测位置对应的重量确定的；基于所述第一重量、所述平均重量和所述第二重量，确定所述涂膜子区的涂布质量。

在本公开实施方式中，根据各个检测位置对应的重量、该子区的平均重量及该子区的阈值重量来确定该子区的涂布质量，提高了该子区的涂布质量的准确度。

在一些实施方式中，所述基于每一所述检测位置对应的重量和所述平均重量，确定所述涂膜子区对应的第一重量，包括：分别确定每一所述检测位置对应的重量与所述平均重量之间的第一差值；基于每一所述第一差值和所述涂膜子区对应的重量总数，确定所述涂膜子区对应的第一重量；其中，所述重量总数表征所述涂膜子区对应的涂布重量数据中包含的重量的总数。

在本公开实施方式中，根据各个检测位置对应的重量与平均重量之间的差值、及该子区对应的重量总数来确定该第一重量，提高了第一重量的准确度，从而提高了该子区的涂布质量的准确度。

在一些实施方式中，所述阈值重量包括最大重量和最小重量；所述基于阈值重量、所述平均重量和所述第一重量，确定所述涂膜子区对应的第二重量，包括：确定所述平均重量与所述最小重量之间的第二差值；确定所述最大重量与所述平均重量之间的第三差值；基于所述第二差值、所述第三差值和所述第一重量，确定所述涂膜子区对应的第二重量。

在本公开实施方式中，根据最大重量、最小重量、平均重量及第一重量来确定该第二重量，提高了第二重量的准确度，从而提高了该子区的涂布质量的准确度。

在一些实施方式中，所述基于所述第一重量、所述平均重量和所述第二重量，确定所述涂膜子区的涂布质量，包括：确定第三重量与对应的阈值之间的偏差值；其中，所述第三重量包括所述第一重量、所述平均重量和所述第二重量；在所述偏差值满足预设条件的情况下，确定所述涂膜子区的涂布质量不存在异常；在所述偏差值不满足所述预设条件的情况下，确定所述涂膜子区的涂布质量存在异常。

在本公开实施方式中，根据各个子区的不同重量及对应的阈值来确定该子区的涂布质量是否存在异常，不仅能够快速且有效地定位存在质量异常的子区，从而提高了涂布的生产效率，而且降低了涂布异常的极片的流出的可能性。

在一些实施方式中，所述方法包括：显示第一界面；其中，所述第一界面包括显示区域；响应于接收到所述极片的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息，在所述显示区域中显示所述极片的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息。

在本公开实施方式中，通过在第一界面中实时显示各个涂膜子区对应的分区信息，较为直观的反映各个子区的涂布情况，从而能够快速且有效地定位是否存在涂布质量异常的子区。

在一些实施方式中，所述显示区域包括第一显示子区域和第二显示子区域；所述在所述显示区域中显示所述极片的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息，包括：在所述第一显示子区域中，以第一显示方式显示所述极片的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息；在所述第二显示子区域中，以第二显示方式显示所述极片的至少一个历史非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息。

在本公开实施方式中，通过不同的显示方式分别展示当前非削薄区中各个子区、及多个历史非削薄区中各个子区对应的分区信息，较为直观的反映每一趟涂布时各个涂膜子区对应的涂布情况，从而能够快速且有效地定位当前趟涂布时是否存在涂布质量异常的子区、各趟涂布时同一涂膜子区是否存在异常情况等。

在一些实施方式中，所述第一界面中还包括第一设置控件，所述方法还包括：响应于对所述第一设置控件的触发操作，显示第二界面；其中，所述第二界面中包括属性设置控件，所述属性设置控件用于设置所述极片的属性信息，所述极片的属性信息包括以下至少之一：削薄区的属性信息、光斑区的属性信息。

在本公开实施方式中，通过可视化的界面来设定极片的属性信息，在简化了操作步骤的同时还提高了极片的属性信息的准确度。

在一些实施方式中，所述第一界面中还包括第二设置控件，所述方法还包括：响应于对所述第二设置控件的触发操作，显示第三界面；其中，所述第三界面中包括基材设置控件和涂布重量设置控件，所述基材设置控件用于设置所述极片对应的基材的重量，所述涂布重量设置控件用于设置所述极片对应的涂布的重量。

在本公开实施方式中，通过可视化的界面来设定极片对应的基材的重量和涂布的重量，在简化了操作步骤的同时还提高了信息的准确度。

本公开实施例提供一种涂布系统，包括控制装置和采集装置，其中：

所述采集装置，用于采集极片对应的涂布重量数据；其中，所述极片包括涂布区和留白区，所述涂布区涂覆有活性物质涂层；

所述控制装置，用于基于所述涂布重量数据和所述极片对应的基准重量，从所述极片中确定所述涂布区；其中，所述涂布区包括非削薄区和削薄区，所述削薄区的涂层厚度小于所述非削薄区的涂层厚度；基于所述极片的属性信息，从所述涂布区中确定所述非削薄区。

在本公开实施例中，通过采集装置采集的极片对应的涂布重量数据、极片对应的基准重量及极片的属性信息来确定有效的非削薄区，相较于通过极值偏移算法进行非削薄区的巡边而言，提高了非削薄区的准确度。

在一些实施方式中，所述涂布系统还包括显示装置；所述控制装置，还用于：针对所述非削薄区中的每一涂膜子区，基于所述涂膜子区对应的涂布重量数据，确定所述涂膜子区对应的分区信息；所述显示装置，用于显示每一所述涂膜子区对应的分区信息。

在本公开实施方式中，一方面，根据各个涂膜子区对应的涂布重量数据来确定各个子区对应的分区信息，提高了分区信息的准确度；另一方面，通过实时显示各个涂膜子区对应的分区信息，较为直观的反映各个子区的涂布情况，从而能够快速且有效地定位是否存在涂布质量异常的子区。

本公开实施例提供一种计算机设备，包括处理器和存储器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项方法。

本公开实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述任一项方法。

本公开实施例提供一种计算机程序产品，包括计算机程序或指令，所述计算机程序或指令被处理器执行时实现上述任一项方法。

在本公开实施例中，通过获取极片对应的涂布重量数据；其中，所述极片包括涂布区和留白区，所述涂布区涂覆有活性物质涂层；基于所述涂布重量数据和所述极片对应的基准重量，从所述极片中确定所述涂布区；其中，所述涂布区包括非削薄区和削薄区，所述削薄区的涂层厚度小于所述非削薄区的涂层厚度；基于所述极片的属性信息，从所述涂布区中确定所述非削薄区。这样，通过极片对应的涂布重量数据、极片对应的基准重量及极片的属性信息来确定有效的非削薄区，相较于通过极值偏移算法进行非削薄区的巡边而言，提高了非削薄区的准确度。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，而非限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，这些附图示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于说明本公开的技术方案。

图1为本公开实施例提供的一种涂布方法的实现流程示意图一；

图2为本公开实施例提供的一种第一界面的示意图一；

图3为本公开实施例提供的一种第一界面的示意图二；

图4为本公开实施例提供的一种第二界面的示意图；

图5为本公开实施例提供的一种第三界面的示意图；

图6为本公开实施例提供的一种涂布方法的实现流程示意图二；

图7为本公开实施例提供的一种涂布方法的实现流程示意图三；

图8为本公开实施例提供的一种涂布方法的实现流程示意图四；

图9为本公开实施例提供的一种涂布系统的组成结构示意图；

图10为本公开实施例提供的一种计算机设备的硬件实体示意图。

具体实施方式

为了使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本公开作进一步地详细描述，所描述的实施例不应视为对本公开的限制，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本公开保护的范围。

在以下的描述中，涉及到“一些实施例”，其描述了所有可能实施例的子集，但是可以理解，“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集，并且可以在不冲突的情况下相互结合。

在以下的描述中，所涉及的术语“第一\第二\第三”仅仅是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二\第三”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序，以使这里描述的本公开实施例能够以除了在这里图示或描述的以外的顺序实施。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本公开的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本公开实施例的目的，不是旨在限制本公开。

相关技术中，新能源电池在生活和产业中的应用越来越广泛。新能源电池不仅被应用于水力、火力、风力和太阳能电站等储能电源系统，而且还被广泛应用于电动自行车、电动摩托车、电动汽车等电动交通工具，以及航空航天等多个领域。随着动力电池应用领域的不断扩大，其市场的需求量也在不断地扩增。电池可以是电池单体。电池单体是指能够实现化学能和电能相互转换的基本单元，可以用于制作电池模组或电池包，从而用于向用电装置供电。电池单体可以为二次电池，二次电池是指在电池单体放电后可通过充电的方式使活性材料激活而继续使用的电池单体。电池单体可以为锂离子电池、钠离子电池、钠锂离子电池、锂金属电池、钠金属电池、锂硫电池、镁离子电池、镍氢电池、镍镉电池、铅蓄电池等。电池还可以是包括一个或多个电池单体以提供更高的电压和容量的单一的物理模块。电池单体有多个时，多个电池单体通过汇流部件串联、并联或混联。

电池单体包括电极组件和电解质，电极组件包括正极极片、负极极片和隔离件。电池单体主要依靠金属离子在正极极片和负极极片之间移动来工作。正极极片包括正极集流体（又称之为正极基材）和正极活性物质层，正极活性物质层涂覆于正极集流体的表面。以锂离子电池为例，正极集流体的材料可以为铝，正极活性物质层包括正极活性物质，正极活性物质可以为钴酸锂、磷酸铁锂、三元锂或锰酸锂等。负极极片包括负极集流体（又称之为负极基材）和负极活性物质层，负极活性物质层涂覆于负极集流体的表面。负极集流体的材料可以为铜，负极活性物质层包括负极活性物质，负极活性物质可以为碳或硅等。

正负极片是电池单体的主要组成部分，直接决定电池的电化学性能以及安全性。正负极片是通过对涂布后的基材分切而成。涂布是指将制作好的电池浆料均匀地、连续或间断地涂布在基材（或集流体）上的过程。电池浆料是由粘结剂、活性物质、导电剂等材料制成。基材可以是任意合适的基材，例如，铝箔、铜箔等。极片包括涂布区和留白区。留白区是指不需要进行涂布的区域，即集流体表面不涂覆活性物质层的区域，该留白区为后续加工工序（例如，切割极耳）预留操作空间。涂布区是指需要进行涂布的区域，即在基材的至少一个表面（包括正面、反面等）涂覆活性物质层的区域。该涂布区包括削薄区和非削薄区，削薄区位于该涂布区的边缘，削薄区的涂层厚度小于该非削薄区的涂层厚度。

极片的涂布质量与电池容量、寿命、安全性等密切相关，其中，极片的涂布质量主要是指非削薄区的涂布质量。目前，基本上都是通过极值偏移算法，对获取的涂布重量数据进行巡边，以得到该非削薄区边缘，而无法获取削薄区边缘，由于削薄区的重量数据是不平滑的，则该算法对于削薄区的数据无法准确处理，使得确定的非削薄区的准确度不高。同时，由于该非削薄区的准确度不高，那么，每一趟涂布重量数据确定的非削薄区可能都不一样，使得每一非削薄区对应的各个分区所包含的重量数据也不一样，无法真实反映实际分区所包含的重量数据。

本公开实施例提供一种涂布方法，通过极片对应的涂布重量数据、极片对应的基准重量及极片的属性信息来确定有效的非削薄区，相较于通过极值偏移算法进行非削薄区的巡边而言，提高了非削薄区的准确度。本公开实施例提供的方法可以由计算机设备执行，计算机设备可以为笔记本电脑，平板电脑，台式计算机、涂布设备等各种类型的终端。在一些实施方式中，该涂布设备还具有控制装置，该控制装置可以为可编程逻辑控制器（Programmable Logic Controller，PLC）、单片机、中位机、上位机中的至少一个。

下面，将结合本公开实施例中的附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

图1为本公开实施例提供的一种涂布方法的实现流程示意图一，如图1所示，该方法包括步骤S11至步骤S13，其中：

步骤S11、获取极片对应的涂布重量数据。

这里，极片包括涂布区和留白区，涂布区涂覆有活性物质涂层。该涂布重量数据包括极片中各个检测位置对应的涂布重量。在实施时，涂布是沿着极片的长度方向进行，该长度方向与宽度方向相垂直。当对极片进行本次涂布后，在涂布区域的宽度方向的两侧边缘会出现明显的重量跃迁，而未发生重量跃迁的区域则为留白区，发生重量跃迁的区域则是涂布区。该涂布区包括非削薄区和削薄区。在涂布的过程中，为了避免极片产生厚边、鼓边等问题，需要对极片的边缘区域的涂布进行削薄处理而产生削薄区。

该涂布重量数据的获取方式可以是任意合适的方式，例如，预设的采集装置，比如，测厚仪、重量检测仪、面密度仪等。涂布重量数据可以是指涂布的密度、重量、厚度等。

步骤S12、基于涂布重量数据和极片对应的基准重量，从极片中确定涂布区。

这里，涂布区包括削薄区和非削薄区，削薄区的涂层厚度小于非削薄区的涂层厚度。不同的极片可以对应相同或不同的基准重量。在一些实施方式中，该基准重量是基于该极片对应的基材的重量和涂布的重量来确定的。其中，涂布的重量可以包括但不限于A面的涂布的重量、A+B面的涂布的重量等。其中，A面为极片的一个表面，B面为极片的另一表面。在实施时，若进行A面涂布，那么，该涂布的重量可以是A面的涂布的重量；若在A面涂布后进行B面涂布，那么，该涂布的重量可以是A+B面涂布的重量。在一些实施方式中，A/B面的涂布的重量与该极片对应。不同的极片可以具有相同或不同的A/B面的涂布的重量。

在一些实施方式中，基准重量的确定方式可以包括但不限于该极片对应的基材的重量和涂布的重量之间的均值/方差/均方差、该均值/方差/均方差的加权/取对数/取指数等。例如，将该极片对应的基材的重量和涂布的重量之间的均值作为该极片对应的基准重量。

在一些实施方式中，步骤S12包括步骤S121至步骤S123，其中：

步骤S121、基于极片对应的基材的重量和极片对应的涂布的重量，确定极片对应的基准重量。

这里，涂布的重量可以包括但不限于A面的涂布的重量、A+B面的涂布的重量等。在实施时，不同的极片对应相同或不同的基材的重量及涂布的重量。

基准重量的确定方式可以包括但不限于该极片对应的基材的重量和涂布的重量之间的均值/方差/均方差、该均值/方差/均方差的加权/取对数/取指数等。

在一些实施方式中，步骤S121包括步骤S1211至步骤S1212，其中：

步骤S1211、确定基材的重量和涂布的重量之间的和值。

其中，涂布的重量包括以下之一：单面涂布的重量、双面涂布的重量。其中，单面涂布的重量可以是指A面涂布的重量。双面涂布的重量可以是指A+B面涂布的重量。在一些实施方式中，涂布的重量是预先设定的。例如，在对极片的A面进行涂布时，该涂布的重量则为A面涂布的重量；在对极片的B面进行涂布时，该涂布的重量则为A+B面涂布的重量。

步骤S1212、基于和值，确定极片对应的基准重量。

以该和值的均值作为该极片对应的基准重量为例。在一些实施方式中，可以通过 下述公式（1-1）确定该极片对应的基准重量，即：

（1-1）；

其中，为基材的重量，涂布的重量。

这样，通过基材的重量及单/双面涂布的重量之间的和值来实时确定该基准重量，相较于恒定的基准重量而言，提高了基准重量的准确度。

步骤S122、基于极片对应的基准重量，对涂布重量数据进行更新，得到更新后的涂布重量数据。

这里，涂布重量数据包括该极片中至少一个检测位置对应的重量。在实施时，检测位置的数量与极片的宽度适配。例如，极片宽度为1000毫米（Millimeter，mm），该检测位置的数量也可以为1000个，即：该涂布重量数据包括1000个检测位置对应的重量。

涂布重量数据的更新方式可以包括但不限于替换、保持不变等。例如，将某一检测位置对应的重量与基准重量进行比较，若该检测位置对应的重量小于该基准重量，那么，将该检测位置对应的重量更新为预设重量；若该检测位置对应的重量不小于该基准重量，那么，将该检测位置对应的重量保持不变。其中，该预设重量可以是任意合适的重量，例如，0、0.5微克（microgram，ug）等。

在一些实施方式中，更新后的涂布重量数据包括每一检测位置对应的目标重量；步骤S122包括步骤S1221，其中：

步骤S1221、针对极片中每一检测位置对应的重量，基于检测位置对应的重量和极片对应的基准重量，确定检测位置对应的目标重量。

这里，目标重量可以是该检测位置对应的重量、或预设重量等。其中，该预设重量可以是任意合适的重量，例如，0、0.5 ug等。在实施时，将该检测位置对应的重量和基准重量进行比较，以确定该检测位置对应的目标重量。

在一些实施方式中，步骤S1221中的“基于检测位置对应的重量和极片对应的基准重量，确定检测位置对应的目标重量”，包括步骤S141和/或步骤S142，其中：

步骤S141、在检测位置对应的重量小于极片对应的基准重量的情况下，将预设重量作为检测位置对应的目标重量。

这里，若该检测位置对应的重量小于基准重量，则表明该检测位置可以属于留白区，那么，将预设重量作为该检测位置对应的目标重量。其中，该预设重量可以是任意合适的重量，例如，0。

步骤S142、在检测位置对应的重量不小于极片对应的基准重量的情况下，将检测位置对应的重量作为检测位置对应的目标重量。

这里，若该检测位置对应的重量不小于该基准重量，则表明该检测位置可以属于涂布区，那么，将该检测位置对应的重量作为该检测位置对应的目标重量。

这样，将基准重量和检测位置对应的重量进行比较，以将预设重量或检测位置对应的重量作为该目标重量，提高了目标重量的准确度，从而提高了涂布区巡边的准确度。其中，巡边是指获取涂布区的边缘。

步骤S123、基于更新后的涂布重量数据，从极片中确定涂布区。

这里，对该更新后的涂布重量数据依次进行遍历，当某一重量从预设重量变为非预设重量时，则该非预设重量对应的检测位置则为涂布区的左边缘；当某一重量从非预设重量变为预设重量时，该非预设重量对应的检测位置则为涂布区的右边缘，那么，由左边缘和右边缘构成的区域作为该涂布区。

例如，该更新后的涂布重量数据包括：{A0、A1、A2、……A97、A98、A99}，从A0开始进行遍历，若A0~A2均为预设重量，A3为非预设重量，那么，将A3对应的检测位置则为涂布区的左边缘；若A4~A97均为非预设重量，A98为预设重量，那么，将A97对应的检测位置则为涂布区的右边缘。

在一些实施方式中，由于采集装置的安装可能会受到现场安装空间的限制，那么，采集装置的起始扫描位置可能和涂布设备实际涂布方向相反，此时，需要对该更新后的涂布重量数据进行反向处理，即：对该更新后的涂布重量数据进行反向遍历，当某一重量从预设重量变为非预设重量时，则该非预设重量对应的检测位置则为涂布区的左边缘；当某一重量从非预设重量变为预设重量时，该非预设重量对应的检测位置则为涂布区的右边缘，那么，由左边缘和右边缘构成的区域作为该涂布区。

例如，该更新后的涂布重量数据包括：{A0、A1、A2、……A97、A98、A99}，从A99开始进行遍历，若A98~A99均为预设重量，A97为非预设重量，那么，将A97对应的检测位置则为涂布区的左边缘；若A4~A97均为非预设重量，A3为预设重量，那么，将A4对应的检测位置则为涂布区的右边缘。

在本公开实施方式中，一方面，通过该极片对应的基材的重量和涂布的重量来确定该基准重量，提高了基准重量确定的准确度；另一方面，通过该基准重量从该涂布重量数据中进行涂布区的巡边，提高了涂布区确定的准确度，进而有助于确定非削薄区。

步骤S13、基于极片的属性信息，从涂布区中确定非削薄区。

这里，极片的属性信息可以包括但不限于削薄区的属性信息、光斑区的属性信息等中的至少之一。削薄区的属性信息可以包括但不限于宽度、长度等。光斑区的属性信息可以包括但不限于光斑区的半径、直径等。例如，该极片的属性信息包括削薄区的宽度和/或光斑区的半径。在实施时，该削薄区的宽度和光斑区的半径可以是预设设定的，该削薄区的宽度/光斑区的半径可以是任意合适的值。例如，0、5 mm等。

该非削薄区不大于该涂布区。例如，若该削薄区的宽度和光斑区的半径均为0，那么，该涂布区则为该非削薄区；若该削薄区的宽度不为0、和/或光斑区的半径不为0，那么，该非削薄区小于该涂布区。

在一些实施方式中，步骤S13包括步骤S131至步骤S133中的之一，其中：

步骤S131、在极片的属性信息包括削薄区的属性信息和光斑区的属性信息的情况下，将涂布区两侧的边界线分别朝中间平移第一长度后所形成的区域，作为非削薄区；其中，第一长度包括削薄区的宽度和光斑区的半径。

这里，削薄区的属性信息可以包括削薄区的宽度，该削薄区的宽度可以是任意合适的值，例如，0、5mm等。光斑区的属性信息可以包括光斑区的半径，该光斑区的半径可以是任意合适的值，例如，0、8mm、10mm等。在实施时，可以预先设定该削薄区的宽度和光斑区的半径。

该非削薄区不大于该涂布区。例如，若该削薄区的宽度和光斑区的半径均为0，那么，该第一长度为0，此时，涂布区则为非削薄区；若该削薄区的宽度不为0、和/或光斑区的半径不为0，那么，该第一长度大于0，此时，该非削薄区小于该涂布区。比如，若削薄区的宽度和光斑区的半径均为5mm，涂布区的宽度为200mm，那么，此时，非削薄区的宽度为。

步骤S132、在极片的属性信息包括削薄区的属性信息的情况下，将涂布区两侧的边界线分别朝中间平移第二长度后所形成的区域，作为非削薄区；其中，第二长度包括削薄区的宽度。

这里，削薄区的属性信息可以包括削薄区的宽度。第二长度可以为0，也可以大于0。在实施时，若该极片的属性信息仅包括削薄区的属性信息时，该第二长度为削薄区的宽度。

该非削薄区不大于该涂布区。例如，若该削薄区的宽度为0，那么，该第二长度为0，此时，涂布区则为非削薄区；若该削薄区的宽度不为0，那么，该第二长度大于0，此时，该非削薄区小于该涂布区。比如，若削薄区的宽度10mm，涂布区的宽度为300mm，那么，此时，非削薄区的宽度为。

步骤S133、在极片的属性信息包括光斑区的属性信息的情况下，将涂布区两侧的边界线分别朝中间平移第三长度后所形成的区域，作为非削薄区；其中，第三长度包括光斑区的半径。

这里，光斑区的属性信息可以包括光斑区的半径。第三长度可以为0，也可以大于0。在实施时，若该极片的属性信息仅包括光斑区的属性信息时，第三长度可以为0，也可以大于0。在实施时，若该极片的属性信息仅包括光斑区时，该第三长度为光斑区的半径。

该非削薄区不大于该涂布区。例如，若该光斑区的半径为0，那么，该第三长度为0，此时，涂布区则为非削薄区；若该光斑区的半径不为0，那么，该第三长度大于0，此时，该非削薄区小于该涂布区。比如，若光斑区的半径8mm，涂布区的宽度为200mm，那么，此时，非削薄区的宽度为。

这样，根据预设的削薄区和/或光斑区的大小，从该涂布区中确定该非削薄区，提高了非削薄区的准确度。

在本公开实施例中，通过获取极片对应的涂布重量数据；其中，极片包括涂布区和留白区，涂布区涂覆有活性物质涂层；基于涂布重量数据和极片对应的基准重量，从极片中确定涂布区；其中，涂布区包括非削薄区和削薄区，削薄区的涂层厚度小于非削薄区的涂层厚度；基于极片的属性信息，从涂布区中确定非削薄区。这样，通过极片对应的涂布重量数据、极片对应的基准重量及极片的属性信息来确定有效的非削薄区，相较于通过极值偏移算法进行非削薄区的巡边而言，提高了非削薄区的准确度。

在一些实施方式中，该方法还包括步骤S151至步骤S152，其中：

步骤S151、将非削薄区划分为至少一个涂膜子区。

这里，涂膜子区的数量可以为至少一个，例如，2个、4个。划分方式可以是任意合适的方式，例如，均匀、随机等。在一些实施方式中，同一极片的宽度尺寸可以是多个极片的宽度之和，在实施时，可以沿非削薄区的宽度方向进行切割，形成多个极片。在一些实施方式中，将该非削薄区划分为多个涂膜子区，通过对不同子区的涂布质量进行评估，以快速定位存在质量异常的子区，从而调节该子区对应的浆料的流动，即：调节该子区的涂层的厚度，以使得该子区的涂布质量达标。

步骤S152、针对每一涂膜子区，基于涂膜子区对应的涂布重量数据，确定涂膜子区对应的分区信息。

这里，分区信息可以是任意合适的信息。例如，平均重量、阈值重量等。其中，阈值重量可以包括最大重量、最小重量等。例如，可以将该涂膜子区包括的各个检测位置对应的重量的均值作为该分区信息。又例如，从该涂膜子区包括的各个检测位置对应的重量中，将最大重量和最小重量作为该分区信息。

在本公开实施方式中，一方面，将非削薄区划分为多个涂膜子区，使得各个子区涂布的重量数据与实际分区大小及位置均相符合，能够真实反应各个实际分区所包含的涂布重量数据；另一方面，根据各个涂膜子区对应的涂布重量数据来确定各个子区对应的分区信息，提高了分区信息的准确度。

在一些实施方式中，该方法还包括步骤S161至步骤S162，其中：

步骤S161、显示第一界面；其中，第一界面包括显示区域。

这里，第一界面用于对极片进行配置操作及信息展示的交互界面。第一界面可以包括但不限于可进行配置操作的区域、操作控件等。其中，可进行配置操作的区域可以包括但不限于对极片进行配置的区域、对各个涂膜子区进行拟合的区域等中的至少之一。在实施时，本领域技术人员可以根据实际情况确定第一界面中可进行配置操作的区域的数量、以及每一可进行配置操作的区域在第一界面中的具体布局，本公开实施例不作限定。

操作控件可以是任意合适的可进行操作的控件。例如，第一设置控件、第二设置控件、显示控件等。其中，第一设置控件主要用于对极片的属性信息进行配置。显示控件用于显示各个涂膜子区对应的分区信息。第二设置控件主要用于设置极片对应的基材的重量、涂布的重量等。在实施时，本领域技术人员可以根据实际情况确定操作控件的数量、以及每一操作控件在第一界面中的位置，本公开实施例不作限定。

第一界面可以显示在任意合适的具有界面交互功能的计算机设备上，比如，可以在笔记本电脑、手机、平板电脑、掌上电脑、个人数字助理、数字电视或台式计算机等上显示第一界面。在实施时，显示第一界面的计算机设备与执行该涂布方法的计算机设备可以是相同的，也可以是不同的，这里并不限定。例如，执行该涂布方法的计算机设备可以为涂布设备，显示第一界面的计算机设备可以为笔记本电脑，第一界面可以为该笔记本电脑上运行的客户端的交互界面，也可以是该笔记本电脑上运行的浏览器中显示的网页。又例如，执行该涂布方法的计算机设备和显示第一界面的计算机设备均为涂布设备。

步骤S162、响应于接收到极片的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息，在显示区域中显示极片的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息。

这里，涂膜子区对应的分区信息可以包括但不限于平均重量、阈值重量等。在实施时，若接收到当前非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息后，直接将其传递至该显示区域中进行显示。显示方式可以包括但不限于图、列表等。

图2为本公开实施例提供的一种第一界面的示意图一，如图2所示，该第一界面20中包括显示区域21及第一设置控件22。其中，显示区域21用于显示各个涂膜子区对应的分区信息。第一设置控件22主要用于对极片的属性信息进行配置。

在一些实施方式中，该第一界面还可以用于新建极片、对该极片进行质量评估、涂布重量数据的监控等。在一些实施方式中，第一界面仅对部分人员（例如，管理人员、开发人员等）开放或使用。例如，管理人员通过账号和密码登录成功后，才能对各种极片进行管理，比如，新建某一极片、对已有的极片进行编辑、删除、保存等操作。

在本公开实施方式中，通过在第一界面中实时显示各个涂膜子区对应的分区信息，较为直观的反映各个子区的涂布情况，从而能够快速且有效地定位是否存在涂布质量异常的子区。

在一些实施方式中，显示区域包括第一显示子区域和第二显示子区域；步骤S162中的“在显示区域中显示极片的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息”，包括步骤S1621至步骤S1622，其中：

步骤S1621、在第一显示子区域中，以第一显示方式显示极片的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息。

这里，第一显示方式可以是任意合适的方式，例如，柱状图、折线图等。在一些实施方式中，若对基材进行双面涂布，该第一显示子区域中可以显示A面的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息、B面的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息等中的至少之一。在一些实施方式中，还可以突出显示存在异常的涂膜子区对应的分区信息。例如，若该涂膜子区的平均重量（对应于分区信息）未在其偏差范围内，那么，可以突出显示该涂膜子区的平均重量。突出显示可以包括但不限于高亮、更换颜色等。

步骤S1622、在第二显示子区域中，以第二显示方式显示极片的至少一个历史非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息。

这里，第二显示方式可以是任意合适的方式，例如，列表。在实施时，该第二显示子区域中包括多个历史非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息。其中，该多个历史非削薄区可以包括当前非削薄区、及当前非削薄区之前的至少一个非削薄区。在一些实施方式中，若对基材进行双面涂布，该第二显示子区域中可以显示A面的历史非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息、B面的历史非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息等中的至少之一。

在一些实施方式中，还可以突出显示存在异常的涂膜子区对应的分区信息。例如，若该涂膜子区的平均重量（对应于分区信息）未在其偏差范围内，那么，可以突出显示该涂膜子区的平均重量。突出显示可以包括但不限于高亮、更换颜色、加粗等。

图3为本公开实施例提供的一种第一界面的示意图二，如图3所示，该第一界面20中包括显示区域21、第一设置控件22和第二设置控件23。其中，显示区域21包括第一显示子区域211和第二显示子区域212，第一显示子区域211用于显示当前非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息，第二显示子区域212用于显示多个历史非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息。第一设置控件22主要用于对极片的属性信息进行配置。第二设置控件23主要用于设置极片对应的基材的重量、涂布的重量等。

这样，通过不同的显示方式分别展示当前非削薄区中各个子区、及多个历史非削薄区中各个子区对应的分区信息，较为直观的反映每一趟涂布时各个涂膜子区对应的涂布情况，从而能够快速且有效地定位当前趟涂布时是否存在涂布质量异常的子区、各趟涂布时同一涂膜子区是否存在异常情况等。

在一些实施方式中，第一界面中还包括第一设置控件，该方法还包括步骤S171，其中：

步骤S171、响应于对第一设置控件的触发操作，显示第二界面；其中，第二界面中包括属性设置控件，属性设置控件用于设置极片的属性信息，极片的属性信息包括以下至少之一：削薄区的属性信息、光斑区的属性信息。

这里，对第一设置控件的触发操作可以是任意合适的触发操作。例如，手势、语音等。比如，点击第一设置控件。

第二界面主要用于对极片的属性信息进行配置操作及信息展示的交互界面。第二界面可以包括但不限于可进行配置操作的区域、操作控件等。其中，可进行配置操作的区域用于对已有的极片进行查询或编辑。在实施时，本领域技术人员可以根据实际情况确定第二界面中可进行配置操作的区域的数量、以及每一可进行配置操作的区域在第二界面中的具体布局，本公开实施例不作限定。

操作控件可以是任意合适的可进行操作的控件。例如，保存控件、关闭控件、浏览控件、编辑控件等。在实施时，本领域技术人员可以根据实际情况确定操作控件的数量、以及每一操作控件在第二界面中的位置，本公开实施例不作限定。

第二界面可以位于第一界面中，也可以独立于第一界面（例如，弹窗、新窗口等）。

图4为本公开实施例提供的一种第二界面的示意图，如图4所示，该第二界面40中包括第一配置区域41、第一保存控件42及关闭控件43。其中，该第一配置区域41包括属性设置控件411，该属性设置控件411主要用于对极片的属性信息进行配置，例如，削薄区的属性信息、光斑区的属性信息等。

在一些实施方式中，该第二界面还可以用于配置机台的基本信息、数据的存储路径、极片的标识长度、分区数量、分区保留设置、第二显示子区域显示的历史非削薄区的数量、停机过滤、数据反向处理等。

机台的基本信息可以包括但不限于设备号、机台编号、工序（阴极/阳极）等。数据的存储路径可以包括但不限于各个涂布区域对应的涂布重量数据、非削薄区对应的涂布重量数据、各个涂膜子区对应的分区信息/涂布质量等存储路径。极片的标识长度可以指膜卷号的长度，该长度可以是任意合适的长度，例如，8、18等。分区数量用于设置非削薄区划分的涂膜子区的数量。分区保留设置用于配置末尾分区的数据是否保留，该末尾分区的大小可能会小于其它分区的大小，若保留该末尾分区的数据，则也需要对该末尾分区进行涂布质量的评估。停机过滤用于设置是否采集该涂布重量数据，在实施时，若未进行涂布，即：涂布速度为0，那么，采集的涂布重量数据没有意义。数据反向处理用于设置是否需要对非削薄区对应的涂布重量数据进行反向处理。

在本公开实施方式中，通过可视化的界面来设定极片的属性信息，在简化了操作步骤的同时还提高了属性信息的准确度。

在一些实施方式中，第一界面中还包括第二设置控件，该方法还包括步骤S181，其中：

步骤S181、响应于对第二设置控件的触发操作，显示第三界面；其中，第三界面中包括基材设置控件和涂布重量设置控件，基材设置控件用于设置极片对应的基材的重量，涂布重量设置控件用于设置极片对应的涂布的重量。

这里，对第二设置控件的触发操作可以是任意合适的触发操作。例如，手势、语音等。比如，点击第二设置控件。

第三界面主要用于对极片的基材、涂布重量等信息进行配置操作及展示的交互界面。第三界面可以包括但不限于可进行配置操作的区域、操作控件等。其中，可进行配置操作的区域用于对已有的极片进行查询或编辑、新建极片等。在实施时，本领域技术人员可以根据实际情况确定第三界面中可进行配置操作的区域的数量、以及每一可进行配置操作的区域在第三界面中的具体布局，本公开实施例不作限定。

操作控件可以是任意合适的可进行操作的控件。例如，保存控件、取消控件、编辑控件等。在实施时，本领域技术人员可以根据实际情况确定操作控件的数量、以及每一操作控件在第三界面中的位置，本公开实施例不作限定。

第三界面可以位于第一界面中，也可以独立于第一界面（例如，弹窗、新窗口等）。

图5为本公开实施例提供的一种第三界面的示意图，如图5所示，该第三界面50中包括第二配置区域51、第二保存控件52及取消控件53。其中，该第二配置区域51包括基材设置控件511和涂布的重量设置控件512。

在一些实施方式中，该第三界面还可以用于极片的名称、种类、基材宽度、极片长度、多个膜区的宽度等。种类可以包括双面、单面等。多个膜区的宽度用于设置每个膜区的宽度是否一致。

在本公开实施方式中，通过可视化的界面来设定极片对应的基材的重量和涂布的重量，在简化了操作步骤的同时还提高了信息的准确度。

图6为本公开实施例提供的一种涂布方法的实现流程示意图二，如图6所示，该方法包括步骤S61至步骤S64，其中：

步骤S61、获取极片对应的涂布重量数据。

步骤S62、基于涂布重量数据和极片对应的基准重量，从极片中确定涂布区。

步骤S63、基于极片的属性信息，从涂布区中确定非削薄区。

这里，上述步骤S61至步骤S63分别对应于前述步骤S11至步骤S13，在实施时，可以参见前述步骤S11至步骤S13的具体实施方式。

步骤S64、针对非削薄区中的每一涂膜子区，基于涂膜子区对应的涂布重量数据和涂膜子区对应的分区信息，确定涂膜子区的涂布质量。

这里，非削薄区可以划分为任意数量的涂膜子区。例如，2个、4个。划分方式可以是任意合适的方式，例如，均匀、随机等。例如，将该非削薄区均匀换分为4个涂膜子区，这样，每一涂膜子区的宽度一致，每一涂膜子区所包含的检测位置对应的重量的个数也是一样的。比如，该非削薄区的宽度为200mm，包含的检测位置对应的重量的个数为200个，那么，将该非削薄区均匀划分为4个涂膜子区，每个涂膜子区的宽度为50mm，所包含的重量的个数为50个，即：将该非削薄区的第0~49个重量作为第一个涂膜子区对应的涂布重量数据，将该非削薄区的第50~99个重量作为第二个涂膜子区对应的涂布重量数据，将该非削薄区的第100~149个重量作为第三个涂膜子区对应的涂布重量数据，将该非削薄区的第150~199个重量作为第四个涂膜子区对应的涂布重量数据。

涂膜子区对应的分区信息可以包括平均重量，该平均重量是指该涂膜子区所包含的各个检测位置对应的重量的均值。例如，若该涂膜子区包括50个检测位置对应的重量，那么，将该50个检测位置对应的重量的均值作为该平均重量。

涂布质量可以包括但不限于存在异常、不存在异常等。异常可以是指翘边、厚边、暗痕、划痕等。在一些实施方式中，通过将各重量和对应的阈值进行比较，以确定该涂膜子区的涂布质量，即：若各重量均在其对应的阈值范围内，那么，该涂膜子区的涂布质量不存在异常；反之，若至少一个重量不在其对应的阈值范围内，那么，该涂膜子区的涂布质量存在异常。其中，该重量可以包括但不限于平均重量、第一重量、第二重量等中的至少之一。该第一重量是基于该涂膜子区所包含的各个检测位置对应的重量和平均重量确定的。该第二重量是基于阈值重量、平均重量、和该第一重量确定的。

在一些实施方式中，涂膜子区对应的涂布重量数据包括至少一个检测位置对应的重量，涂膜子区的分区信息包括平均重量；步骤S64中的“基于涂膜子区对应的涂布重量数据和涂膜子区对应的分区信息，确定涂膜子区的涂布质量”，包括步骤S641至步骤S643，其中：

步骤S641、基于每一检测位置对应的重量和平均重量，确定涂膜子区对应的第一重量。

这里，第一重量的确定方式可以包括但不限于第一比值、第一比值的加权/取对数/取指数等。其中，第一比值是基于目标差值和重量总数确定的。重量总数是指该涂膜子区包含的各个检测位置对应的重量的总数。目标差值可以是某一第一差值、若干个第一差值、所有第一差值等。第一差值是指某一检测位置对应的重量和平均重量之间的差值。例如，将所有第一差值均作为一个目标差值，将各个目标差值的平方和、与该重量总数之间的比值作为该第一比值。

在一些实施方式中，步骤S641包括步骤S6411至步骤S6412，其中：

步骤S6411、分别确定每一检测位置对应的重量与平均重量之间的第一差值。

这里，不同检测位置对应的重量可能不相同，那么，各个第一差值也可能不相同。

步骤S6412、基于每一第一差值和涂膜子区对应的重量总数，确定涂膜子区对应的第一重量；其中，重量总数表征涂膜子区对应的涂布重量数据中包含的重量的总数。

这里，该第一重量的确定方式可以包括但不限于第一比值、第一比值的加权/取对数/取指数等。其中，第一比值是基于各个第一差值和重量总数确定的。例如，将各个第一差值的平方和与该重量总数之间的比值作为该第一比值。

在一些实施方式中，可以通过下述公式（1-2）确定该第一比值，即：

（1-2）；

其中，为第i个检测位置对应的重量，为平均重量，为该涂膜子区对应的重 量总数。

在一些实施方式中，第一重量可以为上述第一比值的平方根，可以通过下述公 式（1-3）确定该第一重量，即：

（1-3）；

其中，为第一比值。

这样，根据各个检测位置对应的重量与平均重量之间的差值、及该子区对应的重量总数来确定该第一重量，提高了第一重量的准确度，从而提高了该子区的涂布质量的准确度。

步骤S642、基于阈值重量、平均重量和第一重量，确定涂膜子区对应的第二重量；其中，阈值重量是基于每一检测位置对应的重量确定的。

这里，阈值重量可以包括但不限于最大重量、最小重量等中的至少之一。

第二重量的确定方式可以是第二比值、第三比值、第二/三比值的加权/取对数/取指数、第二比值和第三比值之间的均值/方差/均方差、该均值/方差/均方差的加权//取对数/取指数等。

第二比值是基于最小重量、平均重量和第一重量确定的。第二比值的确定方式可以包括但不限于第二差值与第一重量之间的比值、该比值的加权/取对数/取指数等。其中，第二差值是指平均重量和最小重量之间的差值。例如，将该比值的加权作为第二比值。

在一些实施方式中，可以通过下述公式（1-4）确定该第二比值，即：

（1-4）；

其中，为阈值重量中的最小重量，为平均重量，为第一重量。

第三比值是基于最大重量、平均重量和第一重量确定的。第三比值的确定方式可以包括但不限于第三差值与第一重量之间的比值、该比值的加权/取对数/取指数等。其中，第三差值是指平均重量和最大重量之间的差值。例如，将该比值的加权作为第三比值。

在一些实施方式中，可以通过下述公式（1-5）确定该第三比值，即：

（1-5）；

其中，为平均重量，阈值重量中的最大重量，为第一重量。

在一些实施方式中，步骤S642包括步骤S6421至步骤S6423，其中：

步骤S6421、确定平均重量与最小重量之间的第二差值。

这里，将平均重量与该最小重量之间的差值作为该第二差值。

步骤S6422、确定最大重量与平均重量之间的第三差值。

这里，将该最大重量与平均重量之间的差值作为该第三差值。

步骤S6423、基于第二差值、第三差值和第一重量，确定涂膜子区对应的第二重量。

第二重量的确定方式可以是第二比值、第三比值、第二/三比值的加权/取对数/取指数、第二比值和第三比值之间的均值/方差/均方差、该均值/方差/均方差的加权//取对数/取指数等。例如，将第二比值和第三比值之间的最小值作为该第二重量。

在一些实施方式中，可以通过下述公式（1-6）确定该第二重量，即：

（1-6）；

其中，为第二比值，为第三比值。

这样，根据最大重量、最小重量、平均重量及第一重量来确定该第二重量，提高了第二重量的准确度，从而提高了该子区的涂布质量的准确度。

步骤S643、基于第一重量、平均重量和第二重量，确定涂膜子区的涂布质量。

这里，涂布质量可以包括但不限于存在异常、不存在异常等。在实施时，可以将各个重量与其对应的阈值进行比较，以确定该涂膜子区的涂布质量。不同的重量对应的阈值可以是不同的。例如，第一重量对应的阈值可以是第一阈值T1，若该第一重量在[T1-S1，T1+S1]这个范围内，表征第一重量是正常的，其中，S1为第一偏差度；平均重量对应的阈值可以是第二阈值T2，若该平均重量在[T2-S2，T2+S2]这个范围内，表征平均重量是正常的，其中，S2为第二偏差度；第二重量对应的阈值可以是第三阈值T3，若该第二重量在[T3-S3，T3+S3]这个范围内，表征第二重量是正常的，其中，S3为第三偏差度。S1~S3可以是不同的。

在一些实施方式中，步骤S643包括步骤S6431至步骤S6433，其中：

步骤S6431、确定第三重量与对应的阈值之间的偏差值。

这里，第三重量包括第一重量、平均重量和第二重量。不同的第三重量对应不同的偏差值，即：该偏差值包括第一重量与对应的阈值之间的第一偏差值、平均重量与对应的阈值之间的第二偏差值、及第二重量与对应的阈值之间的第三偏差值。

步骤S6432、在偏差值满足预设条件的情况下，确定涂膜子区的涂布质量不存在异常。

这里，预设条件可以是任意合适的条件。例如，该偏差值是否在对应的偏差范围内。在实施时，若每一偏差值均在对应的偏差范围内，那么，表征该涂膜子区的涂布质量不存在异常。即：第一偏差值在对应的偏差范围（[-S1，S1]）内、第二偏差值在对应的偏差范围（[-S2，S2]）内、且第三偏差值也在对应的偏差范围（[-S3，S3]）内。

步骤S6433、在偏差值不满足预设条件的情况下，确定涂膜子区的涂布质量存在异常。

这里，若至少一个偏差值不在对应的偏差范围内时，那么，表征该涂膜子区的涂布质量存在异常。例如，若第一偏差值、第二偏差值、和/或第三偏差值不在对应的偏差范围内时，确定该涂膜子区的涂布质量存在异常。在实施时，可以根据该涂布设备的涂布速度、压力、温度等来定位质量异常的原因。

这样，根据各个子区的不同重量及对应的阈值来确定该子区的涂布质量是否存在异常，不仅能够快速且有效地定位存在质量异常的子区，从而提高了涂布的生产效率，而且降低了涂布异常的极片的流出的可能性。

在本公开实施例中，根据各个涂膜子区对应的涂布重量数据和分区信息来分别确定各个涂膜子区的涂布质量，提高了各个子区的涂布质量的准确度，不仅能够快速且有效地定位是否存在质量异常的子区，从而提高了涂布的生产效率，而且降低了涂布异常的极片的流出的可能性，从而在后续极片的生产过程中，保证了极片表面的涂布质量，进而保证了电池的容量、寿命及安全性。

图7为本公开实施例提供的一种涂布方法的实现流程示意图三，如图7所示，该方法包括步骤S701至步骤S708，其中：

步骤S701、获取测厚仪（对应于前述采集装置）采集的极片对应的涂布重量数据；

这里，可以通过临时重量变量或重量变量存储该涂布重量数据，在实施时，若该极片没有膜卷号，则将该涂布重量数据存入临时重量变量中，反之，则存入该重量变量中。其中，膜卷号是指极片的标识信息，该标识信息可以包括但不限于编号、名称等。在一些实施方式中，为了防止内存溢出，需要定时清空或销毁该临时重量变量。

步骤S702、判断是否开启数据停机过滤，若是，则进入步骤S703，反之，则进入步骤S704；

这里，数据停机过滤是指若涂布设备停机，则过滤测厚仪采集的数据。

步骤S703、判断涂布速度是否大于0，若是，则进入步骤S704，反之，则进入步骤S708；

这里，若涂布速度为0，则表征未进行涂布，此时，不需要对该涂布重量数据进行下一步处理。

步骤S704、基于该极片对应的基材的重量和该极片对应的涂布的重量，确定该极片对应的基准重量；

这里，基准重量可以是基材的重量和涂布的重量的均值。涂布的重量包括A面的涂布的重量、A+B面的涂布的重量。在实施时，若确定A面的非削薄区时，该极片对应的涂布的重量为A面的涂布的重量；若确定B面的非削薄区时，该极片对应的涂布的重量为A+B面的涂布的重量。在一些实施方式中，A、B面的非削薄区的确定可以是同时进行的。

步骤S705、基于该基准重量，对该涂布重量数据进行更新，得到更新后的涂布重量数据；

这里，对该涂布重量数据中各个检测位置对应的重量进行遍历，若该检测位置对应的重量小于该基准重量，则将该检测位置对应的重量设置为预设重量；反之，则保留该检测位置对应的重量不变。

步骤S706、基于该更新后的涂布重量数据，从极片中确定涂布区；

这里，对该更新后的涂布重量数据进行遍历，若某一检测位置对应的重量为非预设重量时，则将该检测位置作为该涂布区的左边缘；若某一检测位置对应的重量变为预设重量时，则将该检测位置多维该涂布区的右边缘。

在一些实施方式中，若该采集装置的起始扫描位置与实际涂布方向相反，则需要对该更新后的涂布重量数据进行反向处理，以根据反向处理后的涂布重量数据来确定该涂布区。

步骤S707、基于该极片的属性信息，从该涂布区中确定该非削薄区；

这里，该极片的属性信息可以包括但不限于光斑区的属性信息、削薄区的属性信息等。该削薄区的属性信息可以包括削薄区的宽度等，光斑区的属性信息可以包括光斑区的半径等。利用该属性信息，从该涂布区中确定该非削薄区。在实施时，该非削薄区的宽度不大于该涂布区的宽度。在一些实施方式中，该非削薄区的宽度=该涂布区的宽度光斑区的半径削薄区的宽度。

步骤S708、结束。

图8为本公开实施例提供的一种涂布方法的实现流程示意图四，如图8所示，该方法包括步骤S801至步骤S813，其中：

步骤S801、获取测厚仪（对应于前述采集装置）采集的极片对应的涂布重量数据；

步骤S802、判断是否开启数据停机过滤，若是，则进入步骤S803，反之，则进入步骤S804；

步骤S803、判断涂布速度是否大于0，若是，则进入步骤S804，反之，则进入步骤S813；

步骤S804、基于该极片对应的基材的重量和该极片对应的涂布的重量，确定该极片对应的基准重量；

步骤S805、基于该基准重量，对该涂布重量数据进行更新，得到更新后的涂布重量数据；

步骤S806、基于该更新后的涂布重量数据，从极片中确定涂布区；

步骤S807、基于该极片的属性信息，从该涂布区中确定该非削薄区；

步骤S808、判断是否开启数据停机过滤，若是，则进入步骤S809，反之，则进入步骤S810；

这里，可以通过临时分区变量或分区变量存储该非削薄区对应的涂布重量数据，在实施时，若该极片没有膜卷号，则将该非削薄区对应的涂布重量数据存入临时分区变量中，反之，则存入该分区变量中。在一些实施方式中，为了防止内存溢出，需要定时清空或销毁该临时重量变量。

步骤S809、判断涂布参数是否满足预设条件，若是，则进入步骤S813，反之，则进入步骤S810；

这里，涂布参数可以包括但不限于涂布速度、电磁阀的状态等。电磁阀是用电磁控制的工业设备，是用来控制流体的自动化基础元件，属于执行器，用在工业控制系统中调整介质的方向、流量、速度和其他的参数。在实施时，通过调整电磁阀的状态，可以调整涂布设备的涂布头的工作模式，该涂布头的工作模式可以包括但不限于进刀模式、退刀模式等，进刀模式表征涂布头进行涂布，退刀模式表征涂布头停止涂布。预设条件可以是涂布速度小于预设速度、且电磁阀为0，即，涂布头的工作模式为退刀模式。预设速度可以是任意合适的速度，例如，15米/分。

步骤S810、将非削薄区划分为至少一个涂膜子区；

步骤S811、基于各个涂膜子区对应的涂布重量数据，分别确定各个涂膜子区的平均重量（对应于前述分区信息）；

这里，根据各个涂膜子区的平均重量、阈值重量、所包含的各个检测位置对应的重量来确定各个涂膜子区的涂布质量。在实施时，可以参见前述步骤S64的具体实施方式。在一些实施方式中，可以将该平均重量、当前涂布速度、压力、温度等进行存储，以便于后续对该涂膜子区的涂布质量出现异常的原因进行分析。

步骤S812、显示各个涂膜子区的平均重量。

这里，可以利用第一界面显示各个涂膜子区的平均重量，在实施时，可以参见前述步骤S161至步骤S162的具体实施方式。

步骤S813、结束。

基于上述实施例，本公开实施例还提供一种涂布系统，图9为本公开实施例提供的一种涂布系统的组成结构示意图，如图9所示，该涂布系统90包括控制装置91和采集装置92，其中：

采集装置92，用于采集极片对应的涂布重量数据；其中，极片包括涂布区和留白区，涂布区涂覆有活性物质涂层；

控制装置91，用于基于涂布重量数据和极片对应的基准重量，从极片中确定涂布区；其中，涂布区包括非削薄区和削薄区，削薄区的涂层厚度小于非削薄区的涂层厚度；基于极片的属性信息，从涂布区中确定非削薄区。

这里，采集装置可以是任意合适的能够实现涂布数据的采集的装置，例如，测厚仪、重量检测仪、面密度仪等。在实施时，该采集装置与控制装置之间通信连接。

控制装置可以是任意合适的装置，例如，PLC、上位机、PLC结合上位机。该涂布区的确定方式可以参见前述步骤S12的具体实施方式。该非削薄区的确定方式可以参见前述步骤S13的具体实施方式。

在一些实施方式中，控制装置91，还用于：将非削薄区划分为至少一个涂膜子区；针对每一涂膜子区，基于涂膜子区对应的涂布重量数据，确定涂膜子区对应的分区信息。

这里，分区信息可以是任意合适的信息。例如，平均重量、阈值重量等。在实施时，该非削薄区的划分、及涂膜子区对应的分区信息可以参见前述步骤S151至步骤S152的具体实施方式。

在一些实施方式中，涂布系统90还包括显示装置；该控制装置91，还用于：针对非削薄区中的每一涂膜子区，基于涂膜子区对应的涂布重量数据，确定涂膜子区对应的分区信息；显示装置，用于显示每一涂膜子区对应的分区信息。

这里，该显示装置可以是任意合适的能够实现该显示功能的装置。例如，具有显示屏的上位机。在实施时，该控制装置91与该显示装置进行通信，将该各个涂膜子区对应的分区信息传递至该显示装置进行显示。在一些实施方式中，该显示装置用于显示第一界面、第二界面、第三界面等。其中，第一界面的显示可以参见前述步骤S161至步骤S162的具体实施方式。第二界面的显示可以参见前述步骤S171的具体实施方式。第三界面的显示可以参见前述步骤S181的具体实施方式。

这样，一方面，根据各个涂膜子区对应的涂布重量数据来确定各个子区对应的分区信息，提高了分区信息的准确度；另一方面，通过实时显示各个涂膜子区对应的分区信息，较为直观的反映各个子区的涂布情况，从而能够快速且有效地定位是否存在涂布质量异常的子区。

在一些实施方式中，控制装置91，还用于：针对非削薄区中的每一涂膜子区，基于涂膜子区对应的涂布重量数据和涂膜子区对应的分区信息，确定涂膜子区的涂布质量。

这里，非削薄区可以划分为任意数量的涂膜子区。涂膜子区对应的分区信息可以包括平均重量。涂布质量可以包括但不限于存在异常、不存在异常等。在实施时，该涂膜子区的涂布质量的确定方式可以参见前述步骤S64的具体实施方式。

在本公开实施例中，通过采集装置采集的极片对应的涂布重量数据、极片对应的基准重量及极片的属性信息来确定有效的非削薄区，相较于通过极值偏移算法进行非削薄区的巡边而言，提高了非削薄区的准确度。

需要说明的是，本公开实施例中，如果以软件功能模块的形式实现上述方法，并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本公开实施例的技术方案本质上或者说对相关技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等）执行本公开各个实施例方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（Read Only Memory，ROM）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。这样，本公开实施例不限制于任何特定的硬件和软件结合。

本公开实施例提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述方法。

本公开实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述方法。计算机可读存储介质可以是瞬时性的，也可以是非瞬时性的。

本公开实施例提供一种计算机程序产品，包括计算机程序或指令，计算机程序或指令被处理器执行时实现上述方法中的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以具体通过硬件、软件或其结合的方式实现。在一个可选实施例中，计算机程序产品具体体现为计算机存储介质，在另一个可选实施例中，计算机程序产品具体体现为软件产品，例如软件开发包（Software Development Kit，SDK）等等。

需要说明的是，图10为本公开实施例提供的一种计算机设备的硬件实体示意图，如图10所示，该计算机设备1000的硬件实体包括：控制器1001、通信接口1002和存储器1003，其中：

控制器1001通常控制计算机设备1000的总体操作。在实施时，控制器1001可以是任意合适的控制器，例如， PLC。

通信接口1002可以使计算机设备通过网络与其他终端或服务器通信。

存储器1003配置为存储由控制器1001可执行的指令和应用，还可以缓存待控制器1001以及计算机设备1000中各模块待处理或已经处理的数据（例如，图像数据、音频数据、语音通信数据和视频通信数据），可以通过闪存（FLASH）或随机访问存储器（Random AccessMemory，RAM）实现。控制器1001、通信接口1002和存储器1003之间可以通过总线1004进行数据传输。

这里需要指出的是：以上存储介质和设备实施例的描述，与上述方法实施例的描述是类似的，具有同方法实施例相似的有益效果。对于本公开存储介质和设备实施例中未披露的技术细节，请参照本公开方法实施例的描述而理解。

应理解，说明书通篇中提到的“一个实施例”或“一实施例 ”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本公开的至少一个实施例中。因此，在整个说明书各处出现的“在一个实施例中”或“在一实施例中 ”未必一定指相同的实施例。此外，这些特定的特征、结构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。应理解，在本公开的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本公开实施例的实施过程构成任何限定。上述本公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含 ”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个…… ”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

在本公开所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，该单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。

上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元；既可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。另外，在本公开实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：移动存储设备、只读存储器（Read Only Memory，ROM）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。或者，本公开上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本公开的技术方案本质上或者说对相关技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等）执行本公开各个实施例方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本公开的实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本公开的保护范围之内。

Claims (18)

1.一种涂布方法，其特征在于，所述方法包括：

获取极片对应的涂布重量数据；其中，所述极片包括涂布区和留白区，所述涂布区涂覆有活性物质涂层；

基于所述涂布重量数据和所述极片对应的基准重量，从所述极片中确定所述涂布区；其中，所述涂布区包括削薄区和非削薄区，所述削薄区的涂层厚度小于所述非削薄区的涂层厚度，所述涂布重量数据包括所述极片中至少一个检测位置对应的重量；

基于所述极片的属性信息，从所述涂布区中确定所述非削薄区；其中，所述极片的属性信息包括以下至少之一：削薄区的属性信息、光斑区的属性信息；

所述基于所述涂布重量数据和所述极片对应的基准重量，从所述极片中确定所述涂布区，包括：

基于所述极片对应的基材的重量和所述极片对应的涂布的重量，确定所述极片对应的基准重量；

基于所述极片对应的基准重量，对所述涂布重量数据进行更新，得到更新后的涂布重量数据；

基于所述更新后的涂布重量数据，从所述极片中确定所述涂布区；其中，所述更新后的涂布重量数据包括每一所述检测位置对应的目标重量；

所述基于所述极片对应的基准重量，对所述涂布重量数据进行更新，得到更新后的涂布重量数据，包括：

针对所述极片中每一检测位置对应的重量，基于所述检测位置对应的重量和所述极片对应的基准重量，确定所述检测位置对应的目标重量；

所述基于所述检测位置对应的重量和所述极片对应的基准重量，确定所述检测位置对应的目标重量，包括以下至少之一：

在所述检测位置对应的重量小于所述极片对应的基准重量的情况下，将预设重量作为所述检测位置对应的目标重量；

在所述检测位置对应的重量不小于所述极片对应的基准重量的情况下，将检测位置对应的重量作为所述检测位置对应的目标重量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述极片对应的基材的重量和所述极片对应的涂布的重量，确定所述极片对应的基准重量，包括：

确定所述基材的重量和所述涂布的重量之间的和值；其中，所述涂布的重量包括以下之一：单面涂布的重量、双面涂布的重量；

基于所述和值，确定所述极片对应的基准重量。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述极片的属性信息，从所述涂布区中确定所述非削薄区，包括：

在所述极片的属性信息包括所述削薄区的属性信息和所述光斑区的属性信息的情况下，将所述涂布区两侧的边界线分别朝中间平移第一长度后所形成的区域，作为所述非削薄区；其中，所述第一长度包括所述削薄区的宽度和所述光斑区的半径；

在所述极片的属性信息包括所述削薄区的属性信息的情况下，将所述涂布区两侧的边界线分别朝中间平移第二长度后所形成的区域，作为所述非削薄区；其中，所述第二长度包括所述削薄区的宽度；

在所述极片的属性信息包括所述光斑区的属性信息的情况下，将所述涂布区两侧的边界线分别朝中间平移第三长度后所形成的区域，作为所述非削薄区；其中，所述第三长度包括所述光斑区的半径。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述非削薄区划分为至少一个涂膜子区；

针对每一涂膜子区，基于所述涂膜子区对应的涂布重量数据，确定所述涂膜子区对应的分区信息。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

针对所述非削薄区中的每一涂膜子区，基于所述涂膜子区对应的涂布重量数据和所述涂膜子区对应的分区信息，确定所述涂膜子区的涂布质量。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述涂膜子区对应的涂布重量数据包括至少一个检测位置对应的重量，所述涂膜子区的分区信息包括平均重量；

所述基于所述涂膜子区对应的涂布重量数据和所述涂膜子区对应的分区信息，确定所述涂膜子区的涂布质量，包括：

基于每一所述检测位置对应的重量和所述平均重量，确定所述涂膜子区对应的第一重量；

基于阈值重量、所述平均重量和所述第一重量，确定所述涂膜子区对应的第二重量；其中，所述阈值重量是基于每一所述检测位置对应的重量确定的；

基于所述第一重量、所述平均重量和所述第二重量，确定所述涂膜子区的涂布质量。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于每一所述检测位置对应的重量和所述平均重量，确定所述涂膜子区对应的第一重量，包括：

分别确定每一所述检测位置对应的重量与所述平均重量之间的第一差值；

基于每一所述第一差值和所述涂膜子区对应的重量总数，确定所述涂膜子区对应的第一重量；其中，所述重量总数表征所述涂膜子区对应的涂布重量数据中包含的重量的总数。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述阈值重量包括最大重量和最小重量；

所述基于阈值重量、所述平均重量和所述第一重量，确定所述涂膜子区对应的第二重量，包括：

确定所述平均重量与所述最小重量之间的第二差值；

确定所述最大重量与所述平均重量之间的第三差值；

基于所述第二差值、所述第三差值和所述第一重量，确定所述涂膜子区对应的第二重量。

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一重量、所述平均重量和所述第二重量，确定所述涂膜子区的涂布质量，包括：

确定第三重量与对应的阈值之间的偏差值；其中，所述第三重量包括所述第一重量、所述平均重量和所述第二重量；

在所述偏差值满足预设条件的情况下，确定所述涂膜子区的涂布质量不存在异常；

在所述偏差值不满足所述预设条件的情况下，确定所述涂膜子区的涂布质量存在异常。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

显示第一界面；其中，所述第一界面包括显示区域；

响应于接收到所述极片的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息，在所述显示区域中显示所述极片的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述显示区域包括第一显示子区域和第二显示子区域；

所述在所述显示区域中显示所述极片的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息，包括：

在所述第一显示子区域中，以第一显示方式显示所述极片的非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息；

在所述第二显示子区域中，以第二显示方式显示所述极片的至少一个历史非削薄区中各个涂膜子区对应的分区信息。

12.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述第一界面中还包括第一设置控件，所述方法还包括：

响应于对所述第一设置控件的触发操作，显示第二界面；其中，所述第二界面中包括属性设置控件，所述属性设置控件用于设置所述极片的属性信息，所述极片的属性信息包括以下至少之一：削薄区的属性信息、光斑区的属性信息。

13.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述第一界面中还包括第二设置控件，所述方法还包括：

响应于对所述第二设置控件的触发操作，显示第三界面；其中，所述第三界面中包括基材设置控件和涂布重量设置控件，所述基材设置控件用于设置所述极片对应的基材的重量，所述涂布重量设置控件用于设置所述极片对应的涂布的重量。

14.一种涂布系统，其特征在于，包括：

采集装置，用于采集极片对应的涂布重量数据；其中，所述极片包括涂布区和留白区，所述涂布区涂覆有活性物质涂层；

控制装置，用于基于所述涂布重量数据和所述极片对应的基准重量，从所述极片中确定所述涂布区；其中，所述涂布区包括非削薄区和削薄区，所述削薄区的涂层厚度小于所述非削薄区的涂层厚度，所述涂布重量数据包括所述极片中至少一个检测位置对应的重量；基于所述极片的属性信息，从所述涂布区中确定所述非削薄区；其中，所述极片的属性信息包括以下至少之一：削薄区的属性信息、光斑区的属性信息；

所述控制装置，还用于基于所述极片对应的基材的重量和所述极片对应的涂布的重量，确定所述极片对应的基准重量；基于所述极片对应的基准重量，对所述涂布重量数据进行更新，得到更新后的涂布重量数据；基于所述更新后的涂布重量数据，从所述极片中确定所述涂布区；其中，所述更新后的涂布重量数据包括每一所述检测位置对应的目标重量；

所述控制装置，还用于针对所述极片中每一检测位置对应的重量，基于所述检测位置对应的重量和所述极片对应的基准重量，确定所述检测位置对应的目标重量；

所述控制装置，还用于以下至少之一：在所述检测位置对应的重量小于所述极片对应的基准重量的情况下，将预设重量作为所述检测位置对应的目标重量；在所述检测位置对应的重量不小于所述极片对应的基准重量的情况下，将检测位置对应的重量作为所述检测位置对应的目标重量。

15.根据权利要求14所述的系统，其特征在于，所述系统还包括显示装置，其中：

所述控制装置，还用于：针对所述非削薄区中的每一涂膜子区，基于所述涂膜子区对应的涂布重量数据，确定所述涂膜子区对应的分区信息；

所述显示装置，用于显示每一所述分区信息。

16.一种计算机设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至13中任一项所述方法。

17.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至13中任一项所述方法。

18.一种计算机程序产品，包括计算机程序或指令，其特征在于，所述计算机程序或指令被处理器执行时实现权利要求1至13中任一项所述方法。