Kurzfassung
Unter komplexen Mustern werden hier solche verstanden, bei denen dem Anwender die Angabe eines Klassennamens alleine nicht genügt, sondern bei denen eine symbolische Beschreibung mit Hilfe einfacherer Bestandteile und deren Beziehungen untereinander gewünscht wird. Die automatische Erstellung dieser Beschreibung wird als Analyse bezeichnet. Es ist zweckmäßig, in einem Analysesystem eine klare Trennung zwischen Methoden, Information (Wissen), Kontrolle und Ergebnissen durchzuführen. Für die Darstellung des Kontrollflusses ist die Anwendung des abstrakten Programms zweckmäßig, für die Darstellung der Information die Produktionenregeln. Zwei Beispiele, die zur Zeit untersucht werden, sind die Analyse elektrischer Schaltplüne und die Erkennung kontinuierlich gesprochener deutscher Sprache. Im ersten Fall wird eine im wesentlichen hierarchische, jedoch urn Fehlerkorrekturmöglichkeiten erweiterte Kontrollstruktur verwendet, im zweiten Fall eine aus parallel en Prozessen bestehende, datenbankorientierte Struktur.
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Literatur
D.R. Reddy: Speech recognition by machine, a review. Proc. IEEE 64, 501–531, 1976
H. Niemann: Digital image analysis. In P. Stucki (Ed): Advances in Digital Image Processing. New York, Plenum Press, to appear.
R. Davis, et.al.: Production rules as a representation for a knowledge based consultation program. Artif. Intelligence 8, 15–45, 1977
Z. Manna: Mathematical theory of computation. New York, McGraw-Hill, 1974
C.A. Harlow: Image analysis and graphs. Comp. Graphics and Image Proc. 2, 60–82, 1973
H. Bunke: Analyse elektrischer Schaltplane mit einfachen Schaltsymbolen. E. Triendl (Ed.): 1. DAGM Symposium Bildverarbeitung und Mustererkennung, Informatik Fachberichte 17, Springer Verlag, Berlin 1978, 126–132.
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© 1979 Springer-Verlag Berlin · Heidelberg
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Niemann, H. (1979). Ein Ansatz zur Analyse Komplexer Muster. In: Foith, J.P. (eds) Angewandte Szenenanalyse. Informatik-Fachberichte, vol 20. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-67445-7_12
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