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1.
An Analytical Approach to Calculate Soft Error Rate Induced by Atmospheric Neutrons / Wrobel, Frédéric (IES, Montpellier) ; Aguiar, Ygor (CERN) ; Marques, Cleiton (IES, Montpellier) ; Lerner, Giuseppe (CERN) ; Alía, Rubén García (CERN) ; Saigné, Frédéric (IES, Montpellier) ; Boch, Jérôme (IES, Montpellier)
In the atmosphere, it is generally understood that neutrons are the main contributor to the soft error rate (SER) in electronic devices. These particles are indeed able to trigger nuclear reactions in the sensitive regions of the devices, leading to secondary ions that may ionize the matter sufficiently to upset a memory cell or induce a transient signal, known as soft errors. [...]
2022 - 12 p. - Published in : Electronics 12 (2022) 104 Fulltext: PDF;

Voir aussi: noms d'auteurs similaires
21 Marques, C
16 Marques, C M
3 Marques, C N
2 Marques, C.
3 Marques, C.N.
1 Marques, Carla Susana
127 Marques, Carlos
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