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OT FE-Box Test Procedures / Pellegrino, A (NIKHEF, Amsterdam) ; Simioni, E (NIKHEF, Amsterdam) ; Sluijk, T (NIKHEF, Amsterdam) ; Zwart, A (NIKHEF, Amsterdam) ; Schipper, J D (NIKHEF, Amsterdam) ; Timmer, P (NIKHEF, Amsterdam) ; Jansen, F (NIKHEF, Amsterdam) ; Tuning, N (NIKHEF, Amsterdam) ; Terrier, H (NIKHEF, Amsterdam) ; Du Pree, T (NIKHEF, Amsterdam) et al.
The OT FE readout requirements is the precise (~0.5 ns) and efficient drift time measurement at an occupancy of ~4% to ensure single hit resolution. The acquired achievement of such performance on an assembled FE-Box is verify through a final test performed using a special FE-Tester. [...]
LHCb-2007-122; CERN-LHCb-2007-122.- Geneva : CERN, 2007 - 20 p. Access to fulltext document: PDF;

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